x射線膜厚檢測(cè)儀是通過次x射線穿透金屬元素樣品時(shí)產(chǎn)生低能量的光子,俗稱為二次熒光,在通過計(jì)算二次熒光的能量來計(jì)算厚度值,電腦操作,非常簡(jiǎn)單,江蘇天瑞儀器股份有限公司是專業(yè)x射線膜厚檢測(cè)儀生產(chǎn)廠家,thick8000是公司新款的x射線膜厚檢測(cè)儀,采用上照方式,移動(dòng)測(cè)試平臺(tái),使整個(gè)自動(dòng)化程度大幅度提高,滿足快速的要求。
更新時(shí)間:2024-11-23