日立肖特基場發(fā)射掃描電鏡此外,為一次性獲取大量信息,單次掃描像素擴展到了40,960 x 30,720(選配),是之型號的64倍。利用這一功能,可憑借一張數(shù)據(jù)圖像有效評估多處局部的細微結構。在fe-sem的觀察和分析中,需要根據(jù)測量樣品與需求調(diào)整觀察條件。調(diào)整所需時間的長短取決于用戶的操作熟練度,這是造成數(shù)據(jù)質(zhì)量與效率差異的因素之一。此系列產(chǎn)品標配自動調(diào)整功能,可避免人為操作導
更新時間:2024-09-04