高性能多通道全自動比表面積及孔隙度分析儀
1產(chǎn)品概述
美麥克儀器公司性能多通道全自動比表面積及孔隙度分析儀TriStar II系列介紹
TriStar II 為全自動三站式比表面積和孔隙度分析儀,性價比。它在保證數(shù)據(jù)精度和強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理能力同時,大大加快了分析速度,可滿足大多數(shù)研究需求。TriStar II 也同時提供氪氣選配,可進(jìn)行低比表面測量。該儀器還提供多種分析方法和數(shù)據(jù)處理,用戶可根據(jù)需要選擇不同的計算數(shù)據(jù)。
2性能技術(shù)
美麥克儀器公司性能多通道全自動比表面積及孔隙度分析儀TriStar II系列性能與技術(shù):
• 三個分析站同時運(yùn)行,但又相互獨(dú)立。 三站BET比表面積的測量可以在20分鐘內(nèi)完成。對于更多的樣品測試,四個TriStar可用臺計算機(jī)控制。
• 氮?dú)鉁y試比表面積低可達(dá)0.01m2/g。TriStar II也可使用于氬氣、二氧化碳和非腐蝕性氣體如丁烷、甲烷或其他輕烴類。氪氣選配可測量低至0.001m2/g的比表面積。
• 標(biāo)配的P0管可連續(xù)測量飽和壓力。飽和壓力可選擇輸入、連續(xù)測量或在樣品管中測量等方式獲得。
• 大進(jìn)氣增量功能和定進(jìn)氣量功能,可在縮短分析時間的同時,避免“錯過”重要數(shù)據(jù)點(diǎn)。
• 自由空間可選擇測量、計算或手動輸入等方式,靈活性大,滿足不同樣品的不同需求。
• 增強(qiáng)的產(chǎn)品功能包括:視頻剪輯、計算機(jī)和TriStar之間的以太網(wǎng)通信、內(nèi)置電路測試和診斷的軟件、能 夠通過互聯(lián)網(wǎng)進(jìn)行遠(yuǎn)程診斷、可兼容舊型號TriStar及 Gemini的I數(shù)據(jù)。
• 2.75升,(可選配4L)大容量杜瓦瓶和長樣品管,保證長時間分析測量。
• 可測量多達(dá)1000個數(shù)據(jù)點(diǎn)的等溫線,可分析得到足夠多的材料結(jié)構(gòu)信息。
• 基于Windows的控制軟件,具有強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理功能、SPC報告、等溫吸附熱等。
• 可選不同的樣品制備站,流動/真空加熱等多種方式選擇。
• 設(shè)計精美,體積小,使用方便
3執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)
ASTM B922-10、ASTM C1069-09、ASTM C1274-10、ASTM D1993-03(2008)、ASTM D3663-03(2008)、ASTM D4222-03(2008)、ASTM D4365-95(2008)、ASTM D4567-03(2008)、ASTM D4641-12、ASTM D4780-12、ASTM D5604-96 (2012)、ASTM D6556-10、ISO 9277:2010、ISO-15901-2: 2006 (E)、ISO 15901-3:2007。
4模型和理論
材料 |
氣體/溫度 |
吸附模型 |
理論模型 |
應(yīng)用 |
碳材料 | Ar, 77K | 無線狹縫孔模型 |
NLDFT |
碳材料,無限狹縫孔,孔徑0.35nm-12nm,吸附數(shù)據(jù)可使用達(dá)飽和/升華壓力(203 tor) |
碳材料 | N2, 87K | 無線狹縫孔模型 | NLDFT | 碳材料,孔徑0.35nm-100nm,無限狹縫孔,吸附數(shù)據(jù)可使用達(dá)飽和/升華壓力(2130 tor) |
碳材料 | Ar, 87K | 二維孔分布模型, AR*=6 |
2D-NLDFT |
碳材料,孔徑0.35nm-25nm,2D-NLDFT, 有限狹縫孔,孔壁徑與孔寬度比為6 |
碳材料 | Ar, 87K | 二維孔分布模型,, AR*=12 |
2D-NLDFT |
碳材料,孔徑0.35nm-25nm,2D-NLDFT, 有限狹縫孔,孔壁徑與孔寬度比為12 |
碳材料 | Ar, 87K | 無線狹縫孔模型 |
NLDFT |
碳材料,孔徑0.35nm-100nm,無限狹縫孔 |
碳材料 | N2, 77K | 二維孔分布模型,, AR*=6 | 2D-NLDFT | 碳材料,孔徑0.35nm-25nm,2D-NLDFT, 有限狹縫孔,孔壁徑與孔寬度比為6 |
碳材料 | N2, 77K | 二維孔分布模型,, AR*=12 | 2D-NLDFT | 碳材料,孔徑0.35nm-25nm,2D-NLDFT, 有限狹縫孔,孔壁徑與孔寬度比為12 |
碳材料 | N2, 77K | 無線狹縫孔模型 |
NLDFT |
微孔介孔碳材料,孔徑0.35nm-100nm,無限狹縫孔 |
碳材料 | N2, 77K | 無線狹縫孔模型 |
NLDFT |
碳材料,孔徑0.35nm-300nm,無限狹縫孔 |
碳材料 | Ar, 87K | 無線狹縫孔模型 |
NLDFT |
碳材料,孔徑0.35nm-300nm,無限狹縫孔 |
碳材料 | CO2, 273K | 無線狹縫孔模型 |
NLDFT |
碳材料,孔徑0.35nm-1nm,無限狹縫孔 |
分子篩 | N2, 77K | 圓柱孔模型 |
NLDFT |
氧化物及堿性金屬(Na、Ca、K等)離子交換型分子篩 |
分子篩 | N2, 77K | 圓柱孔模型 |
NLDFT |
氧化物及H+/NH4+離子交換性分子篩的孔徑分布 |
分子篩 | Ar, 87K | 圓柱孔模型 |
NLDFT |
氧化物及H+/NH4+離子交換性分子篩的孔徑分布 |
交聯(lián)粘土 | N2, 77K | Window |
NLDFT |
交聯(lián)粘土的孔徑分布 |
所有 | N2, 77K | 固體表面模型 |
NLDFT |
無微孔或小介孔材料的表面能分布 |
所有 | Ar, 87K | 固體表面模型 |
NLDFT |
無微孔或小介孔材料的表面能分布 |
碳材料 | N2, 77K | 圓柱孔模型 |
SWNT,NLDFT |
|
碳材料 | N2, 77K | 圓柱孔模型 |
MWNT,NLDFT |
|
碳材料 | Ar, 87K | 圓柱孔模型 |
SWNT,NLDFT |
|
碳材料 | Ar, 87K | 圓柱孔模型 |
MWNT,NLDFT |
|
分子篩 | Ar, 77K | H-Form |
NLDFT |
|
分子篩 | Ar, 77K | Me-Form |
NLDFT |
* AR是孔壁徑與孔寬度比
5應(yīng)用領(lǐng)域
美麥克儀器公司性能多通道全自動比表面積及孔隙度分析儀TriStar II系列應(yīng)用領(lǐng)域:
制藥行業(yè)-比表面積及孔隙度在藥品的凈化、加工、混合、制片和包裝能力中扮演著重要角色。藥品有效期、溶解速率與藥效也依賴于材料的比表面和孔隙度。
陶瓷-比表面積和孔隙度影響陶胚的加工和燒結(jié)固化與成品的強(qiáng)度、質(zhì)感、外觀以及密度。釉料以及玻璃原料的比表面積影響皺縮、裂紋、表面分布的不均勻性。
吸附劑-比表面積、總孔體積和孔徑分布對于工業(yè)吸附劑的質(zhì)量控制和分離工藝的發(fā)展非常重要,它們影響吸附劑的選擇性。
活性炭-在汽車油氣回收、油漆的溶劑回收和污水污染控制方面,活性炭的孔隙度和比表面積必須控制在很窄的范圍內(nèi)。
炭黑-輪胎的磨損壽命、摩擦性和使用性能與添加的炭黑比表面積相關(guān)。
催化劑-催化劑的活性表面及孔結(jié)構(gòu)顯著影響到反應(yīng)速度?讖降目刂浦辉试S所需大小的分子進(jìn)入并通過,使催化劑產(chǎn)生預(yù)期的催化作用進(jìn)而得到主要產(chǎn)物。
油漆及涂料-顏料或填料的比表面積影響油漆和涂料的光澤度、紋理、顏色、顏色飽和度、亮度、固含量及成膜附著力。印刷媒質(zhì)圖布的孔隙率在平面印刷中非常重要,因為其影響到起泡、著墨力和著墨性能。
推進(jìn)燃料-燃料材料比表面積直接影響燃燒速率,速率過危險性增大,過低導(dǎo)致故障和不精確。
醫(yī)學(xué)植入體-控制人造骨骼的孔隙度可使其更易被人體組織所吸收。
電子學(xué)-級電容生產(chǎn)商通過選擇比表面、精細(xì)設(shè)計的孔網(wǎng)絡(luò)材料,可以優(yōu)化原材料的消耗量,同時為儲電容量提供更多的外比表面。
化妝品-當(dāng)細(xì)顆粒的團(tuán)聚傾向使得粒度分析困難時,化妝品生產(chǎn)者利用比表面積來預(yù)測顆粒尺寸。
航空工業(yè)-比表面積和孔隙度影響隔熱防護(hù)和絕緣材料的重量和功能。
燃料電池-燃料電池的電極需要具有可控孔隙度的比表面積來得到佳能量密度。
地球科學(xué)-孔隙度對于石油勘探和水文地理學(xué)是非常重要的,因為它關(guān)系到地質(zhì)結(jié)構(gòu)的含液量以及怎樣能夠抽出這些液體。
納米管-納米管的比表面積和微孔孔隙度可用來預(yù)測材料的儲氫能力。
6客戶案例
中科院金屬研究所
浙江大學(xué)
大連化學(xué)與物理研究所
中科院過程所
中科院金屬研究所
天津大學(xué)
華中科技大學(xué)
吉林大學(xué)
浙江工業(yè)大學(xué)
福州大學(xué)
四川大學(xué)
浙江大學(xué)
北京化工大學(xué)
華東理工大學(xué)
華南理工大學(xué)
南開大學(xué)
中地質(zhì)大學(xué)
山西煤化所
上海交通大學(xué)
南京大學(xué)
復(fù)旦大學(xué)
吉林大學(xué)
北京大學(xué)
清華大學(xué)
中山大學(xué)
中科院上海硅酸鹽研究所
西安交通大學(xué)
重慶大學(xué)
廈門大學(xué)
中科院福建物質(zhì)結(jié)構(gòu)研究所
中科學(xué)院化學(xué)所
武漢大學(xué)
中科技大學(xué)
中石化
中石油
中石油大學(xué)
同濟(jì)大學(xué)
7數(shù)據(jù)處理
美麥克儀器公司性能多通道全自動比表面積及孔隙度分析儀TriStar II系列卓越數(shù)據(jù)處理能力
TriSt ar II 3020控制軟件是基于Windows界面,易于收集、整理、歸檔原始數(shù)據(jù),并存儲標(biāo)準(zhǔn)供以后使用。完
成的報告可在屏幕顯示,打印或者其他途徑顯示,包括剪切黏貼數(shù)據(jù)圖,可編輯圖形和自定義報告等功能。除控制儀器操作之外,軟件同樣可簡化分析過程中原始數(shù)據(jù)的收集。簡化的數(shù)據(jù)可以做成各種方便易懂的列表或
者圖表供瀏覽和打印。這些包含:
• 單點(diǎn)或多點(diǎn)BET比表面積
• 總孔體積
• Langmuir比表面和等溫線
• t-Plot
-Harkins和Jura厚度層公式
-Halsey厚度層公式
-炭黑STSA
-Broekhoff-de Boer
-Kruk-Jaroniec-Sayari
• BJH吸附/脫附曲線
-標(biāo)準(zhǔn)
-Kruk-Jaroniec-Sayari
• Dollimore-Heal
• 介孔和大孔
-孔體積和面積分布
• MP-方法
• DFT孔徑
• NLDFT孔徑
• DFT表面能
• 匯總報告
• 為企業(yè)服務(wù)的SPC(Statistical Process Control 統(tǒng)計過程控制)報告
• 驗證報告
8驗證報告
為滿足FDA的21CFR 11要求,可選的confirm™軟件滿足FDA要求的安全性以及數(shù)據(jù)溯源。
200m2/g硅鋁樣品(紅色),50m2/g硅膠(綠色)與200m2/g二氧化鈦(藍(lán)色)的BET比表面積圖顯示了TriStar II的多功能性。三種不同的材料可同時分析并進(jìn)行比對。
分析進(jìn)程示例-TriStar II內(nèi)置微處理器控制儀器操作并進(jìn)行樣品分析。這種用戶友好的視窗和軟件使用戶可在工作區(qū)控制儀器,監(jiān)控分析過程并查看實驗結(jié)果。
多個樣品的孔隙體積,孔徑分布可同時顯示進(jìn)行對比
9售后服務(wù)
美麥克儀器公司為您提供品質(zhì)儀器的同時,通過安裝維護(hù)中心為您提供進(jìn)步的支持。公司在上海、北京、廣州、西安設(shè)立了安裝維護(hù)中心,并配有多名業(yè)的服務(wù)工程師為用戶提供完美的、標(biāo)準(zhǔn)化服務(wù)和個性化的解決方案,用戶隨時可以通過電話、傳真、郵箱、在線留言等方式,將遇到的問題反饋給安裝維護(hù),我們的工程師將通過多種方式為您解決問題。
所有麥克儀器均提供12個月的保修服務(wù),麥克默瑞提克(上海)儀器有限公司業(yè)的服務(wù)工程師定期回訪為您解決問題,公司建有常見的備品備件倉庫,保證您的正常使用。
11產(chǎn)品相冊
13留言咨詢(5分鐘應(yīng)答)
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