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北京SN/KDY-1四探針電阻率/方阻測試儀哪家好

四探針電阻率/方阻測試儀  四探針檢測儀

型號:SN/KDY-1

1、北京SN/KDY-1四探針電阻率/方阻測試儀哪家好概述KDY-1型四探針電阻率/方阻測試儀(以下簡稱電阻率測試儀)是用來測量半導(dǎo)體材料(主要是硅單晶、鍺單晶、硅片)電阻率,以及擴散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠方塊電阻的測量儀器。它主要由電氣測量部份北京SN/KDY-1四探針電阻率/方阻測試儀哪家好(簡稱:主機)、測試架及四探針頭組成。本儀器的特點是主機配置雙數(shù)字表,在測量電阻率的同時,另一塊數(shù)字表(以萬分之幾的精度)適時監(jiān)測全程的電流變化,免除了測量電流/測量電阻率的轉(zhuǎn)換,更及時掌控測量電流。主機還提供精度為0.05%的恒流源,使測量電流高度穩(wěn)定。本機配有恒流源開關(guān),在測量某些箔層材料時,可免除探針尖與被測材料之間接觸火花的發(fā)生,更好地保護箔膜。儀器配置了本公司的專利產(chǎn)品:“小游移四探針頭”,探針游移率在0.1~0.2%。保證了儀器測量電阻率的重復(fù)性和準確度。本機如加配HQ-710E數(shù)據(jù)處理器,測量硅片時可自動進行厚度、直徑、探針間距的修正,并計算、打印出硅片電阻率、徑向電阻率的最大百分變化、平均百分變化、徑向電阻率不均習(xí)庋。給測量帶來很大方便。2、北京SN/KDY-1四探針電阻率/方阻測試儀哪家好主機技術(shù)能數(shù)(1)測量范圍:     可測電阻率:0.0001~19000Ω?cm     可測方塊電阻:0.001~1900Ω?□(2)恒流源:     輸出電流:DC  0.001~100mA   五檔連續(xù)可調(diào)    量程:0.001~0.01mA           0.01~0.10mA           0.10~1.0mA           1.0~10mA           10~100mA恒流精度:各檔均低于±0.05%(3)直流數(shù)字電壓表:     測量范圍:0~199.99mV     靈敏度:10μV     基本誤差:±(0.004%讀數(shù)+0.01%滿度)     輸出電源:≥1000ΩM(4)供電電源:     AC  220V±10%    50/60  Hz    功率:12W(5)使用環(huán)境:溫度:23±2℃   相對濕度:≤65%無較強的電場干擾,無強光直接照射(6)重量、體積:主機重量:7.5kg體積:365×380×160(單位:mm  長度×寬度×高度)

該公司產(chǎn)品分類: 測距儀、測速儀 硬度計 流量計 其他行業(yè)專用儀器儀表 軸承測試儀、軸承加熱器 汽車行業(yè)檢測儀 位移傳感器/位移測量儀 水文儀器 轉(zhuǎn)速測量儀/轉(zhuǎn)速儀/轉(zhuǎn)速表 振動分析儀/測振儀 激光測試儀器 設(shè)備/機械故障檢測儀 前照燈檢測儀 行業(yè)專用儀器儀表 其他物理學(xué)儀器 反射率儀 白度計/白度儀 比色計/比色儀/色度儀 測色儀/色差計 冰點儀/比重計

FT-335浙江四探針電阻率/方阻測試儀

 FT-335浙江四探針電阻率/方阻測試儀滿足標準

按照硅片電阻率測量的國際標準(ASTM F84)及國家標準設(shè)計制造該儀器設(shè)計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標準,本機配置232電腦接口及USB兩種接口,本機結(jié)合采用范德堡測量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結(jié)果的影響及誤差,比市場上其他普通的四探針測試方法更加完善和進步,特別是方塊電阻值較小的產(chǎn)品測量,更加準確.

FT-335浙江四探針電阻率/方阻測試儀產(chǎn)品簡介本儀器本儀器采用四探針單電測量法適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示,無需人工計算,并帶有溫度補償功能,電阻率單位自動選擇,儀器自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程,無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。采用高精度AD芯片控制,恒流輸出,結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便,運輸安全、使用方便;選配:配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數(shù)據(jù),自動生成報表;本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時顯示液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率,配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購.

FT-335浙江四探針電阻率/方阻測試儀產(chǎn)品用途廣泛用于:覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測試

硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻 半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件,導(dǎo)電薄膜(ITO導(dǎo)電膜玻璃等),金屬膜,導(dǎo)電漆膜,蒸發(fā)鋁膜,PCB銅箔膜,EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率 導(dǎo)電性油漆,導(dǎo)電性糊狀物,導(dǎo)電性塑料,導(dǎo)電性橡膠,導(dǎo)電性薄膜,金屬薄膜,抗靜電材料, EMI 防護材料,導(dǎo)電性纖維,導(dǎo)電性陶瓷等

FT-335浙江四探針電阻率/方阻測試儀產(chǎn)品資料參數(shù)資料

1.方塊電阻范圍:10-22×105Ω/□

2.電阻率范圍:10-32×106Ω-cm                

3.測試電流范圍:0.1μA,1μA10μA,100µA,1mA,10mA100 mA

4.電流精度:±0.3%讀數(shù)

5.電阻精度:≤0.5%

6.顯示讀數(shù):液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率

7.測試方式: 普通單電測量

8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz  耗:<30W

9.整機不確定性誤差: ≤4%(標準樣片結(jié)果)

10.選購功能: 選購1.pc軟件; 選購2.方形探頭; 選購3.直線形探頭; 選購4.測試平臺

11.測試探頭:   探針間距選購:1mm;2mm;3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購:碳化鎢針;白鋼針;鍍金磷銅半球形針產(chǎn)品相冊

該公司產(chǎn)品分類: 超高阻四探針電阻率測試儀 超低阻四探針電阻率測試儀 表面/體積電阻率測試儀 電導(dǎo)率測試儀 材料電阻率測試儀 電線電纜電阻率測試儀 雙電四探針電阻率測試儀 電壓降測試儀系統(tǒng) 多功能電壓降測試儀 線束電壓降測試儀 插頭電壓降測試儀 高溫絕緣電阻率測試儀 高溫導(dǎo)電材料電阻率測試儀 高溫四探針電阻率測試儀 高溫粉末電阻率測試儀 電壓降測試儀 四探針測試儀

FT-341雙電測電四探針電阻率/方阻測試儀

 FT-341雙電測電四探針電阻率/方阻測試儀

廣泛用于:覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測試

硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻 半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件,導(dǎo)電薄膜(ITO導(dǎo)電膜玻璃等),金屬膜,導(dǎo)電漆膜,蒸發(fā)鋁膜,PCB銅箔膜,EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率 導(dǎo)電性油漆,導(dǎo)電性糊狀物,導(dǎo)電性塑料,導(dǎo)電性橡膠,導(dǎo)電性薄膜,金屬薄膜,抗靜電材料, EMI 防護材料,導(dǎo)電性纖維,導(dǎo)電性陶瓷等

 FT-341雙電測電四探針電阻率/方阻測試儀本儀器本儀器采用四探針雙電測量方法,適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示,無需人工計算,并帶有溫度補償功能,電阻率單位自動選擇,儀器自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程,無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。采用高精度AD芯片控制,恒流輸出,結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便,運輸安全、使用方便;選配:配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數(shù)據(jù),自動生成報表;本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時顯示液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率,配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購.

雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設(shè)計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換,進行兩次電測量,對數(shù)據(jù)進行雙電測分析,自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響,它與單電測直線或方形四探針相比,大大提高精確度,特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。

 FT-341雙電測電四探針電阻率/方阻測試儀參數(shù)資料

1.方塊電阻范圍:10-52×105Ω/□

2.電阻率范圍:10-52×106Ω-cm

3.測試電流范圍:0.1μA ,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA

4.電流精度:±0.1%讀數(shù)

5.電阻精度:≤0.3%

6.顯示讀數(shù):液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率

7.測試方式: 雙電測量

8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz  耗:<30W

9.整機不確定性誤差: ≤4%(標準樣片結(jié)果)

10.選購功能: 選購1.pc軟件; 選購2.方形探頭; 選購3.直線形探頭; 選購4.測試平臺

11.測試探頭: 探針間距選購:1mm;2mm;3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購:碳化鎢針;白鋼針;鍍金磷銅半球形針

該公司產(chǎn)品分類: 超高阻四探針電阻率測試儀 超低阻四探針電阻率測試儀 表面/體積電阻率測試儀 電導(dǎo)率測試儀 材料電阻率測試儀 電線電纜電阻率測試儀 雙電四探針電阻率測試儀 電壓降測試儀系統(tǒng) 多功能電壓降測試儀 線束電壓降測試儀 插頭電壓降測試儀 高溫絕緣電阻率測試儀 高溫導(dǎo)電材料電阻率測試儀 高溫四探針電阻率測試儀 高溫粉末電阻率測試儀 電壓降測試儀 四探針測試儀

FT-346山東雙電測電四探針電阻率/方阻測試儀

 FT-346山東雙電測電四探針電阻率/方阻測試儀

廣泛用于:覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測試

硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻 半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件,導(dǎo)電薄膜(ITO導(dǎo)電膜玻璃等),金屬膜,導(dǎo)電漆膜,蒸發(fā)鋁膜,PCB銅箔膜,EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率 導(dǎo)電性油漆,導(dǎo)電性糊狀物,導(dǎo)電性塑料,導(dǎo)電性橡膠,導(dǎo)電性薄膜,金屬薄膜,抗靜電材料, EMI 防護材料,導(dǎo)電性纖維,導(dǎo)電性陶瓷等

 FT-346山東雙電測電四探針電阻率/方阻測試儀本儀器本儀器采用四探針雙電測量方法,適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示,無需人工計算,并帶有溫度補償功能,電阻率單位自動選擇,儀器自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程,無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。采用高精度AD芯片控制,恒流輸出,結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便,運輸安全、使用方便;選配:配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數(shù)據(jù),自動生成報表;本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時顯示液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率,配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購.

雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設(shè)計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換,進行兩次電測量,對數(shù)據(jù)進行雙電測分析,自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響,它與單電測直線或方形四探針相比,大大提高精確度,特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。

 FT-346山東雙電測電四探針電阻率/方阻測試儀參數(shù)資料

1.方塊電阻范圍:10-22×105Ω/□

2.電阻率范圍:10-32×106Ω-cm

3.測試電流范圍:0.1μA1μA,10μA100µA,1mA10mA,100 mA

4.電流精度:±0.3%讀數(shù)

5.電阻精度:≤0.5%

6.顯示讀數(shù):液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率

7.測試方式: 雙電測量

8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz  耗:<30W

9.整機不確定性誤差: ≤4%(標準樣片結(jié)果)

10.選購功能: 選購1.pc軟件; 選購2.方形探頭; 選購3.直線形探頭; 選購4.測試平臺

11.測試探頭: 探針間距選購:1mm;2mm3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購:碳化鎢針;白鋼針;鍍金磷銅半球形針

該公司產(chǎn)品分類: 超高阻四探針電阻率測試儀 超低阻四探針電阻率測試儀 表面/體積電阻率測試儀 電導(dǎo)率測試儀 材料電阻率測試儀 電線電纜電阻率測試儀 雙電四探針電阻率測試儀 電壓降測試儀系統(tǒng) 多功能電壓降測試儀 線束電壓降測試儀 插頭電壓降測試儀 高溫絕緣電阻率測試儀 高溫導(dǎo)電材料電阻率測試儀 高溫四探針電阻率測試儀 高溫粉末電阻率測試儀 電壓降測試儀 四探針測試儀

FT-332金屬薄膜四探針電阻率測試儀驗證流程

金屬薄膜四探針電阻率測試儀驗證流程滿足標準

按照硅片電阻率測量的國際標準(ASTM F84)及國家標準設(shè)計制造該儀器設(shè)計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標準,本機配置232電腦接口及USB兩種接口,本機結(jié)合采用范德堡測量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結(jié)果的影響及誤差,比市場上其他普通的四探針測試方法更加完善和進步,特別是方塊電阻值較小的產(chǎn)品測量,更加準確.金屬薄膜四探針電阻率測試儀驗證流程產(chǎn)品功能

本儀器本儀器采用四探針單電測量法適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示,無需人工計算,并帶有溫度補償功能,電阻率單位自動選擇,儀器自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程,無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。采用高精度AD芯片控制,恒流輸出,結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便,運輸安全、使用方便;選配:配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數(shù)據(jù),自動生成報表;本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時顯示液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率,配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購.金屬薄膜四探針電阻率測試儀驗證流程參數(shù)規(guī)格

規(guī)格型

FT-331

FT-332

FT-333

FT-334

FT-335

FT-336

1.方塊電阻范圍

10-5~2×105Ω/□

10-4~2×105Ω/□

10-3~2×105Ω/□

10-3~2×104Ω/□

10-2~2×105Ω/□

10-2~2×104Ω/□

2.電阻率范圍 

10-6~2×106Ω-cm

10-5~2×106Ω-cm

10-4~2×106Ω-cm

10-4~2×105Ω-cm

10-3~2×106Ω-cm

10-3~2×105Ω-cm

測試電流范圍 

0.1μA ,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100mA

10μA,100µA,1mA,10mA,100mA

0.1μA ,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100mA

10μA,100µA,1mA,10mA,

100mA

0.1μA,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100mA

1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100mA

4.電流精度 

±0.1%

±0.2%

±0.2%

±0.3%

±0.3%

±0.3%

5.電阻精度

≤0.3%

≤0.3%

≤0.3%

≤0.5%

≤0.5%

≤0.5%

6.顯示讀數(shù)

液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率

7.測試方式

普通單電測量

8.工作電源

輸入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗:<30W 

9.誤差

4%(標準樣片結(jié)果)

10.選購功能

選購1.pc軟件; 選購2.方形探頭; 選購3.直線形探頭; 選購4.測試平臺;5.標準電阻

11.測試探頭

探針間距選購:1mm;2mm;3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購:碳化鎢針;白鋼針;鍍金磷銅半球形針

 

 售后服務(wù)

1.質(zhì)保:12個月,長期維護.

2.培訓(xùn):操作培訓(xùn):

電話教學(xué);U盤教學(xué)文件;遠程可視溝通;現(xiàn)場教學(xué);說明書教學(xué)文件

3.保養(yǎng)和維護:

提供因知保養(yǎng)和維護文件、標識、表格 、保養(yǎng)提醒.

4.驗證文件:

3Q驗證文件、計量證書

5.擴展服務(wù):

延保服務(wù),樣品測試服務(wù),后延服務(wù),儀器租賃服務(wù).

 金屬薄膜四探針電阻率測試儀驗證流程

 相關(guān)系列

規(guī)格型

FT-331

FT-332

FT-333

FT-334

FT-335

FT-336

1.方塊電阻范圍

10-5~2×105Ω/□

10-4~2×105Ω/□

10-3~2×105Ω/□

10-3~2×104Ω/□

10-2~2×105Ω/□

10-2~2×104Ω/□

2.電阻率范圍 

10-6~2×106Ω-cm

10-5~2×106Ω-cm

10-4~2×106Ω-cm

10-4~2×105Ω-cm

10-3~2×106Ω-cm

10-3~2×105Ω-cm

測試電流范圍 

0.1μA ,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100mA

10μA,100µA,1mA,10mA,100mA

0.1μA ,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100mA

10μA,100µA,1mA,10mA

100mA

0.1μA,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100mA

1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100mA

4.電流精度 

±0.1%

±0.2%

±0.2%

±0.3%

±0.3%

±0.3%

5.電阻精度

≤0.3%

≤0.3%

≤0.3%

≤0.5%

≤0.5%

≤0.5%

6.顯示讀數(shù)

液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率

7.測試方式

普通單電測量

8.工作電源

輸入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗:<30W 

9.誤差

4%(標準樣片結(jié)果)

10.選購功能

選購1.pc軟件; 選購2.方形探頭; 選購3.直線形探頭; 選購4.測試平臺;5.標準電阻

11.測試探頭

探針間距選購:1mm;2mm;3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購:碳化鎢針;白鋼針;鍍金磷銅半球形針

 

 

 

 

 

 

 

 

 

該公司產(chǎn)品分類: 粉體強度測試儀 電絕緣性測試儀 粒度儀 比重計 真密度儀 密度儀 密度計 鹵素水分儀 水分計 水分儀 水分儀 壓實密度 壓實密度測定儀 壓實密度測試儀 電壓降測試儀 高溫電阻率測試儀 高阻計 絕緣材料電阻率測試儀 絕緣材料電阻測試儀 表面體積電阻測試儀

FT-331普通四探針電阻率/方阻測試儀

 FT-331普通四探針電阻率/方阻測試儀

按照硅片電阻率測量的國際標準(ASTM F84)及國家標準設(shè)計制造該儀器設(shè)計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標準,本機配置232電腦接口及USB兩種接口,本機結(jié)合采用范德堡測量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結(jié)果的影響及誤差,比市場上其他普通的四探針測試方法更加完善和進步,特別是方塊電阻值較小的產(chǎn)品測量,更加準確.

 FT-331普通四探針電阻率/方阻測試儀本儀器本儀器采用四探針單電測量法適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示,無需人工計算,并帶有溫度補償功能,電阻率單位自動選擇,儀器自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程,無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。采用高精度AD芯片控制,恒流輸出,結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便,運輸安全、使用方便;選配:配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數(shù)據(jù),自動生成報表;本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時顯示液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率,配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購.

 FT-331普通四探針電阻率/方阻測試儀廣泛用于:覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測試

硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻 半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件,導(dǎo)電薄膜(ITO導(dǎo)電膜玻璃等),金屬膜,導(dǎo)電漆膜,蒸發(fā)鋁膜,PCB銅箔膜,EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率 導(dǎo)電性油漆,導(dǎo)電性糊狀物,導(dǎo)電性塑料,導(dǎo)電性橡膠,導(dǎo)電性薄膜,金屬薄膜,抗靜電材料, EMI 防護材料,導(dǎo)電性纖維,導(dǎo)電性陶瓷等

 FT-331普通四探針電阻率/方阻測試儀參數(shù)資料

1.方塊電阻范圍:10-52×105Ω/□

2.電阻率范圍:10-6106Ω-cm

3.測試電流范圍:0.1μA ,1μA10μA,100µA1mA,10mA,100 mA

4.電流精度:±0.1%讀數(shù)

5.電阻精度:≤0.3%

6.顯示讀數(shù):液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率

7.測試方式: 普通單電測量

8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz  耗:<30W

9.整機不確定性誤差: ≤4%(標準樣片結(jié)果)

10.選購功能: 選購1.pc軟件; 選購2.方形探頭; 選購3.直線形探頭; 選購4.測試平臺

11.測試探頭:   探針間距選購:1mm;2mm3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購:碳化鎢針;白鋼針;鍍金磷銅半球形針

該公司產(chǎn)品分類: 超高阻四探針電阻率測試儀 超低阻四探針電阻率測試儀 表面/體積電阻率測試儀 電導(dǎo)率測試儀 材料電阻率測試儀 電線電纜電阻率測試儀 雙電四探針電阻率測試儀 電壓降測試儀系統(tǒng) 多功能電壓降測試儀 線束電壓降測試儀 插頭電壓降測試儀 高溫絕緣電阻率測試儀 高溫導(dǎo)電材料電阻率測試儀 高溫四探針電阻率測試儀 高溫粉末電阻率測試儀 電壓降測試儀 四探針測試儀

FT-340系列雙電測四探針電阻率/方阻測試儀

 FT-340系列雙電測四探針電阻率/方阻測試儀

本儀器本儀器采用四探針雙電測量方法,適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示,無需人工計算,并帶有溫度補償功能,電阻率單位自動選擇,儀器自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程,無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。采用高精度AD芯片控制,恒流輸出,結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便,運輸安全、使用方便;選配:配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數(shù)據(jù),自動生成報表;本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時顯示液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率,配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購.

FT-340系列雙電測四探針電阻率/方阻測試儀雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設(shè)計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換,進行兩次電測量,對數(shù)據(jù)進行雙電測分析,自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響,它與單電測直線或方形四探針相比,大大提高精確度,特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。

FT-340系列雙電測四探針電阻率/方阻測試儀廣泛用于:覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測試

硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻 半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件,導(dǎo)電薄膜(ITO導(dǎo)電膜玻璃等),金屬膜,導(dǎo)電漆膜,蒸發(fā)鋁膜,PCB銅箔膜,EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率 導(dǎo)電性油漆,導(dǎo)電性糊狀物,導(dǎo)電性塑料,導(dǎo)電性橡膠,導(dǎo)電性薄膜,金屬薄膜,抗靜電材料, EMI 防護材料,導(dǎo)電性纖維,導(dǎo)電性陶瓷等

FT-340系列雙電測四探針電阻率/方阻測試儀 

規(guī)格型號

FT-341

FT-342

FT-343

FT-345

FT-346

FT-347

1.方塊電阻范圍

10-52×105Ω/□

10-42×103Ω/□

10-32×105Ω/□

10-32×103Ω/□

10-22×105Ω/□

10-22×103Ω/□

2.電阻率范圍

10-62×106Ω-cm

10-52×104-cm

10-42×106Ω-cm

10-42×104-cm

10-32×106Ω-cm

10-32×106Ω-cm

3.測試電流范圍

0.1μA,μA,0μA,100µA,1mA10mA,100 mA

1μA,10μA100µA,1mA,10mA,100 mA

0.1μA,μA,10μA,100µA1mA,10mA100 mA

1μA,10μA,100µA1mA,10mA100 mA

0.1μA,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA

1μA,10μA,100µA,1mA,10mA100 mA

4.電流精度

±0.1%讀數(shù)

±0.2%讀數(shù)

±0.2%讀數(shù)

±0.3%讀數(shù)

±0.3%讀數(shù)

±0.3%讀數(shù)

5.電阻精度

≤0.3%

≤0.3%

≤0.3%

≤0.5%

≤0.5%

≤0.5%

6.顯示讀數(shù)

大屏液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率

7.測試方式

雙電測量

8.工作電源

輸入: AC 220V±10% ,50Hz  耗:<30W

9.整機不確定性誤差

≤3%(標準樣片結(jié)果)

10.選購功能

選購1.pc軟件; 選購2.方形探頭; 選購3.直線形探頭; 選購4.測試平臺

11.測試探頭

探針間距選購:1mm;2mm3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購:碳化鎢針;白鋼針;鍍金磷銅半球形針

該公司產(chǎn)品分類: 超高阻四探針電阻率測試儀 超低阻四探針電阻率測試儀 表面/體積電阻率測試儀 電導(dǎo)率測試儀 材料電阻率測試儀 電線電纜電阻率測試儀 雙電四探針電阻率測試儀 電壓降測試儀系統(tǒng) 多功能電壓降測試儀 線束電壓降測試儀 插頭電壓降測試儀 高溫絕緣電阻率測試儀 高溫導(dǎo)電材料電阻率測試儀 高溫四探針電阻率測試儀 高溫粉末電阻率測試儀 電壓降測試儀 四探針測試儀

FT-345熱銷雙電測電四探針電阻率/方阻測試儀

 FT-345熱銷雙電測電四探針電阻率/方阻測試儀

廣泛用于:覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測試

硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻 半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件,導(dǎo)電薄膜(ITO導(dǎo)電膜玻璃等),金屬膜,導(dǎo)電漆膜,蒸發(fā)鋁膜,PCB銅箔膜,EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率 導(dǎo)電性油漆,導(dǎo)電性糊狀物,導(dǎo)電性塑料,導(dǎo)電性橡膠,導(dǎo)電性薄膜,金屬薄膜,抗靜電材料, EMI 防護材料,導(dǎo)電性纖維,導(dǎo)電性陶瓷等

FT-345熱銷雙電測電四探針電阻率/方阻測試儀本儀器本儀器采用四探針雙電測量方法,適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示,無需人工計算,并帶有溫度補償功能,電阻率單位自動選擇,儀器自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程,無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。采用高精度AD芯片控制,恒流輸出,結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便,運輸安全、使用方便;選配:配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數(shù)據(jù),自動生成報表;本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時顯示液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率,配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購.

雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設(shè)計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換,進行兩次電測量,對數(shù)據(jù)進行雙電測分析,自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響,它與單電測直線或方形四探針相比,大大提高精確度,特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試

FT-345熱銷雙電測電四探針電阻率/方阻測試儀參數(shù)資料

1.方塊電阻范圍:10-32×103Ω/□

2.電阻率范圍:10-42×104Ω-cm

3.測試電流范圍:10μA,100µA1mA,10mA,100 mA

4.電流精度:±0.3%讀數(shù)

5.電阻精度:≤0.5%

6.顯示讀數(shù):液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率

7.測試方式: 雙電測量

8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz  耗:<30W

9.整機不確定性誤差: ≤4%(標準樣片結(jié)果)

10.選購功能: 選購1.pc軟件; 選購2.方形探頭; 選購3.直線形探頭; 選購4.測試平臺

11.測試探頭: 探針間距選購:1mm;2mm;3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購:碳化鎢針;白鋼針;鍍金磷銅半球形針

該公司產(chǎn)品分類: 超高阻四探針電阻率測試儀 超低阻四探針電阻率測試儀 表面/體積電阻率測試儀 電導(dǎo)率測試儀 材料電阻率測試儀 電線電纜電阻率測試儀 雙電四探針電阻率測試儀 電壓降測試儀系統(tǒng) 多功能電壓降測試儀 線束電壓降測試儀 插頭電壓降測試儀 高溫絕緣電阻率測試儀 高溫導(dǎo)電材料電阻率測試儀 高溫四探針電阻率測試儀 高溫粉末電阻率測試儀 電壓降測試儀 四探針測試儀

FT-334供應(yīng)四探針電阻率/方阻測試儀

 FT-334供應(yīng)四探針電阻率/方阻測試儀

按照硅片電阻率測量的國際標準(ASTM F84)及國家標準設(shè)計制造該儀器設(shè)計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標準,本機配置232電腦接口及USB兩種接口,本機結(jié)合采用范德堡測量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結(jié)果的影響及誤差,比市場上其他普通的四探針測試方法更加完善和進步,特別是方塊電阻值較小的產(chǎn)品測量,更加準確.

 FT-334供應(yīng)四探針電阻率/方阻測試儀本儀器本儀器采用四探針單電測量法適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示,無需人工計算,并帶有溫度補償功能,電阻率單位自動選擇,儀器自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程,無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。采用高精度AD芯片控制,恒流輸出,結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便,運輸安全、使用方便;選配:配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數(shù)據(jù),自動生成報表;本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時顯示液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率,配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購.

 FT-334供應(yīng)四探針電阻率/方阻測試儀廣泛用于:覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測試

硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻 半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件,導(dǎo)電薄膜(ITO導(dǎo)電膜玻璃等),金屬膜,導(dǎo)電漆膜,蒸發(fā)鋁膜,PCB銅箔膜,EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率 導(dǎo)電性油漆,導(dǎo)電性糊狀物,導(dǎo)電性塑料,導(dǎo)電性橡膠,導(dǎo)電性薄膜,金屬薄膜,抗靜電材料, EMI 防護材料,導(dǎo)電性纖維,導(dǎo)電性陶瓷等

 FT-334供應(yīng)四探針電阻率/方阻測試儀參數(shù)資料

 

1.方塊電阻范圍:10-32×103Ω/□

2.電阻率范圍:10-42×104Ω-cm

3.測試電流范圍:10μA,100µA,1mA,10mA100 mA

4.電流精度:±0.3%讀數(shù)

5.電阻精度:≤0.5%

6.顯示讀數(shù):液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率

7.測試方式: 普通單電測量

8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz  耗:<30W

9.整機不確定性誤差: ≤4%(標準樣片結(jié)果)

10.選購功能: 選購1.pc軟件; 選購2.方形探頭; 選購3.直線形探頭; 選購4.測試平臺

11.測試探頭:   探針間距選購:1mm;2mm;3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購:碳化鎢針;白鋼針;鍍金磷銅半球形針

該公司產(chǎn)品分類: 超高阻四探針電阻率測試儀 超低阻四探針電阻率測試儀 表面/體積電阻率測試儀 電導(dǎo)率測試儀 材料電阻率測試儀 電線電纜電阻率測試儀 雙電四探針電阻率測試儀 電壓降測試儀系統(tǒng) 多功能電壓降測試儀 線束電壓降測試儀 插頭電壓降測試儀 高溫絕緣電阻率測試儀 高溫導(dǎo)電材料電阻率測試儀 高溫四探針電阻率測試儀 高溫粉末電阻率測試儀 電壓降測試儀 四探針測試儀

FT-342供應(yīng)雙電測電四探針電阻率/方阻測試儀

 FT-342供應(yīng)雙電測電四探針電阻率/方阻測試儀

本儀器本儀器采用四探針雙電測量方法,適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示,無需人工計算,并帶有溫度補償功能,電阻率單位自動選擇,儀器自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程,無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。采用高精度AD芯片控制,恒流輸出,結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便,運輸安全、使用方便;選配:配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數(shù)據(jù),自動生成報表;本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時顯示液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率,配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購.

 FT-342供應(yīng)雙電測電四探針電阻率/方阻測試儀雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設(shè)計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換,進行兩次電測量,對數(shù)據(jù)進行雙電測分析,自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響,它與單電測直線或方形四探針相比,大大提高精確度,特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。

 FT-342供應(yīng)雙電測電四探針電阻率/方阻測試儀廣泛用于:覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測試

硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻 半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件,導(dǎo)電薄膜(ITO導(dǎo)電膜玻璃等),金屬膜,導(dǎo)電漆膜,蒸發(fā)鋁膜,PCB銅箔膜,EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率 導(dǎo)電性油漆,導(dǎo)電性糊狀物,導(dǎo)電性塑料,導(dǎo)電性橡膠,導(dǎo)電性薄膜,金屬薄膜,抗靜電材料, EMI 防護材料,導(dǎo)電性纖維,導(dǎo)電性陶瓷等

 FT-342供應(yīng)雙電測電四探針電阻率/方阻測試儀參數(shù)資料

1.方塊電阻范圍:10-42×103Ω/□

2.電阻率范圍:10-52×104Ω-cm

3.測試電流范圍:10μA,100µA1mA,10mA,100 mA

4.電流精度:±0.2%讀數(shù)

5.電阻精度:≤0.3%

6.顯示讀數(shù):液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率

7.測試方式: 雙電測量

8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz  耗:<30W

9.整機不確定性誤差: ≤4%(標準樣片結(jié)果)

10.選購功能: 選購1.pc軟件; 選購2.方形探頭; 選購3.直線形探頭; 選購4.測試平臺

11.測試探頭: 探針間距選購:1mm;2mm;3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購:碳化鎢針;白鋼針;鍍金磷銅半球形針

該公司產(chǎn)品分類: 超高阻四探針電阻率測試儀 超低阻四探針電阻率測試儀 表面/體積電阻率測試儀 電導(dǎo)率測試儀 材料電阻率測試儀 電線電纜電阻率測試儀 雙電四探針電阻率測試儀 電壓降測試儀系統(tǒng) 多功能電壓降測試儀 線束電壓降測試儀 插頭電壓降測試儀 高溫絕緣電阻率測試儀 高溫導(dǎo)電材料電阻率測試儀 高溫四探針電阻率測試儀 高溫粉末電阻率測試儀 電壓降測試儀 四探針測試儀

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