愛克特電子型涂鍍層測厚儀概況：測頭主機一體，結構緊湊，單手操作；研制的測頭頂部由非常耐磨的硬制材料制成，使用而不損壞。標準箔及標準板可安全地存放在內置儲存?zhèn)}內。儀器隨測頭型號的不同有三種類型：F型測頭采用磁感應原理，在鋼鐵基材上測量。N型測頭采用電渦流原理，在有色金屬基材測量。FN兩用型測頭可在所有金屬基材上測量。儀器符合DIN、ISO、BS、ASTM標準。
愛克特電子型涂鍍層測厚儀技術參數(shù):
| 測量范圍： | F型 0-3000μm |
| N型 0-2000μm | |
| FN兩用型 0-2000μm | |
| 讀值精度： | ±（2μm + 3%讀值） |
| 低端分辨率： | 0.1μm |
| 最小曲率半徑： | 5mm（凸），25mm（凹，分體式），35mm（凹，一體式） |
| 最小測量區(qū)直徑： | 20mm |
| 最小測量基體厚度： | 0.5mm（對F型），50μm（對N型） |
| 顯示： | 4位液晶顯示 |
| 測量單位： | μm /mils可選 |
| 校準方式： | 標準，一點校準，二點校準 |
| 統(tǒng)計數(shù)據(jù)： | s，n（最多可達90個讀值）單值/批量 |
| 接口： | RS-232 |
| 電源： | 2節(jié)堿性電池，至少測量1萬次 |
| 儀器尺寸： | 165mm ×44mm ×38mm |
| 儀器重量： | 200g |
| 操作溫度： | 0-50℃ |
涂鍍層測厚儀采用了磁性測厚法，是一種超小型測量儀，它能快速、無損傷、精頦地進行鐵磁性金屬基體上的覆層厚度的測量?？蓮V泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領域。由于該儀器體積小，測頭與儀器一體化，特別適用于工程現(xiàn)場測量。 涂鍍層測厚儀詳細說明 TT220采用了磁性測厚法，是一種超小型測量儀，它能快速、無損傷、精頦地進行鐵磁性金屬基體上的覆層厚度的測量?？蓮V泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領域。由于該儀器體積小，測頭與儀器一體化，特別適用于工程現(xiàn)場測量。 涂鍍層測厚儀主要功能 可進行零點校準及二點校準。 可對測頭進行基本校準。 設有五個統(tǒng)計量：平均值（MEAN）、最大值（MAX）、最小值（MIN）、測試次數(shù)（NO）、標準偏差（S.DEV）。 可存貯和統(tǒng)計計算15個測量值。 具有兩種測量方式：連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）。 具有自動關機功能。 刪除功能：對測量中出現(xiàn)的單次可疑數(shù)據(jù)進行刪減 操作過程有蜂鳴聲提示。 有欠壓指示功能。 有錯誤提示功能。 主要技術指標 測量原理：磁性法 測量范圍:1～1250μm 測量精度：±（3%H+1）μm（零點校準） ±[(1～3)%H+1] μm（二點校準）
聯(lián)系方式 |
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CMI-700CMI-700
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產品系列DT-156涂鍍層測厚儀探頭可以工作在電磁感應和渦流兩種原理下。在自動模式（AUTO）下，兩種原理可視測量的基體自動轉換，或可通過菜單進行自動模式和非自動模式轉換。 特性 1、可測量涂鍍層：①磁性物質表面的非磁性涂鍍層厚度②非磁性金屬表面的絕緣涂鍍層厚度2、豐富的操作菜單3、連續(xù)和單次測量方式4、直接工作模式和組工作模式5、可統(tǒng)計并顯示：平均值、最大值、最小值、標準方差、統(tǒng)計數(shù)6、可進行一點或兩點校準7、可保存400個測量數(shù)據(jù)8、USB連接并將數(shù)據(jù)傳輸至電腦9、實時刪除測量數(shù)據(jù)和組數(shù)據(jù)10、紅寶石探頭11、低電和錯誤提示12、可設置的自動關機功能 技術指標
| 傳感器探頭 | 鐵磁性 | 非鐵磁性 |
| 工作原理 | 磁感應 | 渦流 |
| 測量范圍 | 0~1250μm | 0~1250μm |
| 精確度 | ±3%+1μm | ±3%+1.5μm |
| 分辨率 | 0.1μm | 0.1μm |
| 最小曲率半徑 | 1.5mm | 3mm |
| 最小測量面積（直徑） | 7mm | 5mm |
| 可測量基體最小厚度 | 0.5mm | 0.3mm |
尺寸：113.5*54*27mm重量：110g
CMI700涂鍍層測厚儀介紹
CMI700能同時為磁性基材上的非磁性涂/鍍層、導性基材上的非導性涂/鍍層，以及磁性基材上的電鍍鎳層提供高科技的無損涂鍍層厚度檢測。CMI700所使用的大型帶背光的液晶顯示器，您能從任意角度以及較遠的距離輕松觀察到測量的數(shù)據(jù)和結果，并能在最短的時間內提供最精確的測量結果。
CMI700涂鍍層測厚儀主要特點
CMI900/950系列X射線熒光測厚儀 Advanced Materials Analysis Instrument
CMI900/950系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域，為產品質量控制提供、快速的分析?；赪indows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版SmartLink FP應用軟件包，實現(xiàn)了對CMI900/950主機的自動化控制，分析中不需要任何手動調整或手動參數(shù)設定?？赏瑫r測定最多5層、15種元素。數(shù)據(jù)統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求；如在分析報告中插入數(shù)據(jù)圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。統(tǒng)計功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。
CMI900/950系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀、各種尺寸的樣品；并且測量點最小可達0.025 x 0.051毫米。
| 本涂鍍層測厚儀探頭可以工作在電磁感應和渦流兩種原理下。在自動模式（AUTO）下，兩種原理可視測量的基體自動轉換，或可通過菜單進行自動模式和非自動模式轉換。 1.可測量涂鍍層： 任何磁性物質表面的非磁性涂鍍層厚度；任何非磁性金屬表面的絕緣涂鍍層厚度 2.易于操作的菜單設計l 3.連續(xù)和單次測量方式l l 4.直接工作模式和組工作模式 5.可統(tǒng)計并顯示：平均值、最大值、最小值、標準方差、統(tǒng)計數(shù)l 6.非常方便的進行一點或兩點校準l l 7.可保存320個測量數(shù)據(jù)供隨時下載至計算機處理 8.實時刪除測量數(shù)據(jù)和組數(shù)據(jù)l 9.高低限報警l 10.低電和錯誤提示l l 11.USB傳輸數(shù)據(jù)至計算機分析統(tǒng)計 12.可設置的自動關機功能l
測溫儀*1 使用說明書 *1 保修卡 *1 電池 *2 硬盒*1 彩盒*1 USB連接線纜*1 軟件CD*1 1.4 探頭*1 |