XJY-1型正置金相顯微鏡
產品描述
XJY-1正置金相顯微鏡是國內較新的中級金相顯微鏡，能廣泛應用于金相、巖相、集成電路、晶體等領域內的檢驗及科學研究工作。
儀器光路采用了無窮遠成像系統(tǒng)，配有一座新設計的平場消色差物鏡和大視場目鏡，其成像清晰平坦，視域開闊，具有優(yōu)良的組織能力。儀器造型新，結構穩(wěn)固，所具有的功能全部裝置在顯微鏡主機內，從而確保使用者快速操作，并能獲得一致的成像效果。
配置表
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| 顯微鏡主體 | 正置式金相顯微鏡 |
| 平場消色差物鏡 | 10X、20X、40X、80X |
| 目鏡 | 10X |
| 放大倍數(shù) | 125倍至1000倍 |
| 調焦機構 | 同粗微調機構，調節(jié)范圍36mm，微動格值0.002mm |
| 載物臺 | 物臺面積190mm*150mm |
| 同軸式X,Y向轉動手輪，X向行程為90mm，Y向行程為60mm | |
| 照明 | 12V300W鹵素燈光源，可以連續(xù)調壓 |
| 底座配有透射光源；手輪開關 | |
| 偏光裝置 | 內置式起偏和檢偏系統(tǒng) |
| 儀器功能 | 明場，偏光，攝影等 |
| 儀器體積 | 長380mm，寬200mm，高460mm |
| 儀器重量 | 11.8公斤 |
DM 2500 M 正置金相顯微鏡·新一代HC光學系統(tǒng)，超高解析度 ·新型高反差物鏡系列HI Plan EPI帶來高清晰圖像·新性能：彩色編碼的光圈輔助（CDA)，使操作簡便快捷·內置式調焦限位功能保護您的標本和物鏡·支架具有靈活性：2種反射光軸（4位和5位光軸）、3種物鏡轉換盤（BF/DF /M32),可選透射光應用·滿足各種標本應用，標本尺寸最大100X100mm,80mm·易于連接照相，視頻，數(shù)碼照相及圖像軟件
| 技術規(guī)格 | |
| 光學系統(tǒng) | HC(和諧系統(tǒng)） |
| 放大倍數(shù) | 50×～1000× |
| 聚焦 | 2檔同軸聚焦或3檔帶調焦限位，微調1um |
| 載物臺垂直行程 | 25mm |
| 反射光 | 全金屬反射光軸，可調中孔徑光欄和視場光欄，4位反射光濾鏡 |
| 物鏡轉換器/物鏡 | 5位BF/DF M32、6位BF M25和7位BF M25物鏡轉換器 -HI PLAN EPI物鏡，5X、10X、20X -N PLAN EPI物鏡，2.5X-100X -PLAN Fluotar 物鏡1.25X-100X -長工作距離物鏡 |
| 附件 | 光學變倍（1.5X和2X) 固定物臺，高科技超硬陶瓷表面，行程76X50mm，左右手操作 測量物臺，帶數(shù)據(jù)顯示，USB數(shù)據(jù)傳輸口，行程76X40mm |
| 透射光 | 12V100W鹵素燈 內置式濾片座 |
SJ2028高倍金相顯微測量分析系統(tǒng)是從SJ2008基礎上改進而成的。它包括數(shù)碼金相顯微鏡及圖像測量分析軟件.系統(tǒng)集成了傳統(tǒng)目視與現(xiàn)代影像功能，它擁有內置高亮度可持續(xù)調節(jié)的同軸光，高達1000X－8000X的電子放大倍率和100 X－800 X的光學放大倍率, ±300納米測量精度，使成像更加清晰可見.專業(yè)開發(fā)圖像測量分析軟件,能夠快速精確的捕捉各種圖像,具有圖像測量、管理及處理等功能.產品適用于IC芯片、PCB覆銅板、液晶屏導電離子的檢測和工礦、科研,教學等單位研究和觀察等.尤其對于細小顆粒、粉末試樣、大批金相和大面積硅片的檢測,可得到的圖像效果. 本產品是經濟普及型亞納米級測量產品,比同類產品具有的性價比.
技術規(guī)格
| 數(shù)碼金相顯微鏡型號 | XHC-SV1 | XHC-SV1 |
| 光學系統(tǒng) | UIS 無限遠光學系統(tǒng) | |
| 光路設計 | 透、反射雙光路，明暗場 | |
| 放大倍數(shù) | 50X-400X | |
| 物鏡 | 平場無限遠超長工作距離明暗場物鏡 5× （29.4mm） 10×（16.0mm） 20×（10.6mm） 40×（5.4mm） |
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| 選配物鏡 | 50×（5.1mm） 80×（4mm） 100×（3mm） | |
| 目鏡 | 超大視場高眼點平場目鏡WF10×/25mm WF10×/20mm帶十字分劃（選配） | |
| 轉換器 | 帶DIC插孔四孔轉換器 | |
| 聚光鏡 | NA1.25阿貝聚光鏡帶可變光欄和濾色片 | |
| 數(shù)碼系統(tǒng) | 130萬或300萬像素彩色CCD系統(tǒng) | |
| 圖像軟件 | 高清晰視頻傳輸，數(shù)碼拍照功能，二維測量軟件 專業(yè)的金相圖像分析軟件（選配） | |
| 調焦系統(tǒng) | 具有粗、微調同軸調節(jié)，行程40mm，微動格值0.002mm | |
| 載物臺 | 二維移動載物臺，低位同軸手輪操作 X、Y移動范圍：50mm×80mm 平臺尺寸：189mmX160mm | |
| 照明系統(tǒng) | 透、反射雙光路科勒照明系統(tǒng) 偏光裝置 插板式濾色片（綠、藍、中性） | |
| 偏光裝置 | 檢偏鏡可360度轉動，起偏鏡、檢偏鏡均可移出光路 |
主要用途
XHC-SV1型數(shù)碼正置金相顯微鏡可廣泛應用于半導體、FPD、電路封裝、電路基板、材料、鑄件/金屬/陶瓷部件、精密模具的檢測。
雙目鏡筒：傾斜45°,瞳距：54mm-74mm， 目鏡：WHE10X/WH15X 5孔轉換器，物鏡：5X、10X、20X、40X 綜合倍率：50X-600X 照明：鹵素燈6V20W，內置式反射照明光源 載物臺：尺寸185mm-140mm，X：77mm，Y：52mm 粗微動調焦，微動格值：0.002mm 選配件：物鏡60X，100X（干）
常規(guī)經濟型正置金相顯微鏡·正置顯微鏡，選取觀察點方便 ·加長工作距離，試樣尺寸范圍寬 ·適用鑄鐵、碳鋼在線檢查 ·易于連接數(shù)碼，135照相，視頻成像
:::: 主要技術參數(shù): ::::::::::::::::::::::::::::::
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| 特點: XJZ 系列正置金相顯微鏡，采用平場消色差光學系統(tǒng)和落射式柯拉照明系統(tǒng)，同時在落射照明系列中設計防反結構，防止反射光干擾成像光線，從而使成像更清晰、視場襯度更好，提供穩(wěn)定的操作機構,使成像更清晰,操作更簡便，廣泛應用于各類半導體硅晶片檢測、材料科學研究、地質礦物分析及精密工程等學科領域。 顯微鏡鏡體采用的人機工程學設計，結構勻稱，實現(xiàn)鏡體擴展積木化，工作臺、光強與粗微調的低位操作，提高了使用的舒適性。 |