本產(chǎn)品詳細說明:煙氣分析儀testo 325-1 | |
測量參數(shù) 溫度:-40~+600 ℃ 壓力:-40~+40毫巴 O2:0~21% CO:0~2000ppm 煙氣分析儀testo 325-1參數(shù) CO2: 0~CO2max 效率:0~+120% 可選配煙氣探針、溫度探頭和黑度儀 主要特點 :測量、保持、紅外打印 |
●高價現(xiàn)金收購、出租/售/維修8960,E5515C,CMU200,CMD55綜測儀/二手網(wǎng)絡(luò)分析儀/頻譜儀/信號源/示波器/CDMA,GSM,WCDMA,TD手機測試儀器。。。15994798595文軍//Q號:42337077深圳君悅儀器/深圳市福田區(qū)華富路1006號(上海賓館旁邊)
當能量高于原子內(nèi)層電子結(jié)合能的高能X射線與原子發(fā)生碰撞時,驅(qū)逐一個內(nèi)層電子而出現(xiàn)一個空穴,使整個原子體系處于不穩(wěn)定的激發(fā)態(tài),激發(fā)態(tài)原子壽命約為 10-12-10-14s,然后自發(fā)地由能量高的狀態(tài)躍遷到能量低的狀態(tài)。這個過程稱為馳豫過程。馳豫過程既可以是非輻射躍遷,也可以是輻射躍遷。當較外層的電子躍遷到空穴時,所釋放的能量隨即在原子內(nèi)部被吸收而逐出較外層的另一個次級光電子,此稱為俄歇效應(yīng),亦稱次級光電效應(yīng)或無輻射效應(yīng),所逐出的次級光電子稱為俄歇電子。它的能量是特征的,與入射輻射的能量無關(guān)。當較外層的電子躍入內(nèi)層空穴所釋放的能量不在原子內(nèi)被吸收,而是以輻射形式放出,便產(chǎn)生X 射線熒光,其能量等于兩能級之間的能量差。因此,X射線熒光的能量或波長是特征性的,與元素有一一對應(yīng)的關(guān)系。
K層電子被逐出后,其空穴可以被外層中任一電子所填充,從而可產(chǎn)生一系列的譜線,稱為K系譜線:由L層躍遷到K層輻射的X射線叫Kα射線,由M層躍遷到K層輻射的X射線叫Kβ射線……。同樣,L層電子被逐出可以產(chǎn)生L系輻射。如果入射的X 射線使某元素的K層電子激發(fā)成光電子后L層電子躍遷到K層,此時就有能量ΔE釋放出來,且ΔE=EK-EL,這個能量是以X射線形式釋放,產(chǎn)生的就是Kα 射線,同樣還可以產(chǎn)生Kβ射線 ,L系射線等。莫斯萊(H.G.Moseley) 發(fā)現(xiàn),熒光X射線的波長λ與元素的原子序數(shù)Z有關(guān),其數(shù)學(xué)關(guān)系如下:
λ=K(Z-s)-2
這就是莫斯萊定律,式中K和S是常數(shù),因此,只要測出熒光X射線的波長,就可以知道元素的種類,這就是熒光X射線定性分析的基礎(chǔ)。此外,熒光X射線的強度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系,據(jù)此,可以進行元素定量分析。
(二)XR-306能量色散X熒光光譜儀特點
1.無需制樣即可直接測量.
2. 所有元素可以同時測量,且短短幾分鐘即可完成分析,可以應(yīng)付大批量待測樣品.
3. 檢出限低,可以滿足WEEE和ROHS指令要求.
4. 無損分析. 分析樣品不被破壞,分析快速,,便于自動化。
5. 沒有人為誤差,誰操作都得到一樣的結(jié)果.
6. 操作簡單,可以單鍵完成操作.
7.分析的元素范圍廣,從Na到U均可測定;
8.熒光X射線譜線簡單,相互干擾少,樣品不必分離,分析方法比較簡便;
9.分析濃度范圍較寬,從常量到微量都可分析。重元素的檢測限可達ppm量級,
10、連續(xù)測試重復(fù)性極強,測試數(shù)據(jù)穩(wěn)定
(三)能量色散光譜分析儀與波長色散光譜分析儀的區(qū)別
能量色散分析儀只有一個探測器,它對測量X射線能量范圍是不受限制的,而且這個探測器能同時測量到所有能量的X射線。也就是說只要激發(fā)樣品的X射線的能量和強度能滿足激發(fā)所測樣品的條件,對一組分析的元素都能同時測量出來。一般有以下三種基本類型的探測器可用于測量X射線:密封式或流氣式充氣探測器、閃爍探測器、半導(dǎo)體探測器。
能量色散的條件是當樣品被激發(fā)后產(chǎn)生的X射線通過窗口進入探測器探測器把X射線能量轉(zhuǎn)換成電荷脈沖,每個X射線光子在探測器中生成的電荷與該光子的能量成正比。該電荷被轉(zhuǎn)換成電壓脈沖,當這些電壓脈沖經(jīng)充分放大后,被送入脈沖處理器,脈沖處理器把這些代表著各個元素的模擬信號再轉(zhuǎn)換成為數(shù)字信號,由計算機進行分類,分別存入多道分析器(MCA)的相應(yīng)通道內(nèi),一般使用1024-2048道MCA。這些通道覆蓋了分析的整個能量范圍。
波長色散分析儀是用多個衍射晶體分開待測樣品中各元素的波長,由此對元素進行測量。晶體被安裝在適當位置,以滿足布拉格定律的要求。 X射線熒光分析和其它光譜分析一樣,也是一種相對分析。這就是說,要有一套參考標樣,這些參考標樣能夠在可能感興趣的范圍內(nèi)覆蓋所測元素。首先對這些標樣進行測量,記錄欲分析元素的強度,建立濃度(含量)、強度(CPS)校準曲線,存入處理數(shù)據(jù)的計算機,供以后分析同一類型未知樣品時使用。 最簡單的校準線是直線,強度與濃度的依賴關(guān)系反映儀器的靈敏度。
另外由于校準線要在很長一段時間內(nèi)使用,所以應(yīng)對儀器的漂移作出調(diào)整,盡管這種漂移不大,但它確實存在。這可以通過對每個分析元素選用高、低兩個參考點來實現(xiàn)。制備若干被稱作SUS(調(diào)整樣)的特殊樣品,它們含有適量的分析元素,有很好的穩(wěn)定性。利用它們可以求出高、低強度值。
產(chǎn)品規(guī)格:
名 稱 | X熒光光譜儀 |
型 號 | XR-306 |
分析原理 | 能量色散X射線熒光分析法 |
分析元素 | Na ~U任意元素, 鉛(Pb)、鎘(Cd)、汞(Hg)、六價鉻(Cr6+)、多溴聯(lián)苯(PBB)和多溴聯(lián)苯醚(PBDE)中的溴。 |
技術(shù)指標 | 檢出下限(Cd/Pd):Cd/Cr/Hg/Br≦2 ppm, Pb≦5 ppm 樣品形狀:任意大小,任意不規(guī)則形狀 樣品類型:塑膠/金屬/薄膜/粉末/液體 X射線管:靶材/Mo 管電壓/5~50 kV 管電流/最大1~1000 μA 照射直徑:2、5、8mm 探測器:Si(PIN)半導(dǎo)體高靈敏度探測器 濾光片:八種新型濾光片自動選擇 樣品定位:微動載物平臺(選配) 樣品觀察:30倍彩色CCD攝像機 微區(qū)分析:X光聚焦微區(qū)分析系統(tǒng)(選配)軟件 定量分析:理論Alpha系數(shù)法(NBS-GSC法) 數(shù)據(jù)處理:IMB PC/AT/內(nèi)存/256 MB 以上/硬盤/40 GB 以上 系統(tǒng):Windows XP正版 功率:1.1kW 重量:40Kg 外形尺寸:550(W)×450(D)×450(H)mm |
標準配置 | 標準配置:Si(PIN)半導(dǎo)體高靈敏度探測器(<150eV) X光光管(壽命>15000小時) 高壓電源(RSD<0.25%) 大樣品倉 高精密攝像機(130萬像素) Alpha系數(shù)法(NBS-GSC法)定量軟件 計算機(P4品牌機) 打印機(愛普生彩色噴墨打印機) 測試用樣品杯2個,測試用塑料薄膜數(shù)張 標 樣:歐盟EC681一片、銀校正標樣一片。 1KVA UPS不間斷電源 儀器工作臺 |
工作條件 | 工作溫度:10-30℃ 相對濕度:≤70% 電源:AC 220 V±10 %、50/60 Hz |
樣品溫度:0-100.0℃模擬輸出(1 和2):0.00- 20.00mA 或4.00 -20.00mA 環(huán)境條件:操作:-20-60℃;0-95% 相對濕度,無冷凝
在過去若干年中,隨著對涂層性能需求的增加,要求更嚴格的控制整個涂層工序過程。Elcometer 365經(jīng)特別設(shè)計,用于提供一種涂層檢驗的控制方法,因此客戶可以用統(tǒng)計分析(SPC)監(jiān)測噴涂過程。由Elcometer 365所測到的數(shù)據(jù),可警告操作者在涂層參數(shù)超標前注意工藝過程,避免因返工而造成成本增加。 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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(右上圖:符合標準:第132頁所列的標準。敬請注意相關(guān)標準所選取決于所選探頭)對涂層過程的控制需要分析大量的數(shù)據(jù)讀數(shù)。Elcometer 365是一種簡單、、方便的便攜式儀器,可同時滿足數(shù)據(jù)儲存和分析的需要。Elcometer 365所用的探頭模塊以下列方式為涂層厚度數(shù)據(jù)收集提供的數(shù)值分析:
用戶可快速定義數(shù)據(jù)收集方式,選擇適當?shù)臄?shù)據(jù)以判斷涂層過程是否達到規(guī)范要求。Elcometer 365會在工藝過程失控前給出預(yù)先警告。特性分析:Elcometer 365不僅僅是一個涂層測厚儀。通過更換不同的特性模式,監(jiān)測者可以記錄所有的涂層缺陷并提供特性分析,如劃痕、削片、桔皮等,并以排列圖顯示。 技術(shù)參數(shù):
附件:
標準:
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X熒光鈣鐵分析儀是一種新型的采用純物理分析方法的微機化臺式儀器該機采用熒光光管激發(fā)原理不含放射源。用于水泥廠、磚廠,能夠30秒快速分析旋窯、機立窯、窯外分解旋窯廠家的白生料、全黑或半黑生料、熟料、水泥中 CaO、Fe2O3的百分含量,為配料成分控制及時提供數(shù)據(jù)。由于它的分析速度快(30秒),因此可實時監(jiān)控生產(chǎn)過程中成份變化的情況,便于及時調(diào)整原料配比,為生產(chǎn)合格熟料、水泥打下堅實的基礎(chǔ)。同時可用于分析石灰石、粘土、鐵粉、粉煤灰、煤矸石、磚坯等混合材中CaO、Fe2O3的百分含量,為進廠原材料提供質(zhì)量數(shù)據(jù)。除建材工業(yè)外,亦可用于需要分析CaO、Fe2O3百分含量的各種場合。大屏幕液晶顯示,全中文菜單提示操作,智能錯誤報警提示,使用極為方便。不用任何化學(xué)試劑、無三廢排放,不含放射源、低耗電,符合環(huán)保節(jié)能安全要求。
testo 330-3煙氣分析儀包括充電電池和標定證書;O2、CO2、CO(帶H2補償),毛/凈效率,抽力/壓力。