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詳細說明 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
行業(yè) CMI900X射線熒光鍍層測厚儀,有著非破壞,非接觸,多層合金測量,高生產(chǎn)力,高再現(xiàn)性等優(yōu)點,在質(zhì)量管理到不良品分析有著廣泛的應(yīng)用。 應(yīng)用 用于電子元器件,半導(dǎo)體,PCB,汽車零部件,功能性電鍍,裝飾件,連接器等多個行業(yè)。 |
CMI做為品牌在PCB及電鍍行業(yè)已形成一個行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),南華地區(qū)90%以上的大型企業(yè)都在使用CMI900系列做為檢測鍍層厚度的行業(yè)工具
X-熒光鍍層測厚儀CMI900 / 950金屬鍍層厚度的精確測量
CMI 900 / 950 系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器,可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領(lǐng)域,為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供、快速的分析.基于Windows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版 SmartLink FP 應(yīng)用軟件包,實現(xiàn)了對CMI900/950主機的自動化控制,
技術(shù)參數(shù):
CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測量儀,在技術(shù)上一直以來都領(lǐng)先于全世界的測厚行業(yè)
A CMI 900 能夠測量包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層
(銀、金、鈀、錫等)和其它薄鍍層。區(qū)別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時測定最多5層、15 種元素。
B :精確度領(lǐng)先于世界,精確到0。025um (相對與標(biāo)準(zhǔn)片)
C :數(shù)據(jù)統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式,以滿足您特定的分析報告格式要求 ;
如在分析報告中插入數(shù)據(jù)圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。
D :統(tǒng)計功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。CMI900/950系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品;
E :可測量任一測量點,最小可達0.025 x 0.051毫米樣品臺選擇:CMI900系列采用開槽式樣品室,以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規(guī)格的樣品臺供用戶選用,分別為: 一:手動樣品臺1 標(biāo)準(zhǔn)樣品臺:XY軸手動控制、Z軸自動控制。 2 擴展型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺:XY軸手動控制、Z軸自動控制。 3 可調(diào)高度型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺:XY軸手動控制、Z軸自動控制。
二:自動樣品臺
1 程控樣品臺:XYZ軸自動控制。 2 超寬程控樣品臺:XYZ軸自動控制。
CMI950系列采用開閉式樣品室,以方便測定各種形狀、各種規(guī)格的樣品。如右下圖所示。同樣,CMI950可提供四種規(guī)格的樣品臺供用戶選用,分別為:1 全程控樣品臺:XYZ 三軸程序控制樣品臺,可接納的樣品最大高度為150mm,XY 軸程控移動范圍為 300mm x 300mm。 此樣品臺可實現(xiàn)測定點自動編程控制。 2 Z軸程控樣品臺:XY軸手動控制,Z軸自動控制,可接納的樣品最大高度為270mm。
3 全手動樣品臺:XYZ三軸手動控制,可接納的樣品最大高度為356mm。 可擴展式樣品臺用于接納超大尺寸樣品。
CMI900/950主要技術(shù)規(guī)格如下:
No. | 主要規(guī)格 | 規(guī)格描述 | |
1 | X射線激發(fā)系統(tǒng) | 垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng) | |
空冷式微聚焦型X射線管,Be窗 | |||
標(biāo)準(zhǔn)靶材:Rh靶;任選靶材:W、Mo、Ag等 | |||
功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-標(biāo)準(zhǔn) 75W(4-50kV,0-1.5mA)-任選 X射線管功率可編程控制 | |||
裝備有安全防射線光閘
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2 | 濾光片程控交換系統(tǒng) | 根據(jù)靶材,標(biāo)準(zhǔn)裝備有相應(yīng)的一次X射線濾光片系統(tǒng) | |
二次X射線濾光片:3個位置程控交換,Co、Ni、Fe、V等多種材質(zhì)、多種厚度的二次濾光片任選 | |||
位置傳感器保護裝置,防止樣品碰創(chuàng)探測器窗口
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3 | 準(zhǔn)直器程控交換系統(tǒng) | 最多可同時裝配6種規(guī)格的準(zhǔn)直器,程序交換控制 | |
多種規(guī)格尺寸準(zhǔn)直器任選: -圓形,如4、6、8、12、20 mil等 -矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
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4 | 測量斑點尺寸 | 在12.7mm聚焦距離時,最小測量斑點尺寸為:0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm準(zhǔn)直器) | |
在12.7mm聚焦距離時,最大測量斑點尺寸為:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準(zhǔn)直器)
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5 | X射線探測系統(tǒng) | 封氣正比計數(shù)器 | |
裝備有峰漂移自動校正功能的高速信號處理電路
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6 | 樣品室 | CMI900 | CMI950 |
| -樣品室結(jié)構(gòu) | 開槽式樣品室 | 開閉式樣品室 |
-最大樣品臺尺寸 | 610mm x 610mm | 300mm x 300mm | |
-XY軸程控移動范圍 | 標(biāo)準(zhǔn):152.4 x 177.8mm 任選:50.8mm x 152.4mm 50.4mm x 177.8mm 101.6 x 177.8mm 177.8 x 177.8mm 610mm x 610mm | 300mm x 300mm | |
-Z軸程控移動高度 | 43.18mm | XYZ程控時,152.4mm XY軸手動時,269.2mm | |
-XYZ三軸控制方式 | 多種控制方式任選:XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制 |
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詳細資料請電:13761400826
韓國Micro Pioneer XRF-2000 系列熒光金屬鍍層測厚儀能提供金屬鍍層厚度的測量,同時可對電鍍液進行分析,不單性能,而且價錢超值.只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到的測量結(jié)果,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任.全自動XYZ樣品臺,鐳射自動對焦系統(tǒng),十字線自動調(diào)整.超大/開放式的樣品臺,可測量較大的產(chǎn)品.是線路板,五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的.可測量各類金屬層、合金層厚度.
可測元素范圍: 鈦(Ti) – 鈾(U) 可測量厚度范圍: 原子序 22-25,0.1-0.8μm 26-40,0.05-35μm 43-52,0.1-100μm 72-82,0.05-5μm X-射線管:油冷,超微細對焦 高壓:0-50KV(程控) 準(zhǔn)直器: 固定種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm 自動種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm 電腦系統(tǒng):IBM相容,17”顯示器 綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析 鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層. 鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對方式,無需購買標(biāo)準(zhǔn)藥液. 定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量. 光譜對比功能:可將樣品的光譜和標(biāo)準(zhǔn)件的光譜進行對比,可確定樣品與標(biāo)準(zhǔn)件的差別,從而控制來料的純度.
統(tǒng)計功能:能夠?qū)y量結(jié)果進行系統(tǒng)分析統(tǒng)計,方便的控制品質(zhì)
基于25年涂鍍層測量經(jīng)驗,在CMI900系列測厚儀的堅實基礎(chǔ)上,引進的設(shè)計:
l 新100瓦X射線管 - 市場上所能提供的X射線管。提高30%測量精度,同時減少50%測量時間
l 更小的X射線光斑尺寸 - 新增15mil直徑準(zhǔn)直器,可測量電子器件上更小的部位。提供改進的CCD攝像頭及縮放裝置,同時提供更高精度的Y軸控制。
l 距離獨立測量(DIM) - 更靈活地特殊形狀樣品,可在DIM范圍內(nèi)12.5-90mm(0.5-3.5inch)對樣品表面進行測量,Z軸可控制范圍為230mm(9inch)。可通過手動調(diào)整也可以通過自動鐳射聚焦來實現(xiàn)對樣品的精確對準(zhǔn)。
l 自動鐳射聚焦 - 自動尋找振決的聚焦距離,改善DIM的聚焦過程并提高系統(tǒng)測量再現(xiàn)性。也可選擇標(biāo)準(zhǔn)的鐳射聚焦模式。
l 的大型樣品室 - 更大的開槽式樣品室(580x510x230mm : 23x20x9inch),開槽式設(shè)計可容納超大尺寸的樣品??蓮母鱾€方向簡便的裝載和觀察樣品。
l 3種樣品臺選項 - XY程控控制(200x200mm或8x8inch移動范圍)/XY手動控制(250x250mm或10x10英寸)/固定樣品臺;標(biāo)準(zhǔn)配置Z軸程控控制(230mm或9inch移動范圍)。
l 內(nèi)置PC用戶界面
技術(shù)參數(shù)
l X射線激發(fā)和檢測
牛津儀器制造的100瓦(50kV-2.0mA)微焦點鎢靶X射線管
高分辨封氣(Xe)正比計數(shù)器可獲取的計數(shù)靈敏度,配合二次濾光器機構(gòu)實現(xiàn)的檢出效果
l 數(shù)字脈沖處理
4096通道數(shù)字多道分析器,數(shù)字光譜處理過程可獲取的信號采集(每秒計數(shù)量),從而的測量統(tǒng)計結(jié)果
l 手動或自動透鏡控制
手動透鏡控制:通過手動調(diào)整DIM旋鈕控制分析聚焦距離
自動透鏡控制:激光束自動尋找DIM系統(tǒng)的分析聚焦距離
l 自由距離測定
簡化系統(tǒng)設(shè)置和維護
在聚焦距離范圍內(nèi)僅需要一個校正
對不規(guī)則樣品更靈活的測量
在12.7mm-88.9mm的自由距離內(nèi),可測量樣品表面的任何一點
通過DIM旋鈕或使用自動激光聚焦功能,可快速、的確定聚焦距離
l 附帶自動透鏡功能的自動激光聚焦
獨特的、自動樣品擺放系統(tǒng)
激光掃描單鍵啟動
消除樣品碰擊Z軸的機會
改善DIM的聚焦過程
l 標(biāo)準(zhǔn)激光聚焦
標(biāo)準(zhǔn)激光聚焦功能在所要求的聚焦聚焦上,自動尋找正確的Z軸位置,提高分析再現(xiàn)性,結(jié)果不受人為操作的影響
Z軸聚焦掃描單鍵啟動
改善DIM和常規(guī)固定焦距測量時的聚焦過程
l 微小準(zhǔn)直器
儀器至少裝備一個客戶指定規(guī)格的準(zhǔn)直器以化測量,并提高測量效率
備有各種規(guī)格準(zhǔn)直器(0.015mm – 0.5mm),園形或矩形供客戶選用
多準(zhǔn)直器程序交換系統(tǒng)可同時安裝4個準(zhǔn)直器
l 大樣品室設(shè)計
方便超大樣品的推拉式平臺:如大面積PCB板、較長的管材樣品
大型開發(fā)式樣品室:方便于從各方向進樣和觀察樣品
三種樣品臺備選:可編程XY軸樣品臺、手動XY軸樣品臺、固定位置樣品臺
標(biāo)準(zhǔn)配置自動化Z軸:最大高度230mm
l 集成化計算機
工作站式設(shè)計:改善人機工程學(xué)、方便使用
簡化設(shè)備安裝:僅需要接入主電源線,沒有其他電纜
減少整機占用空間
USB和Ethernet接口:打印機、刻錄機、局域網(wǎng)和遠程在線支持功能
l 其他硬件特點
CCD相機擁有2x、3x或4x的變焦功能,可實現(xiàn)對測定樣品的高分辨、實時、彩色圖像觀測
溫度補償功能監(jiān)測系統(tǒng)溫度,并自動校正由于溫度變化可能引起的儀器漂移,的儀器穩(wěn)定性
光譜校準(zhǔn)、單擊鼠標(biāo)執(zhí)行系統(tǒng)性能自檢和校正程序儀器的穩(wěn)定性
堅實耐用的儀器設(shè)計適用于各種工業(yè)環(huán)境
一體化工作站設(shè)計實現(xiàn)的人機工程學(xué)
CMI900 X熒光鍍層測厚儀特點:● 精度高、穩(wěn)定性好 ● 強大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計、處理功能 ● 測量范圍寬 ● X熒光鍍層測厚儀NIST認證的標(biāo)準(zhǔn)片 ● 全球服務(wù)及支持
CMI900 X熒光鍍層測厚儀技術(shù)參數(shù): X射線激發(fā)系統(tǒng)垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng) 空冷式微聚焦型X射線管,Be窗 標(biāo)準(zhǔn)靶材:Rh靶;任選靶材:W、Mo、Ag等 功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-標(biāo)準(zhǔn)? 75W(4-50kV,0-1.5mA)-任選 裝備有安全防射線光閘 二次X射線濾光片:3個位置程控交換,多種材質(zhì)、多種厚度的二次濾光片任選 準(zhǔn)直器程控交換系統(tǒng)X熒光鍍層測厚儀最多可同時裝配6種規(guī)格的準(zhǔn)直器 多種規(guī)格尺寸準(zhǔn)直器任選:-圓形,如4、6、8、12、20 mil等-矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等? 測量斑點尺寸在12.7mm聚焦距離時,最小測量斑點尺寸為:0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm準(zhǔn)直器) 在12.7mm聚焦距離時,最大測量斑點尺寸為:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準(zhǔn)直器)樣品室結(jié)構(gòu): 開槽式樣品室 最大樣品臺尺寸: 610mm x 610mm XY軸程控移動范圍: 標(biāo)準(zhǔn):152.4 x 177.8mm 還有5種規(guī)格任選 Z軸程控移動高度:? 43.18mm XYZ三軸控制方式: X熒光鍍層測厚儀多種控制方式任選:XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制 樣品觀察系統(tǒng):高分辨彩色CCD觀察系統(tǒng),標(biāo)準(zhǔn)放大倍數(shù)為30倍。50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選。 激光自動對焦功能 可變焦距控制功能和固定焦距控制功能 計算機系統(tǒng)配置: IBM計算機,惠普或愛普生彩色噴墨打印機 分析應(yīng)用軟件:? 操作系統(tǒng):Windows2000中文平臺, 分析軟件包:SmartLink FP軟件包 測厚范圍:?可測定厚度范圍:取決于您的具體應(yīng)用。 CMI900 X熒光鍍層測厚儀基本分析功能:采用基本參數(shù)法校正。牛津儀器將根據(jù)您的應(yīng)用提供必要的校正用標(biāo)準(zhǔn)樣品。 樣品種類:鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量) 可檢測元素范圍:Ti22 – U92 可同時測定5層/15種元素/共存元素校正 貴金屬檢測,如Au karat評價 材料和合金元素分析,材料鑒別和分類檢測液體樣品分析,如鍍液中的金屬元素含量 多達4個樣品的光譜同時顯示和比較元素光譜定性分析調(diào)整和校正功能: 系統(tǒng)自動整和校正功能,自動消除系統(tǒng)漂移 測量自動化功能鼠標(biāo)激活測量模式:“PointShoot” 多點自動測量模式:隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復(fù)測量模式 測量位置預(yù)覽功能 激光對焦和自動對焦功能 樣品臺程控功能: 設(shè)定測量點, 連續(xù)多點測量, 測量位置預(yù)覽(圖表顯示)X熒光鍍層測厚儀統(tǒng)計計算功能平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、相對標(biāo)準(zhǔn)偏差、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動范圍、數(shù)據(jù)編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖 數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表、直方圖 數(shù)據(jù)庫存儲功能 任選軟件:統(tǒng)計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書 系統(tǒng)安全監(jiān)測功能Z軸保護傳感器 樣品室門開閉傳感器 操作系統(tǒng)多級密碼操作系統(tǒng):操作員、分析員、工程師
CMI900 X熒光鍍層測厚儀
產(chǎn)品特點:
u 精度高、穩(wěn)定性好
u 強大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計、處理功能
u 測量范圍寬
u NIST認證的標(biāo)準(zhǔn)片
u 全球服務(wù)及支持
技術(shù)參數(shù)
主要規(guī)格 | 規(guī)格描述 | ||
X射線激發(fā)系統(tǒng) | 垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng) | ||
空冷式微聚焦型X射線管,Be窗 | |||
標(biāo)準(zhǔn)靶材:Rh靶;任選靶材:W、Mo、Ag等 | |||
功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-標(biāo)準(zhǔn) 75W(4-50kV,0-1.5mA)-任選 | |||
裝備有安全防射線光閘 | |||
二次X射線濾光片:3個位置程控交換,多種材質(zhì)、多種厚度的二次濾光片任選 | |||
準(zhǔn)直器程控交換系統(tǒng) | 最多可同時裝配6種規(guī)格的準(zhǔn)直器 | ||
多種規(guī)格尺寸準(zhǔn)直器任選: -圓形,如4、6、8、12、20 mil等 -矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等 | |||
測量斑點尺寸 | 在12.7mm聚焦距離時,最小測量斑點尺寸為:0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm準(zhǔn)直器) | ||
在12.7mm聚焦距離時,最大測量斑點尺寸為:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準(zhǔn)直器) | |||
樣品室 | CMI900 | CMI950 | |
-樣品室結(jié)構(gòu) | 開槽式樣品室 | 開閉式樣品室 | |
-最大樣品臺尺寸 | 610mm x 610mm | 300mm x 300mm | |
-XY軸程控移動范圍 | 標(biāo)準(zhǔn):152.4 x 177.8mm 還有5種規(guī)格任選 | 300mm x 300mm | |
-Z軸程控移動高度 | 43.18mm | XYZ程控時,152.4mm XY軸手動時,269.2mm | |
-XYZ三軸控制方式 | 多種控制方式任選:XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制 | ||
-樣品觀察系統(tǒng) | 高分辨彩色CCD觀察系統(tǒng),標(biāo)準(zhǔn)放大倍數(shù)為30倍。50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選。 | ||
激光自動對焦功能 | |||
可變焦距控制功能和固定焦距控制功能 | |||
計算機系統(tǒng)配置 | IBM計算機 惠普或愛普生彩色噴墨打印機 | ||
分析應(yīng)用軟件 | 操作系統(tǒng):Windows2000中文平臺 分析軟件包:SmartLink FP軟件包 | ||
-測厚范圍 | 可測定厚度范圍:取決于您的具體應(yīng)用。 | ||
-基本分析功能 | 采用基本參數(shù)法校正。牛津儀器將根據(jù)您的應(yīng)用提供必要的校正用標(biāo)準(zhǔn)樣品。 | ||
樣品種類:鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量) | |||
可檢測元素范圍:Ti22 – U92 | |||
| 可同時測定5層/15種元素/共存元素校正 | ||
貴金屬檢測,如Au karat評價 | |||
| 材料和合金元素分析, | ||
材料鑒別和分類檢測 | |||
液體樣品分析,如鍍液中的金屬元素含量 | |||
多達4個樣品的光譜同時顯示和比較 | |||
元素光譜定性分析 | |||
-調(diào)整和校正功能 | 系統(tǒng)自動調(diào)整和校正功能,自動消除系統(tǒng)漂移 | ||
-測量自動化功能 | 鼠標(biāo)激活測量模式:“PointShoot” | ||
多點自動測量模式:隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復(fù)測量模式 | |||
測量位置預(yù)覽功能 | |||
激光對焦和自動對焦功能 | |||
-樣品臺程控功能 | 設(shè)定測量點 | ||
連續(xù)多點測量 | |||
測量位置預(yù)覽(圖表顯示) | |||
-統(tǒng)計計算功能 | 平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、相對標(biāo)準(zhǔn)偏差、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動范圍、數(shù)據(jù)編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖 | ||
數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表、直方圖 | |||
數(shù)據(jù)庫存儲功能 | |||
任選軟件:統(tǒng)計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書 | |||
-系統(tǒng)安全監(jiān)測功能 | Z軸保護傳感器 | ||
樣品室門開閉傳感器 | |||
操作系統(tǒng)多級密碼操作系統(tǒng):操作員、分析員、工程師 | |||
行業(yè):
CMI900X射線熒光鍍層測厚儀,有著非破壞,非接觸,多層合金測量,高生產(chǎn)力,高再現(xiàn)性等優(yōu)點,在質(zhì)量管理到不良品分析有著廣泛的應(yīng)用。
應(yīng)用:
用于電子元器件,半導(dǎo)體,PCB,汽車零部件,功能性電鍍,裝飾件,連接器等多個行業(yè)。
應(yīng)用
CMI900X射線熒光鍍層測厚儀,有著非破壞,非接觸,多層合金測量,高生產(chǎn)力,高再現(xiàn)性等優(yōu)點的
情況下進行表面鍍層厚度的測量 ,從質(zhì)量管理到成本節(jié)約有著廣泛的應(yīng)用。
行業(yè)
用于電子元器件,半導(dǎo)體,PCB,汽車零部件,功能性電鍍,裝飾件,連接器……多個行業(yè)表面鍍層厚度的測量。
主要規(guī)格 規(guī)格描述
X射線激發(fā)系統(tǒng) 垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng)空冷式微聚焦型X射線管,Be窗
標(biāo)準(zhǔn)靶材:Rh靶;任選靶材:W、Mo、Ag等
功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-標(biāo)準(zhǔn)
75W(4-50kV,0-1.5mA)-任選
裝備有安全防射線光閘
二次X射線濾光片:3個位置程控交換,多種材質(zhì)、多種厚度的二次濾光片任選
準(zhǔn)直器程控交換系統(tǒng) 最多可同時裝配6種規(guī)格的準(zhǔn)直器
多種規(guī)格尺寸準(zhǔn)直器任選:
-圓形,如4、6、8、12、20 mil等
-矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
測量斑點尺寸 在12.7mm聚焦距離時,最小測量斑點尺寸為:
0.078 x 0.055mm(使用0.025 x 0.05 mm準(zhǔn)直器)
在12.7mm聚焦距離時,最大測量斑點尺寸為:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準(zhǔn)直器)
樣品室
-樣品室結(jié)構(gòu) 開槽式樣品室
-最大樣品臺尺寸 610mm x 610mm
-XY軸程控移動范圍 標(biāo)準(zhǔn):152.4 x 177.8mm還有5種規(guī)格任選
-Z軸程控移動高度 43.18mm
-XYZ三軸控制方式 多種控制方式任選:XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制
-樣品觀察系統(tǒng) 高分辨彩色CCD觀察系統(tǒng),標(biāo)準(zhǔn)放大倍數(shù)為30倍。
(50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選。)激光自動對焦功能
可變焦距控制功能和固定焦距控制功能
樣品種類: 鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)
可檢測元素范圍:Ti22 – U92??赏瑫r測定5層/15種元素/共存元素校正
貴金屬檢測,如Au karat評價
材料和合金元素分析,材料鑒別和分類檢測
液體樣品分析,如鍍液中的金屬元素含量
多達4個樣品的光譜同時顯示和比較元素光譜定性分析
-調(diào)整和校正功能 系統(tǒng)自動調(diào)整和校正功能,自動消除系統(tǒng)漂移
-測量自動化功能 鼠標(biāo)激活測量模式:“Point and Shoot”多點自動測量模式:隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式和重復(fù)測量模式,測量位置預(yù)覽功能,激光對焦和自動對焦功能
-樣品臺程控功能 設(shè)定測量點,連續(xù)多點測量,測量位置預(yù)覽
-統(tǒng)計計算功能 平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、相對標(biāo)準(zhǔn)偏差、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動范圍、數(shù)據(jù)編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖,數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表、直方圖數(shù)據(jù)庫存儲功能
-系統(tǒng)安全監(jiān)測功能 Z軸保護傳感器,樣品室門開閉傳感器
●精度高、穩(wěn)定性好
●強大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計、處理功能
●測量范圍寬
●NIST認證的標(biāo)準(zhǔn)片
●全球服務(wù)及支持
主要規(guī)格 規(guī)格描述
X射線激發(fā)系統(tǒng) 垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng)空冷式微聚焦型X射線管,Be窗
標(biāo)準(zhǔn)靶材:Rh靶;任選靶材:W、Mo、Ag等
功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-標(biāo)準(zhǔn)
75W(4-50kV,0-1.5mA)-任選
裝備有安全防射線光閘
二次X射線濾光片:3個位置程控交換,多種材質(zhì)、多種厚度的二次濾光片任選
準(zhǔn)直器程控交換系統(tǒng) 最多可同時裝配6種規(guī)格的準(zhǔn)直器
多種規(guī)格尺寸準(zhǔn)直器任選:
-圓形,如4、6、8、12、20 mil等
-矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
測量斑點尺寸 在12.7mm聚焦距離時,最小測量斑點尺寸為:
0.078 x 0.055mm(使用0.025 x 0.05 mm準(zhǔn)直器)
在12.7mm聚焦距離時,最大測量斑點尺寸為:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準(zhǔn)直器)
樣品室
-樣品室結(jié)構(gòu) 開槽式樣品室
-最大樣品臺尺寸 610mm x 610mm
-XY軸程控移動范圍 標(biāo)準(zhǔn):152.4 x 177.8mm還有5種規(guī)格任選
-Z軸程控移動高度 43.18mm
-XYZ三軸控制方式 多種控制方式任選:XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制
-樣品觀察系統(tǒng) 高分辨彩色CCD觀察系統(tǒng),標(biāo)準(zhǔn)放大倍數(shù)為30倍。
(50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選。)激光自動對焦功能
可變焦距控制功能和固定焦距控制功能
樣品種類: 鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)
可檢測元素范圍:Ti22 – U92??赏瑫r測定5層/15種元素/共存元素校正
貴金屬檢測,如Au karat評價
材料和合金元素分析,材料鑒別和分類檢測
液體樣品分析,如鍍液中的金屬元素含量
多達4個樣品的光譜同時顯示和比較元素光譜定性分析
-調(diào)整和校正功能 系統(tǒng)自動調(diào)整和校正功能,自動消除系統(tǒng)漂移
-測量自動化功能 鼠標(biāo)激活測量模式:“Point and Shoot”多點自動測量模式:隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式和重復(fù)測量模式,測量位置預(yù)覽功能,激光對焦和自動對焦功能
-樣品臺程控功能 設(shè)定測量點,連續(xù)多點測量,測量位置預(yù)覽
-統(tǒng)計計算功能 平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、相對標(biāo)準(zhǔn)偏差、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動范圍、數(shù)據(jù)編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖,數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表、直方圖數(shù)據(jù)庫存儲功能
-系統(tǒng)安全監(jiān)測功能 Z軸保護傳感器,樣品室門開閉傳感器
●精度高、穩(wěn)定性好
●強大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計、處理功能
●測量范圍寬
●NIST認證的標(biāo)準(zhǔn)片
●全球服務(wù)及支持