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HCLD-3高壓漏電起痕試驗(yàn)儀

hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗(yàn)儀采用西門(mén)子plc作為主控制系統(tǒng)，配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開(kāi)關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓耐漏電起痕試驗(yàn)是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評(píng)定在嚴(yán)酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評(píng)定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗(yàn)中可采用兩種終點(diǎn)判斷法來(lái)確定試驗(yàn)終點(diǎn)。方法a是當(dāng)高壓回路中通過(guò)的電流達(dá)到或超g

更新時(shí)間:2024-11-23

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：北京華測(cè)試驗(yàn)儀器有限公司

HCLD-3耐漏電起痕試驗(yàn)儀

hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗(yàn)儀采用西門(mén)子plc作為主控制系統(tǒng)，配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開(kāi)關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓耐漏電起痕試驗(yàn)是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評(píng)定在嚴(yán)酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評(píng)定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗(yàn)中可采用兩種終點(diǎn)判斷法來(lái)確定試驗(yàn)終點(diǎn)。方法a是當(dāng)高壓回路中通過(guò)的電流達(dá)到或超

更新時(shí)間:2024-11-23

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：北京華測(cè)試驗(yàn)儀器有限公司

HCLD-3漏電起痕指數(shù)CTI測(cè)試儀

hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗(yàn)儀采用西門(mén)子plc作為主控制系統(tǒng)，配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開(kāi)關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓耐漏電起痕試驗(yàn)是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評(píng)定在嚴(yán)酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評(píng)定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗(yàn)中可采用兩種終點(diǎn)判斷法來(lái)確定試驗(yàn)終點(diǎn)。方法a是當(dāng)高壓回路中通過(guò)的電流達(dá)到或超

更新時(shí)間:2024-11-23

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：北京華測(cè)試驗(yàn)儀器有限公司

HCLD-3高壓漏電檢測(cè)儀

hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗(yàn)儀采用西門(mén)子plc作為主控制系統(tǒng)，配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開(kāi)關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓耐漏電起痕試驗(yàn)是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評(píng)定在嚴(yán)酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評(píng)定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗(yàn)中可采用兩種終點(diǎn)判斷法來(lái)確定試驗(yàn)終點(diǎn)。方法a是當(dāng)高壓回路中通過(guò)的電流達(dá)到或超

更新時(shí)間:2024-11-23

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：北京華測(cè)試驗(yàn)儀器有限公司

HCLD-3耐電痕試驗(yàn)儀

hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗(yàn)儀采用西門(mén)子plc作為主控制系統(tǒng)，配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開(kāi)關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓耐漏電起痕試驗(yàn)是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評(píng)定在嚴(yán)酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評(píng)定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗(yàn)中可采用兩種終點(diǎn)判斷法來(lái)確定試驗(yàn)終點(diǎn)。方法a是當(dāng)高壓回路中通過(guò)的電流達(dá)到或超

更新時(shí)間:2024-11-23

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：北京華測(cè)試驗(yàn)儀器有限公司

KE-2000JUKI飛達(dá)校正儀貼片機(jī)飛達(dá)校正儀氣動(dòng)飛達(dá)校正儀/SMT飛達(dá)顯示器

商品名稱(chēng)：juki feeder校正儀商品品牌：鑫鴻基/xhj商品產(chǎn)地：深圳商品尺寸（mm）：l500*w350*h500商品重量：約35kg適用機(jī)型：juki系列機(jī)型

更新時(shí)間:2024-11-23

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：深圳市鑫鴻基設(shè)備有限公司

視覺(jué)位移在橋梁中的運(yùn)用

視覺(jué)位移在橋梁中的運(yùn)用：梁體位移監(jiān)測(cè)、索塔位移監(jiān)測(cè)、伸縮縫位移監(jiān)測(cè)

更新時(shí)間:2024-11-23

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：深圳市鵬錦科技有限公司

DX200GHD金屬導(dǎo)體電阻率測(cè)試儀

加工定制：是類(lèi)型：指針式電阻測(cè)量?jī)x表品牌：yaos堯順型號(hào)：dx200ghd測(cè)量范圍：10-5--105ω（mω）電　源：220±10%測(cè)試電壓：2 mv、20 mv、200 mv、2v（v）精度：0.1%重量：8.5（kg）尺　寸：345mm*480mm*145mm規(guī)格：φ30x180

更新時(shí)間:2024-11-22

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：西安宏鵠檢測(cè)儀器有限公司

FLH5000多路電阻測(cè)試儀奮樂(lè)廠家直銷(xiāo)

1、flh5000多路電阻測(cè)試儀是新型多路電阻測(cè)試儀應(yīng)用于電子器件、電機(jī)繞組、接插件、開(kāi)關(guān)、導(dǎo)體、點(diǎn)火器等元器件的測(cè)量。2、多路數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)軟件采集溫度數(shù)據(jù)，記錄測(cè)試數(shù)據(jù)，繪制電阻曲線

更新時(shí)間:2024-11-22

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：深圳市美鑫儀器儀表電子有限公司

FL2512B電阻測(cè)試儀智能電阻測(cè)量?jī)x 奮樂(lè)廠家直銷(xiāo)

1、智能化、寬范圍、高精密的直流電阻測(cè)試儀器2、電熱材料，變壓器及電感線圈銅阻、繼電器接觸電阻、開(kāi)關(guān)、接插件接觸電阻、導(dǎo)線電阻、元件焊點(diǎn)接觸電阻、印制板線條及焊孔電阻、金屬探傷3、用于生產(chǎn)線，可使用handler接口輸出良品/不良品信號(hào)，以提高生產(chǎn)線自動(dòng)化測(cè)試能力

更新時(shí)間:2024-11-22

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：深圳市美鑫儀器儀表電子有限公司

GSC60CNGSC60CN多功能電氣安全電能質(zhì)量綜合分析儀，安規(guī)儀

原裝進(jìn)口產(chǎn)品，觸摸屏操作簡(jiǎn)單。由普通電池供電，方便操作現(xiàn)場(chǎng)更換，功能強(qiáng)大，可以測(cè)量電能質(zhì)量、連續(xù)性、絕緣電阻、線路/回路阻抗、接地電阻與土壤電阻率、rcd跳閘時(shí)間和電流，無(wú)跳閘時(shí)的接地回路阻抗、接觸電壓ut、相序、泄露電流、環(huán)境參數(shù)等

更新時(shí)間:2024-11-22

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：廣州愛(ài)啟提測(cè)試儀器有限公司

U7242-26401出租Agilent安捷倫USB3.0測(cè)試夾具，硬件測(cè)試，DDR測(cè)試，時(shí)序測(cè)試，紋波測(cè)試，抖動(dòng)測(cè)試

出租agilent usb3.0測(cè)試夾具u7242-26401

更新時(shí)間:2024-11-22

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：北京淼森波信息技術(shù)有限公司

USB2.0出租Tektronix USB2.0測(cè)試夾具

出租tektronix usb2.0測(cè)試夾具

更新時(shí)間:2024-11-22

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：北京淼森波信息技術(shù)有限公司

MIPI傳輸過(guò)程中的信號(hào)質(zhì)量問(wèn)題

mipi傳輸過(guò)程中的信號(hào)質(zhì)量問(wèn)題mipi是2003年由arm，nokia，st，it等公司成立的個(gè)聯(lián)盟，旨在把手機(jī)內(nèi)部的接口如存儲(chǔ)接口，顯示接口，射頻/基帶接口等標(biāo)準(zhǔn)化，減少兼容性問(wèn)題并簡(jiǎn)化設(shè)計(jì)。

更新時(shí)間:2024-11-22

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：北京淼森波信息技術(shù)有限公司

MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法眼圖測(cè)試

mipi接口屏閃屏的分析及解決方法眼圖測(cè)試基于示波器的當(dāng)抖動(dòng)測(cè)量工具在條通道上只提供個(gè)眼圖。在通用測(cè)量中，這些工具只有6-8個(gè)測(cè)量項(xiàng)目。dpojet全面支持所有通道，包括同時(shí)測(cè)量每條通道的眼圖。

更新時(shí)間:2024-11-22

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：北京淼森波信息技術(shù)有限公司

MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法眼圖測(cè)試 MIPI傳輸過(guò)程中的信號(hào)質(zhì)量問(wèn)題 MIPI驅(qū)動(dòng)問(wèn)題重起問(wèn)題

mipi接口屏閃屏的分析及解決方法眼圖測(cè)試 mipi傳輸過(guò)程中的信號(hào)質(zhì)量問(wèn)題 mipi驅(qū)動(dòng)問(wèn)題重起問(wèn)題

更新時(shí)間:2024-11-22

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：北京淼森波信息技術(shù)有限公司

硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗(yàn) MIPI 接口的sensor問(wèn)題 MIPI接口的DSI的驅(qū)動(dòng)問(wèn)題

硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn) mipi 接口的sensor問(wèn)題 mipi接口的dsi的驅(qū)動(dòng)問(wèn)題

更新時(shí)間:2024-11-22

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：北京淼森波信息技術(shù)有限公司

MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決 MIPI調(diào)試經(jīng)驗(yàn) MIPI硬件開(kāi)發(fā) MIPI驅(qū)動(dòng)

mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決 mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開(kāi)發(fā) mipi驅(qū)動(dòng)

更新時(shí)間:2024-11-22

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：北京淼森波信息技術(shù)有限公司

MIPI調(diào)試經(jīng)驗(yàn) MIPI硬件開(kāi)發(fā) MIPI驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗(yàn)

mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開(kāi)發(fā) mipi驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn)

更新時(shí)間:2024-11-22

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：北京淼森波信息技術(shù)有限公司

MIPI調(diào)試經(jīng)驗(yàn) MIPI硬件開(kāi)發(fā) MIPI驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗(yàn) MIPI 接口的sensor問(wèn)題

mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開(kāi)發(fā) mipi驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn) mipi 接口的sensor問(wèn)題

更新時(shí)間:2024-11-22

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：北京淼森波信息技術(shù)有限公司

MIPI攝像頭 MIPI眼圖測(cè)試 MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決

mipi攝像頭 mipi眼圖測(cè)試 mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決從軟件層面，再回顧下數(shù)據(jù)格式，加深在數(shù)據(jù)線上有3 種可能的操作模式：escape mode, high-speed (burst) mode and control mode，下面是從停止?fàn)顟B(tài)進(jìn)入相應(yīng)模式需要的時(shí)序：

更新時(shí)間:2024-11-22

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：北京淼森波信息技術(shù)有限公司

解決MIPI屏黑屏問(wèn)題 MIPI調(diào)試過(guò)程 MIPI接口屏閃屏的測(cè)試分析與解決方法

解決mipi屏黑屏問(wèn)題 mipi調(diào)試過(guò)程 mipi接口屏閃屏的測(cè)試分析與解決方法依據(jù)ccir編碼表，sav和evav之間的保護(hù)數(shù)據(jù)是被編碼過(guò)的，使用這種方法，編碼器可以糾正1-bit錯(cuò)誤，可以檢查2-bit的錯(cuò)誤。該特征只是在csi的ccir編碼中，僅僅是奇偶交錯(cuò)模式中支持。

更新時(shí)間:2024-11-22

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：北京淼森波信息技術(shù)有限公司

分析與解決方法 MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測(cè)試

分析與解決方法 mipi c-phy d-phy 眼圖測(cè)試當(dāng)幀結(jié)束或者是個(gè)在rxfifo中的完整的幀數(shù)據(jù)被全部讀出時(shí)，eof中斷就產(chǎn)生了，eof并不在csi的prp模式中使用。該中斷是用在ccir奇偶域交錯(cuò)的模式下使用，該中斷當(dāng)field 1 和field 2交錯(cuò)的時(shí)候產(chǎn)生。f1_int和f2_int會(huì)產(chǎn)生

更新時(shí)間:2024-11-22

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：北京淼森波信息技術(shù)有限公司

解決MIPI屏黑屏問(wèn)題 MIPI調(diào)試過(guò)程 MIPI接口屏閃屏的測(cè)試

解決mipi屏黑屏問(wèn)題 mipi調(diào)試過(guò)程 mipi接口屏閃屏的測(cè)試bayer數(shù)據(jù)是個(gè)從圖像傳感器獲得典型的行數(shù)據(jù)。該數(shù)據(jù)寬度定要通過(guò)軟件轉(zhuǎn)化為rgb空間或者是yuv空間的數(shù)據(jù)格式。pack_dir bit設(shè)置為0，表示系統(tǒng)是小端，不是大端系統(tǒng)。使用p0,p1,p2,p3存放了打包了的數(shù)據(jù)內(nèi)容，p0是個(gè)data,依次，p3是個(gè)data.

更新時(shí)間:2024-11-22

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：北京淼森波信息技術(shù)有限公司

MIPI CLK眼圖 DATA眼圖測(cè)試與分析解決MIPI屏黑屏問(wèn)題

mipi clk眼圖 data眼圖測(cè)試與分析解決mipi屏黑屏問(wèn)題mx27提供了個(gè)非常業(yè)的攝像頭csi接口，可以配置相關(guān)的口進(jìn)行接口匹配。我們的攝像頭是ov9660，輸出設(shè)定為yuv模式，因此，csi獲取的數(shù)據(jù)也是yuv格式的數(shù)據(jù)，因此還需要通過(guò)軟件，將yuv的格式轉(zhuǎn)化為rgb565、rgb656、rgb888格式放到lcdc對(duì)應(yīng)的memory進(jìn)行顯示輸出。

更新時(shí)間:2024-11-22

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：北京淼森波信息技術(shù)有限公司

MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測(cè)試 MIPI屏初始化指令問(wèn)題

mipi c-phy d-phy 眼圖測(cè)試 mipi屏初始化指令問(wèn)題像素可以放映到你的抓圖上面的大小，該像素就是說(shuō)明你的cmos或者是ccd感光元件的像素點(diǎn)多少，可以想象在相同的面積上，數(shù)量越多，感光元件肯定要越小，感光元件小，那么圖像的質(zhì)量其實(shí)會(huì)變差，這個(gè)當(dāng)然可以理解，但是從大的方面來(lái)說(shuō)，只要鏡頭好，光源充足，那么效果也會(huì)變好，這樣畫(huà)面就比像素低的更加的細(xì)膩，所以高像素的好處就在這里。

更新時(shí)間:2024-11-22

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：北京淼森波信息技術(shù)有限公司

MIPI眼圖數(shù)據(jù) CLK眼圖 DATA眼圖測(cè)試與分析解決MIPI屏黑屏問(wèn)題 MIPI調(diào)試過(guò)程

mipi眼圖數(shù)據(jù) clk眼圖 data眼圖測(cè)試與分析解決mipi屏黑屏問(wèn)題 mipi調(diào)試過(guò)程mx27提供了個(gè)非常業(yè)的攝像頭csi接口，可以配置相關(guān)的口進(jìn)行接口匹配。

更新時(shí)間:2024-11-22

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：北京淼森波信息技術(shù)有限公司

MODEL 2061/2062?適配于雪迪龍?zhí)筋^式濕度儀 MODEL 2061/2062? 新款

應(yīng)用領(lǐng)域燃煤、燃油鍋爐尾氣排放（cems）食品加工木材、建材、造紙工業(yè)化工、纖維領(lǐng)域印染工業(yè)領(lǐng)域內(nèi)平幅染色工藝，在 120～180℃高溫中的濕度測(cè)量等

更新時(shí)間:2024-11-21

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：鄭州銳光自動(dòng)化設(shè)備有限公司

廠家批發(fā)GJ4/40(A)甲烷傳感器

gjc4/40高低濃瓦斯傳感器廠家供應(yīng) gjc4/40高低濃瓦斯傳感器制造商 gjc4/40高低濃瓦斯傳感器價(jià)格電聯(lián)gj4/40(a)甲烷傳感器量大從優(yōu) 廠家直供gjc4/40(x)甲烷傳感器gj4/40(a)甲烷傳感器價(jià)格電聯(lián) 廠家批發(fā)gj4/40(a)甲烷傳感器

更新時(shí)間:2024-11-21

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：濟(jì)寧神東工礦設(shè)備有限公司

EMMC4 復(fù)位測(cè)試 CLK測(cè)試 DQS測(cè)試 EMMC5 復(fù)位測(cè)試

emmc4 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試 emmc5 復(fù)位測(cè)試identification state，發(fā)送完 cid 后，emmc device就會(huì)進(jìn)入該階段。

更新時(shí)間:2024-11-21

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：北京淼森波信息技術(shù)有限公司

電源紋波測(cè)試時(shí)鐘測(cè)試數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 Emmc5 上電時(shí)序測(cè)試

相關(guān)產(chǎn)品：電源紋波測(cè)試 , 時(shí)鐘測(cè)試 , 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 , emmc5 , 上電時(shí)序測(cè)試

更新時(shí)間:2024-11-21

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：北京淼森波信息技術(shù)有限公司

CLK測(cè)試 DQS測(cè)試 EMMC4 上電時(shí)序測(cè)試

相關(guān)產(chǎn)品：clk測(cè)試 , dqs測(cè)試 , emmc4 , 上電時(shí)序測(cè)試data strobe 時(shí)鐘信號(hào)由 emmc 發(fā)送給 host，頻率與 clk 信號(hào)相同，用于 host 端進(jìn)行數(shù)據(jù)接收的同步。data strobe 信號(hào)只能在 hs400 模式下配置啟用，啟用后可以提高數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆€(wěn)定性，省去總線 tuning 過(guò)程。

更新時(shí)間:2024-11-21

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：北京淼森波信息技術(shù)有限公司

CLK測(cè)試 DQS測(cè)試 EMMC4 上電時(shí)序測(cè)試電源紋波測(cè)試

相關(guān)產(chǎn)品：clk測(cè)試 , dqs測(cè)試 , emmc4 , 上電時(shí)序測(cè)試 , 電源紋波測(cè)試

更新時(shí)間:2024-11-21

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：北京淼森波信息技術(shù)有限公司

電源紋波測(cè)試時(shí)鐘測(cè)試數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 EMMC4 復(fù)位測(cè)試 CLK測(cè)試 DQS測(cè)試

電源紋波測(cè)試時(shí)鐘測(cè)試數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 emmc4 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試

更新時(shí)間:2024-11-21

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：北京淼森波信息技術(shù)有限公司

控制信號(hào)測(cè)試控制信號(hào)過(guò)沖測(cè)試控制信號(hào)高低電平測(cè)試 EMMC 復(fù)位測(cè)試

數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 emmc5 上電時(shí)序測(cè)試start bit 與 command 樣，固定為 "0"，在沒(méi)有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下，cmd 信號(hào)保持高電平，當(dāng) emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時(shí)，host 可以很方便檢測(cè)到該信號(hào)，并開(kāi)始接收 response。

更新時(shí)間:2024-11-21

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：北京淼森波信息技術(shù)有限公司

數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 Emmc5 上電時(shí)序測(cè)試

數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 emmc5 上電時(shí)序測(cè)試start bit 與 command 樣，固定為 "0"，在沒(méi)有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下，cmd 信號(hào)保持高電平，當(dāng) emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時(shí)，host 可以很方便檢測(cè)到該信號(hào)，并開(kāi)始接收 response。

更新時(shí)間:2024-11-21

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：北京淼森波信息技術(shù)有限公司

CLK測(cè)試 DQS測(cè)試 EMMC4 上電時(shí)序測(cè)試，眼圖測(cè)試

clk測(cè)試 dqs測(cè)試 emmc4 上電時(shí)序測(cè)試，眼圖測(cè)試crc 為 data 的 16 bit crc 校驗(yàn)值，不包含 start bit。各個(gè) data line 上的 crc 為對(duì)應(yīng) data line 的 data 的 16 bit crc 校驗(yàn)值。

更新時(shí)間:2024-11-21

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數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 EMMC4 復(fù)位測(cè)試 CLK測(cè)試 DQS測(cè)試

數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 emmc4 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試在 ddr 模式下，data line 在時(shí)鐘的上升沿和下降沿都會(huì)傳輸數(shù)據(jù)，其中上升沿傳輸數(shù)據(jù)的奇數(shù)字節(jié) （byte 1,3,5...），下降沿則傳輸數(shù)據(jù)的偶數(shù)字節(jié)（byte 2,4,6 ...）。

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I復(fù)位測(cè)試 CLK測(cè)試 DQS測(cè)試 EMMC4 上電時(shí)序測(cè)試

復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試 emmc4 上電時(shí)序測(cè)試當(dāng) emmc device 處于 sdr 模式時(shí)，host 可以發(fā)送 cmd19 命令，觸發(fā)總線測(cè)試過(guò)程（bus testing procedure），測(cè)試總線硬件上的連通性。

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PCIE2.0 3.0 驗(yàn)證調(diào)試和一致性測(cè)試解決方案

遇到的問(wèn)題pcie link不穩(wěn)定配置空間讀寫(xiě)正常，memory mapping空間讀寫(xiě)異常

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PCIE2.0 3.0 物理層一致性測(cè)試

cie2.0 3.0 物理層致性測(cè)試pcie總線與pci總線不同，pcie總線使用端到端的連接方式，在條pcie鏈路的兩端只能各連接個(gè)設(shè)備，這兩個(gè)設(shè)備互為是數(shù)據(jù)發(fā)送端和數(shù)據(jù)接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成，目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路，還有幾乎不使用的×12鏈路。

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PCIE2.0 3.0 TX 發(fā)送物理層一致性測(cè)試

pcie總線的層次組成結(jié)構(gòu)與網(wǎng)絡(luò)中的層次結(jié)構(gòu)有類(lèi)似之處，但是pcie總線的各個(gè)層次都是使用硬件邏輯實(shí)現(xiàn)的。在pcie體系結(jié)構(gòu)中，數(shù)據(jù)報(bào)文先在設(shè)備的核心層(device core)中產(chǎn)生，然后再經(jīng)過(guò)該設(shè)備的事務(wù)層(transactionlayer)、數(shù)據(jù)鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer)，終發(fā)送出去。

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PCIE2.0 3.0 RX 接收物理層一致性測(cè)試

pcie2.0 3.0 rx 接收物理層致性測(cè)試當(dāng)pcie設(shè)備進(jìn)入休眠狀態(tài)，主電源已經(jīng)停止供電時(shí)，pcie設(shè)備使用該信號(hào)向處理器系統(tǒng)提交喚醒請(qǐng)求，使處理器系統(tǒng)重新為該pcie設(shè)備提供主電源vcc。

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PCIE Gen2/Gen3/Gen4 發(fā)送端信號(hào)質(zhì)量一致性測(cè)試

pcie 初始化完成后會(huì)進(jìn)入l0狀態(tài)。異常狀態(tài)見(jiàn)pcie link 異常log。物理層link 不穩(wěn)定，懷疑以下原因：- 高速串行信號(hào)質(zhì)量問(wèn)題- serdes電源問(wèn)題- 時(shí)鐘問(wèn)題

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pcie2.0x4 眼圖測(cè)試物理層一致性測(cè)試

pcie2.0x4 眼圖測(cè)試物理層致性測(cè)試集成電路的發(fā)明是人類(lèi)歷史上的大創(chuàng)舉，它大地推動(dòng)了人類(lèi)的現(xiàn)代文明進(jìn)程，在天無(wú)時(shí)無(wú)刻不在影響著我們的生活。進(jìn)入 21 世紀(jì)以來(lái)，集成電路的發(fā)展則更是狂飆猛進(jìn)。天的大規(guī)模集成電路生產(chǎn)和制造工藝已經(jīng)達(dá)到 10 nm 量產(chǎn)水平，更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能，當(dāng)然對(duì)業(yè)內(nèi)從業(yè)者來(lái)說(shuō)遇到的挑戰(zhàn)和問(wèn)題也就越來(lái)越嚴(yán)峻。

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pcie2.0x8 眼圖測(cè)試物理層一致性測(cè)試

pcie2.0x8 眼圖測(cè)試物理層致性測(cè)試在個(gè)處理器系統(tǒng)中，般提供×16的pcie插槽，并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號(hào)線組成32對(duì)差分信號(hào)，其中16對(duì)petxx信號(hào)用于發(fā)送鏈路，另外16對(duì)perxx信號(hào)用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號(hào)。

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Pcie1.0x4 眼圖測(cè)試物理層一致性測(cè)試

pcie1.0x4 眼圖測(cè)試物理層致性測(cè)試日益降低的信號(hào)幅度必將帶來(lái)信噪比(snr)的挑戰(zhàn)，也即隨著信號(hào)幅度越來(lái)越低，對(duì)整個(gè) 電路系統(tǒng)的噪聲要求也越來(lái)越嚴(yán)格。尤其是在近 3 年來(lái)越來(lái)越熱的pam 調(diào)制，比如廣泛用于 200g/400g 傳輸?shù)?pam-4 技術(shù)，由于采用 4 電平調(diào)制，其對(duì)信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.

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Pcie1.0x8 眼圖測(cè)試物理層一致性測(cè)試

pcie1.0x8 眼圖測(cè)試物理層致性測(cè)試ci總線定義了兩類(lèi)配置請(qǐng)求，個(gè)是type00h配置請(qǐng)求，另個(gè)是type 01h配置請(qǐng)求。

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Pcie1.0x16 眼圖測(cè)試物理層一致性測(cè)試

pcie1.0x16 眼圖測(cè)試物理層致性測(cè)試電子產(chǎn)品發(fā)展到當(dāng)?shù)臅r(shí)代，工程界已經(jīng)積累了很多實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)，再搭上互聯(lián)網(wǎng)大力發(fā)展的快車(chē)，每位工程師都可以很輕松地從其他人的工程經(jīng)驗(yàn)分享中獲得很多有價(jià)值和有助于自己設(shè)計(jì)的經(jīng)驗(yàn)，但是經(jīng)驗(yàn)并不是金科玉律，也不是都適合工程師特殊的設(shè)計(jì)需求。

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Pcie3.0x4 眼圖測(cè)試物理層一致性測(cè)試

pcie3.0x4 眼圖測(cè)試物理層致性測(cè)試下面是個(gè) ddr3 設(shè)計(jì)的實(shí)際案例。按照傳統(tǒng)的方式進(jìn)行設(shè)計(jì)時(shí)，工程師會(huì)按照主芯片給的設(shè)計(jì)規(guī)范進(jìn)行設(shè)計(jì)。結(jié)合項(xiàng)目工程的需要，其 ddr3 的采用的是 t 型的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)， ecc 放置在如下圖 5 圓圈中所示位置。在生產(chǎn)完成后的調(diào)試過(guò)程中，發(fā)現(xiàn) ddr3 的信號(hào)出現(xiàn)非單調(diào)性。

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