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其他產(chǎn)品及廠家

pcie2.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層致性測試集成電路的發(fā)明是人類歷史上的大創(chuàng)舉，它大地推動(dòng)了人類的現(xiàn)代文明進(jìn)程，在天無時(shí)無刻不在影響著我們的生活。進(jìn)入 21 世紀(jì)以來，集成電路的發(fā)展則更是狂飆猛進(jìn)。天的大規(guī)模集成電路生產(chǎn)和制造工藝已經(jīng)達(dá)到 10 nm 量產(chǎn)水平，更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能，當(dāng)然對業(yè)內(nèi)從業(yè)者來說遇到的挑戰(zhàn)和問題也就越來越嚴(yán)峻。
更新時(shí)間:2024-11-21
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層致性測試在個(gè)處理器系統(tǒng)中，般提供×16的pcie插槽，并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號(hào)線組成32對差分信號(hào)，其中16對petxx信號(hào)用于發(fā)送鏈路，另外16對perxx信號(hào)用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號(hào)。
更新時(shí)間:2024-11-21
Pcie1.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x4 眼圖測試 物理層致性測試日益降低的信號(hào)幅度必將帶來信噪比(snr)的挑戰(zhàn)，也即隨著信號(hào)幅度越來越低，對整個(gè) 電路系統(tǒng)的噪聲要求也越來越嚴(yán)格。尤其是在近 3 年來越來越熱的pam 調(diào)制，比如廣泛用于 200g/400g 傳輸?shù)?pam-4 技術(shù)，由于采用 4 電平調(diào)制，其對信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.
更新時(shí)間:2024-11-21
Pcie1.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x8 眼圖測試 物理層致性測試ci總線定義了兩類配置請求，個(gè)是type00h配置請求，另個(gè)是type 01h配置請求。
更新時(shí)間:2024-11-21
Pcie1.0x16 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x16 眼圖測試 物理層致性測試電子產(chǎn)品發(fā)展到當(dāng)?shù)臅r(shí)代，工程界已經(jīng)積累了很多實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)，再搭上互聯(lián)網(wǎng)大力 發(fā)展的快車，每位工程師都可以很輕松地從其他人的工程經(jīng)驗(yàn)分享中獲得很多有價(jià)值和 有助于自己設(shè)計(jì)的經(jīng)驗(yàn)，但是經(jīng)驗(yàn)并不是金科玉律，也不是都適合工程師特殊的設(shè)計(jì)需求。
更新時(shí)間:2024-11-21
Pcie3.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie3.0x4 眼圖測試 物理層致性測試下面是個(gè) ddr3 設(shè)計(jì)的實(shí)際案例。按照傳統(tǒng)的方式進(jìn)行設(shè)計(jì)時(shí)，工程師會(huì)按照主芯片給的設(shè)計(jì)規(guī)范進(jìn)行設(shè)計(jì)。結(jié)合項(xiàng)目工程的需要，其 ddr3 的采用的是 t 型的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)， ecc 放置在如下圖 5 圓圈中所示位置。在生產(chǎn)完成后的調(diào)試過程中，發(fā)現(xiàn) ddr3 的信號(hào)出現(xiàn)非單調(diào)性。
更新時(shí)間:2024-11-21
Pcie3.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie3.0x8 眼圖測試 物理層致性測試deviceid和vendor id寄存器這兩個(gè)寄存器的值由pcisig分配，只讀。其中vendor id代表pci設(shè)備的生產(chǎn)廠商，而device id代表這個(gè)廠商所生產(chǎn)的具體設(shè)備。如xilinx公司的k7，其vendor id為0x10ee，而device id為0x7028。
更新時(shí)間:2024-11-21
Pcie3.0x16 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie3.0x16 眼圖測試 物理層致性測試獲得的信號(hào)波形沒有出現(xiàn)非單調(diào)的情況。按照以上設(shè)計(jì)改板后的測試結(jié)果與仿真 致。 如果不進(jìn)行仿真，那么只能在產(chǎn)品設(shè)計(jì)完成之后進(jìn)行測試才能發(fā)現(xiàn)問題，如果要改善， 只能再改板調(diào)整，還可能出現(xiàn)改板很多次的情況，這樣就會(huì)延遲產(chǎn)品上市時(shí)間并增加物料成本。
更新時(shí)間:2024-11-21
梅特勒電極（有問題，產(chǎn)品上留有碎渣）
梅特勒電極ha405-dpa-sc-s8/120（有問題，產(chǎn)品上留有碎渣） 硬件開放實(shí)驗(yàn)室 開放實(shí)驗(yàn)室 儀器租賃
更新時(shí)間:2024-11-21
EMMC 上電時(shí)序測試 電源紋波測試
emmc 上電時(shí)序測試 電源紋波測試emmc 芯片下方在敷銅時(shí)，焊盤部分要增加敷銅禁布框，避免銅皮分布不均影響散熱，導(dǎo)致貼片虛焊。
更新時(shí)間:2024-11-21
EMMC 時(shí)鐘測試 數(shù)據(jù)信號(hào)測試
emmc 時(shí)鐘測試 數(shù)據(jù)信號(hào)測試電源紋波測試過大的問題通常和使用的探頭以及端的連接方式有關(guān)。先檢查了用戶探頭的連接方式，發(fā)現(xiàn)其使用的是如下面左圖所示的長的鱷魚夾地線，而且接地點(diǎn)夾在了單板的固定螺釘上，整個(gè)地環(huán)路比較大。由于大的地環(huán)路會(huì)引入更多的開關(guān)電源造成的空間電磁輻射噪聲以及地環(huán)路噪聲，于是更換成如下面右圖所示的短的接地彈簧針。
更新時(shí)間:2024-11-21
EMMC 控制信號(hào)測試 控制信號(hào)過沖測試 控制信號(hào)高低電平測試
emmc 控制信號(hào)測試 控制信號(hào)過沖測試 控制信號(hào)高低電平測試
更新時(shí)間:2024-11-21
EMMC 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試
emmc 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試這是個(gè)典型的電源紋波測試的問題。我們通過使用短的地線連接、換用低衰減比的探頭以及帶寬限制功能使得紋波噪聲的測試結(jié)果大大改善。
更新時(shí)間:2024-11-21
EMMC4 上電時(shí)序測試 電源紋波測試 時(shí)鐘測試 數(shù)據(jù)信號(hào)測試
emmc4 上電時(shí)序測試 電源紋波測試 時(shí)鐘測試 數(shù)據(jù)信號(hào)測試實(shí)際上就是把電纜的頭接在示波器上，示波器設(shè)置為50歐姆輸入阻抗；電纜的另頭剝開，屏蔽層焊接在被測電路地上，中心導(dǎo)體通過個(gè)隔直電容連接被測的電源信號(hào)。這種方法的優(yōu)點(diǎn)是低成本，低衰減比，缺點(diǎn)是致性不好，隔直電容參數(shù)及帶寬不好控制。
更新時(shí)間:2024-11-21
Emmc5 上電時(shí)序測試 電源紋波測試 時(shí)鐘測試 數(shù)據(jù)信號(hào)測試
相關(guān)產(chǎn)品：emmc5 , 上電時(shí)序測試 , 電源紋波測試 , 時(shí)鐘測試 , 數(shù)據(jù)信號(hào)測試通俗的來說，emmc=nand閃存+閃存控制芯片+標(biāo)準(zhǔn)接口封裝。
更新時(shí)間:2024-11-21
EMMC4 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試
emmc4 , 復(fù)位測試 , clk測試 , dqs測試emmc則在其內(nèi)部集成了 flash controller，包括了協(xié)議、擦寫均衡、壞塊管理、ecc校驗(yàn)、電源管理、時(shí)鐘管理、數(shù)據(jù)存取等功能。
更新時(shí)間:2024-11-21
EMMC5 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試
emmc5 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試包括card interface（cmd，data，clk）、memory core interface、總線接口控制（card interface controller）、電源控制、寄存器組。
更新時(shí)間:2024-11-21
EMMC5 復(fù)位測試 CLK測試
emmc5 復(fù)位測試 clk測試mmc通過發(fā)cmd的方式來實(shí)現(xiàn)卡的初始化和數(shù)據(jù)訪問。device identification mode包括3個(gè)階段idle state、ready state、identification state。
更新時(shí)間:2024-11-21
ETS-LINDGREN近場探頭，硬件測試，開放實(shí)驗(yàn)室，DDR測試，時(shí)序測試，紋波測試，抖動(dòng)測試
misenbo 硬件開放實(shí)驗(yàn)室 開放實(shí)驗(yàn)室 硬件實(shí)驗(yàn)室 ets-lindgren 7405近場探頭 儀器資訊
更新時(shí)間:2024-11-21
Nemtest dito靜電放電模擬器，硬件測試，開放實(shí)驗(yàn)室，DDR測試，時(shí)序測試，紋波測試，抖動(dòng)測試
misenbo 硬件開放實(shí)驗(yàn)室 開放實(shí)驗(yàn)室 硬件實(shí)驗(yàn)室 nemtest dito 靜電放電模擬器 儀器資訊
更新時(shí)間:2024-11-21
T-280S--TRACKING 體能測試設(shè)備 鴻泰盛 交互式
動(dòng)態(tài)體能評估系統(tǒng)t280s是一款集動(dòng)態(tài)體能評估、體適能評估、運(yùn)動(dòng)數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)、運(yùn)動(dòng)健康分析、智能訓(xùn)練指導(dǎo)為一體的評估系統(tǒng)。系統(tǒng)通過穿戴式傳感器進(jìn)行動(dòng)作數(shù)據(jù)采集，對8個(gè)或以上特定動(dòng)作的動(dòng)態(tài)測試，采集身體運(yùn)動(dòng)參數(shù)，遠(yuǎn)程無線數(shù)據(jù)傳輸，與交互平臺(tái)配合分析人體的重心運(yùn)動(dòng)軌跡及人體的運(yùn)動(dòng)姿態(tài)，自動(dòng)進(jìn)行分析并生成測試報(bào)告和出具訓(xùn)練建議。
更新時(shí)間:2024-11-20
腳型測量儀 足部檢測 鴻泰盛 快速定制鞋墊
腳型測量儀 足部檢測 鴻泰盛 快速定制鞋墊 同時(shí)具備足底壓力分析、體態(tài)評估和足墊定制三大功能。系統(tǒng)采用的是的高精度足底壓力分析技術(shù)，對用戶的足弓、足態(tài)進(jìn)行分析與評估，根據(jù)分析數(shù)據(jù)，了解用戶的足部現(xiàn)狀，并作出針對性足墊解決方案。與此同時(shí)，系統(tǒng)采用的加熱定型技術(shù)，該技術(shù)在足墊定制過程中操作簡單，效率很高，現(xiàn)場8分鐘即可獲得一雙貼合用戶足弓足型的定制足墊，用戶可以現(xiàn)場直接穿戴。
更新時(shí)間:2024-11-20
體態(tài)評估儀 脊柱功能檢測儀器 鴻泰盛 foncti-630
foncti-630體態(tài)評估系統(tǒng)，是一款集合3d體態(tài)檢測，步態(tài)檢測于一體的智能體測系統(tǒng)。系統(tǒng)采用沿的遠(yuǎn)紅外與結(jié)構(gòu)光技術(shù)，模擬人體骨骼位置結(jié)構(gòu)，分析肌肉功能狀態(tài)，診斷動(dòng)態(tài)步態(tài)異常，預(yù)測各項(xiàng)健康風(fēng)險(xiǎn)，給予客戶健康評分并為客戶定制完整運(yùn)動(dòng)方案。
更新時(shí)間:2024-11-20
兒童人體成分分析儀 CareBo-810 折疊機(jī)身
carebo-810采用國際先進(jìn)的多頻率生物電阻抗技術(shù)進(jìn)行人體成分準(zhǔn)確分析，監(jiān)測體脂和肌肉的變化及分析人體成分變化，回歸數(shù)據(jù)本身，呈現(xiàn)身體的真實(shí)數(shù)據(jù)，通過獨(dú)有的準(zhǔn)確測量技術(shù)和wifi通信模塊等，向用戶提供更多豐富的服務(wù)項(xiàng)目。
更新時(shí)間:2024-11-20
足底壓力測試系統(tǒng) 便捷式 AFA-50足底壓力測量儀
足底壓力測試儀采用48hv矩陣傳感器（傳感器數(shù)量2304個(gè)），以生物力學(xué)為基礎(chǔ)，準(zhǔn)確采集足底壓力分布數(shù)據(jù)，能夠根據(jù)性別、年齡、身高進(jìn)行5個(gè)等的評估，對足部壓力，足部畸形問題進(jìn)行有效分析，提供針對性解決方案。
更新時(shí)間:2024-11-20
鞋墊機(jī)器 足型檢測儀 鞋墊定制3D設(shè)備 C1
鞋墊機(jī)器 足型檢測儀 鞋墊定制3d設(shè)備 c1同時(shí)具備足底壓力分析、體態(tài)評估和足墊定制三大功能。系統(tǒng)采用的是國際先進(jìn)的高精度足底壓力分析技術(shù)，對用戶的足弓、足態(tài)進(jìn)行分析與評估，根據(jù)分析數(shù)據(jù)，了解用戶的足部現(xiàn)狀，并作出針對性足墊解決方案。
更新時(shí)間:2024-11-20
鞋墊機(jī)器 足型檢測儀 鞋墊定制3D設(shè)備 鴻泰盛 S1
鞋墊機(jī)器 足型檢測儀 鞋墊定制3d設(shè)備 鴻泰盛 s1同時(shí)具備足底壓力分析、體態(tài)評估和足墊定制三大功能。系統(tǒng)采用的是國際先進(jìn)的高精度足底壓力分析技術(shù)，對用戶的足弓、足態(tài)進(jìn)行分析與評估，根據(jù)分析數(shù)據(jù)，了解用戶的足部現(xiàn)狀，并作出針對性足墊解決方案。
更新時(shí)間:2024-11-20
足底壓力測試板 三維步態(tài)分析儀 足壓檢測 鴻泰盛 AFA-50
足底壓力測試板 三維步態(tài)分析儀 足壓檢測 鴻泰盛 afa-50采用48hv矩陣傳感器（傳感器數(shù)量2304個(gè)），以生物力學(xué)為基礎(chǔ)，準(zhǔn)確采集足底壓力分布數(shù)據(jù)，能夠根據(jù)性別、年齡、身高進(jìn)行5個(gè)等的評估，對足部壓力，足部畸形問題進(jìn)行有效分析，提供針對性解決方案。
更新時(shí)間:2024-11-20
骨密度測定儀 兒童超聲骨密度儀 骨密度檢測儀 OsteoPro Smart
超聲技術(shù)準(zhǔn)確可靠,準(zhǔn)確判斷骨質(zhì)疏松癥；提供多方位骨質(zhì)信息,更有效評估骨折風(fēng)險(xiǎn)；采用who《衛(wèi)生組織》的骨質(zhì)疏松癥判斷標(biāo)準(zhǔn)；技術(shù)計(jì)算的骨質(zhì)疏松指數(shù),一目了然地進(jìn)行判斷：
更新時(shí)間:2024-11-20
動(dòng)脈硬化測量儀 脈搏波速測定儀 脈搏波速檢測儀
具有斷電自動(dòng)放氣、過壓自動(dòng)放氣等保護(hù)功能；根據(jù)以病理學(xué)的數(shù)據(jù)庫進(jìn)行定量分析，包括各主要血管疾病的風(fēng)險(xiǎn)因子和動(dòng)脈年齡估算，并有與同年齡組參考值比較的圖示；根據(jù)佛萊明漢風(fēng)險(xiǎn)分析來提供未來10年冠狀動(dòng)脈硬化心臟病發(fā)病的機(jī)率。
更新時(shí)間:2024-11-20
身體成分分析儀器 體測儀 人體成分檢測儀 鴻泰盛
carebo-810采用國際先進(jìn)的多頻率生物電阻抗技術(shù)進(jìn)行人體成分準(zhǔn)確分析，監(jiān)測體脂和肌肉的變化及分析人體成分變化，回歸數(shù)據(jù)本身，呈現(xiàn)身體的真實(shí)數(shù)據(jù)，通過獨(dú)有的準(zhǔn)確測量技術(shù)和wifi通信模塊等，向用戶提供更多豐富的服務(wù)項(xiàng)目。
更新時(shí)間:2024-11-20
三維步態(tài)分析儀 足底壓力測試板 步態(tài)分析儀 鴻泰盛
足底壓力測試儀采用48hv矩陣傳感器（傳感器數(shù)量2304個(gè)），以生物力學(xué)為基礎(chǔ)，準(zhǔn)確采集足底壓力分布數(shù)據(jù)，能夠根據(jù)性別、年齡、身高進(jìn)行5個(gè)等的評估，對足部壓力，足部畸形問題進(jìn)行有效分析，提供針對性解決方案。
更新時(shí)間:2024-11-20
穿戴式步態(tài)分析儀 足部壓力檢測儀 鴻泰盛便捷式
足底壓力測試儀采用48hv矩陣傳感器（傳感器數(shù)量2304個(gè)），以生物力學(xué)為基礎(chǔ)，準(zhǔn)確采集足底壓力分布數(shù)據(jù)，能夠根據(jù)性別、年齡、身高進(jìn)行5個(gè)等的評估，對足部壓力，足部畸形問題進(jìn)行有效分析，提供針對性解決方案。
更新時(shí)間:2024-11-20
3D矯正鞋墊機(jī) 足型檢測儀 鞋墊定制機(jī) 全自動(dòng)鞋墊機(jī) S1
全自動(dòng)鞋墊機(jī)s1足墊定制系統(tǒng)同時(shí)具備足底壓力分析、體態(tài)評估和足墊定制三大功能。系統(tǒng)采用的是高精度足底壓力分析技術(shù)，對用戶的足弓、足態(tài)進(jìn)行分析與評估，作出針對性足墊解決方案。
更新時(shí)間:2024-11-20
全自動(dòng)鞋墊機(jī) 足型檢測儀 鞋墊定制3D設(shè)備 鞋機(jī) S1
boonfeet s1足墊定制系統(tǒng)同時(shí)具備足底壓力分析、體態(tài)評估和足墊定制三大功能。系統(tǒng)采用的是國際先進(jìn)的高精度足底壓力分析技術(shù)，對用戶的足弓、足態(tài)進(jìn)行分析與評估，根據(jù)分析數(shù)據(jù)，了解用戶的足部現(xiàn)狀，并作出針對性足墊解決方案。與此同時(shí)，系統(tǒng)采用獨(dú)特的加熱定型技術(shù)，該技術(shù)在足墊定制過程中操作簡單，效率很高，現(xiàn)場5分鐘即可獲得一雙完全貼合用戶足弓足型的定制足墊，用戶可以現(xiàn)場直接穿戴。
更新時(shí)間:2024-11-20
足底壓力分析儀 足底壓力測量儀 鴻泰盛 三維便攜
足底壓力測試儀采用48hv矩陣傳感器（傳感器數(shù)量2304個(gè)），以生物力學(xué)為基礎(chǔ)，準(zhǔn)確采集足底壓力分布數(shù)據(jù)，能夠根據(jù)性別、年齡、身高進(jìn)行5個(gè)等的評估，對足部壓力，足部畸形問題進(jìn)行有效分析，提供針對性解決方案？蛇m用于疼痛科、康復(fù)科、神經(jīng)內(nèi)科、足踝外科、骨科等科室，廣泛應(yīng)用于體檢康復(fù)、運(yùn)動(dòng)康復(fù)、教學(xué)科研等域。
更新時(shí)間:2024-11-20
足底壓力測試儀 足底壓力分析儀 鴻泰盛 三維便攜
足底壓力測試儀采用48hv矩陣傳感器（傳感器數(shù)量2304個(gè)），以生物力學(xué)為基礎(chǔ)，準(zhǔn)確采集足底壓力分布數(shù)據(jù)，能夠根據(jù)性別、年齡、身高進(jìn)行5個(gè)等的評估，對足部壓力，足部畸形問題進(jìn)行有效分析，提供針對性解決方案。
更新時(shí)間:2024-11-20
步態(tài)分析儀
●僅厚3mm、gai+view 超薄的測試板！●足底壓力的大小與分布能反映人體腿，足結(jié)構(gòu)。功能及整個(gè)身體姿勢控制等信息，測試。分析足底應(yīng)力，對臨床診斷。疾患程度測定和術(shù)后療效評價(jià)均具有重要意義。●gaitview特點(diǎn)●很高的便攜性僅有3mm厚度，是很薄的足壓測試儀，同時(shí)其尺寸僅為50*70cm,重量僅為4.8kg,具有很高的便攜性。
更新時(shí)間:2024-11-20
人體成分分析儀
便攜式人體成分分析儀01用包成箱,移動(dòng)安全、方便02人體工程學(xué)設(shè)計(jì)03.超輕型,約10kg04.a4打印機(jī)或熱敏打印（選配）05.7英寸彩色液晶顯示屏06.3-5分鐘即會(huì)操作07.語音向?qū)Чδ?8.u盤數(shù)據(jù)備份
更新時(shí)間:2024-11-20
交直流分壓器
我公司開發(fā)研制的sdy-gb高低壓電流互感器變比測試儀是針對高壓計(jì)量用戶的一種新型用電稽查設(shè)備。它可在不斷電、不改線的情況下檢測35kv及以下的計(jì)量裝置用電流互感器的變比和極性，從而有效的防止高壓計(jì)量用戶采取更換高低壓電流互感器或電流互感器銘牌以及改變二次線極性達(dá)到少記費(fèi)的竊電行為。
更新時(shí)間:2024-11-20
充氣式試驗(yàn)變壓器
ydq充氣式試驗(yàn)變壓器依據(jù)《試驗(yàn)變壓器國家標(biāo)準(zhǔn)》、行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)《jb/t9641-1999》自行研制生產(chǎn)的輕型交流、交直流兩用油浸式和充氣式（sf6）系列變壓器，具有體積小、重量輕、結(jié)構(gòu)緊湊、功能齊全、通用性強(qiáng)和使用方便等特點(diǎn)。特別適用于電力系統(tǒng)、工礦企業(yè)、科研部門等對各種電氣設(shè)備、電器元件、絕緣材料進(jìn)行工頻或直流高壓下的絕緣強(qiáng)度及泄漏試驗(yàn)，是高壓試驗(yàn)中必不可少的重要設(shè)備。
更新時(shí)間:2024-11-20
航空用阿爾門測量儀
阿爾門測量儀的概述噴丸是利用金屬丸,玻璃丸,陶瓷丸來達(dá)到工件表面強(qiáng)化的工藝。實(shí)質(zhì)上,它在表畫形成殘余壓應(yīng)力,從而提高了抗壓力腐蝕和和抗擊循環(huán)疲勞的能力。特定零件表面修整所需的介質(zhì)的成分,尺寸,強(qiáng)度和覆蓋率都在發(fā)動(dòng)機(jī)/車間手冊中有具體規(guī)定
更新時(shí)間:2024-11-20

最新產(chǎn)品

熱門儀器： 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計(jì) 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗(yàn)機(jī) 酸度計(jì)（PH計(jì)） 離心機(jī) 高速離心機(jī) 冷凍離心機(jī) 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 生物試劑