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華測(cè)  高溫壓電系數(shù)測(cè)試儀
一、壓電系數(shù)d33測(cè)試簡(jiǎn)介: 壓電陶瓷除了具有一般介質(zhì)材料所具有的介電性和彈性性能外,還具有壓電性能。壓電陶瓷經(jīng)過(guò)化處理之后,就具有了各向異性,每項(xiàng)性能參數(shù)在不同方向上所表現(xiàn)的數(shù)值不同,這就使得壓電陶瓷的性能參數(shù)比一般各向同性的介質(zhì)陶瓷多得多。壓電陶瓷的眾多的性能參數(shù)是它被廣泛應(yīng)用的重要基礎(chǔ)。 可縱向壓電應(yīng)變常數(shù)d33是壓電材料的基本物理參數(shù)。它不僅決定了壓電材料的性能,d31, d15, 電容
更新時(shí)間:2024-11-23
華測(cè)  2024 高溫壓電系數(shù)測(cè)試儀
一、壓電系數(shù)d33測(cè)試簡(jiǎn)介: 壓電陶瓷除了具有一般介質(zhì)材料所具有的介電性和彈性性能外,還具有壓電性能。壓電陶瓷經(jīng)過(guò)化處理之后,就具有了各向異性,每項(xiàng)性能參數(shù)在不同方向上所表現(xiàn)的數(shù)值不同,這就使得壓電陶瓷的性能參數(shù)比一般各向同性的介質(zhì)陶瓷多得多。壓電陶瓷的眾多的性能參數(shù)是它被廣泛應(yīng)用的重要基礎(chǔ)。 可縱向壓電應(yīng)變常數(shù)d33是壓電材料的基本物理參數(shù)。它不僅決定了壓電材料的性能,用于鐵電、壓電材料以及相
更新時(shí)間:2024-11-23
華測(cè)  2024 高溫壓電系數(shù)測(cè)試儀 D33 D31
一、壓電系數(shù)d33測(cè)試簡(jiǎn)介: 壓電陶瓷除了具有一般介質(zhì)材料所具有的介電性和彈性性能外,還具有壓電性能。壓電陶瓷經(jīng)過(guò)化處理之后,就具有了各向異性,每項(xiàng)性能參數(shù)在不同方向上所表現(xiàn)的數(shù)值不同,這就使得壓電陶瓷的性能參數(shù)比一般各向同性的介質(zhì)陶瓷多得多。壓電陶瓷的眾多的性能參數(shù)是它被廣泛應(yīng)用的重要基礎(chǔ)。 可縱向壓電應(yīng)變常數(shù)d33是壓電材料的基本物理參數(shù)。它不僅決定了壓電材料的性能,用于鐵電、壓電材料以及相
更新時(shí)間:2024-11-23
華測(cè)  高溫壓電系數(shù)測(cè)試儀 D33 準(zhǔn)靜態(tài)壓電系數(shù)測(cè)試儀
一、壓電系數(shù)d33測(cè)試簡(jiǎn)介: 壓電陶瓷除了具有一般介質(zhì)材料所具有的介電性和彈性性能外,還具有壓電性能。壓電陶瓷經(jīng)過(guò)化處理之后,就具有了各向異性,每項(xiàng)性能參數(shù)在不同方向上所表現(xiàn)的數(shù)值不同,這就使得壓電陶瓷的性能參數(shù)比一般各向同性的介質(zhì)陶瓷多得多。壓電陶瓷的眾多的性能參數(shù)是它被廣泛應(yīng)用的重要基礎(chǔ)。 可縱向壓電應(yīng)變常數(shù)d33是壓電材料的基本物理參數(shù)。它不僅決定了壓電材料的性能,用于鐵電、壓電材料以及相
更新時(shí)間:2024-11-23
華測(cè) 2024 高壓化電源   機(jī)箱式高壓電源
華測(cè)hchv系列高壓電源是高性能機(jī)箱式高壓電源,具有完善的保護(hù)系統(tǒng)?蛇b控或本地控制,面板有電壓、電流顯示,高壓輸入端過(guò)壓、過(guò)流、短路保護(hù)、拉弧、過(guò)溫保護(hù)和an全鎖等功能。寬范圍調(diào)整和靈活的多項(xiàng)可選功能。hchv系列是一種高性能、高可靠性、高品質(zhì)的直流高壓電源由于我們的高壓電子技術(shù)積累了多年。更適合材料電學(xué)高壓試驗(yàn)與材料jian測(cè)。 高壓放大器將輸入電壓轉(zhuǎn)換為高壓及波形輸出。高壓放大器的需求越來(lái)越
更新時(shí)間:2024-11-23
華測(cè)  高壓極化電源   一體機(jī)箱式高壓電源  直流高壓電源
華測(cè)hchv系列高壓電源是高性能機(jī)箱式高壓電源,具有完善的保護(hù)系統(tǒng)?蛇b控或本地控制,面板有電壓、電流顯示,高壓輸入端過(guò)壓、過(guò)流、短路保護(hù)、拉弧、過(guò)溫保護(hù)和an全鎖等功能。寬范圍調(diào)整和靈活的多項(xiàng)可選功能。hchv系列是一種高性能、高可靠性、高品質(zhì)的直流高壓電源由于我們的高壓電子技術(shù)積累了多年。更適合材料電學(xué)高壓試驗(yàn)與材料jian測(cè)。 高壓放大器將輸入電壓轉(zhuǎn)換為高壓及波形輸出。
更新時(shí)間:2024-11-23
華測(cè)  多通道極化裝置
多通道塊體極化裝置huace hv-10一、產(chǎn)品介紹huace hv-10 壓電材料kuai極化裝置借鑒guo際zuixian進(jìn)的測(cè)試方法的基礎(chǔ)上,采用華測(cè)儀器自主研發(fā)的超低紋波、線性高壓直流電源、更科學(xué)穩(wěn)定的加熱電極,并配合計(jì)算機(jī)控制實(shí)現(xiàn)的多功能極化的裝置。設(shè)備在技術(shù)指標(biāo)wan全可替代進(jìn)口設(shè)備,屬真正的國(guó)產(chǎn)自主創(chuàng)新。
更新時(shí)間:2024-11-23
華測(cè)  十通道塊體極化裝置
多通道塊體極化裝置huace hv-10一、產(chǎn)品介紹huace hv-10 壓電材料kuai極化裝置借鑒guo際zuixian進(jìn)的測(cè)試方法的基礎(chǔ)上,采用華測(cè)儀器自主研發(fā)的超低紋波、線性高壓直流電源、更科學(xué)穩(wěn)定的加熱電極,并配合計(jì)算機(jī)控制實(shí)現(xiàn)的多功能極化的裝置。設(shè)備在技術(shù)指標(biāo)wan全可替代進(jìn)口設(shè)備,屬真正的國(guó)產(chǎn)自主創(chuàng)新。
更新時(shí)間:2024-11-23
華測(cè)  高低溫冷熱臺(tái)
高低溫冷熱臺(tái)一、概述 huace650t高低溫冷熱臺(tái)在借鑒guo際zuixianjin的測(cè)試方法的基礎(chǔ)上,由華測(cè)儀器多位工程師多年開(kāi)發(fā),其具有更強(qiáng)大測(cè)試功能,冷熱臺(tái)可配合阻抗分析儀、高阻計(jì)、電化學(xué)工作站、數(shù)字原表設(shè)備進(jìn)行功能材料電學(xué)的相關(guān)測(cè)試,采用直接聯(lián)接測(cè)試儀表以減少測(cè)試導(dǎo)線的影響,同時(shí)電加熱采用直流電加熱方式,減少電網(wǎng)諧波對(duì)測(cè)量?jī)x表的干擾。在某些技術(shù)指標(biāo)超過(guò)進(jìn)口儀器,真正的國(guó)產(chǎn)自主創(chuàng)新
更新時(shí)間:2024-11-23
華測(cè)  高低溫冷熱臺(tái)  全xin升
高低溫冷熱臺(tái)一、概述 huace650t高低溫冷熱臺(tái)在借鑒guo際zuixianjin的測(cè)試方法的基礎(chǔ)上,由華測(cè)儀器多位工程師多年開(kāi)發(fā),其具有更強(qiáng)大測(cè)試功能,冷熱臺(tái)可配合阻抗分析儀、高阻計(jì)、電化學(xué)工作站、數(shù)字原表設(shè)備進(jìn)行功能材料電學(xué)的相關(guān)測(cè)試,采用直接聯(lián)接測(cè)試儀表以減少測(cè)試導(dǎo)線的影響,同時(shí)電加熱采用直流電加熱方式,減少電網(wǎng)諧波對(duì)測(cè)量?jī)x表的干擾。在某些技術(shù)指標(biāo)超過(guò)進(jìn)口儀器,真正的國(guó)產(chǎn)自主創(chuàng)新
更新時(shí)間:2024-11-23
華測(cè) TSC 熱刺激電流測(cè)試儀
一、產(chǎn)品概述hc-tsc2000熱刺激電流測(cè)試儀借鑒國(guó)jizui先jin的測(cè)試方法的基礎(chǔ)上,由華測(cè)儀器多位工程師多年開(kāi)發(fā),其具有更強(qiáng)大測(cè)試功能,設(shè)備zui大支持測(cè)試電壓10kv,采用冷臺(tái)的方式進(jìn)行加溫與制冷,測(cè)量引用使用低噪聲線纜,減少測(cè)試導(dǎo)線的影響,同時(shí)電加熱采用直流電加熱方式,減少電網(wǎng)諧波對(duì)測(cè)量?jī)x表的干擾。屬真正的國(guó)產(chǎn)自主創(chuàng)新,同時(shí)測(cè)試功能上也增加了高阻測(cè)試、擊穿測(cè)試、
更新時(shí)間:2024-11-23
華測(cè) 高溫絕緣電阻測(cè)試儀
高溫絕緣電阻測(cè)試儀運(yùn)用平行板法設(shè)計(jì)原理測(cè)量。該儀器設(shè)計(jì)符合《gb/t 10518-2006絕緣材料在高溫下電阻和電阻率試驗(yàn)方法》標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā),并參考美國(guó) astm 標(biāo)準(zhǔn)。利用獨(dú)特的電阻測(cè)試系統(tǒng),重復(fù)性與穩(wěn)定性更好,提升了夾具的抗干擾能力,同時(shí)大大提高精確度,可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究等用途。針對(duì)高溫絕緣電阻測(cè)試儀做了多項(xiàng)安全設(shè)計(jì),測(cè)試過(guò)程中在過(guò)電壓、過(guò)電流、超溫等異常情況下以保證測(cè)試過(guò)
更新時(shí)間:2024-11-23
華測(cè) 高低溫絕緣電阻測(cè)試儀
高溫絕緣電阻測(cè)試儀運(yùn)用平行板法設(shè)計(jì)原理測(cè)量。該儀器設(shè)計(jì)符合《gb/t 10518-2006絕緣材料在高溫下電阻和電阻率試驗(yàn)方法》標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā),并參考美國(guó) astm 標(biāo)準(zhǔn)。利用獨(dú)特的電阻測(cè)試系統(tǒng),重復(fù)性與穩(wěn)定性更好,提升了夾具的抗干擾能力,同時(shí)大大提高精確度,可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究等用途。針對(duì)高溫絕緣電阻測(cè)試儀做了多項(xiàng)安全設(shè)計(jì),測(cè)試過(guò)程中在過(guò)電壓、過(guò)電流、超溫等異常情況下以保證測(cè)試過(guò)
更新時(shí)間:2024-11-23
華測(cè) 多通道介電測(cè)試系統(tǒng)
一、產(chǎn)品概述多通道介電電阻測(cè)試儀主要用于:多通道電阻、介電測(cè)試等可搭載阻抗分析儀、高阻計(jì)使用光耦繼電器,高速又耐用切換時(shí)間 1 ms 高速i/o 輸出控制基于 im3570 與 z
更新時(shí)間:2024-11-23
華測(cè) 多通道介電電阻測(cè)試儀
一、產(chǎn)品概述多通道介電電阻測(cè)試儀主要用于:多通道電阻、介電測(cè)試等可搭載阻抗分析儀、高阻計(jì)使用光耦繼電器,高速又耐用切換時(shí)間 1 ms 高速i/o 輸出控制基于 im3570 與 z
更新時(shí)間:2024-11-23
華測(cè) 多通道介電測(cè)試模塊
一、產(chǎn)品概述多通道介電電阻測(cè)試儀主要用于:多通道電阻、介電測(cè)試等可搭載阻抗分析儀、高阻計(jì)使用光耦繼電器,高速又耐用切換時(shí)間 1 ms 高速i/o 輸出控制基于 im3570 與 z
更新時(shí)間:2024-11-23
華測(cè)絕緣材料電阻評(píng)價(jià)平臺(tái)
絕緣材料電阻評(píng)價(jià)平臺(tái)運(yùn)用平行板法設(shè)計(jì)原理測(cè)量。該儀器設(shè)計(jì)符合《gb/t 10518-2006絕緣材料在高溫下電阻和電阻率試驗(yàn)方法》標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā),并參考美國(guó)astm標(biāo)準(zhǔn)。利用獨(dú)特的電阻測(cè)試系統(tǒng),重復(fù)性與穩(wěn)定性更好,提升了夾具的抗干擾能力,同時(shí)大大提高jing確度,可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究等用途
更新時(shí)間:2024-11-23
華測(cè) 絕緣材料電阻評(píng)價(jià)系統(tǒng)
一、產(chǎn)品概括絕緣材料電阻評(píng)價(jià)平臺(tái)運(yùn)用平行板法設(shè)計(jì)原理測(cè)量。該儀器設(shè)計(jì)符合《gb/t 10518-2006絕緣材料在高溫下電阻和電阻率試驗(yàn)方法》標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā),并參考美國(guó) astm 標(biāo)準(zhǔn)。利用獨(dú)特的電
更新時(shí)間:2024-11-23
華測(cè) 工程塑料使用電阻設(shè)備
一、產(chǎn)品概括絕緣材料電阻評(píng)價(jià)平臺(tái)運(yùn)用平行板法設(shè)計(jì)原理測(cè)量。該儀器設(shè)計(jì)符合《gb/t 10518-2006絕緣材料在高溫下電阻和電阻率試驗(yàn)方法》標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā),并參考美國(guó) astm 標(biāo)準(zhǔn)。利用獨(dú)特的電
更新時(shí)間:2024-11-23
華測(cè) 靜電電壓測(cè)試儀
靜電計(jì)huace 103一、產(chǎn)品概述4位半103型靜電計(jì)結(jié)合了華測(cè)高靈敏度電壓、電流測(cè)量?jī)x器的技術(shù)優(yōu)勢(shì)以及更快的速度和更高的耐用性。這款經(jīng)濟(jì)型的儀器具有4個(gè)電壓量程和快速自動(dòng)量程功能,可以測(cè)量1mv到200v的靜電直流電壓,其測(cè)量速度達(dá)到500讀數(shù)/秒。103具有的1mv的分辨率與高靈敏度,使它特別適合于低電壓測(cè)試場(chǎng)合,而它200v的量程使它可以測(cè)量較高的靜電電壓。
更新時(shí)間:2024-11-23
華測(cè)  小型探針臺(tái)
探針臺(tái)是一種輔助執(zhí)行機(jī)構(gòu),測(cè)試人員把需要量測(cè)的器件放到探針臺(tái)載物臺(tái)(chuck)上,在顯微鏡配合下,x-y移動(dòng)器件,找到需要探測(cè)的位置。接下來(lái)測(cè)試人員通過(guò)旋轉(zhuǎn)探針座上的x-y-z的三向旋鈕,控制部探測(cè)
更新時(shí)間:2024-11-23
華測(cè)  雙面探針臺(tái)
華測(cè) 雙面探針臺(tái)型號(hào):huace-8d華測(cè)雙面點(diǎn)針探針臺(tái)可用于晶圓和pcb板測(cè)試,用于需要正面和背面同時(shí)扎針,以實(shí)現(xiàn)各種光/電性能測(cè)試需求的測(cè)試設(shè)備。該定制探針臺(tái)具有優(yōu)良的機(jī)械系統(tǒng),穩(wěn)定
更新時(shí)間:2024-11-23
華測(cè) 高低溫介電溫譜儀
高溫介電溫譜測(cè)試儀運(yùn)用三電法設(shè)計(jì)原理測(cè)量。并參考美國(guó)a.s.t.m標(biāo)準(zhǔn)。重復(fù)性與穩(wěn)定性更好,采用雙屏蔽高頻測(cè)試線纜,提高測(cè)試參數(shù)的精確度,同時(shí)抗干擾能力更強(qiáng)。本設(shè)備也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究等用途。搭配labview系統(tǒng)開(kāi)發(fā)的huacepro軟件,具備彈性的自定義功能,可進(jìn)行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測(cè)量參數(shù)等設(shè)置,符合壓電陶瓷與其它新材料測(cè)試多樣化的需求。過(guò)壓、過(guò)電流、超溫等異常
更新時(shí)間:2024-11-23
華測(cè) 靜電計(jì)
靜電計(jì)huace 103一、產(chǎn)品概述4位半103型靜電計(jì)結(jié)合了華測(cè)高靈敏度電壓、電流測(cè)量?jī)x器的技術(shù)優(yōu)勢(shì)以及更快的速度和更高的耐用性。這款經(jīng)濟(jì)型的儀器具有4個(gè)電壓量程和快速自動(dòng)量程功能,可以測(cè)量1mv到200v的靜電直流電壓,其測(cè)量速度達(dá)到500讀數(shù)/秒。103具有的1mv的分辨率與高靈敏度,使它特別適合于低電壓測(cè)試場(chǎng)合,而它200v的量程使它可以測(cè)量較高的靜電電壓。
更新時(shí)間:2024-11-23
華測(cè) 半定量測(cè)量?jī)x器
靜電計(jì)huace 103一、產(chǎn)品概述4位半103型靜電計(jì)結(jié)合了華測(cè)高靈敏度電壓、電流測(cè)量?jī)x器的技術(shù)優(yōu)勢(shì)以及更快的速度和更高的耐用性。這款經(jīng)濟(jì)型的儀器具有4個(gè)電壓量程和快速自動(dòng)量程功能,可以測(cè)量1mv到200v的靜電直流電壓,其測(cè)量速度達(dá)到500讀數(shù)/秒。103具有的1mv的分辨率與高靈敏度,使它特別適合于低電壓測(cè)試場(chǎng)合,而它200v的量程使它可以測(cè)量較高的靜電電壓。
更新時(shí)間:2024-11-23
華測(cè) 靜電測(cè)量?jī)x
靜電計(jì)huace 103一、產(chǎn)品概述4位半103型靜電計(jì)結(jié)合了華測(cè)高靈敏度電壓、電流測(cè)量?jī)x器的技術(shù)優(yōu)勢(shì)以及更快的速度和更高的耐用性。這款經(jīng)濟(jì)型的儀器具有4個(gè)電壓量程和快速自動(dòng)量程功能,可以測(cè)量1mv到200v的靜電直流電壓,其測(cè)量速度達(dá)到500讀數(shù)/秒。103具有的1mv的分辨率與高靈敏度,使它特別適合于低電壓測(cè)試場(chǎng)合,而它200v的量程使它可以測(cè)量較高的靜電電壓。
更新時(shí)間:2024-11-23
華測(cè)  2024 高溫壓電系數(shù)測(cè)試儀 D33
一、壓電系數(shù)d33測(cè)試簡(jiǎn)介: 壓電陶瓷除了具有一般介質(zhì)材料所具有的介電性和彈性性能外,還具有壓電性能。壓電陶瓷經(jīng)過(guò)化處理之后,就具有了各向異性,每項(xiàng)性能參數(shù)在不同方向上所表現(xiàn)的數(shù)值不同,這就使得壓電陶瓷的性能參數(shù)比一般各向同性的介質(zhì)陶瓷多得多。壓電陶瓷的眾多的性能參數(shù)是它被廣泛應(yīng)用的重要基礎(chǔ)。 可縱向壓電應(yīng)變常數(shù)d33是壓電材料的基本物理參數(shù)。它不僅決定了壓電材料的性能,用于鐵電、壓電材料以及相
更新時(shí)間:2024-11-23
華測(cè)  綜合性分析探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)
華測(cè) 綜合性分析探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)型號(hào):huace-8華測(cè)綜合性分析探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)可用于晶圓和pcb板測(cè)試,大可用于12英寸以內(nèi)樣品測(cè)試、操作便捷,功能其全,高效精準(zhǔn)、可滿足晶片測(cè)試、光電
更新時(shí)間:2024-11-23
準(zhǔn)靜態(tài)壓電系數(shù)d33測(cè)量?jī)x
本儀器采用利用fpga任意信號(hào)發(fā)生器,為激振器提供穩(wěn)定頻率。采用進(jìn)口激振器,以實(shí)現(xiàn)更精準(zhǔn)的振動(dòng)頻率。電荷采用采用高阻放電荷放大器。以保證測(cè)試數(shù)據(jù)的精度。本儀器適合廣大科研院所研究壓電材料必要可少的儀器
更新時(shí)間:2024-11-23
華測(cè) 2024鋰電池隔膜50點(diǎn)電法測(cè)試儀  鋰電池隔膜50點(diǎn)電法測(cè)試儀
一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介:該儀器是根據(jù)《gb/t 36363-2018 鋰離子電池用聚烯烴隔膜>、gb/t 13542-2006、iec 60674-2:1988 電氣用塑料薄膜標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)計(jì)的50點(diǎn)電法設(shè)計(jì)
更新時(shí)間:2024-11-23
華測(cè)隔膜閉孔溫度、破孔溫度測(cè)試儀
華測(cè) 隔膜閉孔溫度、破孔溫度測(cè)試儀型號(hào):huacebp-200c一、產(chǎn)品介紹huacebp-200c閉孔溫度、破孔溫度測(cè)試儀,在業(yè)內(nèi)測(cè)試方法的基礎(chǔ)上,結(jié)合華測(cè)儀器多位工程師多年開(kāi)發(fā),其具有
更新時(shí)間:2024-11-23
華測(cè) 2024 高壓化電源
華測(cè)hchv系列高壓電源是高性能機(jī)箱式高壓電源,具有完善的保護(hù)系統(tǒng)?蛇b控或本地控制,面板有電壓、電流顯示,高壓輸入端過(guò)壓、過(guò)流、短路保護(hù)、拉弧、過(guò)溫保護(hù)和an全鎖等功能。寬范圍調(diào)整和靈活的多項(xiàng)可選功
更新時(shí)間:2024-11-23
材料電學(xué)測(cè)試儀器---鐵電分析儀 介電溫譜電卡測(cè)試TSDC電阻等
huace fe系列鐵電測(cè)試系統(tǒng),有著寬頻率響應(yīng)范圍及寬測(cè)試電壓范圍,在±500v內(nèi)置電壓下,電滯回線測(cè)試頻率可高達(dá)500khz;此系統(tǒng)包含huacepro基本鐵電管理測(cè)試軟件。此外還可外部擴(kuò)展電壓到4kv、10kv、20kv,huace fe主機(jī)在不改變樣品連接的情況下可執(zhí)行電滯回線,脈沖,漏電流,iv、cv、擊穿測(cè)試,也可加載選件實(shí)現(xiàn)壓電、熱釋電、tsdc和電卡、阻抗分析、電阻測(cè)量等特性測(cè)試
更新時(shí)間:2024-11-23
華測(cè) TSDC熱刺激電流測(cè)試儀
一、產(chǎn)品概述hc-tsc2000熱刺激電流測(cè)試儀借鑒國(guó)jizui先jin的測(cè)試方法的基礎(chǔ)上,由華測(cè)儀器多位工程師多年開(kāi)發(fā),其具有更強(qiáng)大測(cè)試功能,設(shè)備zui大支持測(cè)試電壓10kv,采用冷臺(tái)的方式進(jìn)行加溫與制冷,測(cè)量引用使用低噪聲線纜,減少測(cè)試導(dǎo)線的影響,同時(shí)電加熱采用直流電加熱方式,減少電網(wǎng)諧波對(duì)測(cè)量?jī)x表的干擾。屬真正的國(guó)產(chǎn)自主創(chuàng)新,同時(shí)測(cè)試功能上也增加了高阻測(cè)試、擊穿測(cè)試、
更新時(shí)間:2024-11-23
華測(cè) TSDC熱激勵(lì)電流測(cè)試儀
一、產(chǎn)品概述hc-tsc2000熱刺激電流測(cè)試儀借鑒國(guó)jizui先jin的測(cè)試方法的基礎(chǔ)上,由華測(cè)儀器多位工程師多年開(kāi)發(fā),其具有更強(qiáng)大測(cè)試功能,設(shè)備zui大支持測(cè)試電壓10kv,采用冷臺(tái)的方式進(jìn)行加溫與制冷,測(cè)量引用使用低噪聲線纜,減少測(cè)試導(dǎo)線的影響,同時(shí)電加熱采用直流電加熱方式,減少電網(wǎng)諧波對(duì)測(cè)量?jī)x表的干擾。屬真正的國(guó)產(chǎn)自主創(chuàng)新,同時(shí)測(cè)試功能上也增加了高阻測(cè)試、擊穿測(cè)試、
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華測(cè) TSDC熱激發(fā)化電流測(cè)試儀
一、產(chǎn)品概述hc-tsc2000熱刺激電流測(cè)試儀借鑒國(guó)jizui先jin的測(cè)試方法的基礎(chǔ)上,由華測(cè)儀器多位工程師多年開(kāi)發(fā),其具有更強(qiáng)大測(cè)試功能,設(shè)備zui大支持測(cè)試電壓10kv,采用冷臺(tái)的方式進(jìn)行加溫與制冷,測(cè)量引用使用低噪聲線纜,減少測(cè)試導(dǎo)線的影響,同時(shí)電加熱采用直流電加熱方式,減少電網(wǎng)諧波對(duì)測(cè)量?jī)x表的干擾。屬真正的國(guó)產(chǎn)自主創(chuàng)新,同時(shí)測(cè)試功能上也增加了高阻測(cè)試、擊穿測(cè)試、
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華測(cè) 高溫絕緣電阻測(cè)試儀   近紅外爐
高溫絕緣電阻測(cè)試儀運(yùn)用平行板法設(shè)計(jì)原理測(cè)量。該儀器設(shè)計(jì)符合《gb/t 10518-2006絕緣材料在高溫下電阻和電阻率試驗(yàn)方法》標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā),并參考美國(guó) astm 標(biāo)準(zhǔn)。利用獨(dú)特的電阻測(cè)試系統(tǒng),重復(fù)性與穩(wěn)定性更好,提升了夾具的抗干擾能力,同時(shí)大大提高精確度,可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究等用途。針對(duì)高溫絕緣電阻測(cè)試儀做了多項(xiàng)安全設(shè)計(jì),測(cè)試過(guò)程中在過(guò)電壓、過(guò)電流、超溫等異常情況下以保證測(cè)試過(guò)
更新時(shí)間:2024-11-23
華測(cè) 高溫絕緣電阻測(cè)試儀   近紅外反射爐
高溫絕緣電阻測(cè)試儀運(yùn)用平行板法設(shè)計(jì)原理測(cè)量。該儀器設(shè)計(jì)符合《gb/t 10518-2006絕緣材料在高溫下電阻和電阻率試驗(yàn)方法》標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā),并參考美國(guó) astm 標(biāo)準(zhǔn)。利用獨(dú)特的電阻測(cè)試系統(tǒng),重復(fù)性與穩(wěn)定性更好,提升了夾具的抗干擾能力,同時(shí)大大提高精確度,可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究等用途。針對(duì)高溫絕緣電阻測(cè)試儀做了多項(xiàng)安全設(shè)計(jì),測(cè)試過(guò)程中在過(guò)電壓、過(guò)電流、超溫等異常情況下以保證測(cè)試過(guò)
更新時(shí)間:2024-11-23
華測(cè) 多通道介電測(cè)試儀
一、產(chǎn)品概述多通道介電電阻測(cè)試儀主要用于:多通道電阻、介電測(cè)試等可搭載阻抗分析儀、高阻計(jì)使用光耦繼電器,高速又耐用切換時(shí)間 1 ms 高速i/o 輸出控制基于 im3570 與 z
更新時(shí)間:2024-11-23
華測(cè)  2024 低壓漏電起痕測(cè)試儀
hcdh-300低壓漏電起痕測(cè)試儀是在固體絕緣材料表面上,在規(guī)定尺寸(2mm×5mm)的鉑電之間,施加某一電壓并定時(shí)(30s)定高度(35mm)滴下規(guī)定液滴體積的污染液體(0.1%nh4cl),用以評(píng)價(jià)固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐受能力,測(cè)定其相比電痕化指數(shù)(ct1)和耐電痕化指數(shù)(pt1)。 hcdh-300 低壓漏電起痕測(cè)試儀適用于照明設(shè)備、
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華測(cè)   低壓漏電起痕測(cè)試儀  固體絕緣材料
hcdh-300低壓漏電起痕測(cè)試儀是在固體絕緣材料表面上,在規(guī)定尺寸(2mm×5mm)的鉑電之間,施加某一電壓并定時(shí)(30s)定高度(35mm)滴下規(guī)定液滴體積的污染液體(0.1%nh4cl),用以評(píng)價(jià)固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐受能力,測(cè)定其相比電痕化指數(shù)(ct1)和耐電痕化指數(shù)(pt1)。 hcdh-300 低壓漏電起痕測(cè)試儀適用于照明設(shè)備、漏電起痕測(cè)試
更新時(shí)間:2024-11-23
華測(cè) TSDC 熱刺激測(cè)試儀
一、產(chǎn)品概述hc-tsc2000熱刺激電流測(cè)試儀借鑒國(guó)jizui先jin的測(cè)試方法的基礎(chǔ)上,由華測(cè)儀器多位工程師多年開(kāi)發(fā),其具有更強(qiáng)大測(cè)試功能,設(shè)備zui大支持測(cè)試電壓10kv,采用冷臺(tái)的方式進(jìn)行加溫與制冷,測(cè)量引用使用低噪聲線纜,減少測(cè)試導(dǎo)線的影響,同時(shí)電加熱采用直流電加熱方式,減少電網(wǎng)諧波對(duì)測(cè)量?jī)x表的干擾。屬真正的國(guó)產(chǎn)自主創(chuàng)新,同時(shí)測(cè)試功能上也增加了高阻測(cè)試、擊穿測(cè)試、
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華測(cè) 鐵電材料測(cè)試系統(tǒng)
鐵電材料測(cè)試系統(tǒng)huace fe鐵電測(cè)試系統(tǒng)是目市場(chǎng)zuixian進(jìn)的設(shè)備,有著寬頻率響應(yīng)范圍及寬測(cè)試電壓范圍并且在shi界鐵電測(cè)試域高測(cè)試精度能力shou屈一指。在內(nèi)置±10v電壓下,電滯回線測(cè)
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華測(cè)  高壓極化電源   一體機(jī)箱式高壓電源
華測(cè)hchv系列高壓電源是高性能機(jī)箱式高壓電源,具有完善的保護(hù)系統(tǒng)?蛇b控或本地控制,面板有電壓、電流顯示,高壓輸入端過(guò)壓、過(guò)流、短路保護(hù)、拉弧、過(guò)溫保護(hù)和an全鎖等功能。寬范圍調(diào)整和靈活的多項(xiàng)可選功能。hchv系列是一種高性能、高可靠性、高品質(zhì)的直流高壓電源由于我們的高壓電子技術(shù)積累了多年。更適合材料電學(xué)高壓試驗(yàn)與材料jian測(cè)。 高壓放大器將輸入電壓轉(zhuǎn)換為高壓及波形輸出。
更新時(shí)間:2024-11-23
華測(cè)  高低溫冷熱臺(tái)  溫控探針臺(tái)
高低溫冷熱臺(tái)一、概述 huace650t高低溫冷熱臺(tái)在借鑒guo際zuixianjin的測(cè)試方法的基礎(chǔ)上,由華測(cè)儀器多位工程師多年開(kāi)發(fā),其具有更強(qiáng)大測(cè)試功能,冷熱臺(tái)可配合阻抗分析儀、高阻計(jì)、電化學(xué)工作站、數(shù)字原表設(shè)備進(jìn)行功能材料電學(xué)的相關(guān)測(cè)試,采用直接聯(lián)接測(cè)試儀表以減少測(cè)試導(dǎo)線的影響,同時(shí)電加熱采用直流電加熱方式,減少電網(wǎng)諧波對(duì)測(cè)量?jī)x表的干擾。在某些技術(shù)指標(biāo)超過(guò)進(jìn)口儀器,真正的國(guó)產(chǎn)自主創(chuàng)新
更新時(shí)間:2024-11-23
供應(yīng)秦川熱工高速低氮燃燒器
高速低氮燃燒器(燒嘴)為硫化堿窯爐設(shè)計(jì)使用,可以實(shí)現(xiàn)低氮氧化物排放。高速低氮燃燒器(燒嘴)燃燒性能可以達(dá)到:火焰剛直、明亮,不會(huì)出現(xiàn)火焰偏燒等現(xiàn)象。
更新時(shí)間:2024-11-23
硅片光刻預(yù)處理系統(tǒng),芯片hmds烘箱
硅片光刻預(yù)處理系統(tǒng),芯片hmds烘箱用于芯片、晶圓、硅片等半導(dǎo)體在光刻前對(duì)wafer進(jìn)行預(yù)處理,在高溫高真空的狀態(tài)下均勻噴灑霧狀“oap”藥液并在氮?dú)獗Wo(hù)下烘干以增強(qiáng)wafer的光刻性能。通過(guò)對(duì)烤箱預(yù)處理過(guò)程的工作溫度、處理時(shí)間、處理時(shí)保持時(shí)間等參數(shù)可以在硅片、基片表面均勻涂布一層hmds,降低了hmds處理后的硅片接觸角,降低了光刻膠的用量,提高光刻膠與硅片的黏附性。
更新時(shí)間:2024-11-23
CYPLER-CPL.EaPQ,HLT-HPDLT電力濾波柜裝置
cypler-cpl.eapq,hlt-hpdlt,acne-mh,fs909,src-hpdlt,ogen,abr,ge-apf,dhp40y,gsy, mples-mpl,apf,sfpf4,istrt-310a,w-bkv,epon-hpdlt,a-apf,諧波凈化柜,zmsne,dlt-adfw, eapf,kbr-apf, ketapf-4,maxve,
更新時(shí)間:2024-11-22
ANGDB,有源電力濾波裝置
svg無(wú)功靜止發(fā)生器,wdzn, kldlt-bms,cm-hpdl, cypler-cpl srec-hpdlt,angdb,有源電力濾波裝置,angdb,有源電力濾波器,brnapf,有源濾波,eplus,apf,sineapf,chpd,ulhb,
更新時(shí)間:2024-11-22
氮?dú)饪鞠洌Ъ?jí)潔凈烤箱
氮?dú)饪鞠,千?jí)潔凈烤箱適用于電子液晶顯示、lcd、cmos、ic、醫(yī)藥、實(shí)驗(yàn)室等生產(chǎn)及科研部門(mén) ;led封裝膠水固化,銀膠固化,支架烘干,前固化,后固化;晶圓光刻前烘(軟烘)、后烘(硬烘)、堅(jiān)膜烘烤。也可用于非揮發(fā)性及非易燃易爆物品的干燥、熱處理、老化等其它高溫試驗(yàn)。
更新時(shí)間:2024-11-22

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