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Zeta電位儀產(chǎn)品及廠家

surface area and pore size determination
surface area and volumesurface area and pore sizesurface area and porositysurface area and porosity determination by physisorptionsurface area and pore size analyzersurface area and pore siz
更新時(shí)間:2024-10-16
固體表面Zeta電位分析儀
zeta電位分析儀 研究對(duì)象：纖維、薄膜、粉末、粒子、固體金屬或非金屬片等材料。 主要用途：測(cè)量材料的表面電荷，了解材料表面上的電荷狀況，研究材料表面性能。
更新時(shí)間:2024-10-09
多孔固體孔隙率和表面電位分析儀
多孔固體孔隙率和表面電位分析儀wave 2305是安東帕中國(guó)儀器公司（quantachrome）根據(jù)全新的電聲孔徑分析法開發(fā)的、對(duì)樣品進(jìn)行無汞、非真空、無需高純氣快速測(cè)量的一款綠色環(huán)保的孔隙率和表面電位分析儀。
更新時(shí)間:2024-10-09
粒度及Zeta電位分析儀
   粒度及zeta電位分析儀      粒度及zeta電位分析儀技術(shù)參數(shù)     1.粒
更新時(shí)間:2024-09-10
Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀
        作為zui先將背向光散射技術(shù)（back-scattering）引入高濃度粒度分析的廠家，brookhaven公司應(yīng)用全新的光纖技術(shù)將背向光散射技
更新時(shí)間:2024-09-08
便攜式PH/氧化還原電位/溫度測(cè)試儀
pro10 - 便攜式ph/氧化還原電位/溫度測(cè)試儀產(chǎn)品品牌：美國(guó)ysi產(chǎn)品型號(hào)：pro10主要技術(shù)指標(biāo)：用于同時(shí)測(cè)量溫度、ph、氧化還原電位
更新時(shí)間:2024-09-04
（氧化還原電位）傳感器
ad-60 orp（氧化還原電位）傳感器傳感器采用鉑金圈環(huán)狀砂芯雙鹽橋電，基于電位分析法進(jìn)行測(cè)量，線纜防海水，可以直接投入水中，無需加保護(hù)管，運(yùn)用這一系列先進(jìn)的分析技術(shù)，確保傳感器長(zhǎng)期工作穩(wěn)定可靠和準(zhǔn)確性。
更新時(shí)間:2024-09-04
Zeta電位測(cè)定儀
zeta電位測(cè)定儀zetacad：是專門用多孔塞技術(shù)直接測(cè)定流動(dòng)電位/流動(dòng)電流的zeta電位分析儀。該技術(shù)適用于50μm以上的大顆粒、纖維和平坦的表面，或在一個(gè)壓力梯度下電解質(zhì)可以透過的曲面膜或中空纖維樣品。
更新時(shí)間:2024-08-30
膜表面Zeta電位分析儀
膜zeta電位分析儀是門用多孔塞技術(shù)直接測(cè)定流動(dòng)電位/流動(dòng)電流的zeta電位分析儀，該技術(shù)適用于50µm以上的大顆粒、纖維和平坦的表面，或在一個(gè)壓力梯度下電解質(zhì)可以透過的曲面膜或中空纖維樣品
更新時(shí)間:2024-08-30
表面Zeta電位分析儀
zeta cad表面zeta電位分析儀是專門用多孔塞技術(shù)直接測(cè)定流動(dòng)電位/流動(dòng)電流的zeta電位分析儀。該技術(shù)適用于50μm以上的大顆粒、纖維和平坦的表面，或在一個(gè)壓力梯度下電解質(zhì)可以透過的曲面膜或中空纖維樣品。
更新時(shí)間:2024-08-30
固體表面Zeta電位分析儀
zetacad固體表面zeta電位分析儀是直接測(cè)定流動(dòng)電位/流動(dòng)電流的zeta電位分析儀，幫助科研人眼在化學(xué)于材料科科學(xué)領(lǐng)域內(nèi)改善和調(diào)整表面特征。適用于沉積的大顆粒、纖維、和平坦的表面，或在一個(gè)壓力梯度下電解液科研透過的曲面膠或中空纖維樣品，包括聚合物、紡織、陶瓷、玻璃等，對(duì)不同形狀和尺寸的固體及粉末材料均適用。
更新時(shí)間:2024-08-30
納米粒度及Zeta電位分析儀
litesizer™ 500 納米粒度及zeta電位分析儀是用于表征分散型樣品和溶液中納米顆粒以及微顆粒的儀器。它可通過測(cè)量動(dòng)態(tài)光散射 (dls)、電泳光散射 (els) 和靜態(tài)光散射 (sls) 來測(cè)定顆粒尺寸、zeta電位和分子質(zhì)量。
更新時(shí)間:2024-08-30
顯微電泳法Zeta電位分析儀
密度高或粒徑大的顆粒會(huì)沉積在測(cè)量室底部。顯微電泳法zeta電位分析儀采取具有角度尋徑分辨率的高精度圖像分析方案，在垂直平面內(nèi)測(cè)量懸濁液中顆粒的電泳遷移率分布。
更新時(shí)間:2024-08-30
圖像法Zeta電位分析儀
zetacompact®圖像法zeta電位分析儀采取具有角度尋徑分辨率的高精度圖像分析方案，在垂直平面內(nèi)測(cè)量懸濁液中顆粒的電泳遷移率分布。
更新時(shí)間:2024-08-30
納米粒度和Zeta電位分析儀
高分辨率納米粒度和zeta電位分析儀 基于動(dòng)態(tài)光散射（dls）和激光多普勒電泳（lde）技術(shù)，可提供高分辨率，準(zhǔn)確和快速的粒度和zeta電位測(cè)試及原位測(cè)試。
更新時(shí)間:2024-08-30
電聲法孔隙率及Zeta電位分析儀
電聲法孔隙率及zeta電位分析儀基于電聲學(xué)原理，幾乎能夠應(yīng)用于所有類型的多相異構(gòu)系統(tǒng)，包括固體顆粒物、沉積物、多孔材料等?？紫抖鹊臏y(cè)量是基于我們的高頻電導(dǎo)探頭。包括巨石、地核、瓷磚、cmp漿料，納米分散體系、陶瓷漿料，電池漿料，水泥家族，藥物乳劑等
更新時(shí)間:2024-08-30
高濃體系Zeta電位測(cè)定儀
高濃體系z(mì)eta電位分析儀基于電聲法原理,利用超聲波在含有顆粒的連續(xù)相中傳播時(shí)，聲與顆粒的相互作用產(chǎn)生的聲吸收、耗散和散射所引起的損失效應(yīng)來測(cè)量顆粒。無需進(jìn)行樣品稀釋或前處理即可直接測(cè)量，包括cmp漿料，納米分散體系、陶瓷漿料，電池漿料，水泥，化妝品、藥物乳劑等
更新時(shí)間:2024-08-30
液體介電常數(shù)測(cè)定儀
液體介電常數(shù)測(cè)定儀是從純水到非極性有機(jī)溶劑的介電常數(shù)測(cè)定，英文名：liquid dielectric constant meter，操作極其簡(jiǎn)單，只要將電極插入液體，并調(diào)節(jié)前面板上的兩個(gè)控制鈕， 即可讀出所顯示的介電常數(shù)值。
更新時(shí)間:2024-08-30
電聲電振法通用型zeta電位分析儀
包含dt-300的功能,能夠用于幾乎所有類型的多相異構(gòu)系統(tǒng),,包括顆粒、沉積物和多孔材料
更新時(shí)間:2024-08-30
篩網(wǎng)校準(zhǔn)檢測(cè)分析儀
歐奇奧 sievecal篩網(wǎng)校準(zhǔn)檢測(cè)儀通過全計(jì)算機(jī)控制的標(biāo)準(zhǔn)操作程序（sop）提供篩網(wǎng)表面的一個(gè)完整掃描?？焖俑叻直婀I(yè)相機(jī), 結(jié)合遠(yuǎn)心鏡頭和平行背光可在篩網(wǎng)旋轉(zhuǎn)和轉(zhuǎn)換中獲得圖像。軟件實(shí)時(shí)計(jì)算網(wǎng)孔大小和絲徑粗細(xì)。檢測(cè)結(jié)束后，將檢測(cè)報(bào)告打印或存儲(chǔ)在電腦中
更新時(shí)間:2024-08-30
電聲法Zeta電位分析儀
dt300/310粒度和zeta電位分析儀器采用多頻電聲學(xué)測(cè)量技術(shù)測(cè)量膠體體系的zeta 電位。對(duì)于高達(dá)50％（體積）濃度的樣品，無需進(jìn)行樣品稀釋或前處理即可直接測(cè)量。甚至對(duì)于漿糊、凝膠、水泥及用其它儀器很難測(cè)量的材料都可用其直接進(jìn)行測(cè)量。
更新時(shí)間:2024-08-30
粉體壓縮強(qiáng)度測(cè)試儀廠家
粉體壓縮強(qiáng)度測(cè)試儀廠家采用經(jīng)驗(yàn)方程法：heckel、kawakita、adams方程及川北方程線性回歸方程的壓縮理論來分析粉體顆粒新品、研發(fā)固體產(chǎn)品比如在藥物配比及工藝選擇方面及壓實(shí)密度對(duì)壓力的要求等的預(yù)測(cè)性分析工具.粉體壓縮強(qiáng)度測(cè)試儀廠家通過對(duì)粉體施加屈服強(qiáng)度變形所需的主應(yīng)力，來分析粉體的體積、空隙率，壓縮度與屈服強(qiáng)度關(guān)系即（主應(yīng)力與粉體密度的變化關(guān)系），
更新時(shí)間:2024-08-26
安捷倫Agilent8890氣相色譜儀
安捷倫agilent8890氣相色譜系統(tǒng)信息由廣州華譽(yù)儀器科技有限公司為您提供，如您想了解更多關(guān)于安捷倫agilent8890氣相色譜系統(tǒng)報(bào)價(jià)、型號(hào)、參數(shù)等信息，歡迎來電或留言咨詢。
更新時(shí)間:2024-08-07
希而科 eDAQ品牌，型號(hào)為：ER466CE 電位儀
希而科 edaq品牌，型號(hào)為：er466ce 電位儀技術(shù)咨詢：張翠郵箱：office49@silkroad24.comsj:189-64582675qq：2850594306
更新時(shí)間:2024-08-06
EEG/ERP事件相關(guān)電位系統(tǒng)
津發(fā)公司是芬蘭neurone腦電及事件相關(guān)電位系統(tǒng)中國(guó)地區(qū)總代理商，負(fù)責(zé)該品牌產(chǎn)品的售前售后服務(wù)、以及學(xué)術(shù)交流。負(fù)責(zé)該品牌產(chǎn)品的售前售后服務(wù)、以及學(xué)術(shù)交流。外界刺激引起的心理活動(dòng)會(huì)產(chǎn)生微弱的腦電信號(hào)，通過對(duì)這些信號(hào)的研究可以了解我們的大腦是
更新時(shí)間:2024-07-31
MINI MCR-2-U-U 菲尼克斯電位分配端子2972136 UMK- PVB 6
菲尼克斯電位分配端子2972136 umk- pvb 6額定電壓 un250 v ac/dc每條支路的最大載流量16 a所有分支的最大總電流16 a (每個(gè)電位)額定絕緣電壓250 v額定過電壓2.5
更新時(shí)間:2024-05-28
ST-13A 糧食飼料自動(dòng)電位滴點(diǎn)儀
 糧食飼料自動(dòng)電位滴點(diǎn)儀 糧食飼料自動(dòng)電位滴點(diǎn)儀  st-13a自動(dòng)電位滴定儀是按gb5009.229-2016 《食品中酸價(jià)的測(cè)定》中酸價(jià)的測(cè)定，冷溶劑自動(dòng)電位滴定法(
更新時(shí)間:2024-05-12
DT-300/DT-310 DT 電聲法Zeta電位分析儀
dt 電聲法zeta電位分析儀 dt-300/dt-310美國(guó)dt專注于非均相體系表征的科學(xué)儀器業(yè)務(wù)。其開發(fā)的基于超聲法原理的儀器主要應(yīng)用于在原濃的分散體系中表征粒徑分布、 zeta電位、流變學(xué)、固體
更新時(shí)間:2024-05-08
表面電位粒徑儀 表面電位粒徑檢測(cè)儀 表面電位粒徑測(cè)定儀
jc503-sl-bdlb表面電位粒徑儀是繼我廠以前生產(chǎn)的微電泳以及zata電位測(cè)定儀后新研制的一種新穎的計(jì)量測(cè)試儀器。
更新時(shí)間:2024-03-20
馬爾文 Zetasizer系列 納米粒度電位儀
馬爾文 zetasizer系列 納米粒度電位儀在全世界被廣泛應(yīng)用于納米顆粒、膠體及蛋白質(zhì)尺寸、zeta電位測(cè)量及分子表征。zetasizer 系列儀器使用動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)測(cè)量自納米級(jí)以下至幾微米的顆粒與分子粒度，使用電泳光散射技術(shù)測(cè)量電動(dòng)電勢(shì)及電泳遷移率，并使用靜態(tài)光散射技術(shù)測(cè)量分子量。 zetasizer 系統(tǒng)提供了一系列型號(hào)，包括全新的 zetasizer pro 和 ultra。 這兩種系統(tǒng)擁有前所未有的易用性和靈活性，以及強(qiáng)大的用戶指導(dǎo)和新穎的測(cè)量技術(shù)（例如 madls® 和顆粒濃度）。馬爾文 zetasizer系列 納米粒度電位儀在全世界被廣泛應(yīng)用于納米顆粒、膠體及蛋白質(zhì)尺寸
更新時(shí)間:2024-03-15
德圖粒徑分析儀 - 手持納米顆粒計(jì)數(shù)器
納米顆粒的出現(xiàn)。對(duì)人體健康造成了負(fù)面影響。流行病學(xué)和毒理學(xué)研究仍然主要是基于粒子總質(zhì)量，或者使用如“距主干道距離”這樣模糊的替代概念來描述個(gè)人 暴露于塵埃中的程度。然而，顆粒濃度對(duì)健康的影響是眾所周知的。我們認(rèn)為，這種矛盾出現(xiàn)的原因是市場(chǎng)上缺乏足夠的傳感器。
更新時(shí)間:2024-03-01
智能型等電位測(cè)試儀 智能型等電位檢測(cè)儀 智能型等電位分析儀
規(guī)格：dt306-3690//dt306-3690b
更新時(shí)間:2024-02-23
Zeta電位測(cè)定儀，納米粒度分析儀，粒度分析儀
zeta電位，粒度分析儀，zeta電位測(cè)定儀，粒度分析儀，zeta電位分析儀，納米粒度分析儀zetapals是目前唯一能夠精確測(cè)量低電泳遷移率體系z(mì)eta電位的儀器，它采用的是真正的硬件pals（相位分析光散射）技術(shù)，比其它測(cè)量zeta電位的技術(shù)靈敏度高1000倍！
更新時(shí)間:2024-01-16
ORP負(fù)電位筆
氧化反應(yīng)電位(又稱orp)是物質(zhì)氧化或還原性質(zhì)的一種表示.標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)下,用可接受或釋放電子的金屬電極，即可測(cè)定該值。金屬電極可以使用鉑或金(pt或au)。電極材料必須是不與待測(cè)物質(zhì)發(fā)生反應(yīng)的惰性金屬。如果水溶液中含有氧化劑或還原劑,那末電子就進(jìn)行交換。在酸/堿反應(yīng)中是氫離子h+的交換,而在其它化學(xué)反應(yīng)中是電子的交換。
更新時(shí)間:2023-12-25
智能便攜式土壤氧化還原電位儀
可廣泛應(yīng)用于環(huán)境保護(hù)對(duì)土樣、污水、廢水的檢測(cè)，水產(chǎn)養(yǎng)殖對(duì)水質(zhì)的監(jiān)測(cè)，以及工業(yè)循環(huán)水對(duì)水質(zhì)的監(jiān)控測(cè)量。適用于野外對(duì)土壤與水質(zhì)eh、ph、mv測(cè)量的便攜式儀器，可測(cè)量氧化還原電位（eh）、mv、ph、溫度。由于采用了微電腦處理器，所以該儀器具有操作簡(jiǎn)便，測(cè)量精度高，重復(fù)性好、自動(dòng)溫度補(bǔ)償，可靠性好等優(yōu)點(diǎn).
更新時(shí)間:2023-11-07
型Zeta電位測(cè)量?jī)x(微電泳儀)
js94km型zeta電位測(cè)量?jī)x(微電泳儀)可用于測(cè)定分散體系顆粒物的固－液界面電性（電位），也可用于測(cè)量乳狀液液滴的界面電性，也可用于測(cè)定等電點(diǎn)、研究界面反應(yīng)過程的機(jī)理。通過測(cè)定顆粒的zeta電位，求出等電點(diǎn)，是認(rèn)識(shí)顆粒表面電性的重要方法，在顆粒表面處理中也是重要的手段。與國(guó)內(nèi)外其它同類型儀器相比，它具有顯著的優(yōu)越性。
更新時(shí)間:2023-11-05
型Zeta電位測(cè)量?jī)x(微電泳儀)
js94j 型zeta電位測(cè)量?jī)x(微電泳儀)可用于測(cè)定分散體系顆粒物的固－液界面電性（ζ電位），也可用于測(cè)量乳狀液液滴的界面電性，也可用于測(cè)定等電點(diǎn)、研究界面反應(yīng)過程的機(jī)理。通過測(cè)定顆粒的zeta電位，求出等電點(diǎn)，是認(rèn)識(shí)顆粒表面電性的重要方法，在顆粒表面處理中也是重要的手段。與國(guó)內(nèi)外其它同類型儀器相比，它具有顯著的優(yōu)越性。
更新時(shí)間:2023-11-05
型Zeta電位測(cè)量?jī)x(微電泳儀)
js94k2m型zeta電位測(cè)量?jī)x(微電泳儀)可用于測(cè)定分散體系顆粒物的固－液界面電性（電位），也可用于測(cè)量乳狀液液滴的界面電性，也可用于測(cè)定等電點(diǎn)、研究界面反應(yīng)過程的機(jī)理。通過測(cè)定顆粒的zeta電位，求出等電點(diǎn)，是認(rèn)識(shí)顆粒表面電性的重要方法，在顆粒表面處理中也是重要的手段。與國(guó)內(nèi)外其它同類型儀器相比，它具有顯著的優(yōu)越性。
更新時(shí)間:2023-11-05
煤礦防爆電暖氣 電暖氣 電暖儀
說明：煤礦用防爆電取暖器適用于具有甲烷或煤塵爆炸危險(xiǎn)的煤礦井下硐室固定位置與礦用照明綜保裝置配套作取暖設(shè)備。證件齊全。
更新時(shí)間:2023-10-08
原液檢測(cè)納米粒度及zeta電位儀
1)采用門的電動(dòng)聲波振蕩技術(shù)，該儀器可完成非凡的電動(dòng)測(cè)量結(jié)果，從而避免了傳統(tǒng)的微電泳技術(shù)的許多限制和局限。2)提供數(shù)據(jù)快速準(zhǔn)確而不需要稀釋樣品，從而避免了稀釋器材的使用和錯(cuò)誤(樣品稀釋，zeta電位將*改變);3)該儀器可同時(shí)測(cè)量zeta電位
更新時(shí)間:2023-10-06
美國(guó)MASCHDF-3000原液高濃度納米粒度儀
美國(guó)maschdf3000-原液高濃度納米粒度儀精確非均勻樣品分析—包括納 米顆?！?dú)w功于其與顆粒密度無關(guān)的分析。自動(dòng)/無人操作。所有組件都在個(gè)簡(jiǎn)易單窗口界面控制和操作。
更新時(shí)間:2023-10-06
多孔材料表面Zeta電位分析儀
aps 從聲衰減光譜測(cè)量產(chǎn)生psd數(shù)據(jù)，不需要稀釋樣品。aps還測(cè)量粒度范圍的10納米到100微米的樣品的聲音速度譜、ph、電導(dǎo)率和溫度。
更新時(shí)間:2023-10-06
固體表面Zeta電位分析儀
固體表面zeta電位分析儀，可測(cè)量縱向粘度，60%固體，ph值，電導(dǎo)率，溫度，聲衰減和聲速度譜；
更新時(shí)間:2023-10-06
分餾法原液高分辨納米粒度儀
分餾法原液高分辨納米粒度儀毛細(xì)管流體分離（chdf）技術(shù)是種高分辨的粒度分布（psd）檢測(cè)技術(shù)。毛細(xì)管流體分離技術(shù)（chdf）用于測(cè)量粒徑在5nm-3μm 范圍內(nèi)膠體的粒度分布（psd）。
更新時(shí)間:2023-10-06
多功能超聲粒度儀
多功能超聲粒度儀，可測(cè)量水溶液、非水溶液分散系，分散系濃度范圍從0.1% ~60%。非常輕松就可測(cè)量1nm到50um的樣品顆粒；
更新時(shí)間:2023-10-06
多功能超聲粒度分析儀
美國(guó)mas公司研發(fā)的多功能超聲粒度分析儀系列產(chǎn)品，完美的解決了目市面上光學(xué)方法無法克服的納米粒度檢測(cè)難題，如光學(xué)方法必須要對(duì)樣品進(jìn)行稀釋 后測(cè)試其粒徑和zeta電位以及對(duì)于復(fù)雜體系無法給出真實(shí)的粒度分布等 。
更新時(shí)間:2023-10-06
超聲法粒度Zeta電位分析儀 美國(guó)MAS
超聲法粒度zeta電位分析儀 美國(guó)maszeta電位測(cè)試采用多頻電聲測(cè)量技術(shù)，無需先測(cè)量粒度即可進(jìn)行電位測(cè)量
更新時(shí)間:2023-10-06
美國(guó)MAS超聲粒度分析儀
美國(guó)mas超聲粒度分析儀，可測(cè)量水溶液、非水溶液分散系，分散系濃度范圍從0.1% ~60%。非常輕松就可測(cè)量1nm到50um的樣品顆粒。該儀器操作非常簡(jiǎn)單。它提供電腦控制、自動(dòng)測(cè)量，不須特別的樣品池，樣品可隨時(shí)從任何現(xiàn)場(chǎng)或?qū)嶒?yàn)中獲取，可直接實(shí)時(shí)獲得理想的數(shù)據(jù)
更新時(shí)間:2023-10-06
Zeta電位測(cè)定 美國(guó)MAS
zeta電位測(cè)定 美國(guó)maszeta電位測(cè)試采用多頻電聲測(cè)量技術(shù)，無需先測(cè)量粒度即可進(jìn)行電位測(cè)量；樣品的高濃度可達(dá)60%(體積比)，被測(cè)樣品無需稀釋，對(duì)濃縮膠體和乳膠可進(jìn)行直接測(cè)量；
更新時(shí)間:2023-10-06

最新產(chǎn)品

熱門儀器： 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計(jì) 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗(yàn)機(jī) 酸度計(jì)（PH計(jì)） 離心機(jī) 高速離心機(jī) 冷凍離心機(jī) 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 生物試劑