鍍金檢測(cè)儀設(shè)計(jì)亮點(diǎn)全新的下照式設(shè)計(jì),一鍵式的按鈕,讓您的鼠標(biāo)鍵盤(pán)不再成為必須,大減少您擺放樣品的時(shí)間。全新的光路系統(tǒng),大大減少了光斑的擴(kuò)散,實(shí)現(xiàn)了對(duì)較小產(chǎn)品的測(cè)試。搭配高分辨率可變焦攝像頭,配合高性能距離補(bǔ)正算法,實(shí)現(xiàn)了對(duì)不規(guī)則樣品(如凹凸面,拱形,螺紋,曲面等)的異型測(cè)試面的測(cè)試。
更新時(shí)間:2024-11-25