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激光共聚焦顯微鏡產(chǎn)品及廠家

徠卡三維共聚焦干涉顯微鏡DCM8
徠卡三維共聚焦干涉顯微鏡dcm8產(chǎn)品特點(diǎn)：leica dcm8采用了*新的非接觸式三維光學(xué)表面測量技術(shù)。設(shè)計用于提高您的工作效率，它是一款融合了高清晰度共聚焦顯微鏡和干涉測量技術(shù)優(yōu)點(diǎn)的多功能雙核系統(tǒng)。一鍵模式選擇，精密軟件、無移動部件的高分辨率共聚焦掃描技
更新時間:2024-10-29
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM低溫電學(xué)測量系統(tǒng)
picofemto透射電鏡原位stm-tem低溫電學(xué)測量系統(tǒng),是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測量。
更新時間:2024-10-29
透射電鏡原位高溫力學(xué)測量系統(tǒng)
picofemto透射電鏡原位高溫力學(xué)測量系統(tǒng)picofemto透射電鏡原位高溫力學(xué)測量系統(tǒng),同時集成了力學(xué)測量模塊及mems芯片模塊,可以在對樣品1000 ℃加熱的同時進(jìn)行定量的力學(xué)測量。
更新時間:2024-10-29
原位MEMS-STM-TEM多場測量系統(tǒng)
picofemto原位mems-stm-tem多場測量系統(tǒng)，原位透射電子顯微鏡實(shí)驗系統(tǒng)，使研究者可以在透射電子顯微鏡中構(gòu)建一個可控的多場環(huán)境（包括力、熱、光、電等）
更新時間:2024-10-29
透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統(tǒng)
picofemto透射電鏡原位stm-tem光電一體測量系統(tǒng),是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測量,
更新時間:2024-10-29
透射電鏡原位STM-TEM力電一體測量系統(tǒng)
picofemto透射電鏡原位stm-tem力電一體測量系統(tǒng)picofemto透射電子顯微鏡原位tem-stm測量系統(tǒng)是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測量
更新時間:2024-10-29
透射電鏡原位STM-TEM電學(xué)測量系統(tǒng)
很低維護(hù)成本：設(shè)備配套的針尖制備系統(tǒng)可低成本制備針尖耗材！弊-球“微動結(jié)構(gòu)已實(shí)現(xiàn)模塊化量產(chǎn)，維護(hù)成本低；很大的用戶群：在國內(nèi)擁有近200個高質(zhì)量原位用戶，出口到歐美澳等地。每年，用戶會產(chǎn)出大量高質(zhì)量研究成果。定期組織各類用戶交流活動，搭建學(xué)術(shù)平臺供用戶交流；成熟的技術(shù)支持網(wǎng)絡(luò)：在安徽、北京、東莞和上海擁有分公司，其他各地?fù)碛腥舾杉夹g(shù)支持網(wǎng)點(diǎn)，24小時提供技術(shù)支持。
更新時間:2024-10-29
透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量系統(tǒng)
picofemto透射電鏡原位mems氣氛加熱測量系統(tǒng)picofemto透射電鏡原位mems氣氛加熱測量系統(tǒng)，在透射電子顯微鏡中制造氣氛及高溫環(huán)境，實(shí)現(xiàn)1 bar & 800 ℃的端觀測條件。
更新時間:2024-10-29
透射電鏡原位MEMS液體電化學(xué)測量系統(tǒng)
picofemto透射電鏡原位mems液體電化學(xué)測量系統(tǒng)，采用全新的o圈輔助密封設(shè)計，更易封裝液體。實(shí)驗中，樣品被密封在很薄氮化硅薄膜覆蓋的液體池內(nèi)，池內(nèi)可以承載一個大氣壓。芯片電聯(lián)通外接電路，從而在電鏡中搭建一個液體-電化學(xué)測試環(huán)境。
更新時間:2024-10-29
透射電鏡原位MEMS低溫電學(xué)測量系統(tǒng)
picofemto透射電鏡原位mems低溫電學(xué)測量系統(tǒng)，是在標(biāo)配mems芯片樣品桿上集成低溫控制模塊，實(shí)現(xiàn)低溫電學(xué)測量或全溫區(qū)測量功能。
更新時間:2024-10-29
徠卡正置式半自動金相顯微鏡DM4M
您可輕松調(diào)用之的顯微鏡設(shè)置并通過獨(dú)特的軟件功能“保存和調(diào)用”(store and recall) 即時復(fù)制成像參數(shù)。適用于任何類型的樣本。一鍵式“智能自動化”可讓您輕松搞定重復(fù)性工作。這些具有記憶功能的顯微鏡可幫您減少培訓(xùn)時間、改進(jìn)工作流程和獲得出色的成像結(jié)果 — 始終如一。
更新時間:2024-10-29
徠卡全自動智能型正置金相顯微鏡DM6 M
徠卡正置式智能顯微鏡dm6m，全自動數(shù)字顯微鏡系列為用戶提供了很多所未有的解決方案，其中凸出的一點(diǎn)就是幫助用戶簡化顯微鏡的操作，使顯微鏡使用簡單，準(zhǔn)確，得心應(yīng)手。智能化的設(shè)計幫助您以簡單的操作完成復(fù)雜的調(diào)節(jié)程序，實(shí)現(xiàn)多種多樣的研究及診斷。
更新時間:2024-10-29
徠卡高產(chǎn)能8寸半導(dǎo)體檢查顯微鏡DM8000M
徠卡 dm8000 m 提供了全新的光學(xué)設(shè)計，如理想的 宏觀檢查模式 或者傾斜紫外光 (ouv, 隨檢uv 選擇) 不但提高了分辨能力，同時也增加了觀察 8’’/200 毫米直徑大樣品 時的產(chǎn)量。該機(jī)照明 基于新的 led 科技 ，一體化整合在顯微鏡機(jī)身上。 低熱輻射效應(yīng)和一體化內(nèi)置技術(shù)確保了顯微鏡四周空間具有 理想化的空氣環(huán)流。 led的超長使用壽命和低能耗特性大大降低了用戶 后的使用成本
更新時間:2024-10-29
該機(jī)照明 基于新的 led 科技 ，一體化整合在顯微鏡機(jī)身上。 低熱輻射效應(yīng)和一體化內(nèi)置技術(shù)確保了顯微鏡四周空間具有 理想化的空氣環(huán)流。 led的超長使用壽命和低能耗特性大大降低了用戶 后的使用成本.
更新時間:2024-10-29
徠卡入門偏光顯微鏡DM750P
如果您想要研究晶體結(jié)構(gòu)，偏光顯微鏡將是您的佳選擇。無論是礦物和接合劑，我們的偏光顯微鏡都能幫助您觀察到感興趣的內(nèi)容，完成您的研究或質(zhì)量保證任務(wù)。
更新時間:2024-10-29
徠卡研究偏光顯微鏡DM2700P
您需要一些組件來實(shí)現(xiàn)偏光研究目標(biāo)。以下都是重要的組件：無應(yīng)力光學(xué)部件，因為您需要確保觀測到的雙折射來自樣品而非光學(xué)部件led 照明至關(guān)重要，因為這種照明能夠均勻照亮樣品，并具有恒定的色溫偏光鏡幫助您看到雙折射，旋轉(zhuǎn)臺幫助您對準(zhǔn)樣品和光軸您還需要用于對光軸進(jìn)行錐光觀察的勃氏鏡和用于測量任務(wù)的補(bǔ)償器
更新時間:2024-10-29
徠卡智能型研究偏光顯微鏡DM4P
如果您想要研究晶體結(jié)構(gòu)，偏光顯微鏡將是您的佳選擇。無論是礦物、塑料和聚合物、藥物藥品或燃料和接合劑，我們的偏光顯微鏡都能幫助您觀察到感興趣的內(nèi)容，完成您的研究或質(zhì)量保證任務(wù)。令樣品呈現(xiàn)水晶般清晰透亮
更新時間:2024-10-29
徠卡高正置金相顯微鏡DM750M簡介
徠卡dm750 m是一臺理想地適用于基礎(chǔ)材料應(yīng)用的工業(yè)實(shí)驗室或材料科學(xué)的光學(xué)設(shè)備。它的萬能載物臺和反射光系統(tǒng)適合幾乎所有的樣品來獲取高品質(zhì)圖像。
更新時間:2024-10-29
徠卡大型倒置式金相顯微鏡DMi8
在競爭中保持先是您事業(yè)進(jìn)的動力。無論您從事金相學(xué)、醫(yī)療設(shè)備制造還是微電子域，速度都顯得至關(guān)重要。您可根據(jù)自身需求定制徠卡這款高度模塊化的倒置式顯微鏡。它將徠卡優(yōu)異的光學(xué)品質(zhì)、豐富的對比度模式以及直觀易用的軟件集于一身，有助于加速您的工作流程。
更新時間:2024-10-29
徠卡小型倒置式金相顯微鏡DMilM
徠卡dmilm倒置金相顯微鏡可配多種觀察筒,適應(yīng)不同的要求與檢測觀察方式,操作簡單,檢測快捷高效。光學(xué)設(shè)計上采用先進(jìn)的hcs無限遠(yuǎn)軸向、徑向雙重色差校正光學(xué)技術(shù)，徹底消除雜散光等干擾因素；整個光學(xué)系統(tǒng)內(nèi), 對涉及成像質(zhì)量的所有組件(物鏡、鏡筒透鏡、目鏡筒、目鏡、照相接口等) 進(jìn)行優(yōu)化組合，實(shí)現(xiàn)圖像分辨率和反差的優(yōu)化，得到銳利圖像的同時追求高分辨率。
更新時間:2024-10-29
徠卡高立體顯微鏡S9系列及S APO
徠卡s系列體視顯微鏡包含s9系列體視顯微鏡s9e/s9d/s9i及s apo為了保持競爭力，持續(xù)改進(jìn)生產(chǎn)、保持低缺陷率以及滿足客戶要求都具挑戰(zhàn)性。徠卡開發(fā)的s系列體視顯微鏡系列可助您戰(zhàn)勝這些挑戰(zhàn)
更新時間:2024-10-29
徠卡高立體顯微鏡M50、M60、M80
借助徠卡m80，操作者可以看到大型樣品的預(yù)覽圖，在顯微鏡下舒適工作，輕松采集重要細(xì)節(jié)的圖像。利用徠卡 m80的鎖定光圈，可為重復(fù)性任務(wù)創(chuàng)建可追蹤的測量步驟。
更新時間:2024-10-29
徠卡研究超景深數(shù)碼顯微鏡DVM6
徠卡dvm6視頻顯微鏡，也是一款可單手操作的數(shù)碼顯微鏡：攝像頭像素高分辨率高達(dá)1000萬，圖像更清晰；16:1的變倍比，更換放大倍率更快；兩個物鏡可覆蓋所有倍率區(qū)間。
更新時間:2024-10-29
徠卡智能型數(shù)碼顯微鏡Emspira 3
emspira 3數(shù)碼顯微鏡在同一個系統(tǒng)中結(jié)合了執(zhí)行全面的目視檢查所需的所有功能，包括比較、測量和文檔共享。使用emspira 3數(shù)碼顯微鏡檢查不同的樣本，快速達(dá)到高要求、高通量的目標(biāo)。 有助高效做出決定，獲益于文檔的安全存儲和輕松分享——無論您以獨(dú)立模式還是與計算機(jī)相連進(jìn)行檢查。emspira 3數(shù)碼顯微鏡設(shè)計堅固，您可以在生產(chǎn)和實(shí)驗室環(huán)境中充滿信心地注于您的檢查工作。
更新時間:2024-10-29
徠卡三離子束切割儀Leica TIC 3X
可容納大樣品尺寸50*50*10mm，可獲得有效切割截面面積>4mm*1mm 三把離子槍，離子束能量1kev-10kev，切割速率150um/h離子束處理過程中樣品位置固定，無需偏轉(zhuǎn)運(yùn)動，無投影效應(yīng)，熱傳導(dǎo)性好
更新時間:2024-10-29
超分辨共聚焦模塊
live-sr基于具有在線處理的光學(xué)解調(diào)結(jié)構(gòu)化照明技術(shù)，與轉(zhuǎn)盤共聚焦相結(jié)合，能夠以高速和低光毒性實(shí)現(xiàn)超分辨率成像，使其成為高分辨率活細(xì)胞成像的理想解決方案。此外，由于光調(diào)制的性質(zhì)，沒有產(chǎn)生線或圖案偽影，采集的圖像可以獲得超分辨率圖像。
更新時間:2024-10-28
日立白光干涉顯微鏡
該產(chǎn)品搭配有支持多目的表面測量國際標(biāo)準(zhǔn)“iso 25178*1參數(shù)對比工具”，通過簡單而準(zhǔn)確的樣品測量支持客戶的分析業(yè)務(wù)，與此同時，憑借不斷創(chuàng)新積累的三維測量性能，實(shí)現(xiàn)高精度、高分辨率的表面性狀的測量。
更新時間:2024-10-25
光學(xué)輪廓儀
zeta-388支持3d量測和成像功能，并提供整合隔離工作臺和晶圓盒到晶圓盒的晶圓傳送系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn)全自動測量。該系統(tǒng)采用zdot™技術(shù)，可同時采集高分辨率3d數(shù)據(jù)和true color（真彩）無限遠(yuǎn)焦點(diǎn)圖像。zeta-388具備multi-mode（多模式）光學(xué)系統(tǒng)、簡單易用的軟件、低擁有成本，以及secs / gem通信，適用于研發(fā)及生產(chǎn)環(huán)境。
更新時間:2024-10-18
光學(xué)輪廓儀
filmetrics® profilm3d®和filmetrics profilm3d-200光學(xué)輪廓儀采用白光干涉測量(wli)技術(shù)，是經(jīng)濟(jì)實(shí)用的非接觸式3d表面形貌測量系統(tǒng)。profilm3d系列可以測量從納米到毫米的表面特征，并生成
更新時間:2024-10-18
光學(xué)輪廓儀
zeta-300支持3d量測和成像的功能，并提供整合隔離工作臺和靈活的配置，可用于處理更大的樣品。該系統(tǒng)采用zdot™技術(shù)，可同時采集高分辨率3d數(shù)據(jù)和true color（真彩）無限遠(yuǎn)焦點(diǎn)圖像。zeta-300具備multi-mode（多模式）光學(xué)系統(tǒng)、簡單易用的軟件、以及低擁有成本，適用于研發(fā)及生產(chǎn)環(huán)境。
更新時間:2024-10-18
共聚焦顯微鏡A1si+/A1Rsi+生物顯微鏡_尼康共聚焦顯微鏡
上海巴玖提供的共聚焦顯微鏡，具有以下幾點(diǎn)特征：--質(zhì)量穩(wěn)定：實(shí)行過程質(zhì)量監(jiān)控，細(xì)致入微，方位檢測！--價格合理：高效內(nèi)部成本控制，減少了開支，讓利于客戶！--交貨快捷：先進(jìn)生產(chǎn)流水線，充足的備貨，縮短了交貨期！
更新時間:2024-10-17
尼康C2+/C2si+ 共聚焦顯微鏡共聚焦顯微鏡系統(tǒng)_激光共聚焦顯微鏡
上海巴玖提供的共聚焦顯微鏡，具有以下幾點(diǎn)特征：--質(zhì)量穩(wěn)定：實(shí)行過程質(zhì)量監(jiān)控，細(xì)致入微，方位檢測！--價格合理：高效內(nèi)部成本控制，減少了開支，讓利于客戶！--交貨快捷：先進(jìn)生產(chǎn)流水線，充足的備貨，縮短了交貨期！
更新時間:2024-10-17
尼康Nikon Multizoom AZ-C2+共聚焦顯微鏡雙光子共聚焦顯微鏡
上海巴玖提供的共聚焦顯微鏡，具有以下幾點(diǎn)特征：--質(zhì)量穩(wěn)定：實(shí)行過程質(zhì)量監(jiān)控，細(xì)致入微，方位檢測！--價格合理：高效內(nèi)部成本控制，減少了開支，讓利于客戶！--交貨快捷：先進(jìn)生產(chǎn)流水線，充足的備貨，縮短了交貨期！
更新時間:2024-10-17
激光共聚焦掃描顯微鏡_A1+/ A1R+共聚焦激光顯微鏡系統(tǒng)激光共聚焦顯微鏡原理
上海巴玖提供的共聚焦激光顯微鏡系統(tǒng)，具有以下幾點(diǎn)特征：--質(zhì)量穩(wěn)定：實(shí)行過程質(zhì)量監(jiān)控，細(xì)致入微，方位檢測！--價格合理：高效內(nèi)部成本控制，減少了開支，讓利于客戶！--交貨快捷：先進(jìn)生產(chǎn)流水線，充足的備貨，縮短了交貨期！
更新時間:2024-10-16
顯微鏡A1si+/A1Rsi+共聚焦顯微鏡_尼康 激光共聚焦顯微鏡報價
上海巴玖提供的共聚焦顯微鏡，具有以下幾點(diǎn)特征：--質(zhì)量穩(wěn)定：實(shí)行過程質(zhì)量監(jiān)控，細(xì)致入微，方位檢測！--價格合理：高效內(nèi)部成本控制，減少了開支，讓利于客戶！--交貨快捷：先進(jìn)生產(chǎn)流水線，充足的備貨，縮短了交貨期！
更新時間:2024-10-16
C2+/C2si+共聚焦顯微鏡_尼康激光共聚焦顯微鏡_共聚焦顯微鏡原理
上海巴玖提供的共聚焦顯微鏡，具有以下幾點(diǎn)特征：--質(zhì)量穩(wěn)定：實(shí)行過程質(zhì)量監(jiān)控，細(xì)致入微，方位檢測！--價格合理：高效內(nèi)部成本控制，減少了開支，讓利于客戶！--交貨快捷：先進(jìn)生產(chǎn)流水線，充足的備貨，縮短了交貨期！
更新時間:2024-10-16
Multizoom AZ-C2+顯微鏡NIKON共聚焦顯微鏡_光學(xué)顯微鏡價格
上海巴玖提供的共聚焦顯微鏡，具有以下幾點(diǎn)特征：--質(zhì)量穩(wěn)定：實(shí)行過程質(zhì)量監(jiān)控，細(xì)致入微，方位檢測！--價格合理：高效內(nèi)部成本控制，減少了開支，讓利于客戶！--交貨快捷：先進(jìn)生產(chǎn)流水線，充足的備貨，縮短了交貨期！
更新時間:2024-10-16
德國蔡司共聚焦顯微鏡@索引2023產(chǎn)品簡介
smartproof 5快速轉(zhuǎn)盤共聚焦顯微鏡以共聚焦光學(xué)為基本原理，采用獨(dú)創(chuàng)的高速轉(zhuǎn)盤掃描技術(shù)為成像方法，將高分辨率與速度完美結(jié)合在一起，是一款能夠快速提供工業(yè)零部件表面三維輪廓，并可實(shí)現(xiàn)非接觸式表面粗糙度測量的精密分析儀器。
更新時間:2024-10-09
激光共聚焦顯微鏡 藥物篩選、大腦和神經(jīng)科學(xué) 廣州光學(xué)顯微鏡廠家
ncf950激光共聚焦顯微鏡是一款簡單、高效、高度集成的共聚焦顯微鏡。ncf950 是為實(shí)驗室科學(xué)研究設(shè)計的重要的基礎(chǔ)工具，提供了強(qiáng)大而穩(wěn)定的成像能力以及高度集成的電動化能力。共聚焦顯微鏡的應(yīng)用廣泛，實(shí)驗數(shù)據(jù)可靠，分析處理軟件功能豐富。在細(xì)胞及分子生物學(xué)、藥物篩選、大腦和神經(jīng)科學(xué)、免疫學(xué)、形態(tài)學(xué)、食品衛(wèi)生、發(fā)酵、遺傳學(xué)、藥理學(xué)等域具有不可替代的作用。
更新時間:2024-09-09
納米檢測顯微鏡 LEXT OLS4500
納米檢測顯微鏡 lext ols4500lext ols4500大大縮短了獲取影像時間的同時保護(hù)了探針，并且不用擔(dān)心觀測目標(biāo)的丟失。另外，這種一體的革新設(shè)計可以實(shí)現(xiàn)對同一對象的多手段原位觀測，從而提高了對觀測結(jié)果分析解釋的準(zhǔn)確性和可信度！
更新時間:2024-09-04
激光共聚焦光學(xué)顯微鏡
vt6000系列激光共聚焦光學(xué)顯微鏡單區(qū)域、多區(qū)域、拼接、自動測量等多種測量模式可選擇，適應(yīng)多種現(xiàn)場應(yīng)用環(huán)境.
更新時間:2024-07-30
共聚焦激光掃描顯微鏡
中圖儀器vt6000共聚焦激光掃描顯微鏡基于光學(xué)共軛共焦原理，結(jié)合精密縱向掃描，以在樣品表面進(jìn)行快速點(diǎn)掃描并逐層獲取不同高度處清晰焦點(diǎn)并重建出3d真彩圖像，從而進(jìn)行分析的精密光學(xué)儀器，一般用于略粗糙度的工件表面的微觀形貌檢測，可分析粗糙度、凹坑瑕疵、溝槽等參數(shù)。
更新時間:2024-07-30
工業(yè)用激光共聚焦顯微鏡
vt6000工業(yè)用激光共聚焦顯微鏡設(shè)備具備表征微觀形貌的輪廓尺寸及粗糙度測量功能；在材料生產(chǎn)檢測域中，共聚焦顯微鏡在陶瓷、金屬、半導(dǎo)體、芯片等材料科學(xué)及生產(chǎn)檢測域中也具有廣泛的應(yīng)用。
更新時間:2024-07-30
激光共聚焦3D測量粗糙度顯微鏡
中圖儀器vt6000激光共聚焦3d測量粗糙度顯微鏡基于光學(xué)共軛共焦原理，結(jié)合精密縱向掃描，以在樣品表面進(jìn)行快速點(diǎn)掃描并逐層獲取不同高度處清晰焦點(diǎn)并重建出3d真彩圖像，從而進(jìn)行分析的精密光學(xué)儀器，一般用于略粗糙度的工件表面的微觀形貌檢測，可分析粗糙度、凹坑瑕疵、溝槽等參數(shù)。
更新時間:2024-07-30
激光共聚焦三維成像顯微鏡
vt6000激光共聚焦三維成像顯微鏡通過系統(tǒng)軟件對器件表面3d圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析，并獲取反映器件表面質(zhì)量的2d、3d參數(shù)，從而實(shí)現(xiàn)器件表面形貌3d測量。一般用于略粗糙度的工件表面的微觀形貌檢測，可分析粗糙度、凹坑瑕疵、溝槽等參數(shù)。
更新時間:2024-07-30
共聚焦激光顯微鏡
vt6000系列共聚焦激光顯微鏡在結(jié)構(gòu)復(fù)雜且反射率低的表面3d微觀形貌重構(gòu)與檢測方面具有不俗的表現(xiàn)；卺樋c(diǎn)光源的共軛共焦原理，其依托弱光信號解析算法可以完整重建出近70°陡峭的復(fù)雜的結(jié)構(gòu)形狀，解決電子產(chǎn)品中一些光學(xué)薄膜表面存在一些特殊的微結(jié)構(gòu)(這些結(jié)構(gòu)表現(xiàn)為窄而深的“v形”、“金字塔”)測量難點(diǎn)。
更新時間:2024-07-30
激光共聚焦顯微鏡
中圖儀器vt6000激光共聚焦顯微鏡由led光源發(fā)出的光束經(jīng)過一個多孔盤和物鏡后，聚焦到樣品表面。之后光束經(jīng)樣品表面反射回測量系統(tǒng)。再次通過mpd上的針孔時，反射光將只保留聚焦的光點(diǎn)。后，光束經(jīng)分光片反射后在相機(jī)上成像。
更新時間:2024-07-30
共聚焦成像顯微鏡系統(tǒng)
在相同物鏡放大的條件下，vt6000共聚焦成像顯微鏡系統(tǒng)所展示的圖像形態(tài)細(xì)節(jié)更清晰更微細(xì)，橫向分辨率更高。更擅長微納粗糙輪廓的檢測，能夠提供色彩斑斕的真彩圖像便于觀察。
更新時間:2024-07-30
共聚焦顯微成像系統(tǒng)
vt6000共聚焦顯微成像系統(tǒng)是一款用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行微納米測量的檢測儀器？蓽y各類包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等，提供依據(jù)iso/asme/eur/gbt四大國內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)共計300余種2d、3d參數(shù)作為評價標(biāo)準(zhǔn)。
更新時間:2024-07-30
國產(chǎn)共聚焦顯微鏡微觀形貌觀察
vt6000國產(chǎn)共聚焦顯微鏡微觀形貌觀察基于光學(xué)共軛共焦原理，結(jié)合精密縱向掃描，以在樣品表面進(jìn)行快速點(diǎn)掃描并逐層獲取不同高度處清晰焦點(diǎn)并重建出3d真彩圖像，從而進(jìn)行分析。vt6000國產(chǎn)共聚焦顯微鏡微一般用于略粗糙度的工件表面的微觀形貌檢測，可分析粗糙度、凹坑瑕疵、溝槽等參數(shù)。
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