ksv nima布魯斯特角顯微鏡(bam)代表著bam儀器的最新技術(shù)。該技術(shù)可以提供高分辨率以及完全聚焦成像的單分子層圖像。其優(yōu)異的圖像質(zhì)量和較高的橫向分辨率,使得ksv nima布魯斯特角顯微鏡成為研究可視的有關(guān)薄膜的形態(tài)參數(shù)(e.g. 壓縮膜的均勻性,尺寸,形狀和聚集形態(tài))的理想儀器。通過實(shí)時(shí)的觀察和記錄薄膜的結(jié)構(gòu),可以捕捉薄膜形成的動(dòng)力學(xué)行為。
更新時(shí)間:2024-11-19