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掃描電子顯微鏡(SEM)產(chǎn)品及廠家

日本JEOL 電子探針顯微分析儀
日本jeol 電子探針顯微分析儀 jxa-ihp100,可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀x射線探測器,組合使用wds和eds,能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。
更新時間:2025-02-14
日本JEOL 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng)
日本jeol 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng) jib-4000,配置了高性能的離子鏡筒(單束fib裝置)。被加速了的鎵離子束經(jīng)聚焦照射樣品后,就能對樣品表面進行sim觀察 、研磨,沉積碳和鎢等材料。還可以為tem成像制備薄膜樣品,為觀察樣品內(nèi)部制備截面樣品。通過與sem像比較,sim像能清楚地顯示出歸因于晶體取向不同的電子通道襯度差異,這些都非常適合于評估多層鍍膜的截面及金屬結構。
更新時間:2025-02-14
日本JEOL 雙束加工觀察系統(tǒng)
日本jeol 雙束加工觀察系統(tǒng) jib-4700f,該設備的sem鏡筒中采用了超級混合圓錐形物鏡、gb模式和in-lens檢測器系統(tǒng),在1kv低加速電壓下,實現(xiàn)了1.6nm的保證分辨率,與最大能獲得300na探針電流的浸沒式肖特基電子槍組合,可以進行高分辨率觀察和高速分析。
更新時間:2025-02-14
日本JEOL 能量色散型X射線熒光分析儀
日本jeol 能量色散型x射線熒光分析儀 jsx-1000s,采用觸控屏操作、提供更加簡便迅速的元素分析。具備常規(guī)定性、定量分析(fp法・檢量線法)、rohs元素篩選功能等。利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進行更廣泛的分析。
更新時間:2025-02-14
德Neaspec真空太赫茲波段近場光學顯微鏡
德neaspec真空太赫茲波段近場光學顯微鏡hv-thz-neasnom,該套系統(tǒng)成功地繼承了德國neaspec公司thz-neasnom的設計優(yōu)勢,采用專利保護的雙光路設計,完全可以實現(xiàn)真空環(huán)境下太赫茲波段應用的樣品測量。hv-thz-neasnom在實現(xiàn)30nm高空間分辨率的同時,由于采用0.1-3thz波段的時域太赫茲光源(thz-tds),也可以實現(xiàn)近場太赫茲成像和圖譜的同時測量。
更新時間:2025-02-14
太赫茲近場光學顯微鏡
thz-neasnom太赫茲近場光學顯微鏡 -30nm光學信號空間分辨率
更新時間:2025-02-14
德國KSI  型 全自動晶圓超聲波缺陷檢測系統(tǒng)
德國ksi i-wafer型全自動晶圓超聲波缺陷檢測系統(tǒng),在ksi i-wafer的探測下,晶圓中的孔隙、分層或者雜質都能被發(fā)現(xiàn)。尺寸在450mm的多種晶圓也能進行檢測
更新時間:2025-02-14
KSI 型全自動晶錠分析檢測系統(tǒng)
ksi i-ingot型全自動晶錠分析檢測系統(tǒng),適用于對晶錠的無損檢測,有了它,晶錠內(nèi)部的裂縫或雜質就能得到快速檢測,晶錠的尺寸可達450mm,檢測時間短,也不需要做其它設定。
更新時間:2025-02-14
KSI高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)
ksi-nano型高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)聲學顯微成像系統(tǒng)和光學顯微成像系統(tǒng)的完美結合
更新時間:2025-02-14
德國KSI  雙探頭超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)
ksi v-duo 雙探頭超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng),同時使用2只換能器
更新時間:2025-02-14
德國ZEISS蔡司聚焦離子束掃描電鏡FIB/SEM
德國zeiss蔡司聚焦離子束掃描電鏡fib/sem crossbeam 350,crossbeam 550
更新時間:2025-02-14
多面掃描鏡
可實現(xiàn)大范圍、超高速、高精度與高重復性的激光光束掃描。多面掃描鏡裝置/多面轉鏡包括電機與多面鏡,多面鏡具有多個反射面,并安裝在電動機的旋轉軸上。通過電機的旋轉,多面鏡可實現(xiàn)高速旋轉,從而實現(xiàn)大角度、高速的光束掃描。
更新時間:2025-02-14
ZEISS 高分辨電子掃描顯微鏡
zeiss 高分辨電子掃描顯微鏡-evo 10,具備自動化工作流程的高清晰掃描電鏡
更新時間:2025-02-14
日本電子JEOL場發(fā)射掃描電鏡
jsm-it800shl 是日本電子株式會社(jeol) 2020 年新推出的場發(fā)射掃描電鏡,它秉承 jeol 熱場發(fā)射掃描電鏡 jsm-7900f 的大束流,高穩(wěn)定性的傳統(tǒng),同時將分辨率提高到新的限,全新設計的超混合型物鏡,高分辨率的獲得以及磁性樣品的觀察都可以同時完成,而且標配 jeol 新開發(fā)的 neo
更新時間:2025-02-14
萬能工具顯微鏡
本儀器具有較高的測量精度,適用于長度和角度的精密測量;同時由于配備有多種附件,使其使用范圍得到充分的擴大。應用計算機輔助測量,能解決各種復雜的二維測量問題,主要的測量對象有:刀具、量具、模具、樣板、螺紋和齒輪類工作等
更新時間:2025-02-13
日立高新掃描電子顯微鏡
日立高新掃描電子顯微鏡此外,還搭載了全新的導航功能“sem map”,這個功能可彌補電子顯微鏡上難以找準視野的缺點,實現(xiàn)直觀的視野移動。flexsem 1000 ii,憑借全新設計的電子光學系統(tǒng)和高靈敏度檢測器,可在加速電壓20 kv下實現(xiàn)4.0 nm的分辨率。全新開發(fā)的用戶界面,具有亮度和對焦自動調節(jié)功能,可以在短時間內(nèi)進行各種觀察。
更新時間:2025-02-13
日本東亞電波離子層析儀(離子色譜儀)
日本東亞電波離子層析儀(離子色譜儀)本體裝置和數(shù)據(jù)處理裝置之間的通信,如導入lan的設施,可作遠距操作。擁有優(yōu)越的擴張性、如增設pump、檢出器等的單元,可對應陰離子、陽離子2ch的同時分析。依抑制因子系統(tǒng)可
更新時間:2025-02-13
SU8200  日立高新場發(fā)射掃描電子顯微鏡
日立高新場發(fā)射掃描電子顯微鏡su8200系列日立高新場發(fā)射掃描電子顯微鏡su8200系列(hitachi uhr fe-sem su8200 series,su8220,su8230,su8240)采
更新時間:2025-02-13
  高新超高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡SU9000
日立高新超高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡su9000日立高新超高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡su9000是專門為電子束敏感樣品和需300萬倍穩(wěn)定觀察的半導體器件,高分辨成像所設計。紫外臭氧清洗機常用于掃描
更新時間:2025-02-13
FlexSEM 1000 I  日立高新掃描電子顯微鏡
日立高新掃描電子顯微鏡flexsem 1000 i掃描電子顯微鏡可對材料的表面進行高倍率觀察及高精度元素分析,在納米技術、生命科學、產(chǎn)品設計研發(fā)及失效分析等領域有著廣泛的應用。flexsem 1000
更新時間:2025-02-13
SU9000  日立高新超高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡
日立高新超高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡su9000日本日立hitachi超高分辨場發(fā)射掃描電子顯微鏡regulus系列 的詳細介紹  沿用"su8200系列"的冷場發(fā)射電子槍*2  采用電子束在fla
更新時間:2025-02-13
經(jīng)濟型掃描電子顯微鏡 KYKY-EM3200系列
產(chǎn)品說明: kyky-em3200系列掃描電鏡在電氣控制系統(tǒng)、計算機系統(tǒng)、操作控制軟件、圖像控制系統(tǒng)、圖像處理軟件、自動控制功能 等諸多方面都進行了改進。主要特點是穩(wěn)定可靠、結構緊湊、操作方便、維護簡單,是一款性價比較高的經(jīng)濟型電鏡。
更新時間:2025-02-12
電子掃描顯微鏡KYKY-EM6900
類型 電子顯微鏡 品牌 中科 型號 kyky-em6900 目鏡放大倍數(shù) n/a 物鏡放大倍數(shù) n/a 儀器放大倍數(shù) 1.5-300000x 加工定制 否
更新時間:2025-02-12
實用型掃描電子顯微鏡KYKY-2800
產(chǎn)品說明: kyky-2800型掃描電子顯微鏡是中國科學院在幾十年的掃描電鏡研究和生產(chǎn)基礎上,引用現(xiàn)代最新計算機及數(shù)字圖像技術, 開發(fā)出的高性能產(chǎn)品。該產(chǎn)品除具有原kyky電鏡優(yōu)良工藝和穩(wěn)定可靠特性外,新增加了各種計算機自動控制及調節(jié)功能,尤其是采用了專用圖像處理器進行圖像分析處理,使掃描電鏡與圖像分析得到完美結合。在window
更新時間:2025-02-12
日本電子掃描電子顯微鏡
日本電子掃描電子顯微鏡jcm-700強大的"zeromag"功能,讓您從光學顯微鏡的觀察方式,輕松的無縫接軌到掃描電鏡的影像觀察。"live analysis"則實現(xiàn)了sem影像觀察時實時的eds成份分析。
更新時間:2025-02-12
日本電子熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡
日本電子熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡適用于納米材料、化學、新材料、半導體器件的觀察和分析。
更新時間:2025-02-12
和伍水浸超聲掃描顯微鏡半導體缺陷檢測儀
超聲掃描顯微鏡(sat)是一種利用超聲波為傳播媒介的無損檢測成像設備,主要利用高頻超聲波,對各類半導體器件、材料進行檢測,能夠檢測出樣品內(nèi)部的氣孔、裂紋、夾雜和分層等缺陷,并以圖形的方式直觀展示。在掃描過程中,不會對樣品造成損傷,不會影響樣品性能,可有效滿足新能源、半導體、電力電子、熱管理材料、金剛石復合材料、碳纖維復合材料等行業(yè)需求。
更新時間:2025-02-12
徠卡顯微鏡
徠卡顯微鏡 dm2000 & dm2000 ledleica dm2000 & dm2000 led - 生物,醫(yī)療顯微鏡 生物,醫(yī)療顯微鏡 leica dm2000顯微鏡具有高模塊設計 和 高性能的熒光 ,因此可理想地用于 病理學、細胞學 ,以及其它復雜工作域。 為了滿足不同使用域的要求,leica dm2000可以配備 各種光學和對比度技術 。
更新時間:2025-02-12
Lightsheet 7  蔡司光切激光片層掃描顯微鏡
蔡司lightsheet 7激光片層掃描顯微系統(tǒng),助您便捷地實現(xiàn)活體和透明化樣品的多視角成像。設計的物鏡能夠匹配透明化樣品的折射率,從厘米大尺寸的樣品,到多維時空的活體成像,無論是觀察長達數(shù)天的生物發(fā)育過程,還是捕捉快速運動的血流心跳,都能助您游刃有余完成。無需頻繁更換物鏡和樣品倉,提升效率,在簡單調焦中實現(xiàn)理想光切。無需再為制備樣品而煩惱,操作簡便。
更新時間:2025-02-11
陰極發(fā)射體
陰極/發(fā)射器既有標準產(chǎn)品,也有定制設計,應用包括電子顯微鏡、光刻、x射線生成、自由電子激光器、電子加速器等。
更新時間:2025-02-08
供應蘇州日立TM4000Ⅱ掃描電鏡
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式,每種模式下電流4檔可調,并配備4分割背散射探測器,可采集四個不同方向的圖像信息,對樣品進行多種模式成像。具有全新的sem-map導航功能,同時,電鏡圖片可以報告形式導出。配備大型樣品倉,可容納大樣品直徑80mm,厚度50mm。
更新時間:2025-02-08
供應蘇州日立FlexSEM1000 II鎢燈絲掃描電鏡
flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡,具有體積小、操作簡單、性能強、擴展功能豐富等特點。flexsem1000 ii配備了二次電子探測器和背散射電子探測器,可以觀察樣品的形貌和成分;同時具有低真空功能,可以直接觀察不導電樣品和含水樣品;配合新增的sem-map光鏡導航和5軸樣品臺可以快速、高效的完成觀察任務。
更新時間:2025-02-08
供應蘇州日立TM4000Ⅱ掃描電鏡
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式,每種模式下電流4檔可調,并配備4分割背散射探測器,可采集四個不同方向的圖像信息,對樣品進行多種模式成像。具有全新的sem-map導航功能,同時,電鏡圖片可以報告形式導出。配備大型樣品倉,可容納大樣品直徑80mm,厚度50mm。
更新時間:2025-02-08
供應蘇州日立FlexSEM1000 II鎢燈絲掃描電鏡
flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡,具有體積小、操作簡單、性能強、擴展功能豐富等特點。flexsem1000 ii配備了二次電子探測器和背散射電子探測器,可以觀察樣品的形貌和成分;同時具有低真空功能,可以直接觀察不導電樣品和含水樣品;配合新增的sem-map光鏡導航和5軸樣品臺可以快速、高效的完成觀察任務。
更新時間:2025-02-08
供應日立SU9000新型超高分辨冷場發(fā)射掃描電鏡
日立2011年新推出了su9000超高分辨冷場發(fā)射掃描電鏡,達到掃描電鏡世界最高二次電子分辨率0.4nm和stem分辨率0.34nm。日立su9000采取了全新改進的真空系統(tǒng)和電子光學系統(tǒng),不僅分辨率性能明顯提升,而且作為一款冷場發(fā)射掃描電鏡甚至不需要傳統(tǒng)意義上的flashing操作,可以高效率的快速獲取樣品超高分辨掃描電鏡圖像。 特點: 1. 新型
更新時間:2025-02-08
供應蘇州日立S-3400N掃描電子顯微鏡
s­-3400n掃描電子顯微鏡 s-3400n具有最新開發(fā)的電子光學系統(tǒng),強大的自動化功能,操作更簡易。 特點: 1. s-3400n具有強大的自動功能,包括自動燈絲飽和、4偏壓、自動槍對中、自動束流設定、 自動合軸自動聚焦和消像散、自動亮度對比度等。 2. 在3kv低加速電壓時
更新時間:2025-02-08
供應蘇州日立S-3700N 多功能分析型可變壓掃描電鏡
s-3700n 多功能分析型可變壓掃描電鏡 研究超大,超重,超高樣品的分析型掃描電鏡 ● 最大可載樣品直徑達300mm ●最大觀察區(qū)域直徑達203mm ● 在觀察110mm高樣品時可進行能譜分析 ● 樣品室設置多種接口,可安裝eds、wds、ebsd和cl等多種分析用附件 ● 5軸優(yōu)中心馬達臺可以傾
更新時間:2025-02-08
供應蘇州日立TM4000Ⅱ掃描電鏡
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式,每種模式下電流4檔可調,并配備4分割背散射探測器,可采集四個不同方向的圖像信息,對樣品進行多種模式成像。具有全新的sem-map導航功能,同時,電鏡圖片可以報告形式導出。配備大型樣品倉,可容納大樣品直徑80mm,厚度50mm。
更新時間:2025-02-08
FEI臺式掃描電鏡Phenom飛納 標準版
第六代 phenom pure 是一款使用高亮度 ceb6 燈絲的高分辨臺式掃描電鏡。放大倍數(shù) 175,000 倍,用于觀察亞微米樣品的微觀結構。pure 具有全自動操作、15 快速抽真空、不噴金觀看絕緣體、2-3 年更換燈絲等特點,適用于傳統(tǒng)大電鏡待測樣品的快速篩選,也適合于光學顯微鏡的分辨率無法滿足需求的客戶。
更新時間:2025-02-06
FEI臺式掃描電鏡飛納(Phenom) 業(yè)版
第六代 phenom pro 臺式掃描電鏡是一款功能強大,輕松易用的多功能設備。長壽命、高亮度 ceb6 燈絲擴展了研究設備的功能,結合豐富的樣品杯選件和拓展的全自動軟件,phenom pro 可以適用于廣泛的研究域。
更新時間:2025-02-06
飛納(Phenom)臺式掃描電鏡 能譜版
加快材料研究的突破性進展,您的實驗室需要一臺具備快速準確分析大量材料微觀結構的掃描電鏡。第六代 phenom prox 飛納臺式掃描電鏡能譜一體機引入了全新一代操作系統(tǒng),通過改進光路設計,將分辨率提升到新高度。能譜操作界面與能譜算法進一步升,易于操作,元素分析更快速。
更新時間:2025-02-06
Phenom 飛納煙草紙張領域掃描電子顯微鏡
phenom 飛納煙草紙張領域掃描電子顯微鏡
更新時間:2025-02-06
Phenom臺式掃描電子顯微鏡標準版Pure
放大倍數(shù):20000x;分辨率:優(yōu)于30nm;燈絲:1500小時ceb6燈絲抽真空時間:10;樣品移動方式:自動馬達樣品臺樣品定位方式:光學和低倍電子雙重導航樣品導電性要求:無需噴金,直接觀測絕緣體
更新時間:2025-02-06
飛納臺式掃描電鏡
加快材料研究的突破性進展,您的實驗室需要一臺具備快速準確分析大量材料微觀結構的掃描電鏡。第六代 phenom prox 飛納臺式掃描電鏡能譜一體機引入了全新一代操作系統(tǒng),通過改進光路設計,將分辨率提升到新高度。能譜操作界面與能譜算法進一步升,易于操作,元素分析更快速。
更新時間:2025-02-06
飛納臺式掃描電子顯微鏡 Phenom ProX
加快材料研究的突破性進展,您的實驗室需要一臺具備快速準確分析大量材料微觀結構的掃描電鏡。第六代 phenom prox 飛納臺式掃描電鏡能譜一體機引入了全新一代操作系統(tǒng),通過改進光路設計,將分辨率提升到新高度。能譜操作界面與能譜算法進一步升,易于操作,元素分析更快速。
更新時間:2025-02-06
飛納臺式掃描電鏡 Phenom ProX
加快材料研究的突破性進展,您的實驗室需要一臺具備快速準確分析大量材料微觀結構的掃描電鏡。第六代 phenom prox 飛納臺式掃描電鏡能譜一體機引入了全新一代操作系統(tǒng),通過改進光路設計,將分辨率提升到新高度。能譜操作界面與能譜算法進一步升,易于操作,元素分析更快速。
更新時間:2025-02-06
飛納臺式掃描電子顯微鏡業(yè)版Pro
第六代 phenom pro 臺式掃描電鏡是一款功能強大,輕松易用的多功能設備。長壽命、高亮度 ceb6 燈絲擴展了研究設備的功能,結 合豐富的樣品杯選件和拓展的全自動軟件,phenom pro 可以適用于廣泛的研究域。
更新時間:2025-02-06
飛納臺式掃描電子顯微鏡標準版Pure
第六代 phenom pure 是一款使用高亮度 ceb6 燈絲的高分辨臺式掃描電鏡。放大倍數(shù) 175,000 倍,用于觀察納米或者亞微米樣品的微觀結構;诟吡炼 ceb6 燈絲和全新的聚焦系統(tǒng),phenom pure 的分辨率輕松達到 10 nm,同時具有全自動操作、15 快速抽真空、不噴金觀看絕緣體、2-3 年更換燈絲等特點。
更新時間:2025-02-06
飛納臺式掃描電鏡 Phenom  Pro
第六代 phenom pro 臺式掃描電鏡是一款功能強大,輕松易用的多功能設備。長壽命、高亮度 ceb6 燈絲擴展了研究設備的功能,結 合豐富的樣品杯選件和拓展的全自動軟件,phenom pro 可以適用于廣泛的研究域。
更新時間:2025-02-06
飛納臺式掃描電鏡Phenom Pro
飛納掃描電鏡是一款使用高亮度 ceb6 燈絲的高分辨臺式掃描電鏡。放大倍數(shù) 350,000 倍,用于觀察納米或者亞微米樣品的微觀結構。
更新時間:2025-02-06

最新產(chǎn)品

熱門儀器: 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計 液質聯(lián)用儀 壓力試驗機 酸度計(PH計) 離心機 高速離心機 冷凍離心機 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標準物質 生物試劑