光學(xué)測量儀產(chǎn)品及廠家
設(shè)備的用途：相機鏡頭焦距、各種光學(xué)零件、部件及光學(xué)系統(tǒng)的像質(zhì)研究及光學(xué)基本量的測定。
更新時間:2024-11-21
全自動激光檢測分析儀符合標準《iec60825-1:2007》《gb7247.1-2012》《gb9706.20-2000》,用于醫(yī)療器械中醫(yī)用激光得分類檢測、激光輻射檢測、伴隨輻射檢測、允許照射量檢測、輻射量檢測等。采用觸摸屏控制和計算機軟件雙操作平臺，兩者可兼容操作也可獨立操作。
更新時間:2024-11-21
西安航天基地信捷iem300紅光治療儀檢測設(shè)備光譜測試系統(tǒng)依據(jù)標準yy/t1496-2016、yy0669-2008和yy0901-2013,是一款為光譜治療設(shè)備如紅光治療設(shè)備、嬰兒光治療設(shè)備、紫外治療等設(shè)備光學(xué)性能評估而設(shè)計的一款檢測設(shè)備。
更新時間:2024-11-21
西安信捷ecr900醫(yī)用內(nèi)窺鏡光學(xué)性能檢測裝置是我公司依據(jù)標準yy0068.1-2008和yy1298-2016研發(fā)設(shè)計的一款用于檢測醫(yī)用內(nèi)窺鏡光學(xué)成像性能的高精度、高效率、多功能、全自動的檢測儀器。
更新時間:2024-11-21
yy1081-2011西安信捷clt800醫(yī)用內(nèi)窺鏡冷光源檢測系統(tǒng)產(chǎn)品設(shè)計依據(jù)醫(yī)藥行業(yè)標準《yy 1081—2011醫(yī)用內(nèi)窺鏡 內(nèi)窺鏡供給裝置 冷光源》,主要用于
更新時間:2024-11-21
ecr900醫(yī)用內(nèi)窺鏡光學(xué)性能檢測儀依據(jù)“yy 0068.1-2008 “醫(yī)用內(nèi)窺鏡 硬性內(nèi)窺鏡 第1部分：光學(xué)性能及測試方法”標準的測試要求，用于腹腔鏡、氣管鏡等多種常用內(nèi)窺鏡的光學(xué)性能測試。適用于內(nèi)窺鏡生產(chǎn)制造廠商對于產(chǎn)品的品控與設(shè)計驗證，檢測機構(gòu)對于內(nèi)窺鏡產(chǎn)品的質(zhì)檢和監(jiān)督，科研院所對于內(nèi)窺鏡的科學(xué)研究。
更新時間:2024-11-21
1、滿足標準：《yy 1081—2011醫(yī)用內(nèi)窺鏡 內(nèi)窺鏡供給裝置 冷光源》；2、設(shè)備用途：內(nèi)窺鏡供給裝置冷光源檢測。
更新時間:2024-11-21
滿足標準：這是一款根據(jù)標準yy0843-2011研發(fā)生產(chǎn)的一款用于測試氣腹機氣壓、流量、顯示耗氣量準確性等性能的標準檢測設(shè)備。
更新時間:2024-11-21
滿足標準：該設(shè)備是根據(jù)yy/t 0113《牙科學(xué) 復(fù)合樹脂耐磨耗性能測試方法》標準要求設(shè)計的。設(shè)備用途：用于檢測牙科復(fù)合樹脂材料的磨耗性能。
更新時間:2024-11-21
該設(shè)備是對醫(yī)用內(nèi)窺鏡光學(xué)性能進行檢測的設(shè)備，是西安信捷依據(jù)標準《yy 0068.1—2008》研發(fā)設(shè)計生產(chǎn)的。
更新時間:2024-11-21
該設(shè)備是依據(jù)標準yy 0068.1—2008研發(fā)設(shè)計的。主要是用于檢測醫(yī)用內(nèi)窺鏡光學(xué)性能。
更新時間:2024-11-21
yy0763標準醫(yī)用內(nèi)窺鏡檢測裝置的檢測功能：1.內(nèi)窺鏡光纜出光角測試2.光譜透過率測定3.光能傳遞效率測定4.扭轉(zhuǎn)試驗5.短暫壓扁試驗6.拉伸試驗
更新時間:2024-11-21
燈和燈系統(tǒng)光生物安全檢測設(shè)備是西安信捷智能檢測科技有限公司依據(jù)行業(yè)標準《iec 62471:2006 燈和燈系統(tǒng)的光生物安全性》和《gb/t 20145-2006 燈和燈系統(tǒng)的光生物安全性》研發(fā)設(shè)計的。
更新時間:2024-11-21
日本dnp透射燈箱廠家總代理？哪里有日本dnp燈箱和測試卡？購買dnp品牌產(chǎn)品需要找哪里？歡迎您來電聯(lián)系蘇州欣美和儀器有限公司；本公司專注顏色管理和攝像頭影像測試方案，提供反射和透射式燈箱以及一切測試卡，如分辨率測試卡，灰度卡，以及提供透射燈箱的燈管配件和電源變壓器等，本公司還專業(yè)維修修理日本dnp透射燈箱。
更新時間:2024-11-21
愛色麗標準版新款印刷密度儀exact將色彩測量和管理提升到一個新的水平。這是一個可擴展的平臺，可根據(jù)需要升級版本，在現(xiàn)場將簡單的密度儀升級到先進的光譜測量儀器。愛色麗標準版新款印刷密度儀，印刷商和包裝轉(zhuǎn)印商能夠真正理解、控制、管理和交流色彩，避免重印和返工。
更新時間:2024-11-21
通過使用愛色麗標簽印刷紙品禮盒分光密度儀，印刷和包裝企業(yè)可以顯著縮短印刷準備時間，提高印刷質(zhì)量，減少基材和油墨浪費，并獲得高效的印刷運轉(zhuǎn)。
更新時間:2024-11-21
德國optosol r1 涂層吸收率發(fā)射率檢測儀，用于測量管狀或平面太陽能吸收涂層的定向熱發(fā)射度，其基礎(chǔ)是測量來自擴展熱源的紅外輻射的反射率操作溫度:70 - 90°c
更新時間:2024-11-21
德optosol-k3 太陽能吸收率發(fā)射率檢測儀，k3型發(fā)射率檢測儀由一個被加熱到70℃的發(fā)光體（作為熱輻射源）和三個對波長在8-14μm范圍的光線敏感的探測器組成。 來自發(fā)光體的輻射均勻分布在用作漫射輻射源的積分球內(nèi)。檢測器以與樣品表面法線成12°的角度安裝。被測量的是由樣品反射回來的輻射。
更新時間:2024-11-21
optosol absorber control k1 太陽能平板集熱器膜層吸收與發(fā)射率快速測量儀，
更新時間:2024-11-21
trisol aaa美國oai標準太陽能模擬器，低成本，標準太陽模擬器提供高度準直，均勻的光，幾乎任何材料或產(chǎn)品暴露在陽光下長時間或短時間的基本測試。根據(jù)配置，這些太陽能模擬器的輸出功率為350w-5,000w。
更新時間:2024-11-21
tss-52,tss-100,tss-156,tss-208,tss-300美國oai太陽能模擬器，這些模擬器,取決于配置、輸出額定350 w -5000 w。oai 3 a太陽模擬器可以提供一個范圍的空氣質(zhì)量過濾器復(fù)制太陽能模擬太陽的光譜。目的探明oai透鏡和鏡像技術(shù)可以使一個廣泛的接觸區(qū)域。
更新時間:2024-11-21
美國 d&s 發(fā)射率測量儀 ae1/rd1，是專門針對測量物體的輻射率設(shè)計的，ae1測量樣品最小直徑為2.25英寸（5.7cm）？蛇x附件ae-ad1和ae-ad3探測頭能使測量樣品最小直徑為1.0英（2.54cm），可以為圓柱形表面和幾乎任何幾何形狀面需求的客戶提供定制探頭。對小直徑圓柱形面樣品測量，可以測量平行放置的多個樣品。
更新時間:2024-11-21
美國sonix 晶圓檢測設(shè)備 autowafe pro.為全自動晶圓檢測設(shè)計的機型，主要應(yīng)用在bond wafer，mems 內(nèi)部空洞、離層檢測，tsv量測方面。
更新時間:2024-11-21
日本rion粒子計數(shù)器kc-24 ( 光散射法）,液體粒子計數(shù)器，可檢測從純水到氫氟酸各種各樣的液體。可測 0.1um 空氣顆粒度儀kc-24
更新時間:2024-11-21
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-41a ( 光阻用），可檢測光阻產(chǎn)品、sog 等產(chǎn)品中 0.15um 的顆粒。粒徑范圍（4個通道，出廠默認）：≥0.15μm， ≥0.2μm ， ≥0.3μm ， ≥0.5μm
更新時間:2024-11-21
日本rion 液體光學(xué)顆粒度儀：ks-18f ( 光散射法）液體光學(xué)顆粒度儀 ks-18f寬廣的測試范圍，可測試 0.05~0.2um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準的顆粒數(shù)據(jù)。 可偵測到小粒徑 0.05um 的粒子
更新時間:2024-11-21
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-42a&42af ( 光散射法）,可測試 0.1~0.5um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時間:2024-11-21
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-42b/42bf ( 光散射法）,寬廣的測試范圍，可測試 0.2~2.0um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時間:2024-11-21
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-42c ( 光散射法）,寬廣的測試范圍，可測試 0.5~20um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時間:2024-11-21
日本理音 rion 粒子計數(shù)器 ks-20f，檢測粒徑為0.02μm的顆粒，從0.02μm到0.08μm可達7個通道
更新時間:2024-11-21
日本rion粒子計數(shù)器kc-01e ( 光散射法）,液體粒子計數(shù)器，測試粒徑（5個通道）：≥0.3μm， ≥0.5μm ， ≥1μm ， ≥2μm， ≥5μm
更新時間:2024-11-21
日本rion粒子計數(shù)器kc-03b ( 光散射法）,測試粒徑（5個通道）：≥0.3μm， ≥0.5μm ， ≥1μm ， ≥2μm， ≥5μm
更新時間:2024-11-21
美國泰克tek keithley半導(dǎo)體參數(shù)分析儀4200a-scs ，加快半導(dǎo)體設(shè)備、材料和工藝開發(fā)的探索、可靠性和故障分析研究。 業(yè)內(nèi)領(lǐng)先性能參數(shù)分析儀，提供同步電流-電壓 (i-v)、電容-電壓 (c-v) 和超快脈沖 i-v 測量。
更新時間:2024-11-21
瑞士nanosurf 原子力顯微鏡coreafm ，非常智能地聯(lián)合了原子力顯微鏡的核心部件來實現(xiàn)最多功能化與用戶方便使用性. 正是由于這種基礎(chǔ)的設(shè)計, coreafm非常合理的實現(xiàn)了最優(yōu)化的原子力顯微鏡的功能.
更新時間:2024-11-21
韓國ecopia霍爾效應(yīng)測量系統(tǒng)hms3000，hms5000，用于研究半導(dǎo)體材料/光電材料的電學(xué)特性，可以測量材料在不同溫度、磁場下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)及載流子類型。
更新時間:2024-11-21
美國 mmr 霍爾效應(yīng)測量系統(tǒng) h5000，用于研究光電材料的電學(xué)特性，利用范德堡測量技術(shù)測量材料在不同溫度、磁場下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)及載流子類型。整套系統(tǒng)主要包括控制器、樣品室、磁場三部分。
更新時間:2024-11-21
半導(dǎo)體測試探針臺kup007，emp100c，emp100b，emp50s
更新時間:2024-11-21
美國nanovea三維表面形貌儀hs1000型，是一款高速的三維形貌儀，最高掃描速度可達1m/s,采用國際領(lǐng)先的白光共聚焦技術(shù)，可實現(xiàn)對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試，具有測量精度高，速度快，重復(fù)性好的優(yōu)點，該儀器可用于測量大尺寸樣品或質(zhì)檢現(xiàn)場使用。
更新時間:2024-11-21
德國 yxlon 高分辨率ｘ射線檢測設(shè)備 y.cougar smt 平板探測器（標配） y.cheetah 高速平板探測器（標配）
更新時間:2024-11-21
美國royec芯片拾取及放置系統(tǒng)die pick & place systems,new !! ap+ 全自動芯片分選系統(tǒng)
更新時間:2024-11-21
美國royec半自動型芯片拾取系統(tǒng)de35-st ,最小200微米芯片拾取,可選配背面，側(cè)面檢測,可選配芯片轉(zhuǎn)向功能.
更新時間:2024-11-21
美國rti自動特性圖示儀 mt century curve tracer，是一個性價比較高的曲線追蹤設(shè)備。最多到96個channel，提供4種型號可供客戶選擇，mt century curve tracer 與rti其他大型curve trace擁有一樣的可靠性，功率和軟件。像其他rti機型一樣，mt century系統(tǒng)的設(shè)計有與950系列的測試夾具及其它專用夾具連接的接口。
更新時間:2024-11-21
德國klocke nanotech納米級三維測量儀3d nanofinger，是一種實用的納米精度坐標和形貌綜合測量設(shè)備。由臺架、控制系統(tǒng)、探頭、針尖組成. 可測量樣品外形尺寸，表面輪廓、粗糙度等，并可與超精密微加工、微組裝系統(tǒng)組合，進行在線檢測、質(zhì)量控制等。
更新時間:2024-11-21
日本a&d粒子計數(shù)器（粒度計）sv-1a,是使用點監(jiān)測的低成本替代設(shè)備,計數(shù)值高達2,000,000個粒子/ft.
更新時間:2024-11-21
美國filmetrics 薄膜厚度測量系統(tǒng)f20，f30，f40，f50，f60，f3-xxt 系列，臺式薄膜厚度測量系統(tǒng)
更新時間:2024-11-21
美國 sonix 超聲波掃描顯微鏡:echo-vs, echo pro™全自動超聲波掃瞄顯微鏡,sonix echo vs™ 是專為更高精度要求，更復(fù)雜元器件設(shè)計的新一代設(shè)備。echo pro™全自動超聲波掃瞄顯微鏡,編程自動判別缺陷,高產(chǎn)量,無需人員重復(fù)設(shè)置.
更新時間:2024-11-21
德國bruker傅氏轉(zhuǎn)換紅外光譜儀ftir -利用紅外線光譜經(jīng)傅利葉轉(zhuǎn)換進而分析雜質(zhì)濃度的光譜分析儀器。
更新時間:2024-11-21
德國bruker ft-nir光譜儀tango,mpa,matrix-i.ft-nir光譜儀已經(jīng)在包括制藥，食品，農(nóng)業(yè)和化學(xué)行業(yè)在內(nèi)的所有行業(yè)的質(zhì)量控制應(yīng)用中得到了很好的應(yīng)用。它為耗時的濕法化學(xué)方法和色譜技術(shù)提供了一種實用的替代方法。ft-nir無破壞性，不需要樣品制備或危險化學(xué)品，使其定量和定性分析快速可靠。
更新時間:2024-11-21
德bruker光學(xué)輪廓儀contorugt-表面量測系統(tǒng)-供生產(chǎn)qc/qa及研發(fā)研用的非接解觸型光學(xué)輪廓儀
更新時間:2024-11-21
最新產(chǎn)品
- 發(fā)布動態(tài)/抗檢測原料/ 抗檢測抗115項抗檢測原粉@技術(shù)資料 2024/11/21 22:17:14
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- 發(fā)布動態(tài)/他達那非/他達那非原料/技術(shù)資料 2024/11/21 22:11:22
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- 發(fā)布動態(tài)/西地那非/西地那非原粉/西地原料/技術(shù)資料 2024/11/21 22:08:12
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- 發(fā)布動態(tài)/鹽酸達泊西汀/達泊西丁原料@價格優(yōu)惠 2024/11/21 22:03:03
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