激光干涉儀產(chǎn)品及廠家
由德國(guó)jenaer公司生產(chǎn)的微位移測(cè)量激光干涉zlm800儀，主要用于微位移部件的測(cè)量，角度變化量的監(jiān)測(cè)，運(yùn)動(dòng)平臺(tái)變化量的檢測(cè)，及光刻機(jī)幾何量的測(cè)量，數(shù)控機(jī)床幾何量的測(cè)量等。
更新時(shí)間:2024-11-09
zygo新型verifire hdx激光干涉儀是為超高精度的光學(xué)元件和系統(tǒng)設(shè)計(jì)和制造的，可以獲得元件表面的中頻特征信息。系統(tǒng)包含現(xiàn)有verifire hd的所有功能-比如qpsi和長(zhǎng)壽命穩(wěn)頻的激光器，并增加了重要的增強(qiáng)功能，如刷新行業(yè)水平的分辨率和成像能力，儀
更新時(shí)間:2024-10-29
美國(guó)zygo激光干涉儀dynafizdynafiz 激光干涉儀:在空氣湍流和端振動(dòng)的環(huán)境下進(jìn)行動(dòng)態(tài)測(cè)量 ;dynafiz 激光干涉儀優(yōu)化的光學(xué)系統(tǒng)提供了清晰可見(jiàn)的中間空間頻率特征 ;livephase™ 軟件可以進(jìn)行實(shí)時(shí)zernike分析 ;movie模式獲取隨時(shí)間變化的波 ;dynafiz 激光干涉儀 高功率，長(zhǎng)壽命穩(wěn)頻氦氖激光器。
更新時(shí)間:2024-10-29
昊量光電新推出的激光振動(dòng)傳感器光學(xué)元件集成化可以實(shí)現(xiàn)更加復(fù)雜的設(shè)計(jì)和更多的功能。集成光學(xué)芯片可以在一個(gè)單一的光學(xué)基底上包含數(shù)十到數(shù)百個(gè)光學(xué)元件，包括激光器、調(diào)制器、光電探測(cè)器和濾波器等。具有不同延遲線的光學(xué)干涉儀蕞先在集成光學(xué)芯片上實(shí)現(xiàn)，并通過(guò)一個(gè)一體化封裝將集成光學(xué)芯片、激光二極管、探測(cè)器陣列和光學(xué)透鏡組成一個(gè)小型化激光傳感模組。自主研發(fā)的激光傳感平臺(tái)通過(guò)專(zhuān)有的數(shù)字信號(hào)處
更新時(shí)間:2024-10-28
光纖法布里-珀羅干涉儀系列產(chǎn)品基于具有平滑、均勻間隔傳輸峰的固定干涉儀設(shè)計(jì)。ffp 的設(shè)計(jì)簡(jiǎn)潔優(yōu)雅的關(guān)鍵在于其無(wú)透鏡全光纖結(jié)構(gòu)。沒(méi)有準(zhǔn)直光學(xué)器件或透鏡，消除了其他法布里-珀羅元件技術(shù)的缺陷，包括未對(duì)準(zhǔn)、環(huán)境敏感性和外來(lái)模式。ffp 波器遵循 airy 函數(shù)。工程師可以將其設(shè)計(jì)到 oem 系統(tǒng)中，因?yàn)樗麄冎浪鼘⑻峁┓浅＝咏碚摂?shù)學(xué)模型的結(jié)果。
更新時(shí)間:2024-10-28
昊量光電新推出基于激光剪切散斑干涉系統(tǒng)，是復(fù)合材料及結(jié)構(gòu)缺陷無(wú)損檢測(cè)的高性?xún)r(jià)比方案。
更新時(shí)間:2024-10-28
測(cè)量精度可達(dá)0.6nm(λ/1000). 其標(biāo)桿產(chǎn)品d7激光干涉儀采用點(diǎn)衍射技術(shù)，主要用于高精度的表面（平面,球面,非球面,自由曲面）檢測(cè)及透射波前檢測(cè)。
更新時(shí)間:2024-10-28
昊量光電推出的皮米精度位移干涉測(cè)量?jī)xqudis是對(duì)納米別的位移波動(dòng)進(jìn)行量測(cè)的理想儀器，基于其獨(dú)特的測(cè)量原理，相對(duì)距離的重復(fù)精度達(dá)到了所未有的50皮米。
更新時(shí)間:2024-10-28
phasics短波近紅外波前傳感器sid4-swir將phasics的四波剪切技術(shù)與ingaas探測(cè)器結(jié)合在一起。 憑借其高取樣分辨率（80 x 64相位取樣點(diǎn)）和高靈敏度，它提供了從900 nm到1.7μm波段的精準(zhǔn)波前測(cè)量。
更新時(shí)間:2024-10-28
phasics大口徑超高分辨率波前傳感器/波前分析儀sid4-uhr可用于光學(xué)計(jì)量需求，它結(jié)合了sid4的易于光路搭建的特點(diǎn)，并擁有超高分辨率及相位精度。大口徑超高分辨率波前傳感器/波前分析儀sid4-uhr的大口徑傳感器靶面可以實(shí)現(xiàn)對(duì)整個(gè)被測(cè)樣品的實(shí)時(shí)波前測(cè)量。
更新時(shí)間:2024-10-28
phasics sid4 dwir中遠(yuǎn)紅外波前傳感器/波前分析儀隨著光波波前探測(cè)技術(shù)的發(fā)展，各種波前傳感器應(yīng)運(yùn)而生。從測(cè)量原理上可以分成兩類(lèi)：一類(lèi)是根據(jù)幾何光學(xué)原理，測(cè)定波前幾何像差或面型誤差，主要有shack－h(huán)artmann 波前傳感器，曲率傳感器和pyramid 波前傳感器等；另一類(lèi)是基于干涉測(cè)量原理，探測(cè)波前不同部分的干涉性，來(lái)獲取波前信息，主要有剪切干涉儀波前傳感器和相位獲取傳感器等。
更新時(shí)間:2024-10-28
phasics sid4 uv紫外波前傳感器/波前分析儀作為低可至波長(zhǎng)250 nm的高分辨率波前傳感器，phasics sid4 uv紫外波前傳感器/波前分析儀非常適合于紫外光學(xué)測(cè)量，包括用于光刻或半導(dǎo)體應(yīng)用紫外激光表征，以及透鏡和晶圓的表面面型檢測(cè)。
更新時(shí)間:2024-10-28
phasics sid4-swir-hr高分辨率短波紅外波前傳感器將phasics的四波剪切技術(shù)與ingaas探測(cè)器結(jié)合在一起。 憑借其超高取樣分辨率（160 x 128相位取樣點(diǎn)）和高靈敏度，它提供了從900 nm到1.7μm波段的高精度波前測(cè)量。
更新時(shí)間:2024-10-28
phasics sid4-uv-hr高分辨率紫外波前傳感器/波前分析儀是測(cè)量光學(xué)元件和光束波前質(zhì)量的一種很好的替代傳統(tǒng)干涉儀的方法。作為低可至波長(zhǎng)250 nm的高分辨率波前傳感器，phasics sid4-uv-hr高分辨率紫外波前傳感器/波前分析儀非常適合于紫外光學(xué)測(cè)量，包括用于光刻或半導(dǎo)體應(yīng)用紫外激光表征，以及透鏡和晶圓的表面面型檢測(cè)。
更新時(shí)間:2024-10-28
phasics sid4-nir近紅外波前傳感器/波前分析儀是測(cè)量光學(xué)元件和光束波前質(zhì)量的一種很好的替代傳統(tǒng)干涉儀的方法。sid4-nir是一款高性?xún)r(jià)比的高分辨率波前傳感器，專(zhuān)門(mén)用于測(cè)量和對(duì)準(zhǔn)1550 nm光通信波段中使用的激光光源和透鏡。
更新時(shí)間:2024-10-28
phasics sid4-eswir短波紅外波前傳感器/波前分析儀是一種創(chuàng)新的解決方案，可用于檢測(cè)空間光通信、測(cè)試儀表、軍用夜視系統(tǒng)或監(jiān)控設(shè)備中使用的短波紅外光學(xué)系統(tǒng)。
更新時(shí)間:2024-10-28
昊量光電推出的皮米級(jí)絕對(duì)距離測(cè)量干涉儀qudis是目前市面上同類(lèi)別唯一可以測(cè)量皮米級(jí)絕對(duì)距離的干涉儀。基于其獨(dú)特的測(cè)量原理，相對(duì)距離的重復(fù)精度達(dá)到了前所未有的50皮米。絕對(duì)距離也可以達(dá)到20m。
更新時(shí)間:2024-10-28
日立高新技術(shù)科學(xué)公司于2019年3月起，在中國(guó)開(kāi)始銷(xiāo)售利用光干涉原理進(jìn)行非接觸式無(wú)損傷三維表面形態(tài)測(cè)量的納米尺度3d光學(xué)干涉測(cè)量系統(tǒng)“vs1800”，該產(chǎn)品搭配有支持多目的表面測(cè)量國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)“iso 25178*1參數(shù)對(duì)比工具”，通過(guò)簡(jiǎn)單而準(zhǔn)確的樣品測(cè)量支持客戶(hù)的分析業(yè)務(wù)，與此同時(shí)，憑借不斷創(chuàng)新積累的三維測(cè)量性能，實(shí)現(xiàn)高精度、高分辨率的表面性狀的測(cè)量。
更新時(shí)間:2024-10-25
renishaw雷尼紹xl-80激光干涉儀xl-80激光頭可以產(chǎn)生非常穩(wěn)定的激光光束，采用的波長(zhǎng)可溯源至家和際標(biāo)準(zhǔn)。特性與優(yōu)點(diǎn)· 激光穩(wěn)頻精度通過(guò)熱控制技術(shù)將激光管長(zhǎng)度變化控制在幾納米范圍內(nèi)，達(dá)到3年內(nèi)精度保持在±0.05 ppm（百萬(wàn)分之）。· 線性測(cè)量精度在整個(gè)環(huán)境范圍內(nèi)，即從0 oc - 40 oc（32 of - 104
更新時(shí)間:2024-10-18
本儀器是是種采用量塊或標(biāo)準(zhǔn)零件借以高精度的比較方式的立式精密長(zhǎng)度計(jì)量?jī)x器。主要用于150mm以下塊規(guī)，亦可用作高精密度的長(zhǎng)度和外徑的精密測(cè)量，是各級(jí)計(jì)量室的基本長(zhǎng)度計(jì)量?jī)x器之。
更新時(shí)間:2024-10-18
使用ac220v，50hz供電，內(nèi)部裝有紅色鐳射光源，波長(zhǎng)為650nm，通過(guò)外部移動(dòng)尺上的演示片演示光的干涉衍射現(xiàn)象，讓學(xué)生清晰的看到衍射和衍射圖形加深對(duì)理論的消化吸收。
更新時(shí)間:2024-10-18
邁克爾遜干涉儀主要用于高等院校物理實(shí)驗(yàn)中觀察光的干涉現(xiàn)象（等厚條紋、等傾條紋、白光彩色條紋）、測(cè)定單色光波長(zhǎng)、測(cè)定光源或?yàn)V光片相干長(zhǎng)度、配法布里—珀羅系統(tǒng)觀察多光束干涉現(xiàn)象。附加適當(dāng)裝置，還可以擴(kuò)大實(shí)驗(yàn)范圍（如測(cè)薄片厚度和折射率，空氣折射率等）。因此，它是種用途很廣的驗(yàn)證有關(guān)基礎(chǔ)理論的教學(xué)實(shí)驗(yàn)儀器。
更新時(shí)間:2024-10-18
邁克爾遜干涉儀主要用于高等院校物理實(shí)驗(yàn)中觀察光的干涉現(xiàn)象（等厚條紋、等傾條紋、白光彩色條紋）、測(cè)定單色光波長(zhǎng)、測(cè)定光源或?yàn)V光片相干長(zhǎng)度、配法布里—珀羅系統(tǒng)觀察多光束干涉現(xiàn)象。附加適當(dāng)裝置，還可以擴(kuò)大實(shí)驗(yàn)范圍（如測(cè)薄片厚度和折射率，空氣折射率等）。因此，它是種用途很廣的驗(yàn)證有關(guān)基礎(chǔ)理論的教學(xué)實(shí)驗(yàn)儀器。
更新時(shí)間:2024-10-18
dsj6000激光干涉儀具有測(cè)量精度高、測(cè)量范圍大、測(cè)量速度快、高測(cè)速下分辨率高等優(yōu)點(diǎn)，結(jié)合不同的光學(xué)鏡組，可實(shí)現(xiàn)線性測(cè)長(zhǎng)、角度、直線度、垂直度、平行度、平面度等幾何參量的高精度測(cè)量。在sj6000激光干涉儀動(dòng)態(tài)測(cè)量軟件配合下，可實(shí)現(xiàn)線性位移、角度和直線度的動(dòng)態(tài)測(cè)量與性能檢測(cè)，以及進(jìn)行位移、速度、加速度、振幅與頻率的動(dòng)態(tài)分析，如振動(dòng)分析、絲桿導(dǎo)軌的動(dòng)態(tài)特性分析、驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)的響應(yīng)特性分析等。
更新時(shí)間:2024-10-16
dynafiz是一種新型菲索型瞬態(tài)測(cè)量激光干涉儀，特殊優(yōu)化的光學(xué)設(shè)計(jì)，可以在劇烈振動(dòng)和空氣擾動(dòng)的環(huán)境下檢測(cè)？梢栽谕还饴穳幖右葡嗄Ｊ竭M(jìn)行高精度計(jì)量檢測(cè)。
更新時(shí)間:2024-09-23
verifire hd——帶有qpsi抗震技術(shù)的高分辨率激光干涉儀zygo的 verifire hd干涉儀系統(tǒng)能夠?qū)ζ矫婧颓蛎婷嫘芜M(jìn)行快速的高分辨率的測(cè)量，能夠測(cè)量單個(gè)光學(xué)元件和光學(xué)組件的透射波陣面。測(cè)量時(shí)，干涉腔的長(zhǎng)度被精確的調(diào)節(jié)的同時(shí)通過(guò)高幀速的相機(jī)采集干涉圖像，最后通過(guò)軟件對(duì)獲取到的條紋進(jìn)行計(jì)算分析給出樣件表面精細(xì)的面形信息。
更新時(shí)間:2024-09-23
zygo verifire hdx 是為計(jì)量高精度光學(xué)元件和光學(xué)系統(tǒng)而專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)的激光干涉儀．主要特點(diǎn)：低噪聲、高速、1.16千萬(wàn)像素的傳感器，96赫茲運(yùn)行；突破像素相助的優(yōu)化的光學(xué)設(shè)計(jì)，行業(yè)領(lǐng)先的空間分辨率和itf；高功率、長(zhǎng)壽命hene激光源，3年質(zhì)保；抗震采集技術(shù)滿(mǎn)足各種計(jì)量測(cè)試環(huán)境和各種復(fù)雜測(cè)試設(shè)置。
更新時(shí)間:2024-09-23
cjg10光干涉式瓦斯測(cè)定器價(jià)格實(shí)惠 cjg10光干涉式瓦斯測(cè)定器批發(fā)
更新時(shí)間:2024-09-10
產(chǎn)地;新加坡 三維激光測(cè)振儀 3d激光測(cè)振儀激光測(cè)振儀（進(jìn)口）位移分辨率高達(dá)0.008納米。測(cè)量物體振動(dòng)的速度,加速度,位移,運(yùn)動(dòng)軌跡,頻率.三維激光測(cè)振可以實(shí)現(xiàn)三軸振動(dòng)測(cè)量。多點(diǎn)激光測(cè)振可以同時(shí)實(shí)現(xiàn)16個(gè)振動(dòng)點(diǎn)振動(dòng)并可以測(cè)量物體瞬間振動(dòng)和實(shí)時(shí)的振動(dòng)模擬.
更新時(shí)間:2024-09-04
本裝置可以用散亂光光彈性的原理、測(cè)定以往無(wú)法測(cè)定的鋰鈉離子交換的化學(xué)強(qiáng)化玻璃。若表面附近有鉀離子層的話、兼容與slp散亂光應(yīng)力計(jì)的數(shù)據(jù)相合成以分析斷面的應(yīng)力分布
更新時(shí)間:2024-09-02
德國(guó)進(jìn)口雙頻激光干涉儀zlm700，用于機(jī)床的定位精度、重復(fù)定位精度、位移距離測(cè)量、速度加速度測(cè)量、線性度、直線度、垂直度、平面度、偏擺角、俯仰角、滾動(dòng)角、角速度、圓形軌跡、微振動(dòng)測(cè)量，還能夠測(cè)量數(shù)控機(jī)床回轉(zhuǎn)臺(tái)的定位精度和重復(fù)定位精度等，從而實(shí)現(xiàn)定位、校準(zhǔn)、控制和補(bǔ)償。
更新時(shí)間:2024-08-31
zlm900微測(cè)量檢測(cè)激光干涉儀由德國(guó)jenaer耶拿爾公司生產(chǎn)，為三軸外差式雙頻激光干涉儀，用于位移、俯仰角和偏擺角的三角關(guān)系測(cè)量，主要用于運(yùn)動(dòng)平臺(tái)等微位移的測(cè)量和檢測(cè)，角度變化量的監(jiān)測(cè)等。
更新時(shí)間:2024-08-31
存貨名稱(chēng)品牌規(guī)格型號(hào)電路板bautzzmp 92/70 h/v 2005728剩余電流監(jiān)測(cè)裝置benderrcma420-d-1位移檢測(cè)器twkkds581-75-0,5-a01 s/n：166805編碼器kubler8.5860.1212.1002模塊euchnerces-a-lna-sc-077715
更新時(shí)間:2024-08-28
氣源處理器sfc300結(jié)構(gòu)： 調(diào)壓過(guò)濾給油器 過(guò)濾精度： 40 調(diào)壓范圍： 0.05-0.85（mpa） 建議用油： iso vg32同用油 材質(zhì)： 壓鑄鋁 高使用壓力： 0.95（mp
更新時(shí)間:2024-08-26
kla-d-s雙向拉繩開(kāi)關(guān) 廣泛應(yīng)用于鋼鐵、水泥、電廠、礦山等具有帶式輸送機(jī)的廠礦，該產(chǎn)品安裝在膠帶輸送機(jī)兩側(cè)，是用于膠帶輸送機(jī)緊急事故停機(jī)的一種保護(hù)開(kāi)關(guān)，在開(kāi)關(guān)操作距離內(nèi)任何一點(diǎn)拉動(dòng)鋼絲繩，切斷運(yùn)行電路使全線停機(jī)，實(shí)現(xiàn)對(duì)膠帶機(jī)及人生安全的保護(hù)。
更新時(shí)間:2024-08-26
用于sentech instruments等離子系統(tǒng)的sentech sli激光干涉儀端點(diǎn)監(jiān)測(cè)器與聚焦的相干激光束一起工作。激光束穿過(guò)等離子系統(tǒng)的頂部視口，并被樣品反射。反射光照射到檢測(cè)器上并測(cè)量強(qiáng)度。
更新時(shí)間:2024-08-14
電工用硅鋼薄板俗稱(chēng)矽鋼片或硅鋼片。是一種含碳極低的硅鐵軟磁合金,一般含硅量為0.5～4.5%，經(jīng)熱、冷軋制成。一般厚度在1mm以下，故稱(chēng)薄板。加入硅可提高鐵的電阻率和大磁導(dǎo)率，降低矯頑力、鐵芯損耗（鐵損）和磁時(shí)效。主要用來(lái)制作各種變壓器、電動(dòng)機(jī)和發(fā)電機(jī)的鐵芯。
更新時(shí)間:2024-08-14
德國(guó) 米銥 micro-epsilon 干涉儀 型號(hào) ims5400-th70/mp micro-epsilon產(chǎn)品范圍包括用于測(cè)量距離和位移的傳感器、用于紅外溫度測(cè)量和顏色檢測(cè)的傳感器，以
更新時(shí)間:2024-08-11
中圖激光干涉儀通用長(zhǎng)度測(cè)量工具sj6000利用激光干涉現(xiàn)象來(lái)實(shí)現(xiàn)非接觸式測(cè)量，具有高精度、高分辨率、快速測(cè)量等優(yōu)點(diǎn)。結(jié)合不同的光學(xué)鏡組，可實(shí)現(xiàn)線性測(cè)長(zhǎng)、角度、直線度、垂直度、平行度、平面度等幾何參量的高精度測(cè)量。
更新時(shí)間:2024-07-30
sj6000中圖儀器數(shù)控機(jī)床傾斜軸激光干涉測(cè)量?jī)x非接觸式、高精度的特點(diǎn)使其適用于各種復(fù)雜的運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)，不僅僅局限于運(yùn)動(dòng)導(dǎo)軌，還可以檢測(cè)數(shù)控機(jī)床、三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)等精密運(yùn)動(dòng)設(shè)備其導(dǎo)軌的線性定位精度、重復(fù)定位精度等，以及導(dǎo)軌的俯仰角、扭擺角、直線度、垂直度等。幫助企業(yè)提高設(shè)備性能，減少維護(hù)成本和停機(jī)時(shí)間，為制造業(yè)提供了一種精密的測(cè)量檢測(cè)方式。
更新時(shí)間:2024-07-30
sj6000國(guó)產(chǎn)激光干涉儀廠家中圖儀器利用激光干涉現(xiàn)象來(lái)實(shí)現(xiàn)非接觸式測(cè)量，具有高精度、高分辨率、快速測(cè)量等優(yōu)點(diǎn)。它集光、機(jī)、電、計(jì)算機(jī)等技術(shù)于一體，產(chǎn)品采用進(jìn)口高性能氦氖激光器，其壽命可達(dá)50000小時(shí)。
更新時(shí)間:2024-07-30
中圖國(guó)產(chǎn)激光干涉儀品牌sj6000利用激光干涉現(xiàn)象來(lái)實(shí)現(xiàn)非接觸式測(cè)量，其光波波長(zhǎng)可以直接對(duì)米進(jìn)行定義，具有測(cè)量精度高、測(cè)量范圍大、測(cè)量速度快、高測(cè)速下分辨率高等優(yōu)點(diǎn)。
更新時(shí)間:2024-07-30
sj6000運(yùn)動(dòng)導(dǎo)軌精度快速激光干涉測(cè)量?jī)x以激光干涉技術(shù)為核心，分辨率可達(dá)納米。結(jié)合不同的光學(xué)鏡組，可實(shí)現(xiàn)線性測(cè)長(zhǎng)、角度、直線度、垂直度、平行度、平面度等幾何參量的高精度測(cè)量。
更新時(shí)間:2024-07-30
sj6000國(guó)產(chǎn)激光干涉儀品牌集光、機(jī)、電、計(jì)算機(jī)等技術(shù)于一體，產(chǎn)品采用進(jìn)口高性能氦氖激光器，具有測(cè)量精度高、測(cè)量范圍大、測(cè)量速度快、高測(cè)速下分辨率高等優(yōu)點(diǎn)。
更新時(shí)間:2024-07-30
單頻激光干涉儀sj6000在計(jì)量域中可作為長(zhǎng)度基準(zhǔn)以及設(shè)備校準(zhǔn)工具。廣泛應(yīng)用于數(shù)控機(jī)床、激光打標(biāo)/切割、三坐標(biāo)、影像儀、精密測(cè)量、自動(dòng)化、機(jī)器人、3d打印等域。
更新時(shí)間:2024-07-30
sj6000機(jī)床檢測(cè)高精度環(huán)境補(bǔ)償激光干涉儀集光、機(jī)、電、計(jì)算機(jī)等技術(shù)于一體，采用激光雙縱模熱穩(wěn)頻技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)高精度、抗擾力強(qiáng)、穩(wěn)定性好的激光頻率輸出；采用高速干涉信號(hào)采集、調(diào)理及細(xì)分技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)高4m/s的測(cè)量速度，以及納米級(jí)的分辨率，適用于各種復(fù)雜的運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)。
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中圖儀器激光干涉儀sj6000具有測(cè)量精度高、測(cè)量范圍大、測(cè)量速度快、高測(cè)速下分辨率高等優(yōu)點(diǎn)。它利用激光干涉現(xiàn)象來(lái)實(shí)現(xiàn)非接觸式測(cè)量，可實(shí)現(xiàn)線性測(cè)長(zhǎng)、角度、直線度、垂直度、平行度、平面度等幾何參量的高精度測(cè)量。
更新時(shí)間:2024-07-30
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