一、儀器規(guī)格參數(shù)
G5U-PH激光干涉儀是G10U-PH的高分辨率升級版,為3D屏及全面屏攝像孔檢測而定制,可以滿足更大的透過波前PV值的測量。
儀器規(guī)格參數(shù)表
硬件部分:
產(chǎn)品型號 | G5U-PH |
產(chǎn)品名稱 | 5mm正立式激光干涉儀 |
測試口徑 | Φ5mm |
輔助對準(zhǔn)口徑 | Φ30mm |
標(biāo)準(zhǔn)鏡面形精度 | λ/20 |
光源 | 進(jìn)口He-Ne激光器(632.8nm) |
光路切換 | 輔助觀察(Φ30mm大視場)與測試(Φ5mm小視場)模式電控切換 |
電源 | AC220V50HZ |
軟件部分:
軟件名稱 | 移相算法(簡稱PH) |
分析項(xiàng)目 | 透過波前PV值、平行度Tilt值等 |
測試重復(fù)性 | PV:0.01λ RMS:0.003λ |
測試允許誤差 | PV<1λ時 PV:0.05λ Tilt:0.2fr(零場調(diào)整為1根條紋) 1λ<PV<2λ時 PV:0.1λ Tilt:0.5fr(零場調(diào)整為1根條紋) 2λ<PV<3λ時 PV:0.2λ Tilt:1fr(零場調(diào)整為1根條紋) |
測試時間 | 1.5~2秒 |
產(chǎn)品型號 | S5U-PH |
產(chǎn)品名稱 | 5mm正立式激光干涉儀 |
測試口徑 | Φ5mm |
輔助對準(zhǔn)口徑 | Φ30mm |
標(biāo)準(zhǔn)鏡面形精度 | λ/20 |
光源 | 進(jìn)口半導(dǎo)體激光器(635nm) |
光路切換 | 輔助觀察(Φ30mm大視場)與測試(Φ5mm小視場)模式電控切換 |
電源 | AC220V50HZ |
軟件名稱 | 移相算法(簡稱PH) |
分析項(xiàng)目 | 透過波前PV值、平行度Tilt值等 |
測試重復(fù)性 | PV:0.01λ RMS:0.003λ |
測試允許誤差 | PV<1λ時 PV:0.05λ Tilt:0.2fr(零場調(diào)整為1根條紋) 1λ<PV<2λ時 PV:0.1λ Tilt:0.5fr(零場調(diào)整為1根條紋) |
測試時間 | 1.5~2秒 |
配置方式 | |
立式、臥式配置 平面總成,球面總成 靜態(tài)測量,相位移調(diào)制測量 | |
附件 | |
標(biāo)準(zhǔn)平面和球面參照鏡 與ZYGOTM參照鏡相容 標(biāo)準(zhǔn)衰鏡 干涉儀支撐/調(diào)整用四腳座 水平五軸調(diào)整座 | |
IntelliWave TM分析 | |
Windows XP系統(tǒng) 干涉條紋靜態(tài)與相位移調(diào)制分析 完整的分析工具,包括統(tǒng)計(jì)資料、像差 繞射分析、影像加工、以及幾何影像轉(zhuǎn)換 干涉圖轉(zhuǎn)換成光學(xué)(OPD)或表面地圖(surface map) 自動反復(fù)測量或自動化分析功能 相互連接Lab VIEW 、Research Systems IDL 、Math Work、Matlab和Microsoft Excel軟件 1 蜂谷值(PV ,Peak-to-Valley) 是取得長度上,測量高度最高點(diǎn)與最低點(diǎn)間的距離 2 均方根值(RMS,Root-Mean-Square)是取樣長度上,距離高度中心線的均方根偏差值。 3 三平面檢定方(3-Flat Test )最使用三個平面參照鏡相互檢測的測量方式。 4 重復(fù)性(Repeatability)的定義:對相同的組件進(jìn)行100次量測,而每組量數(shù)據(jù)是由20個數(shù)據(jù)平均后取得,100組測數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析,定義重復(fù)性即是一個標(biāo)準(zhǔn)差值。 | |
型號 | AK-40 Fizeau type |
激光光源 | |
波長/ 功率 | He-Ne ,632.8nm , 0.7mw |
測量光束直徑 | 15英寸(38mm) |
偏振性 | 圓偏振動(Circular Polarization) |
相干長度 | >100公尺 |
控制方式 | |
觀察調(diào)整 | 4On/off 開關(guān) |
變焦 | 旋轉(zhuǎn)度盤 |
對焦調(diào)整 | 旋轉(zhuǎn)鈕 |
光強(qiáng)調(diào)整 | 旋轉(zhuǎn)鈕 |
模式切換 | 手動切換 |
光 學(xué) 部 分 | |
變焦范圍 | 1X—6X |
對準(zhǔn)調(diào)整 | 二點(diǎn)調(diào)整 |
觀察調(diào)整角 | ±1.8度 |
預(yù)熱時間 | < 30分鐘 |
視頻規(guī)格 | |
攝像機(jī) | RS170, 640X480像素 |
顯示器 | 計(jì)算機(jī)含LCD屏幕或視頻監(jiān)視器 |
電氣部份 | |
電 源 | 110/240 Volts ,50/60Hz (50 watts) |
機(jī)械部份 | |
尺寸 | 120*120*250mm |
重量 | 6 kg |
測量性能(應(yīng)用 IntelliWAare TM軟件量結(jié)果) | |
系統(tǒng)準(zhǔn)確度(三平面檢定法)(3) | λ/100 , 峰谷值(1) |
峰谷值重復(fù)性(4)(PV Repeatability) | λ/3 00 , 峰谷值(1) |
均方值重復(fù)性能(2)(4)(RMS Repeatability) | λ/2,000 |
干涉條紋解像度(Fringe Resolution ) | 180條 |
SJ6000采用高穩(wěn)頻氦氖激光器、激光雙縱模熱穩(wěn)頻技術(shù)、高精度環(huán)境補(bǔ)償模塊、 幾何參量干涉光路設(shè)計(jì)、高精度激光干涉信號處理系統(tǒng)、高性能計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)技術(shù),實(shí)現(xiàn)各種參數(shù)的高精度測量。通過激光熱穩(wěn)頻控制技術(shù),實(shí)現(xiàn)快速(5~10 分鐘)、高精度(0.05ppm)、抗干擾能力強(qiáng)、長期穩(wěn)定性好的激光頻率輸出,采用不同的光學(xué)鏡組與激光配合,得到不同的干涉信號,然后通過高精度激光 干涉信號處理系統(tǒng)得到干涉數(shù)據(jù),將數(shù)據(jù)通過計(jì)算機(jī)進(jìn)行顯示和動態(tài)分析。
使用時,操作者先按照設(shè)計(jì)的幾何光路安裝相配合的鏡組,幾何光路是以邁克爾遜型激光干涉儀原理為基礎(chǔ)設(shè)計(jì)的,下圖是邁克爾遜干涉儀的基本原理圖:
邁克爾遜干涉儀的原理是一束入射光分為兩束后各自被對應(yīng)的平面鏡反射回來,這兩束光從而能 夠發(fā)生干涉。干涉中兩束光的不同光程可以通過調(diào)整干涉臂長度以及改變介質(zhì)的折射率來實(shí)現(xiàn),從而形成不同的干涉圖樣。干涉條紋是等光程差點(diǎn)的軌跡,因此,要 分析某種干涉產(chǎn)生的圖樣,必求出相干光的光程差位置分布函數(shù)。
搭建好幾何光路后,在檢定軟件上設(shè)定測量的開始、結(jié)束位置,點(diǎn)擊“開始”按鈕,軟件界面會實(shí)時顯示測量所得動態(tài)數(shù)據(jù);掃描結(jié)束后,操作者可通過對測量所得 數(shù)據(jù)曲線進(jìn)行分析,得到如長度、角度、直線度、垂直度、平面度等參數(shù)。并根據(jù)系統(tǒng)內(nèi)置的檢測標(biāo)準(zhǔn)對被測件的各項(xiàng)參數(shù)進(jìn)行合格判定,檢測結(jié)束后自動生成檢定 結(jié)果。
二、特點(diǎn)優(yōu)勢 三、技術(shù)參數(shù)1 | 線性測長距離 | 40m |
2 | 線性測長精度 | ±(0.02+0.5L)um |
3 | 激光穩(wěn)頻精度 | 0.05ppm |
4 | 分辨率 | 0.001um |
5 | *大測量速度 | 4.0m/S |
6 | 動態(tài)采集頻率 | 50KHZ |
7 | 預(yù)熱時間 | 5~10分鐘 |
8 | 環(huán)境補(bǔ)償精度 | 空氣壓力:±1.0mBar, 空氣濕度:±6%, 材料溫度:±0.1℃ |
9 | 基本重量(含三腳架,包裝) | 15Kg |
He-Ne激光器的穩(wěn)頻。線偏振光、圓偏振光、晶體雙折射,1/4波片、1/2波片。偏振光的分解與合成。邁克爾遜干涉儀,壓電效應(yīng),偏振分光棱鏡,角錐棱鏡。圓偏振光干涉,干涉信號的拾取與處理。微小位移的精密測量。
擴(kuò)展內(nèi)容:
配套軟件,可以實(shí)時快捷的對測量結(jié)果進(jìn)行數(shù)據(jù)處理。步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動的電動位移臺可以模擬大位移量測量、二次開發(fā)專用附件可以實(shí)現(xiàn)直線性、平面度、角度、垂直度等幾何量的測量。
產(chǎn)品簡介 |
隨著精密機(jī)械零件的要求在繼續(xù)增加,Agilent 5529A動態(tài)校準(zhǔn)系統(tǒng)能幫助機(jī)床用戶獲得成功。Agilent 5529A為機(jī)床制造商和用戶提供測量機(jī)床定位和精度的基本部件;用經(jīng)補(bǔ)償?shù)臄?shù)據(jù)校準(zhǔn)機(jī)床的定位誤差;診斷幾何形狀問題;以及符合7種國際標(biāo)準(zhǔn)的機(jī)床性能文檔。 您可用Agilent 5529A選擇全套校準(zhǔn)部件,包括激光源、校準(zhǔn)器和材料補(bǔ)償板、材料和空氣傳感器、光纖套件、電纜和附件。您也可選擇3種預(yù)配置系統(tǒng)(不包括光纖)。 Agilent 5529B基本系統(tǒng):包括激光源、校準(zhǔn)器和材料補(bǔ)償板、材料和空氣傳感器、電纜和附件。 Agilent 5529V Vectra系統(tǒng):包括校準(zhǔn)器和材料補(bǔ)償板、HP Vectra PC和super VGA顯示。 Agilent 5529U升級系統(tǒng):包括校準(zhǔn)器和材料補(bǔ)償板、適配器電纜,您能從Agilent 5528A升級到Agilent 5529A。 |
特性: |
l 專利Agilent激光管設(shè)計(jì),性MTBF大于 50,000 小時 l 用戶友好的Windows軟件 l 文檔使用8種語言:英語、法語、德語、意大利語、日語、西班牙語,以及簡體和繁體漢語 l 符合7種國際標(biāo)準(zhǔn): NMTBA, BDI/DGQ 3441, ANSI B5.54, BSI 3800, ESO 230-2, JIS, 和 GB 10931-89 l 在線幫助 如果需要詳細(xì)的資料請發(fā)Email:xie_feng79@163.com |
產(chǎn)品功能 定位精度、重復(fù)定位精度、位移距離測量、速度加速度測量、線性度、直線度、垂直度、平面度、偏擺角、俯仰角、滾動角、角速度、圓形軌跡、微振動測量,還能夠測量數(shù)控機(jī)床回轉(zhuǎn)臺的定位精度和重復(fù)定位精度等,從而實(shí)現(xiàn)定位、校準(zhǔn)、控制和補(bǔ)償。ZLM700主要用于單軸系統(tǒng)的校準(zhǔn)和測量,廣泛應(yīng)用于高速動態(tài)加工工藝中的機(jī)械定位和系統(tǒng)控制。性能優(yōu)勢
技術(shù)參數(shù)
型號:ZLM700 | 使用高性能數(shù)據(jù)處理器AE950 PCI |
He-Ne激光平均波長: | 632.8 nm |
激光穩(wěn)頻精度: | 一小時2x10-9(±0.002ppm) 壽命內(nèi)2x10-8(±0.02ppm) |
系統(tǒng)精度(0-40℃時): | ±0.4ppm |
光束直徑: | 6mm (可選3.2mm) |
激光管突發(fā)最大輸出功率: | 1mW (激光等級2) |
每束光可測量的軸數(shù): | 1 |
線性測量距離: | 40m,可擴(kuò)展為120m |
角度測量范圍: | ± 15°,20m軸線范圍 |
平面度測量范圍: | 20m行程 |
直線度測量范圍: | ± 5mm,2m或10m行程, 選用角度干涉儀可測30m行程 |
垂直度測量范圍: | ± 5mm,2m或10m行程, 30m行程需用角度干涉儀 |
最大速度: | 4m/s,可選16m/s 80rad/s,角速度 |
最大加速: | 無限制 |
采樣頻率: | 內(nèi)部1MHz,外部40MHz |
預(yù)熱時間: | 10分鐘 |
精度/非線性: | ±0.3nm (角隅反射鏡) ±0.1nm (平面反射鏡) |
距離測量分辨率: | 0.6nm (角隅反射鏡) 0.3nm (平面反射鏡) 0.1nm 可選 |
距離測量精度: (20°±0.5°) 使用AUK時 (20°±0.5°) 真空中時 | ±0.4ppm (μ/m) ±0.08 (±0.02)ppm (μ/m) |
線性度測量分辨率: | 0.6nm (角隅反射鏡) 0.3nm (平面反射鏡) 0.1nm 可選 |
線性度測量精度: (20°±0.5°) 使用AUK時 (20°±0.5°) 真空中時 | ±0.4ppm (μ/m) ±0.08 (±0.02)ppm (μ/m) |
速度測量精度: | ±0.5ppm實(shí)測值 |
角度測量分辨率: | 0.015μrad (3x10-3 弧秒) |
角度測量精度: | ±0.1ppm實(shí)測值 |
平面度測量分辨率: | 0.015μrad (3x10-3 弧秒) |
平面度測量精度: | ±0.2%實(shí)測值 ±0.05 弧度/米運(yùn)行距離 |
直線度測量分辨率: | 36nm,10m行程 7.25nm,2m行程 |
直線度測量精度: | ±0.5%實(shí)測值,2m行程 ± 2.5%實(shí)測值,10m行程 |
垂直度測量分辨率: | 36nm,10m行程 7.25nm,2m行程 |
垂直度測量精度: | ±0.5%實(shí)測值2m,± 0.5弧秒* ±2.5%實(shí)測值10m,± 0.5弧秒* |
數(shù)據(jù)接口: | 積分信號 32 Bit (實(shí)時時間) Dt » 20 ns |
數(shù)據(jù)分析標(biāo)準(zhǔn): | ISO230/VDI3441/VDI2617/NMTBA |
工作環(huán)境: | 溫度:15°C-30°C 濕度:<90%無冷凝 |
儲存環(huán)境: | 溫度:10°C-40°C 濕度:<95%無冷凝 |
應(yīng)用光路圖
以上為直線度測量示意圖,包括水平方向直線度和垂直方向直線度
以上是平面度測量示意圖
以上是垂直度測量示意圖
以上是位移、線性度、速度、加速度、定位精度測量示意圖
以上是對角測量示意圖
以上是俯仰角測量示意圖
以上是偏擺角測量示意圖
以上是滾動角測量示意圖
以上是回轉(zhuǎn)臺定位精度測量示意圖
資料下載耶拿爾雙頻激光干涉儀樣本(中文).pdf激光干涉儀說明書(中文).pdf