GAMRY Reference 600+技術(shù)優(yōu)勢:
(1) 電流分辨率高,20 aA,有實驗數(shù)據(jù)證實。低電流到pA。
(2) 儀器的背景電流小,<2 μV rms。
(3) 儀器的高阻抗測試/低阻抗測試性能好,100TOHM, 0.1 mOHM 等。
(4) 軟件友好,容易學(xué)習(xí),和功能全;可以擴(kuò)展任何需要的電化學(xué)測量。
(5) 再加一臺儀器,可以和SECM, IMPS/IMVS 等兼容。
(6) 和RAMNAN, UV, TEM, EQCM, RDE 等聯(lián)用。
(7) 浮地設(shè)計,可以和高壓釜合用。
(8) 有溫度測試模塊。
(9) 軟件自動編程,進(jìn)行電化學(xué)測量。
(10) EIS阻抗頻率范圍:10μHz到5 MHz
Reference 600+是典型的科學(xué)研究級電化學(xué)分析儀器,它使用USB接口,可以直接與便攜式計算機(jī)和臺式計算機(jī)連接,支持功能強(qiáng)大的Gamry應(yīng)用軟件包,例如DC105™直流腐蝕軟件包,PHE200™物理電化學(xué)軟件包,EIS300™電化學(xué)阻抗譜軟件包等,幾乎涵蓋所有電化學(xué)分析方法。
Reference 600+電化學(xué)綜合測試儀的輸出電流范圍從±600 mA至±60 pA,擁有11檔電流范圍和檔位快速補(bǔ)償能力。Reference 600+的輸出電壓為±22V,恒電位掃描電壓為±11V。進(jìn)行CV實驗時,最快的掃描速率能達(dá)到1200V/s。這些特點(diǎn)了Reference 600+能夠適應(yīng)高腐蝕速率及具有良好導(dǎo)電能力溶液的電化學(xué)體系。
Reference 600+的直接信號綜合電路允許EIS頻率掃描范圍從10μHz到5 MHz,在1MHz情況下進(jìn)行EIS測量時的誤差小于2%,是真正意義上的高頻電化學(xué)交流阻抗測試系統(tǒng)。強(qiáng)大的電壓和電流信號過濾系統(tǒng)能在嘈雜的環(huán)境中得到穩(wěn)定安靜的測試環(huán)境。的穩(wěn)定性即使電腦運(yùn)行其他程序時也可正常工作。Reference 600+提供了的結(jié)合能力,具有電流中斷和陽極反饋IR補(bǔ)償能力。
Reference 600+ 的電化學(xué)軟件
Gamry為Reference600設(shè)計了一套完備的電化學(xué)應(yīng)用軟件程序。電化學(xué)試驗在Gamry FrameworkTM上進(jìn)行,其數(shù)據(jù)在電化學(xué)分析軟件Echem AnalysTM中進(jìn)行處理。
PWR800電化學(xué)能源軟件包
PWR800軟件包為測試和表征能源存儲和轉(zhuǎn)化期間以及材料領(lǐng)域提供了標(biāo)準(zhǔn)測試技術(shù)。我們將大功率循環(huán)伏安,充電,放電,循環(huán)充放電,以及其他常用大電流測試組合起來。當(dāng)然,您同樣也可以采用Gamry序列測試將所需要的特殊測試按順序組合起來。
EIS電化學(xué)阻抗譜
EIS對各種各樣的應(yīng)用來說是一個功能強(qiáng)大的工具,對PWR800軟件極好的補(bǔ)充。Gamry開發(fā)的EIS軟件—易于使用、程序簡潔。它提供了許多不同EIS測試技術(shù),包括恒電位、恒電流、混合控制模式。 可使用單一正弦波測量,也可利用多重正弦波進(jìn)行快速EIS的測量。
同樣來自于Gamry’s擴(kuò)展軟件包
PHE200 物理電化學(xué)—一般電化學(xué)研究軟件包。
PV220 脈沖伏安—標(biāo)準(zhǔn)和可定制的脈沖實驗。
DC105 直流腐蝕—腐蝕測試過程中遇到的素有標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)。
ESA410 電化學(xué)信號分析—電化學(xué)噪聲信號的獲取和分析。
EN120 電化學(xué)噪聲—簡單的噪聲軟件。
EFM140 EFM—模擬Tafel常數(shù)和腐蝕速率。
CPT110 臨界點(diǎn)蝕溫度—ASTM標(biāo)準(zhǔn)化測試。
VFP600 可視前面板—基礎(chǔ)電化學(xué)控制,成本低廉。
RST5200電化學(xué)工作站主要技術(shù)指標(biāo)
電位控制范圍:±12.8V 最大輸出電流:>±2A 電流控制范圍:±500mA 輸入偏置電流:<20pA 槽壓:±15V 掃描速率:0.001mV/S-- 20,000V/S 電位上升時間﹤0.25微秒 切換速率(無負(fù)載):>20V/mS
靈敏度1╳10-14A 偏置電壓:<10V 電流測量分辨率﹤0.01pA 輸入阻抗:>1013W//<10pF 最大電位分辨率:0.001mV 脈沖電流:±1A 設(shè)置脈沖電流數(shù):8個 運(yùn)行時間:0--100,000s 頻率響應(yīng):0.00001 Hz~125kHz 正弦波失真:<1% 測量范圍:分25擋,從0.5A 到5nA 最大電流分辨率:15fA
通訊接口:RS232與USB互換 取樣間隔:0.0001mV--500mV
量程:5nA--500mA 25檔 電位增量:0.1mV--500mV
循環(huán)次數(shù):10000次 脈沖重復(fù)次數(shù):65000次
RST5200系列電化學(xué)工作站硬件區(qū)別表 型 號 5100 5101 5102 5200 5201 5202 交流頻率: 5mHz-20KHz 5mHz-20KHz 5mHz-20KHz 5mHz-125KHz 5mHz-125KHz 5mHz-125KHz 電流范圍: ± 500mA ±1000mA ±2000mA ±500mA ±1000 mA ±2000 mA 報 價: 57800 60800 63800 60800 63800 66800
RST5200電化學(xué)工作站主要測量技術(shù)
線性掃描伏安法 (LSV) 恒電位電解電流-時間曲線(I-T)
循環(huán)伏安法 (CV) 恒電位電解電量-時間曲線(Q-T)
線性掃描溶出伏安法 (LSV) 恒電位溶出電流-時間曲線(I-T)
階梯伏安法 (SCV) 恒電位溶出電量-時間曲線(Q-T)
階梯循環(huán)伏安法(SCV) 單電位階躍計時電流法(I-T)
階梯溶出伏安法 (SCV) 多電位階躍計時電流法(I-T)
方波伏安法 (SWV) 單電位階躍計時電量法(Q-T)
方波循環(huán)伏安法 (SWV) 多電位階躍計時電量法(Q-T)
方波溶出伏安法 (SWV) 電位溶出E-T曲線
常規(guī)脈沖伏安法 (NPV 開路電勢E-T曲線
差示脈沖伏安法 (DPV) 單電流階躍計時電位法
差示脈沖溶出伏安法 (DPV) 多電流階躍計時電位法
差示常規(guī)脈沖伏安法 (DNPV) 控制電流E-T曲線
塔菲爾圖 (TAFEL) 脈沖電鍍E-T曲線
交流溶出伏安法 交流伏安法
交流阻抗方法 交流循環(huán)伏安法
電池檢測充電方法 電池檢測放電方法
RST5200系列電化學(xué)工作站配置單
名稱 數(shù)量 單價 (元/RMB)
工作站主機(jī) 1臺 60800
攪拌連接器 1臺 隨機(jī)配置
軟件光盤 1張 隨機(jī)配置
電極架 1個 隨機(jī)配置
金元盤工作電極 1支 隨機(jī)配置
雙鉑工作輔助電極 1支 隨機(jī)配置
甘汞參比電極 1支 隨即配置
使用說明書 1本 隨即配置
電源線 2條 隨即配置
電極線 1條 隨即配置
信號線 1條 隨即配置
模擬電解池 1個 隨即配置
測試藥品 1份 隨即配置
我公司生產(chǎn)有各種工作電極 輔助電極、參比電極、電極架、電解池供電化學(xué)使用人員選購。
售后服務(wù):
1. 儀器售出后供方按合同要求按時到使用單位安裝、調(diào)試。
2. 儀器在兩年內(nèi)正常使用,使用中如果發(fā)生問題,生產(chǎn)方接到通知后立即做出反應(yīng),屬于使
用問題:供方在電話或微機(jī)中遠(yuǎn)程支持解決問題;屬于儀器內(nèi)在質(zhì)量問題,生產(chǎn)方在24小時
內(nèi)帶儀器奔赴現(xiàn)場檢查、維修、或更新,產(chǎn)生的一切費(fèi)用有供方負(fù)責(zé)。
3. 人為損壞修復(fù)時產(chǎn)生的費(fèi)用由使用方自理。
4. 本公司儀器售出后全部實行終身維修。
鄭州世瑞思電化學(xué)儀器科技有限公司
聯(lián)系人:張丙午 聯(lián)系電話:0371-64124799
手 機(jī):13608675847 Email:zbw1952@163.com
德國ZAHNER Zennium 電化學(xué)工作站。主機(jī)包括恒電位儀/恒電流儀和頻率發(fā)生器及分析儀。硬件結(jié)構(gòu)上為一體化設(shè)計,支持高頻率高輸入阻抗測試,具有強(qiáng)大的擴(kuò)展能力。軟件控制界面友好,功能強(qiáng)大,能滿足絕大多數(shù)電化學(xué)研究需要。主要應(yīng)用于化學(xué)與物理電源、功能材料、腐蝕與防護(hù)、電化學(xué)沉積、電化學(xué)分析及教學(xué)。
系統(tǒng)功能擴(kuò)展:
大電流應(yīng)用選件
EIS交流阻抗測試/SIM 模擬等效電路軟件
交流掃描電化學(xué)顯微鏡系統(tǒng)(ac-SECM)
間歇接觸掃描電化學(xué)顯微鏡系統(tǒng)(ic-SECM)
微區(qū)電化學(xué)阻抗測試系統(tǒng)(LEIS)
掃描振動點(diǎn)擊測試系統(tǒng)(SVET)
電解液微滴掃描系統(tǒng)(SDS)
交流電解液微滴掃描系統(tǒng)(ac-SDS)
掃描開爾文探針測試系統(tǒng)(SKP)
非觸式微區(qū)形貌測試系統(tǒng)(OSP)
出色的性能
快速精準(zhǔn)的閉環(huán)定位系統(tǒng)為電化學(xué)掃描探針納米級研究的需求而特別設(shè)計。結(jié)合Uniscan 獨(dú)特的混合型32-bit DAC技術(shù),用戶可以選擇合適實驗研究的最佳配置
先進(jìn)和靈活的工作平臺
系統(tǒng)可提供9種探針技術(shù),使得M470成為全球最靈活的電化學(xué)掃描灘鎮(zhèn)工作平臺。
全面的附件
7種模塊可選,3種不同電解池,各式探針,長距顯微鏡以及后處理數(shù)據(jù)分析軟件。
M470新產(chǎn)品特征
SECM自動處理曲線
SECM用戶自定義處理曲線步長變化
高分辨率讀取
手動或自動調(diào)節(jié)相位
M470同時具備如下特點(diǎn):
傾斜校正
X或Y曲線相減(5階多項式)
2D或3D快速傅里葉變化
實驗,探針移動和區(qū)域繪圖的自動排序
圖形實驗測序引擎(GESE)
支持多區(qū)域掃描
所有實驗多個數(shù)據(jù)視圖
峰值分析
是由
M470技術(shù)參數(shù)
工作站(所有技術(shù))
掃描范圍(x,y,z) 大于100nm
掃描驅(qū)動分辨率 最高0.1nm
閉環(huán)定位 線性零滯后編碼器,直接實時讀出x,z和y位移
軸分辨率(x,y,z) 20nm
最大掃描速度 12.5mm/s
測量分辨率 32-bit解碼器@高達(dá)40MHz
壓電(ic-和ac-掃描探針技術(shù))
振動范圍 20nm~ 2μm峰與峰之間1nm增量
最小振動分辨率 0.12nm(16-bit DAC,4μm)
壓電晶體伸展 100μm
定位分辨率 0.09nm(20-bit DAC ,100μm)
機(jī)電
掃描前端 500×420×675mm(H×W×D)
掃描控制單元 275×450×400mm(H×W×D)
功率 250W
電化學(xué)工作站ZIVE SP1是一款性能的恒電位儀/恒電流儀/FRA,功能強(qiáng)大并且價格合理,是各種電化學(xué)應(yīng)用中進(jìn)行直流和阻抗表征的選擇。
應(yīng)用領(lǐng)域• 腐蝕• 材料測試• 傳感器• 生物電化學(xué)• 電池• 燃料電池• 超級電容器• 太陽能電池• 其它電化學(xué)實驗
產(chǎn)品特點(diǎn)• 經(jīng)濟(jì)型高品質(zhì)恒電位儀/恒電流儀/阻抗分析儀• 體積小巧功能齊全• ±10V@1Amp控制范圍• 寬電流量程(1A~1nA)適應(yīng)多種應(yīng)用領(lǐng)域• 內(nèi)置式FRA:使用可選的軟件包能夠進(jìn)行EIS測試• 12種EIS測試技術(shù)(選配)包括多正弦波模式• 適合多種應(yīng)用領(lǐng)域:腐蝕、普通電化學(xué)、傳感器、電池、燃料電池、超級電容器、太陽能電池,等• 雙極性脈沖功能• 電池測試軟件包和脈沖電鍍中提供電壓脈沖或電流脈沖充放電測試(GSM,CDMA等),正弦波功能用于小波模擬• 高速數(shù)據(jù)采集: - 突發(fā)模式(50μs/采樣點(diǎn)) - 常規(guī)模式(1ms/采樣點(diǎn))• 3檔測量/控制電壓量程 & 10檔測量/控制電流量程• 即便PC計算機(jī)崩潰,系統(tǒng)內(nèi)部也有350k組數(shù)據(jù)點(diǎn)的存儲并繼續(xù)運(yùn)行實驗• 可選配軟件包 - EIS測試軟件包 - 電池測試軟件包 - 電化學(xué)分析軟件包 - 腐蝕測試軟件包• 可配置為多通道• 免費(fèi)軟件升級
系統(tǒng)標(biāo)配:• Smart Manager電化學(xué)工作站軟件• ZMAN電化學(xué)阻抗數(shù)據(jù)分析軟件• IVMAN電化學(xué)直流數(shù)據(jù)分析軟件
實驗技術(shù)▶ 標(biāo)配基本測試技術(shù) • 靜態(tài)技術(shù) - 恒電位法 - 恒電流法 - 開路電壓測量 • 動態(tài)技術(shù) - 電位掃描 - 電流掃描 - 循環(huán)伏安法
▶ 選配軟件技術(shù)① EIS軟件包(EIS) • 靜態(tài)頻率掃描 - 恒電位EIS - 恒電流EIS - 開路電位EIS* - 偽恒電流EIS • 動態(tài)頻率掃描 - 動態(tài)電位PEIS - 動態(tài)電流GEIS • 固定頻率 - 恒電位HFR - 恒電流HFR - 動態(tài)電位HFR - 動態(tài)電流HFR - 多正弦波恒電位EIS - 多正弦波恒電流EIS(*) 在每次頻率變化前系統(tǒng)都會測量開路電位,然后施加交流正弦波到該開路電位上。
② 腐蝕測試軟件包(COR) - 塔菲爾實驗(Tafel) - 極化電阻(Rp) - 動態(tài)電位(PDYN) - 動態(tài)電流(GDYN) - 循環(huán)極化電阻(CYPOL) - 腐蝕電位vs.時間 - 電偶腐蝕 - 極化電阻-腐蝕電位趨勢(RpEc) - 再活化電位 - 恒電位電化學(xué)噪聲 - 恒電流電化學(xué)噪聲 - ZRA模式電化學(xué)噪聲
③ 電池測試軟件包(BAT) a) 電池測試技術(shù) - CC/CV測試用于鋰電池充電/放電循環(huán)壽命測試 - CC/CC測試用于NiCd或NiMH等電池充電/放電循環(huán)壽命測試 - 放電測試 - 電化學(xué)電壓譜(EVS) - 可變掃描速率循環(huán)伏安 - 恒電位IV曲線 - 恒電流IV曲線 - 穩(wěn)態(tài)循環(huán)伏安 b) 控制模式 - 充電:CC、CC-CV、脈沖、正弦波 - 放電:CC、CP、CR、脈沖、正弦波 c) 截止條件 - 時間、電壓、電流、功率、輔助電壓等
④ 電化學(xué)分析軟件包(EAS) a) 階躍技術(shù) - 計時安培法(CA) - 計時電位法(CP) - 計時庫倫法(CC) b) 脈沖技術(shù) - 常規(guī)脈沖伏安法(NPV) - 差分脈沖伏安法(DPV) - 差分脈沖安培法(DPA) - 反轉(zhuǎn)常規(guī)脈沖伏安法(RNPV) - 差分常規(guī)脈沖伏安法(DNPV) - 方波伏安法(SWV) c) 掃描技術(shù) - 線性掃描伏安法(LSV) - 取樣直流伏安法(SDV)
免費(fèi)提供每種軟件包的升級。▶ Smart Manager電化學(xué)工作站軟件可選配軟件包: • EIS軟件包(EIS):靜態(tài)EIS、動態(tài)EIS、固定頻率阻抗、多正弦EIS,等 • 電池測試軟件包(BAT):CC/CC測試、放電測試、EVS測試、可變掃描速率CV,等 • 電化學(xué)分析軟件包(EAS):階躍技術(shù)、掃描技術(shù)、脈沖技術(shù),等 • 腐蝕測量軟件包(COR):Tafel實驗、極化電阻、電偶腐蝕,等參數(shù)規(guī)格
功率放大器(對電極) | |||||
功率 | 12Watt (12V@1A) | ||||
槽壓 | ±12V | ||||
最大電流 | ±1A | ||||
控制速度選項 | 4檔 | ||||
帶寬 | 2MHz | ||||
上升時間 | 10V/μsec | ||||
恒電位儀模式(電壓控制) | |||||
- 電壓控制 | |||||
控制電壓范圍 | ±10V,±1V,±100mV | ||||
電壓分辨率 | 16位,每個量程 | ||||
電壓精度 | ±1mV±0.02% 設(shè)置 | ||||
最大掃描范圍 | ±10V vs. 參比電極 | ||||
- 電流測量 | |||||
電流量程 | 10檔(自動/手動設(shè)置);1nA~1A(其中1nA和10nA量程帶增益) | ||||
電流分辨率 | 16位;30μA, 3μA, 300nA, 30nA, 3nA, 300pA, 30pA, 3pA, 300fA,30fA | ||||
電流精度 | ±10pA±0.3%量程 | ||||
恒電流儀模式(電流控制) | |||||
- 電流控制 | |||||
控制電流范圍 | 最大±1A;±滿量程取決于選擇的范圍 | ||||
電流分辨率 | 16位;30μA, 3μA, 300nA, 30nA, 3nA, 300pA, 30pA, 3pA, 300fA,30fA | ||||
電流精度 | ±10pA±0.3%量程 | ||||
- 電壓測量 | |||||
電壓量程 | 10V,1V,100mV | ||||
電壓分辨率 | 16位;0.3mV,30μV,3μV | ||||
電壓精度 | ±1mV±0.02% 讀數(shù) | ||||
靜電計 | |||||
最大輸入電壓 | ±10V | ||||
輸入阻抗 | 2×1013Ω||4.5pF | ||||
帶寬 | >22MHz | ||||
通道串?dāng)_CMRR | >100dB | ||||
系統(tǒng)的電化學(xué)交流阻抗譜EIS(內(nèi)置FRA) | |||||
頻率范圍 | 10μHz~1MHz | ||||
頻率精度 | 0.01% | ||||
頻率分辨率 | 5000/十刻度 | ||||
幅度 | 0.1mV~5V rms (恒電位模式);0.1~70%滿量程(恒電流模式) | ||||
模式 | 靜態(tài)EIS:恒電位,恒電流,偽恒電流,開路電位 動態(tài)EIS:動態(tài)電位,動態(tài)電流 固定頻率阻抗:恒電位,恒電流,動態(tài)電位,動態(tài)電流 多正弦EIS:恒電位,恒電流 | ||||
主系統(tǒng) | |||||
PC計算機(jī)通訊 | USB2.0高速 | ||||
電源電壓 | 100~240VAC, 50/60Hz, 1Amp | ||||
電源適配器 | 24V@2A | ||||
尺寸/重量 | 160×330×81mm(W*D*H) / 2.05kg | ||||
最大輸出功率 | 15Watt | ||||
軟件 | |||||
每個實驗最多步驟 | 1000 | ||||
關(guān)機(jī)安全限制 | 電壓、電流等 | ||||
最大采樣速率 | 20kHz(50μsec)-突發(fā)模式 | ||||
最大采樣時間 | 無限制 | ||||
采樣條件 | 時間,dv/dt,dI/dt等 | ||||
系統(tǒng)界面 | |||||
輔助端口 | |||||
同步端口 | 用于多通道同步控制 | ||||
零電阻電流計ZRA | 100nA~1A范圍 | ||||
系統(tǒng) | |||||
電解池線纜 | 1m屏蔽型(標(biāo)配):工作電極,參比電極,對電極,感應(yīng)電極 | ||||
控制 | 帶FPGA的DSP | ||||
校準(zhǔn) | 自動 | ||||
數(shù)據(jù)采集 模數(shù)轉(zhuǎn)換ADC | 2×16位ADC(500kHz)用于電壓、電流 1×16位ADC(250kHz)用于輔助讀數(shù) | ||||
數(shù)模轉(zhuǎn)換DAC | 2×16位DAC(50MHz)用于偏置和掃描 1×16位DAC(1MHz)用于模擬輸出 | ||||
濾波器 | 4檔 (5Hz,1kHz,200kHz, 10MHz) | ||||
掃描速率 | 0~200V/sec | ||||
最大通道數(shù) | 8通道,通過USB連接 | ||||
數(shù)據(jù)內(nèi)存 | 350k組數(shù)據(jù)點(diǎn) | ||||
LCD顯示 | DC & EIS模式自動切換 | ||||
PC計算機(jī)要求 | |||||
操作系統(tǒng) | Windows2000及以上 | ||||
PC配置 | Pentium4,RAM 1GB | ||||
顯示 | 1600x900 高彩色 | ||||
USB | 高速 2.0 | ||||
概要 | |||||
模擬電解池 | 配備一個外部模擬電解池 |
以上技術(shù)規(guī)格如有更改,恕不另行通知
SP-150研究級電化學(xué)工作站具有EC-Lab?和EC-Lab? Express兩個專業(yè)的數(shù)據(jù)處理軟件,高達(dá)45項實驗技術(shù)和一系列的分析工具,其中包括有Levenberg-Marcquardt算法和Simplex algorithms算法的EIS模型。
SP-150研究級電化學(xué)工作站采用以太網(wǎng)和USB連接技術(shù)與電腦進(jìn)行連接,以太網(wǎng)連接支持用戶利用局域網(wǎng)內(nèi)授權(quán)的計算機(jī)遠(yuǎn)程控制SP-150進(jìn)行各種測試實驗。
SP-150研究級電化學(xué)工作站技術(shù)參數(shù):■電流范圍:10μA-800mA(760pA分辨率)(采用1nA擴(kuò)展模塊,76fA分辨率)
■參比電壓:±10V
■分辨率:300μV(動態(tài)調(diào)節(jié)至5μV)
■數(shù)據(jù)采集速率:200,000點(diǎn)/S