CMI900CMI900（X射線鍍層測(cè)厚儀）
CMI900（X射線鍍層測(cè)厚儀）
X射X射線鍍層測(cè)厚儀
maXXi 4X射線鍍層測(cè)厚儀
名稱： X-RAY熒光測(cè)厚儀 型號(hào)： ECO (普通型）和ComPact5(經(jīng)濟(jì)型) 廠家： 德國(guó)Roentgenanalytik公司 特點(diǎn)： 無(wú)損單、雙、三層鍍層的厚度測(cè)量 容易對(duì)焦鍍層厚度和成分同時(shí)分析 /合金定量分析 十字叉絲帶點(diǎn)狀試樣指示器 鍍液定量分析 用能X射線轉(zhuǎn)換器使測(cè)量時(shí)間縮短 現(xiàn)代化技術(shù)領(lǐng)先的軟件 安全性高，使用壽命長(zhǎng) 用外部打印格式和數(shù)據(jù)儲(chǔ)存進(jìn)行精密統(tǒng)計(jì)計(jì)算 多層鍍層系統(tǒng)的厚度和成分分析 軟件 μ-MasteR 厚度測(cè)量值的評(píng)估軟件 Fun-MasteR 非標(biāo)基本元素校準(zhǔn)軟件 Element-MasteR 快速、簡(jiǎn)便的定性分析軟件 %-MasteR 可達(dá)8種元素的量化軟件 LiQuiD-MasteR 電鍍液分析軟件 Data-MasteR 數(shù)據(jù)處理軟件 Report-MasteR 客戶化的報(bào)告軟件 技術(shù)數(shù)據(jù) 電源： 110伏或230伏 60赫茲或50赫茲 樣件臺(tái)： 100mm（長(zhǎng))×85mm（高）×60mm（深） 儀器尺寸： 450mm（長(zhǎng))×400mm（高）×650mm（深） 式樣室： 60mm(長(zhǎng)）×350mm（高）×380mm（深） X-射線管: 帶鎢陽(yáng)極的高功率管(空冷) X-射線源: 40千伏，電流1毫安 輻射安全: 配合測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)AnlageII，Abs.3 經(jīng)PTB試驗(yàn)
13923457025 許先生
供應(yīng)德國(guó)宏德牌Rontgenfluoreszenz X射線鍍層測(cè)厚儀及元素分析儀
我司專業(yè)從事各類膜厚測(cè)試儀的銷售，擁有十?dāng)?shù)年行業(yè)經(jīng)驗(yàn)，為廣大客戶提供高質(zhì)低價(jià)的檢測(cè)設(shè)備。
主要經(jīng)營(yíng)產(chǎn)品：
＊ 德國(guó)宏德牌Rontgenfluoreszenz X射線鍍層測(cè)厚儀及元素分析儀（總代理）無(wú)論是很大的汽車部件、衛(wèi)浴器具，還是很小的半導(dǎo)體支架，接插端子，金銀首飾，五金工件，我們都一一有理想的儀器去進(jìn)行測(cè)量，適合塑膠電鍍，五金電鍍，首飾電鍍，化學(xué)電鍍等各類電鍍層，真正做到無(wú)需標(biāo)準(zhǔn)片亦能完成測(cè)量，絕對(duì)是節(jié)省成本的好幫手。（特價(jià)18萬(wàn)/臺(tái)，期3個(gè)月，產(chǎn)品進(jìn)口）
＊ 金相顯微鏡及測(cè)量軟件套裝（自己開發(fā)）絕對(duì)超值，適合各類電鍍層，膜層及材料分析，可拍照，存檔，發(fā)Email,添加附注，打印圖片等等。
＊ 金相切片系列制作設(shè)備及各類耗材經(jīng)濟(jì)實(shí)用，配套完善
＊世界名廠二手X射線鍍層測(cè)厚儀，適合五金電鍍首飾電鍍，化學(xué)電鍍等（現(xiàn)貨供應(yīng)）
本司所售產(chǎn)品，均由本司實(shí)行終身維護(hù)保養(yǎng)，熱誠(chéng)歡迎各方有識(shí)人士合作代理。更多詳情敬請(qǐng)光臨公司網(wǎng)站：http://www.leader-hk.com.hk
手提式X射線鍍層測(cè)厚儀美國(guó)MATRIX手提式X射線鍍層測(cè)厚儀
美國(guó)MATRIX手提式X射線鍍層測(cè)厚儀
美國(guó)MATRIX手提式 X射線鍍層測(cè)厚儀 全球款手提式 X-射線鍍層測(cè)厚儀 這一款手提式測(cè)厚儀，在大型材料及各種形狀配件鍍層厚度的無(wú)損檢測(cè)上有著明顯的優(yōu)勢(shì)。 具備“批量測(cè)試”模式，即一次可以測(cè)量出一批小樣品的總鍍層厚度及平均鍍層厚度 可廣泛應(yīng)用于建筑材料，電子，鍍金行業(yè)及公證/檢測(cè)機(jī)構(gòu)的鍍層檢測(cè)。
配置說(shuō)明： 微型銀或鎢X-射線管，5個(gè)準(zhǔn)直器。
檢測(cè)器：半導(dǎo)體高分辯率的檢測(cè)器。
電源供應(yīng)：包含兩塊可充電鋰電池和充電器。
操作溫度：-10 ~50攝氏度
FP軟件測(cè)試包：測(cè)鍍層薄膜厚度及金屬元素分析
我們的經(jīng)營(yíng)理念是:
1．我們以公平的價(jià)格提供質(zhì)量的儀器。
2．對(duì)顧客提供的服務(wù)和極好的最適合的設(shè)備。
3．顧客提出的建議和新想法，將被我們采納并作為我們未來(lái)的事務(wù)。
4．我們的目標(biāo)和戰(zhàn)略是與企業(yè)建立并且連續(xù)性的合作伙伴。
十多年來(lái)，我們一直服務(wù)于PCB 廠商、電鍍行業(yè)、科研機(jī)構(gòu)及半導(dǎo)體生產(chǎn)等電子行業(yè)。我們提供的高質(zhì)量產(chǎn)品和質(zhì)服務(wù)都得到顧客的獎(jiǎng)勵(lì)，在未來(lái),我們將繼續(xù)履行顧客的期望、要求和需要，愿我們成為真誠(chéng)的合作伙伴、共同描繪雙方的發(fā)展藍(lán)圖！
SFT-110日本日立X射線鍍層測(cè)厚儀，XRF光譜儀，日本精工X射線熒光膜厚儀的價(jià)格
一、X射線鍍層測(cè)厚儀的概述。
1.即放即測(cè)！2.10秒鐘完成50nm的極薄金鍍層測(cè)量！ 3.可無(wú)標(biāo)樣測(cè)量！4.通過(guò)樣品整體圖像更方便選擇測(cè)量位置！
二、X射線鍍層測(cè)厚儀的圖片。
三、日本日立儀器制X射線鍍層測(cè)厚儀的介紹。［SFT110的主要特征］ 1. 通過(guò)自動(dòng)定位功能提高操作性 測(cè)量樣品時(shí)，以往需花費(fèi)約10秒的樣品對(duì)焦，現(xiàn)在3秒內(nèi)即可完成，大大提高樣品定位的操作性。 2. 微區(qū)膜厚測(cè)量精度提高 通過(guò)縮小與樣品間的距離等，致使在微小準(zhǔn)直器（0.1、0.2mm）下，也能夠大幅度提高膜厚測(cè)量的精度。 3. 多達(dá)5層的多鍍層測(cè)量 使用薄膜FP法軟件，即使沒有厚度標(biāo)準(zhǔn)片也可進(jìn)行多達(dá)5層10元素的多鍍層測(cè)量。 4. 廣域觀察系統(tǒng)（選配） 可從最大250×200mm的樣品整體圖像指定測(cè)量位置。 5. 對(duì)應(yīng)大型印刷線路板（選配） 可對(duì)600×600mm的大型印刷線路板進(jìn)行測(cè)量。 6. 低價(jià)位 與以往機(jī)型相比，既提高了功能性又降低20%以上的價(jià)格。
四、X射線鍍層測(cè)厚儀的參數(shù)。
XRF-2000韓國(guó)MicroPioneer XRF-2000 X射線鍍層測(cè)厚儀/膜厚儀
韓國(guó)MicroPioneer XRF-2000 X射線鍍層測(cè)厚儀/膜厚儀
產(chǎn)品介紹
X 螢光射線膜厚分析儀是利用 XRF 原理來(lái)分析測(cè)量金屬厚度及物質(zhì)成分，可用於材料的涂層 / 鍍層厚度、材料組成和貴金屬含量檢測(cè)。
XRF-2000 系列分為以下三種： 1. H-Type :密閉式樣品室，方便測(cè)量的樣品較大，高度約100mm以下。 2. L-Type : 密閉式樣品室，方便測(cè)量 樣品較小，高度約30mm以下。 3. PCB-Type : 開放式樣品室，方便大面積的如大型電路板高度約30mm以下的量測(cè) 。 應(yīng)用 : 測(cè)量鍍金、涂層、薄膜、元素的成分或者是厚度，其可偵測(cè)元素的范圍： Ti（22）~U（92 ）。 行業(yè) : 五金類、螺絲類、 PCB 類、連接器端子類行業(yè)、電鍍類等。 特色 : 非破壞，非接觸式檢測(cè)分析，快速精準(zhǔn)。 可測(cè)量高達(dá)六層的鍍層 （五層厚度 + 底材 ） 并可同時(shí)分析多種元素。 相容Microsoft微軟作業(yè)系統(tǒng)之測(cè)量軟體，操作方便，直接可用Office軟體編輯報(bào)告 。 全系列獨(dú)特設(shè)計(jì)樣品與光徑自動(dòng)對(duì)準(zhǔn)系統(tǒng)。 標(biāo)準(zhǔn)配備: 溶液分析軟體 ，可以分析電鍍液成份與含量。 準(zhǔn)直器口徑多種選擇，可根據(jù)樣品大小來(lái)選擇準(zhǔn)值器的口徑。 移動(dòng)方式：全系列全自動(dòng)載臺(tái)電動(dòng)控制，減少人為視差 。 獨(dú)特2D與3D或任意位置表面量測(cè)分析。 雷射對(duì)焦，配合彩色CCD擷取影像使用point and shot功能。
標(biāo)準(zhǔn)ROI軟體 搭配內(nèi)建多種專業(yè)報(bào)告格式，亦可將數(shù)據(jù)、圖形、統(tǒng)計(jì)等作成完整報(bào)告 。
光學(xué)2 0X 影像放大功能，更能精確對(duì)位。
單位選擇： mils 、 uin 、 mm 、 um 。 優(yōu)於美製儀器的設(shè)計(jì)與零件可 靠度以及擁有價(jià)格與零件的最佳優(yōu)勢(shì)。 儀器正常使用保固期一年，強(qiáng)大的專業(yè)技術(shù)支援及良好的售后服務(wù)。 測(cè)試方法符合 ISO 3497 、 ASTM B568 及 DIN 50987。
韓國(guó)Micro Pioneer 還推出一款元素分析及測(cè)厚兩用的XRF-2000R型號(hào)
Micro Pioneer XRF-2000R X光鍍層測(cè)厚儀及ROHS元素分析儀
是在XRF-2000系列測(cè)厚儀的基礎(chǔ)上增加了元素分析及有害物質(zhì)檢測(cè)的功能，
其物點(diǎn)為：高分辨率，固態(tài)探測(cè)器; 可分析超薄樣品
分析有害物質(zhì)，元素分析分之 ppm - 100％, 符合RoHS / WEEE標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試以及ELV指令優(yōu)化的應(yīng)用;
可測(cè)量多層鍍層厚度及錫鉛成分分析；
電鍍?nèi)芤悍治觯?/span>
定性分析超過(guò)30種元素,能夠測(cè)量液體，固體，粉末，薄膜和不規(guī)則形狀；
貴金屬元素含量和分析（金，銀，鉑，和珠寶）；
自動(dòng)過(guò)濾器，多準(zhǔn)直儀（五個(gè)準(zhǔn)直器，從0.1mm-3.0mm）和全自動(dòng)XYZ移動(dòng)樣品臺(tái)；
性價(jià)比超強(qiáng)的元素分析及鍍層測(cè)厚雙功能分析儀器
儀器尺寸：W610mm D670mm H490mm, 重量：75Kg （net）
可測(cè)量樣器大。篧550mm D550mm H30mm
320金屬鍍層膜厚測(cè)試儀 鍍層測(cè)厚儀 X射線鍍層測(cè)厚儀
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 產(chǎn)品介紹： Ux-320新一代國(guó)產(chǎn)專業(yè)鍍層厚度檢測(cè)儀，采用高分辨率的Si-PIN（或者SDD硅漂移探測(cè)器），測(cè)量精度和測(cè)量結(jié)果業(yè)界領(lǐng)先。 采用了FlexFP-Multi技術(shù)，無(wú)論是生產(chǎn)過(guò)程中的質(zhì)量控制，還是來(lái)料檢驗(yàn)和材料性能檢驗(yàn)中的隨機(jī)抽檢和全檢，我們都會(huì)提供友好的體驗(yàn)和滿足檢測(cè)的需求。 Ux-320微移動(dòng)平臺(tái)和高清CCD搭配，旋鈕調(diào)節(jié)設(shè)計(jì)在殼體外部，觀察移動(dòng)位置簡(jiǎn)單方便。 X射線熒光技術(shù)測(cè)試鍍層厚度的應(yīng)用，提高了大批量生產(chǎn)電鍍產(chǎn)品的檢驗(yàn)條件，無(wú)損、快速和更準(zhǔn)確的特點(diǎn)，對(duì)在電子和半導(dǎo)體工業(yè)中品質(zhì)的提升有了檢驗(yàn)的保障。 Ux-320鍍層測(cè)厚儀采用了華唯最新專利技術(shù)FlexFp -Multi，不在受標(biāo)準(zhǔn)樣品的限制，在無(wú)鍍層標(biāo)樣的情況下直接可以測(cè)試樣品的鍍層厚度，測(cè)試結(jié)果經(jīng)得起科學(xué)驗(yàn)證。 樣品移動(dòng)設(shè)計(jì)為樣品腔外部調(diào)節(jié)，多點(diǎn)測(cè)試時(shí)移動(dòng)樣品方便快捷，有助于提升效率。 設(shè)計(jì)更科學(xué)，軟硬件配合，機(jī)電聯(lián)動(dòng)，輻射安全高于國(guó)標(biāo)GBZ115-2002要求。 軟件操作具有操作人員分級(jí)管理權(quán)限，一般操作員、主管使用不同的用戶名和密碼登陸，測(cè)試的記錄報(bào)告同時(shí)自動(dòng)添加測(cè)試人的登錄名稱。
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X射線鍍層測(cè)厚儀
X射線鍍層測(cè)厚儀 價(jià)格
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