CMI900(X射線鍍層測厚儀)
名稱: X-RAY熒光測厚儀 型號: ECO (普通型)和ComPact5(經(jīng)濟(jì)型) 廠家: 德國Roentgenanalytik公司 特點(diǎn): 無損單、雙、三層鍍層的厚度測量 容易對焦鍍層厚度和成分同時(shí)分析 /合金定量分析 十字叉絲帶點(diǎn)狀試樣指示器 鍍液定量分析 用能X射線轉(zhuǎn)換器使測量時(shí)間縮短 現(xiàn)代化技術(shù)領(lǐng)先的軟件 安全性高,使用壽命長 用外部打印格式和數(shù)據(jù)儲(chǔ)存進(jìn)行精密統(tǒng)計(jì)計(jì)算 多層鍍層系統(tǒng)的厚度和成分分析 軟件 μ-MasteR 厚度測量值的評估軟件 Fun-MasteR 非標(biāo)基本元素校準(zhǔn)軟件 Element-MasteR 快速、簡便的定性分析軟件 %-MasteR 可達(dá)8種元素的量化軟件 LiQuiD-MasteR 電鍍液分析軟件 Data-MasteR 數(shù)據(jù)處理軟件 Report-MasteR 客戶化的報(bào)告軟件 技術(shù)數(shù)據(jù) 電源: 110伏或230伏 60赫茲或50赫茲 樣件臺: 100mm(長)×85mm(高)×60mm(深) 儀器尺寸: 450mm(長)×400mm(高)×650mm(深) 式樣室: 60mm(長)×350mm(高)×380mm(深) X-射線管: 帶鎢陽極的高功率管(空冷) X-射線源: 40千伏,電流1毫安 輻射安全: 配合測試標(biāo)準(zhǔn)AnlageII,Abs.3 經(jīng)PTB試驗(yàn)
13923457025 許先生
我司專業(yè)從事各類膜厚測試儀的銷售,擁有十?dāng)?shù)年行業(yè)經(jīng)驗(yàn),為廣大客戶提供高質(zhì)低價(jià)的檢測設(shè)備。
主要經(jīng)營產(chǎn)品:
* 德國宏德牌Rontgenfluoreszenz X射線鍍層測厚儀及元素分析儀(總代理)無論是很大的汽車部件、衛(wèi)浴器具,還是很小的半導(dǎo)體支架,接插端子,金銀首飾,五金工件,我們都一一有理想的儀器去進(jìn)行測量,適合塑膠電鍍,五金電鍍,首飾電鍍,化學(xué)電鍍等各類電鍍層,真正做到無需標(biāo)準(zhǔn)片亦能完成測量,絕對是節(jié)省成本的好幫手。(特價(jià)18萬/臺,期3個(gè)月,產(chǎn)品進(jìn)口)
* 金相顯微鏡及測量軟件套裝(自己開發(fā))絕對超值,適合各類電鍍層,膜層及材料分析,可拍照,存檔,發(fā)Email,添加附注,打印圖片等等。
* 金相切片系列制作設(shè)備及各類耗材經(jīng)濟(jì)實(shí)用,配套完善
*世界名廠二手X射線鍍層測厚儀,適合五金電鍍首飾電鍍,化學(xué)電鍍等(現(xiàn)貨供應(yīng))
本司所售產(chǎn)品,均由本司實(shí)行終身維護(hù)保養(yǎng),熱誠歡迎各方有識人士合作代理。更多詳情敬請光臨公司網(wǎng)站:http://www.leader-hk.com.hk
美國MATRIX手提式X射線鍍層測厚儀
美國MATRIX手提式 X射線鍍層測厚儀 全球款手提式 X-射線鍍層測厚儀 這一款手提式測厚儀,在大型材料及各種形狀配件鍍層厚度的無損檢測上有著明顯的優(yōu)勢。 具備“批量測試”模式,即一次可以測量出一批小樣品的總鍍層厚度及平均鍍層厚度 可廣泛應(yīng)用于建筑材料,電子,鍍金行業(yè)及公證/檢測機(jī)構(gòu)的鍍層檢測。
配置說明: 微型銀或鎢X-射線管,5個(gè)準(zhǔn)直器。
檢測器:半導(dǎo)體高分辯率的檢測器。
電源供應(yīng):包含兩塊可充電鋰電池和充電器。
操作溫度:-10 ~50攝氏度
FP軟件測試包:測鍍層薄膜厚度及金屬元素分析
我們的經(jīng)營理念是:
1.我們以公平的價(jià)格提供質(zhì)量的儀器。
2.對顧客提供的服務(wù)和極好的最適合的設(shè)備。
3.顧客提出的建議和新想法,將被我們采納并作為我們未來的事務(wù)。
4.我們的目標(biāo)和戰(zhàn)略是與企業(yè)建立并且連續(xù)性的合作伙伴。
十多年來,我們一直服務(wù)于PCB 廠商、電鍍行業(yè)、科研機(jī)構(gòu)及半導(dǎo)體生產(chǎn)等電子行業(yè)。我們提供的高質(zhì)量產(chǎn)品和質(zhì)服務(wù)都得到顧客的獎(jiǎng)勵(lì),在未來,我們將繼續(xù)履行顧客的期望、要求和需要,愿我們成為真誠的合作伙伴、共同描繪雙方的發(fā)展藍(lán)圖!
一、X射線鍍層測厚儀的概述。
1.即放即測!2.10秒鐘完成50nm的極薄金鍍層測量! 3.可無標(biāo)樣測量!4.通過樣品整體圖像更方便選擇測量位置!
二、X射線鍍層測厚儀的圖片。
三、日本日立儀器制X射線鍍層測厚儀的介紹。[SFT110的主要特征] 1. 通過自動(dòng)定位功能提高操作性 測量樣品時(shí),以往需花費(fèi)約10秒的樣品對焦,現(xiàn)在3秒內(nèi)即可完成,大大提高樣品定位的操作性。 2. 微區(qū)膜厚測量精度提高 通過縮小與樣品間的距離等,致使在微小準(zhǔn)直器(0.1、0.2mm)下,也能夠大幅度提高膜厚測量的精度。 3. 多達(dá)5層的多鍍層測量 使用薄膜FP法軟件,即使沒有厚度標(biāo)準(zhǔn)片也可進(jìn)行多達(dá)5層10元素的多鍍層測量。 4. 廣域觀察系統(tǒng)(選配) 可從最大250×200mm的樣品整體圖像指定測量位置。 5. 對應(yīng)大型印刷線路板(選配) 可對600×600mm的大型印刷線路板進(jìn)行測量。 6. 低價(jià)位 與以往機(jī)型相比,既提高了功能性又降低20%以上的價(jià)格。
四、X射線鍍層測厚儀的參數(shù)。
韓國MicroPioneer XRF-2000 X射線鍍層測厚儀/膜厚儀
產(chǎn)品介紹
X 螢光射線膜厚分析儀是利用 XRF 原理來分析測量金屬厚度及物質(zhì)成分,可用於材料的涂層 / 鍍層厚度、材料組成和貴金屬含量檢測。
XRF-2000 系列分為以下三種: 1. H-Type :密閉式樣品室,方便測量的樣品較大,高度約100mm以下。 2. L-Type : 密閉式樣品室,方便測量 樣品較小,高度約30mm以下。 3. PCB-Type : 開放式樣品室,方便大面積的如大型電路板高度約30mm以下的量測 。 應(yīng)用 : 測量鍍金、涂層、薄膜、元素的成分或者是厚度,其可偵測元素的范圍: Ti(22)~U(92 )。 行業(yè) : 五金類、螺絲類、 PCB 類、連接器端子類行業(yè)、電鍍類等。 特色 : 非破壞,非接觸式檢測分析,快速精準(zhǔn)。 可測量高達(dá)六層的鍍層 (五層厚度 + 底材 ) 并可同時(shí)分析多種元素。 相容Microsoft微軟作業(yè)系統(tǒng)之測量軟體,操作方便,直接可用Office軟體編輯報(bào)告 。 全系列獨(dú)特設(shè)計(jì)樣品與光徑自動(dòng)對準(zhǔn)系統(tǒng)。 標(biāo)準(zhǔn)配備: 溶液分析軟體 ,可以分析電鍍液成份與含量。 準(zhǔn)直器口徑多種選擇,可根據(jù)樣品大小來選擇準(zhǔn)值器的口徑。 移動(dòng)方式:全系列全自動(dòng)載臺電動(dòng)控制,減少人為視差 。 獨(dú)特2D與3D或任意位置表面量測分析。 雷射對焦,配合彩色CCD擷取影像使用point and shot功能。
標(biāo)準(zhǔn)ROI軟體 搭配內(nèi)建多種專業(yè)報(bào)告格式,亦可將數(shù)據(jù)、圖形、統(tǒng)計(jì)等作成完整報(bào)告 。
光學(xué)2 0X 影像放大功能,更能精確對位。
單位選擇: mils 、 uin 、 mm 、 um 。 優(yōu)於美製儀器的設(shè)計(jì)與零件可 靠度以及擁有價(jià)格與零件的最佳優(yōu)勢。 儀器正常使用保固期一年,強(qiáng)大的專業(yè)技術(shù)支援及良好的售后服務(wù)。 測試方法符合 ISO 3497 、 ASTM B568 及 DIN 50987。
韓國Micro Pioneer 還推出一款元素分析及測厚兩用的XRF-2000R型號
Micro Pioneer XRF-2000R X光鍍層測厚儀及ROHS元素分析儀
是在XRF-2000系列測厚儀的基礎(chǔ)上增加了元素分析及有害物質(zhì)檢測的功能,
其物點(diǎn)為:高分辨率,固態(tài)探測器; 可分析超薄樣品
分析有害物質(zhì),元素分析分之 ppm - 100%, 符合RoHS / WEEE標(biāo)準(zhǔn)測試以及ELV指令優(yōu)化的應(yīng)用;
可測量多層鍍層厚度及錫鉛成分分析;
電鍍?nèi)芤悍治觯?/span>
定性分析超過30種元素,能夠測量液體,固體,粉末,薄膜和不規(guī)則形狀;
貴金屬元素含量和分析(金,銀,鉑,和珠寶);
自動(dòng)過濾器,多準(zhǔn)直儀(五個(gè)準(zhǔn)直器,從0.1mm-3.0mm)和全自動(dòng)XYZ移動(dòng)樣品臺;
性價(jià)比超強(qiáng)的元素分析及鍍層測厚雙功能分析儀器
儀器尺寸:W610mm D670mm H490mm, 重量:75Kg (net)
可測量樣器大小:W550mm D550mm H30mm
產(chǎn)品介紹: Ux-320新一代國產(chǎn)專業(yè)鍍層厚度檢測儀,采用高分辨率的Si-PIN(或者SDD硅漂移探測器),測量精度和測量結(jié)果業(yè)界領(lǐng)先。 采用了FlexFP-Multi技術(shù),無論是生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制,還是來料檢驗(yàn)和材料性能檢驗(yàn)中的隨機(jī)抽檢和全檢,我們都會(huì)提供友好的體驗(yàn)和滿足檢測的需求。 Ux-320微移動(dòng)平臺和高清CCD搭配,旋鈕調(diào)節(jié)設(shè)計(jì)在殼體外部,觀察移動(dòng)位置簡單方便。 X射線熒光技術(shù)測試鍍層厚度的應(yīng)用,提高了大批量生產(chǎn)電鍍產(chǎn)品的檢驗(yàn)條件,無損、快速和更準(zhǔn)確的特點(diǎn),對在電子和半導(dǎo)體工業(yè)中品質(zhì)的提升有了檢驗(yàn)的保障。 Ux-320鍍層測厚儀采用了華唯最新專利技術(shù)FlexFp -Multi,不在受標(biāo)準(zhǔn)樣品的限制,在無鍍層標(biāo)樣的情況下直接可以測試樣品的鍍層厚度,測試結(jié)果經(jīng)得起科學(xué)驗(yàn)證。 樣品移動(dòng)設(shè)計(jì)為樣品腔外部調(diào)節(jié),多點(diǎn)測試時(shí)移動(dòng)樣品方便快捷,有助于提升效率。 設(shè)計(jì)更科學(xué),軟硬件配合,機(jī)電聯(lián)動(dòng),輻射安全高于國標(biāo)GBZ115-2002要求。 軟件操作具有操作人員分級管理權(quán)限,一般操作員、主管使用不同的用戶名和密碼登陸,測試的記錄報(bào)告同時(shí)自動(dòng)添加測試人的登錄名稱。
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EC-770是一款鐵基/鋁基一體式涂層測厚儀,可廣泛應(yīng)用于多種涂鍍層的厚度測量,讓您在生產(chǎn)中簡單,快速,正確判斷,研發(fā)更節(jié)省成本,操作簡易,大屏設(shè)計(jì),攜帶方便,很有科技感;是您進(jìn)行涂鍍層厚度無損檢測的必備工具
本儀器具有待測材料自動(dòng)識別功能,可自動(dòng)識別鐵磁材料并選擇鐵基模式進(jìn)行,如測量鋼質(zhì)/鐵質(zhì)/導(dǎo)磁合金材料表面油漆或鍍層厚度,若待測金屬為非磁性材質(zhì),儀器將自動(dòng)選擇鋁基模式,如測量銅/鋁/鋅/錫等材料的油漆/氧化膜/塑料厚度,本儀器的另一大特點(diǎn)是:圖形菜單操作界面,讓您更加方便快捷的設(shè)置和操作;并且可以進(jìn)行不間斷連續(xù)測試,滿足了快速線性尋找產(chǎn)品鍍層缺陷的要求?商娲鷷r(shí)代TT210TT220TT260等使用
涂層測厚儀EC-770宇問研發(fā)的EC-770涂層測厚儀為工程師量身定做,是精密測量專家;廣泛運(yùn)用在涂層,油漆,電鍍,滲碳熱處理,五金,建材,來料檢測,汽車輪船飛機(jī)制造等
主要特點(diǎn)
EC-770涂層測厚儀,能同時(shí)測量磁性基材表面(如鋼、鐵等)的非磁性涂鍍層(如油漆、陶瓷、鉻等),以及非磁性金屬基材表面的非導(dǎo)電涂鍍層(如油漆等)。本儀表內(nèi)置高精密雙探頭,利用電磁感應(yīng)和渦流效應(yīng),全自動(dòng)探測基材屬性,計(jì)算涂鍍層厚度,并通過點(diǎn)陣液晶快速顯示結(jié)果。同時(shí),測量數(shù)據(jù)可分組保存,并實(shí)時(shí)顯示統(tǒng)計(jì)值。用戶可分別為每組設(shè)置上下限報(bào)警值、零校準(zhǔn)、多點(diǎn)校準(zhǔn)。全新的多點(diǎn)校準(zhǔn)和零校準(zhǔn),讓您非常方便的隨時(shí)進(jìn)行校準(zhǔn)。標(biāo)準(zhǔn)化菜單,確保您非常容易的使用它。
詳細(xì)介紹
EC-770鍍層測厚儀特點(diǎn):A.大點(diǎn)陣液晶屏,標(biāo)準(zhǔn)化菜單操作;B.兩種測量模式:單次(Single)和連續(xù)(Continuous);C.兩種組模式:直接組(DIR)和通用組(GEN),一個(gè)直接組和四個(gè)通用組。直接組關(guān)機(jī)后數(shù)據(jù)自動(dòng)全部清除。通用組數(shù)據(jù)將自動(dòng)保存,關(guān)機(jī)不丟失。每組可存儲(chǔ)80個(gè)數(shù)據(jù);D.可零校準(zhǔn)和多點(diǎn)校準(zhǔn)(最多四點(diǎn))。各組有單獨(dú)的零校準(zhǔn)和多點(diǎn)校準(zhǔn),組與組之間不影響;E.用戶可隨時(shí)查看當(dāng)前工作組已測得的數(shù)據(jù),并刪除指定數(shù)據(jù)或整組數(shù)據(jù);F.實(shí)時(shí)顯示當(dāng)前工作組統(tǒng)計(jì)值:平均值(Mean),最小值(Min),最大值(Max),標(biāo)準(zhǔn)方差(Sdev);G.三種探頭模式:自動(dòng)(Auto)、磁感應(yīng)(Magnetic)和渦流(EddyCurrent);H.可為各組單獨(dú)設(shè)置高低限報(bào)警值,超限時(shí)屏幕指示報(bào)警;I.可開啟或關(guān)閉自動(dòng)關(guān)機(jī)功能J.USB接口可傳輸通用組數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)K.低電和錯(cuò)誤提示
主要指標(biāo):
DT-156涂鍍層測厚儀庫號:RL075922 | EC-770鍍層測厚儀庫號:RL075949 |
EC-770鍍層測厚儀庫號:RL075949 | EC-770鍍層測厚儀庫號:RL075949 |