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晶體管測試儀泰克370A長期回收/原裝泰克370A

 晶體管測試儀泰克370A長期回收/原裝泰克370A，二手現(xiàn)貨儀器泰克370A大量現(xiàn)金回收，長期收購現(xiàn)貨儀器泰克370A原裝晶體管測試儀。譚先生：13169518998 / 18617226459Tektronix370A晶體管圖示儀、泰克370A、371A －－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－-生產廠家：美國泰克主要參數(shù)：·半導體器件高精度測量-上限達2000V或電流到10A的源（370A）-上限到3000V（371A）-上限到220W（370A）-上限到400A（371A）-1nA的測量分辨率-上限到3000W（371A）·上限到2mV的測量分辨率（370A）·波形對比·包絡顯示·波形平均·點光標（370A）·Kelvin傳感測量·全程控·MS-DOS兼容的軟盤，方便設置參孝存儲和調用應用手動或自動進行半導體高分辨率DC參數(shù)測量來料檢查生產測試過程監(jiān)視及質量控制數(shù)據(jù)報告的生成元件配對失效分析工程測試交互式程控所有交互式程控測量是通過有鮮明特點的前面板或GPIB來完成的。使用幾種存儲方式，調整和存儲操作參數(shù)，包括370A的非易失存儲器、內置的MS-DOS兼容的軟盤或到外部控制器。測試夾具測試夾具是標準附件，它提供被測器件安全防護，以保護測量人員的安全。測試夾具適應標準的A1001，中間通過Kelvin傳感的A1005適配器、無Kelvin傳感的3芯適配器和A1023、A1024表面封裝適配器。370A程控特性曲線圖示儀370A是全球著名的高分辨率特性曲線圖示儀，可應用到許多場合。370A能完成晶體管、閘流管、二極管、可控硅、場效應管、光電元件、太陽能電池、固態(tài)顯示和其它半導體器件的直流參數(shù)特性的測試。在研發(fā)實驗室，用370A來完成新器件、SPIEC參數(shù)的提取、失敗分析和產生數(shù)據(jù)報告這些具體的測試工作在制造過程中，用370A檢驗器件質量及過程監(jiān)視。370A可進行來料檢查、器件性能測試、失效分析和器件配對這些測試工作。技術指標 集電極電源 模式 AC,±DC,±泄露，±整流的正弦波 范圍 最大峰值電流（±） 峰值電流（脈沖式）（±） 16V 10A 20A 80V 2A 4A 400V 0.4A 0.8A 2000V 0.05A 0.1A 階梯信號發(fā)生器 模式 階梯：DC,80μS脈沖，300μS脈沖 階梯量程- 　 電流： 50nA到200mA，按1-2-5順序 電壓： 50mV到2V，按1-2-5順序 偏置 最大到±10X階梯幅度 階梯數(shù) 0到10 測量特性 集電極電流- 　 測試量程： 100nA/div(1nA分辨率）至2A/div誤差，1.5%光標讀出+0.05div設定值（點光標） 發(fā)射極電流- 　 測試量程： 1nA/div(10pA分辨率）至2mA/div 誤差 1.5%光標讀出+0.05div設定值+1nA 安全標準 UL1244，CSA231，HD401S1 訂貨信息
該公司產品分類： 頻率計 色彩分析儀 天饋線測試儀 電子校準件 綜合測試儀 傳感器 波形發(fā)生器 數(shù)字源表 通信電源 信號發(fā)生器 萬用表 示波器 頻譜分析儀 網(wǎng)絡分析儀

BJ2988A BJ2988A 晶體管測試儀|美達

 

 

BJ2988A 晶體管正偏二次擊穿及瞬態(tài)熱阻測試儀

 

 

晶體管的極限參數(shù)

晶體管所能承受的電壓、功率耗散以及所通過的電流都是有一定限度的，當其超過額定值時，輕則影響晶體管的工作性能，嚴重時將使其損壞。以下介紹晶體管的主要極限參數(shù)。1.集電極最大允許耗散功率PcmPcm是指晶體管因溫度升高引起參數(shù)的變化不超過規(guī)定值時，集電極所消耗的最大功率。 晶體管在正常工作時，集電結加的是反向偏置電壓，集電結的反向電阻很高，這樣，集電極電流流過集電結時就要產生大量的熱量，結溫就會升高，若溫度過高，將導致晶體管不可逆轉的損壞。人們根據(jù)晶體管允許結溫定出最大允許耗散功率。為了降低結溫，對于大功率晶體管，人們往往要另設散熱片，散熱片表面積越大，散熱效果越好，晶體管的Pcm就可以適當提高。2.集電極最大允許電流Icm 集電極電流增大，會導致晶體管的電流放大倍數(shù)β下降，當β降至低頻電流放大倍數(shù)βo的額定倍數(shù)（通常規(guī)定為二分之一或三分之一）時，此時的集電極電流稱為集電極最大允許電流Icm。因此，當晶體管的集電極電流達到Icm時，晶體管雖不致?lián)p壞，但電流放大倍數(shù)已大幅度下降。 3.集電極－－發(fā)射極擊穿電壓BVCEOBVCEO是指晶體管基極開路時，加在晶體管集電極與發(fā)射極之間的最大允許電壓。對于NPN型晶體管而言，集電極接電源的正極，發(fā)射極接電源的負極；對于PNP型晶體管而言，集電極接電源的負極，發(fā)射極接電源的正極。當加在晶體管集電極與發(fā)射極之間的電壓大于BVCEO的值時，流過晶體管的電流會突然增大，導致晶體管性損壞，這種現(xiàn)象稱為擊穿。

 

 

產品特點：

 

    BJ2988A型晶體管正偏二次擊穿及瞬態(tài)熱阻測試儀可以同時進行瞬態(tài)熱阻及正偏二次擊穿的一次性檢測。兩種參數(shù)放在同一臺儀器上檢測是為了滿足軍用功率晶體管實際檢測的需要，是軍用功率晶體管最快速篩選測試（用幾十分鐘的參數(shù)測試取代168小時滿功率老化）及貫徹國軍標所必需的測試儀器。這種參數(shù)測試儀不但解決了測試中的燒管問題，也可直接進行正偏二次擊穿功率的檢測。本儀器的配套電源為本廠生產的WD-9型晶體管穩(wěn)壓電源。

 

 

 

BJ2988A 晶體管正偏二次擊穿及瞬態(tài)熱阻測試儀技術指標：

 

 

 （1） 測試功率：0~750W（2） 集電極—發(fā)射極電壓VCE：0~300V±2%（3） 發(fā)射極電流IE：0~5A  ±2%（4） M數(shù)字表：0~ —4.00mV / ℃    ±3%（5） △VBE數(shù)字表：0~999 mV   ±3%（6） 脈寬τ：1mS~1000S（分七檔）           脈寬擴展：τ×1、τ×2、τ×5

 

 

 

WQ4832圖示儀 晶體管測試儀 晶體管圖示儀 二三極管測試儀

圖示儀 晶體管測試儀 晶體管圖示儀 二三極管測試儀 WQ4832

晶體管圖示儀    WQ4832

 

 

集電極掃描信號 輸出電壓范圍及電流容量 0～5V 10A 0～10V 5A 0～50V 1A 0～100V 0.5A 0～500V 0.1A 0～5000V 5mA 0～500VAC 0.1A 功耗限制電阻：0～500kΩ　分11檔 基極階梯信號 階梯電流 0.5μA/級～100mA/級，分17檔 階梯電壓 0.05V級～1V/級，分5檔 Y軸偏轉系數(shù) 集電極電流 0.5μA/div～1A/div，分20檔 二極管電流 50nA/div～1μA/div，分5檔 X軸偏轉系數(shù) 集電極電壓 10mV/div～50V/div，分12檔 一般性能 適應電源 AC220V±10% 50Hz±4% 視在功率 約50VA（非測試狀態(tài)） 約80VA最大功率 外形尺寸 320×210×400mm 重量 18kg  

瘋狂搶購TEK370B晶體管測試儀TEK370A

 

 
TEK370A  晶體管測試儀/現(xiàn)貨
主要參數(shù)：·半導體器件高精度測量
-上限達2000V或電流到10A的源（370A）
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-上限到3000W（371A）
·上限到2mV的測量分辨率（370A）
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·包絡顯示
·波形平均
·點光標（370A）
·Kelvin傳感測量
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附:
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