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產(chǎn)品 >> 光譜測(cè)試儀器 >> 膜厚測(cè)量?jī)x | 共有 2 個(gè)產(chǎn)品 | |
【激光系列產(chǎn)品】 固體激光器 半導(dǎo)體激光器 氣體激光器 氬離子激光器 光纖激光器 大功率光纖耦合激光器 皮秒激光器 飛秒激光器 調(diào)Q脈沖激光器 激光二極管控制器 激光功率計(jì) 激光護(hù)目鏡 激光波長(zhǎng)測(cè)量 激光光束分析儀 多通道激光功率計(jì) 大功率激光器 激光光束位置測(cè)量?jī)x 激光擴(kuò)束鏡 激光準(zhǔn)直器 紅外激光顯示卡 紅外激光觀察儀 紅外觀察儀 激光測(cè)距儀 激光器溫度控制器 激光光纖耦合器 高穩(wěn)定性激光器 相干型激光器 自相關(guān)儀 飛秒激光倍頻器 可變光闌 便攜式激光器 染料激光器 激光光譜測(cè)量 熱電制冷片 激光光束定位系統(tǒng) 視頻顯微鏡測(cè)量系統(tǒng) 2微米光纖激光器 飛秒光纖激光器 皮秒光纖激光器 脈沖光纖激光器 光纖隔離器 拉曼激光器 光功率計(jì) 飛秒激光脈沖自相關(guān)儀 激光二極管參數(shù)分析儀 激光二極管電流控制器 【光譜測(cè)試儀器】 光纖光譜儀 微型光纖光譜儀 高分辨率光譜儀 高靈敏度光譜儀 制冷型光譜儀 中紅外光譜儀 熒光光譜儀 拉曼光譜儀 極紫外光譜儀 真空紫外光譜儀 多通道光譜儀 教學(xué)型光譜儀 LED光測(cè)量光譜儀 色坐標(biāo)色溫測(cè)量?jī)x 燈具光譜測(cè)量?jī)x 透射譜吸光度光譜儀 絕對(duì)輻射光譜儀 流體吸光度光譜儀 流體熒光光譜儀 膜厚測(cè)量?jī)x 橢偏儀 太陽能電池IPCE測(cè)量系統(tǒng) 太陽能電池QE測(cè)量系統(tǒng) 太陽能電池光譜響應(yīng)系統(tǒng) 單色儀 濾光片輪 濾光片透射率測(cè)試儀 太赫茲光譜儀 等離子體光譜儀 環(huán)境輻射儀 近紅外光譜儀 元素分析儀 氧含量測(cè)量 信號(hào)發(fā)生器 近紅外谷物接收系統(tǒng) 顆粒分析儀 熒光壽命光譜儀 三維表面輪廓儀 微型光譜儀 【光學(xué)精密機(jī)械】 干涉儀 光學(xué)平臺(tái) 光學(xué)鏡架 手動(dòng)平移臺(tái) 手動(dòng)旋轉(zhuǎn)臺(tái) 手動(dòng)擺動(dòng)臺(tái) 手動(dòng)組合平臺(tái) 電動(dòng)平移臺(tái) 電動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái) 電動(dòng)擺動(dòng)平臺(tái) 電動(dòng)組合平臺(tái) 壓電陶瓷平臺(tái) 壓電陶瓷制動(dòng)器 高穩(wěn)定防震平臺(tái) 【光源】 氙燈光源 氘燈光源 氘鹵雙光源 LED光源燈 鹵素?zé)艄庠?nbsp; 光催化氙燈光源 積分球 積分球均勻光源 太陽模擬器 紫外固化機(jī) 寬帶超連續(xù)光源 顯微鏡光源 【光學(xué)影像】 紫外CCD相機(jī) 近紅外CCD相機(jī) 制冷型CCD相機(jī) 高速相機(jī) 夜視儀 顯微鏡 CID相機(jī) 熱像儀 【探測(cè)器】 照度計(jì) 亮度計(jì) 輻射計(jì) 便攜式色差計(jì) 太陽光功率計(jì) 快速反應(yīng)探測(cè)器 前置放大探測(cè)器 光纖耦合探測(cè)器 液氮制冷探測(cè)器 皮秒超快探測(cè)器 位敏探測(cè)器 四象限探測(cè)器 雙色探測(cè)器 紫外輻照計(jì) 硅光電探測(cè)器 近紅外探測(cè)器 中紅外探測(cè)器 雪崩二極管 光電倍增管 【光學(xué)元件】 窗片/窗口 反射鏡 透鏡 光學(xué)基片 分光鏡 棱鏡 晶體 濾光片 波長(zhǎng)板 擴(kuò)散板 起偏器 光學(xué)鏡頭 光纖產(chǎn)品 光柵尺 紅外鏡頭 光柵 【光通信儀器】 ASE光源 光接收機(jī) 光纖放大器 光發(fā)射機(jī) 光通信激光器 光功率計(jì) 可調(diào)諧激光光源 光纖測(cè)量系統(tǒng) 光衰減器 光纖熔接機(jī) 光通信探測(cè)器 光調(diào)制器 傳感器解調(diào)儀 SLED光源 SLED模塊 多波段SLED光源 大功率EDFA 光收發(fā)機(jī) 激光發(fā)射機(jī) 拉曼EDFA組合放大器 拉曼泵浦模塊 偏振光合束器 拉曼放大器 保偏EDFA 摻鐿光纖放大器 摻鐿光纖放大器模塊 半導(dǎo)體光放大器 大功率光纖放大器 光接收機(jī)模塊 半導(dǎo)體光放大器模塊 40通道多路復(fù)用器 1064nm穩(wěn)定的激光器光源 DWDM多路復(fù)用器 FBG光纖耦合激光器光源 FBG激光光源模塊 波長(zhǎng)掃描激光器 單模背射儀 電控可變光衰減器 多波長(zhǎng)儀 多通道可變光衰減器 光波元器件分析儀 光放大器分析儀 光網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀 光網(wǎng)絡(luò)分析儀 光纖干涉儀 回波損耗儀系統(tǒng) 可調(diào)諧光濾波器 色散補(bǔ)償模塊 微型光時(shí)域反射儀 蝶形激光器/DFB激光器 大功率蝶形激光器 寬帶RF放大器模塊 寬帶RF放大器 DFB蝶形激光器 DFB激光器模塊 DWDM光分插模塊 980nm泵浦激光器 ASE光源模塊 C+L波段ASE光源 CWDM 2mW DFB激光器 F-P激光器 保偏隔離器 大功率保偏隔離器 大功率光隔離器 光隔離器 光開關(guān)模塊 可調(diào)諧C波段激光器 外調(diào)制激光器 拉曼放大器泵浦激光器/EDFA泵浦激光器 便攜式光時(shí)域反射儀 【生物分析儀器】 動(dòng)物注射泵 樣品均質(zhì)器 粘合劑分配器 蠕動(dòng)泵 搖擺振蕩器 細(xì)胞分離/勻漿漩渦混合器
近年來,隨著檢測(cè)零件的微小化,對(duì)微區(qū)的高精度測(cè)量的需求日益增多。SFT-110實(shí)現(xiàn)微區(qū)下的高靈敏度,即使在微小準(zhǔn)直器(0.1、0.2mm)下,也能夠大幅度提高膜厚測(cè)量的精度。并且,配備有新開發(fā)的薄膜FP法軟件,即使沒有厚度標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)也可進(jìn)行多達(dá)5層10元素的多鍍層和合金膜的測(cè)量,可對(duì)應(yīng)更廣泛的應(yīng)用需求。
對(duì)半導(dǎo)體材料、電子元器件、汽車部件等的電鍍、蒸鍍等的金屬薄膜和組成進(jìn)行測(cè)量管理,可產(chǎn)品的功能及品質(zhì),降低成本。精工從1971年推出非接觸、短時(shí)間內(nèi)可進(jìn)行高精度測(cè)量的X射線熒光鍍層厚度測(cè)量?jī)x以來,已經(jīng)累計(jì)銷售6000多臺(tái),得到了國(guó)內(nèi)外鍍層厚度、金屬薄膜測(cè)量領(lǐng)域的高度關(guān)注和支持。 為了適應(yīng)日益提高的鍍層厚度測(cè)量需求,精工開發(fā)了配備有自動(dòng)定位功能的X射線熒光鍍層厚度測(cè)量?jī)xSFT-110。通過自動(dòng)定位功能,僅需把樣品放置到樣品臺(tái)上,就可在數(shù)秒內(nèi)對(duì)樣品進(jìn)行自動(dòng)對(duì)焦。由此,無需進(jìn)行以往的手動(dòng)逐次對(duì)焦的操作,大大提高了樣品測(cè)量的操作性。
特點(diǎn) 即放即測(cè)! 通過自動(dòng)定位功能,放置樣品后僅需幾秒,便能自動(dòng)對(duì)準(zhǔn)觀察樣品焦點(diǎn)。 10秒鐘完成50nm的極薄金鍍層測(cè)量! 以的設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)微小區(qū)域下的高靈敏度,即使在微小準(zhǔn)直器(0.1、0.2mm)下,也能夠大幅度地提高膜厚測(cè)量的精度。 無標(biāo)樣測(cè)量! 將薄膜FP軟件進(jìn)一步擴(kuò)充,即使沒有厚度標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)也能進(jìn)行高精度的測(cè)量。也可簡(jiǎn)單地測(cè)量多鍍層膜和合金膜樣品。 通過廣域觀察系統(tǒng)更方便選擇測(cè)量位置! 通過廣域觀察系統(tǒng),能夠從畫面上的樣品整體圖(最大250×200mm)中方便地指定測(cè)量位置
測(cè)量元素:原子序號(hào)22(Ti)~83(Bi) X射線源:空冷式小型X射線管 檢測(cè)器:比例計(jì)數(shù)管 準(zhǔn)直器:○型: 0.1mmφ、0.2mmφ 2種 樣品觀察:CCD攝像頭(可進(jìn)行廣域觀察) 對(duì)焦:激光點(diǎn)(自動(dòng)) 濾波器:一次濾波器: 自動(dòng)切換 樣品臺(tái)(臺(tái)式尺寸): 500(W) x400(D) x 150(H)mm (移動(dòng)量):X:250mm, Y:200mm 操作部:電腦、19寸液晶 測(cè)量軟件:薄膜FP法 (最多5層膜、10種元素)、標(biāo)準(zhǔn)曲線法 數(shù)據(jù)處理:配備有Microsoft® Excel、Microsoft® Word 安全機(jī)構(gòu):樣品門連鎖、樣品的防沖撞功能、儀器診斷功能
型號(hào): |
CMI760測(cè)厚儀配置包括:
CMI760測(cè)厚儀選配配件:
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技術(shù)參數(shù) |
SRP-4面銅探頭測(cè)試技術(shù)參數(shù): 銅厚測(cè)量范圍: 化學(xué)銅:10 μin – 500 μin (0.25 μm – 12.7 μm) 電鍍銅:0.1 mil – 6 mil (2.5 μm – 152 μm) 線形銅可測(cè)試線寬范圍:8 mil – 250 mil (203 μm – 6350 μm)度:±1% (±0.1 μm)參考標(biāo)準(zhǔn)片 精確度:化學(xué)銅:標(biāo)準(zhǔn)差0.2 %;電鍍銅:標(biāo)準(zhǔn)差0.5 % 分辨率:0.01 mils ≥ 1 mil, 0.001 mils <1 mil, 0.1 μm ≥ 10 μm, 0.01 μm < 10 μm, 0.001 μm < 1 μm ETP孔銅探頭測(cè)試技術(shù)參數(shù): 測(cè)量厚度范圍:0.08 – 4.0 mils (2 – 102 μm) 電渦流原理:遵守ASTM-E376-96標(biāo)準(zhǔn)的相關(guān)規(guī)定 度:±0.01 mil (0.25 μm) < 1 mil (25 μm) 精確度:1.2 mil(30μm)時(shí),達(dá)到1.0% (實(shí)驗(yàn)室情況下) 分辨率:0.01 mils (0.1μm) TRP-M(微孔)探頭測(cè)試技術(shù)參數(shù): 最小可測(cè)試孔直徑范圍:10 – 40 mils (254 – 1016 μm) 孔內(nèi)銅厚測(cè)試范圍:0.5-2.5mils(12.7-63.5μm) 最大可測(cè)試板厚:175mil (4445 μm) 最小可測(cè)試板厚:板厚的最小值必須比所對(duì)應(yīng)測(cè)試線路板的最小孔孔徑值高3mils(76.2μm) 度(對(duì)比金相檢測(cè)法):±0.01 mil (0.25 μm) < 1 mil (25 μm) ±10%≥1mil(25 μm) 精確度:不建議對(duì)同一孔進(jìn)行多次測(cè)試 分辨率:0.01 mil(0.1 μm) |
CMI900 無損電鍍 膜厚測(cè)試儀,鍍層測(cè)厚儀 專業(yè)測(cè)量金、銀 鈀 銠 鎳 銅 錫 等貴金屬多鍍層膜厚測(cè)量,快速 無損,業(yè)內(nèi)廣受好評(píng),客戶應(yīng)
用廣泛在 五金 連接器 PCB LED支架等行業(yè)以形成行業(yè)測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)。歡迎廣大五金連接器客戶聯(lián)系 測(cè)量量樣品 洽談往來 本公司經(jīng)營(yíng)多年工程師經(jīng)驗(yàn)豐富,商業(yè)合作個(gè)方式靈活。
金屬鍍層厚度測(cè)量, 例如Zn;Cr; Cu; Ag; Au;Sn等 合金(兩樣金屬元素)鍍層厚度測(cè)量, 例如: SnPb; ZnNi; 及NiP(無電浸鎳)在Fe上等 合金(三檬金屬元素)鍍層厚度測(cè)量, 例如: AuCuCd在Ni上等 雙鍍層厚度測(cè)量, 例如:Au/Ni在Cu 上; Cr/Ni在Cu上;Au/Ag在Ni上;Sn/Cu在黃銅上等 雙鍍層厚度測(cè)量(其中一層是合金層), 例如: SnPb/Ni或Au/PdNi在青銅上等 三鍍層, 例如: Cr/Ni/Cu在塑膠或在鐵上
PCB LED 連接器等行業(yè) gold flash/ Nip / Cu 或 Au / Pdni / Cu ~~ Ag / Ni / Cu / Ni / Cu 等常見應(yīng)用
儀器介紹CMI 900 系列X射線熒光測(cè)厚儀是一種功能強(qiáng)大的材料涂/鍍層測(cè)量?jī)x器,可應(yīng)用于材料的涂/鍍層 厚度、材料組成、貴金屬含量檢測(cè)等領(lǐng)域
,為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供、快速的分析.基于WindowsXP中文視窗系統(tǒng)的中文版 SmartLink FP 應(yīng)用軟件包,實(shí)現(xiàn)了對(duì)CMI900主機(jī)的自動(dòng)化控制, PCB 五金 LED 連接器 表面處理等行業(yè)技術(shù)參數(shù):CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測(cè)量?jī)x,在技術(shù)上一直以來都領(lǐng)先于全世界的測(cè)厚行業(yè)A CMI 900 能夠測(cè)量包含原子序號(hào)22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層(銀、金、鈀、錫等)和其它薄鍍層。區(qū)別材料并定性或定量測(cè)量合金材料的成份百分含量可同時(shí)測(cè)定最多5層、15 種元素。B :精確度領(lǐng)先于世界,精確到0。025um (相對(duì)與標(biāo)準(zhǔn)片)C :數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)報(bào)告功能允許用戶自定義多媒體分析報(bào)告格式,以滿足您特定的分析報(bào)告格式要求 ;如在分析報(bào)告中插入數(shù)據(jù)圖表、測(cè)定位置的圖象、CAD文件等。D :統(tǒng)計(jì)功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、相對(duì)偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X
-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。CMI900系列X射線熒光測(cè)厚儀能夠測(cè)量多種幾何形狀各種尺寸的樣品;E :可測(cè)量任一測(cè)量點(diǎn),最小可達(dá)0.025 x 0.051毫米牛津儀器CMI900電鍍膜厚測(cè)量?jī)x