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       檢測電鍍層膜厚測試儀就要DR260測量厚度，電鍍層膜厚測量儀厚度儀器找DR260檢測，精準(zhǔn)，又穩(wěn)定，安全，靈敏度高，重復(fù)性好！鋼板，鍍鋅板，鍍鋅管電鍍層膜厚檢測儀哪里的好用！咨詢電話：18028436682  QQ：1435634947 李小姐

最優(yōu)惠長臂板厚測量儀，PCB板厚測量儀，長臂板厚測試儀

BK-250長臂板厚測量儀 

● 用于覆銅層壓板、印制線路板和其他板材的厚度測量，采用日本原裝三豐千分表

● 測量范圍（mm）：0-500            

● 測量行程（mm）：250

● 精度（mm）：0.0038                

● 喉深（mm）：260

● 臺(tái)面尺寸（W×D）（mm）：900×850  

● 供電：220V，50Hz，交流，單相

●  供氣：0.6Mpa                     

●  機(jī)重（kg）：60

●  機(jī)臺(tái)外形尺寸（W×D×H）（mm）：950×900×13200

產(chǎn)品簡介:DUALSCOPE®MP0兩用型涂層測厚儀有2個(gè)液晶顯示屏，可以同時(shí)顯示鍍層厚度的讀數(shù)：一塊大的位于前部面板，另一塊位于上部面板。它獨(dú)特的符合人類工程學(xué)設(shè)計(jì)的集成于儀器的恒壓測量探頭允許方便地單手操作，可以進(jìn)行測量數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)評(píng)估DUALSCOPE®MP0 采用根據(jù)DINENISO2360，ASTMB244標(biāo)準(zhǔn)的電渦流方法和DINENISO2178，ASTMB499電磁感應(yīng)方法，被用來測量非導(dǎo)電涂層 在非鐵金屬基材上的厚度以及非鐵金屬鍍層和非導(dǎo)電涂層在鐵或鋼上的厚度。儀器能自動(dòng)地識(shí)別被測材料并選擇適合的測試方法。DUALSCOPE®MP0理想的適合于測量：非鐵金屬鍍層（例如：鉻，銅，鋅等）在鐵或鋼上。油漆、臘克和合成涂層在鐵或鋼上。非導(dǎo)電涂層在非鐵金屬基材上，例如：油漆、臘克和合成涂層在鋁、銅、黃銅、鋅和不銹鋼上。鋁的陽極氧化層。1、南安TT210涂層測厚儀,x-ray膜厚測試儀,熱門搜索:CT4000高性能涂層測厚儀     QuaNix4500涂層測厚儀     CM8822涂層測厚儀     EC770涂層測厚儀     MP0R測厚儀     DR260鍍鋅層測厚儀     【河北慧采科技開發(fā)有限公司】企業(yè)售后服務(wù)顧客滿意度企業(yè)★★世界500強(qiáng)企業(yè)合作單位★★河北省信用企業(yè)★★中國工業(yè)品售后服務(wù)行業(yè)500強(qiáng)★★誠信經(jīng)營企業(yè)★★撥打電話請(qǐng)告訴我產(chǎn)品訂貨號(hào)2、南安TT210涂層測厚儀,x-ray膜厚測試儀,多種型號(hào)圖片

型號(hào):RL076108QuaNix4500涂層測厚儀	型號(hào):RL076096CM8822涂層測厚儀	型號(hào):RL076095MP0R測厚儀

【南安TT210涂層測厚儀,x-ray膜厚測試儀,一共有★★30★★多種型號(hào)以上只顯示1-3種型號(hào)，如沒有合適您的產(chǎn)品請(qǐng)咨詢 河北慧采科技開發(fā)有限公司】3、南安TT210涂層測厚儀,x-ray膜厚測試儀,多種型號(hào)內(nèi)容型號(hào):RL076108QuaNix4500涂層測厚儀

QuaNix4500涂層測厚儀4500涂層測厚儀是Fe/NFe鐵基和非鐵基兩用測厚儀，4200涂層測厚儀fe鐵基測厚儀

1.無需校準(zhǔn)2.Fe/NFe兩用探頭（4500）3.自動(dòng)調(diào)零4.自動(dòng)開關(guān)機(jī)quanix4500涂層測厚儀集合了磁性測厚儀和渦流測厚儀兩種儀器的功能1. 鋼鐵材料上的銅、鉻、鋅等電鍍層或油漆、涂料、搪瓷等涂層厚度。2. 鋁、銅、金等箔、帶材料及紙張、塑料膜的厚度。3. 銅、鋁、鎂、鋅等非鐵金屬材料上的涂層厚度。4. 鋁、鎂材料上陽極氧化膜的厚度。5. 各種鋼鐵及非鐵金屬材料上熱噴涂層的厚度。

quanix 4500涂層測厚儀通常不必校正便可進(jìn)行測量。量 程：fe:0-3000μm ，nfe：0－2000μm精 度：0－50μm：≤±1μm，50－1000μm：≤±1.5%，1000－2000μm：≤±2%， 2000－5000μm≤±3%

 

欄目頁面:http://www.runlian365.com/chanpin/7266.html膜厚儀來源網(wǎng)址:http://www.runlian365.com/chanpin/did-76108-pid-7266.htmlQuaNix4500涂層測厚儀型號(hào):RL076096CM8822涂層測厚儀

產(chǎn)品簡介

產(chǎn)品型號(hào)：CM-8822

功能：測量導(dǎo)磁物體上的非導(dǎo)磁涂層和非磁性金屬基體上的非導(dǎo)電覆蓋層的厚度

測量范圍：0-1000um/0-40mil (標(biāo)準(zhǔn)量程)

小曲面:F:凸1.5mm/凹25mm N:凸3mm/凹50mm

分辨率：0.1/1

小測量面積：6mm

薄基底：0.3mm

自動(dòng)關(guān)機(jī)

使用環(huán)境：溫度：0-40℃濕度：10-90%RH

準(zhǔn)確度：±(1～3%n)或±2um

電源：4節(jié)5號(hào)電池

電池電壓指示：低電壓提示

外形尺寸：161X69X32mm

重量：210g（不含電池）

可選附件:（點(diǎn)擊鏈接）1可定制量程(大量程傳感器）可選:0-200um to 18000um

應(yīng)用：用磁性傳感器測量鋼、鐵等鐵磁質(zhì)金屬基體上的非鐵磁性涂層、鍍層，例如：漆、粉末、塑料、橡膠、合成材料、磷化層、鉻、鋅、鉛、鋁、錫、鎘、瓷、琺瑯、氧化層等。用渦流傳感器測量銅、鋁、鋅、錫等基體上的琺瑯、橡膠、油漆、塑料層等。廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。

 

欄目頁面:http://www.runlian365.com/chanpin/7266.html膜厚儀來源網(wǎng)址:http://www.runlian365.com/chanpin/did-76096-pid-7266.htmlCM8822涂層測厚儀型號(hào):RL076095MP0R測厚儀DUALSCOPE®MP0兩用型涂層測厚儀有2個(gè)液晶顯示屏，可以同時(shí)顯示鍍層厚度的讀數(shù)：一塊大的位于前部面板，另一塊位于上部面板。它獨(dú)特的符合人類工程學(xué)設(shè)計(jì)的集成于儀器的恒壓測量探頭允許方便地單手操作，可以進(jìn)行測量數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)評(píng)估DUALSCOPE®MP0 采用根據(jù)DINENISO2360，ASTMB244標(biāo)準(zhǔn)的電渦流方法和DINENISO2178，ASTMB499電磁感應(yīng)方法，被用來測量非導(dǎo)電涂層 在非鐵金屬基材上的厚度以及非鐵金屬鍍層和非導(dǎo)電涂層在鐵或鋼上的厚度。儀器能自動(dòng)地識(shí)別被測材料并選擇適合的測試方法。DUALSCOPE®MP0理想的適合于測量：非鐵金屬鍍層（例如：鉻，銅，鋅等）在鐵或鋼上。

油漆、臘克和合成涂層在鐵或鋼上。

非導(dǎo)電涂層在非鐵金屬基材上，例如：油漆、臘克和合成涂層在鋁、銅、黃銅、鋅和不銹鋼上。

鋁的陽極氧化層。

欄目頁面:http://www.runlian365.com/chanpin/7266.html膜厚儀來源網(wǎng)址:http://www.runlian365.com/chanpin/did-76095-pid-7266.htmlMP0R測厚儀溫馨提示：潤聯(lián)為您提供產(chǎn)品的詳細(xì)產(chǎn)品價(jià)格、產(chǎn)品圖片等產(chǎn)品介紹信息，您可以直接聯(lián)系廠家獲取產(chǎn)品的具體資料，聯(lián)系時(shí)請(qǐng)說明是在潤聯(lián)看到的，并告知型號(hào)

手提式通孔銅厚測試儀

電渦流法,可測未蝕刻板及蝕刻板,可配接打印機(jī),可輸出統(tǒng)計(jì)圖表,數(shù)據(jù).可以紅外線傳輸數(shù)據(jù).孔徑測量范圍:0.45mm-2.0mm板厚測量范圍:1.0mm-XXmm 

詳細(xì)說明

牛津儀器CMI760測厚儀專為滿足印刷電路板行業(yè)銅厚測量和質(zhì)量控制的需求而設(shè)計(jì)。 CMI760測厚儀可用于測量表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度。這款高擴(kuò)展性的臺(tái)式測厚儀系統(tǒng)采用微電阻和電渦流兩種方法來達(dá)到對(duì)表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度和精確的測量。CMI760臺(tái)式測厚儀具有非常高的多功能性和可擴(kuò)展性，對(duì)多種探頭的兼容使這款測厚儀滿足了包括表面銅、穿孔內(nèi)銅和微孔內(nèi)銅厚度的測量、以及孔內(nèi)銅質(zhì)量測試的多種應(yīng)用需求。 同時(shí)CMI760測厚儀具有的統(tǒng)計(jì)功能用于測試數(shù)據(jù)的整理分析。   CMI760測厚儀配置包括： CMI760測厚儀主機(jī) SRP-4探頭 SRP-4探頭替換用探針模塊（1個(gè)） NIST認(rèn)證的校驗(yàn)用標(biāo)準(zhǔn)片 CMI760測厚儀選配配件： ETP探頭 TRP探頭 SRG軟件     技術(shù)參數(shù)   SRP-4面銅探頭測試技術(shù)參數(shù)： 銅厚測量范圍： 化學(xué)銅：10 μin – 500 μin (0.25 μm – 12.7 μm) 電鍍銅：0.1 mil – 6 mil (2.5 μm – 152 μm) 線形銅可測試線寬范圍：8 mil – 250 mil (203 μm – 6350 μm)   度：±1% (±0.1 μm)參考標(biāo)準(zhǔn)片 精確度：化學(xué)銅：標(biāo)準(zhǔn)差0.2 %；電鍍銅：標(biāo)準(zhǔn)差0.5 % 分辨率：0.01 mils ≥ 1 mil, 0.001 mils <1 mil, 0.1 μm ≥ 10 μm, 0.01 μm < 10 μm, 0.001 μm < 1 μm     ETP孔銅探頭測試技術(shù)參數(shù)： 可測試最小孔直徑：35 mils (899 μm) 測量厚度范圍：0.08 – 4.0 mils (2 – 102 μm) 電渦流原理：遵守ASTM-E376-96標(biāo)準(zhǔn)的相關(guān)規(guī)定   度：±0.01 mil (0.25 μm) < 1 mil (25 μm) 精確度：1.2 mil（30μm）時(shí)，達(dá)到1.0% （實(shí)驗(yàn)室情況下） 分辨率：0.01 mils (0.1μm)     TRP-M（微孔）探頭測試技術(shù)參數(shù)： 最小可測試孔直徑范圍：10 – 40 mils (254 – 1016 μm) 孔內(nèi)銅厚測試范圍：0.5-2.5mils（12.7-63.5μm） 最大可測試板厚：175mil （4445 μm） 最小可測試板厚：板厚的最小值必須比所對(duì)應(yīng)測試線路板的最小孔孔徑值高3mils(76.2μm)   度（對(duì)比金相檢測法）：±0.01 mil (0.25 μm) < 1 mil (25 μm) ±10%≥1mil(25 μm) 精確度：不建議對(duì)同一孔進(jìn)行多次測試 分辨率：0.01 mil(0.1 μm)

CMI760

CMI760測厚儀專為滿足印刷電路板行業(yè)銅厚測量和質(zhì)量控制的需求而設(shè)計(jì)。 CMI760測厚儀可用于測量表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度。這款高擴(kuò)展性的臺(tái)式測厚儀系統(tǒng)采用微電阻和電渦流兩種方法來達(dá)到對(duì)表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度和精確的測量。CMI760臺(tái)式測厚儀具有非常高的多功能性和可擴(kuò)展性，對(duì)多種探頭的兼容使這款測厚儀滿足了包括表面銅、穿孔內(nèi)銅和微孔內(nèi)銅厚度的測量、以及孔內(nèi)銅質(zhì)量測試的多種應(yīng)用需求。 同時(shí)CMI760測厚儀具有的統(tǒng)計(jì)功能用于測試數(shù)據(jù)的整理分析。   CMI760測厚儀配置包括： CMI760測厚儀主機(jī) SRP-4探頭 SRP-4探頭替換用探針模塊（1個(gè)） NIST認(rèn)證的校驗(yàn)用標(biāo)準(zhǔn)片 CMI760測厚儀選配配件： ETP探頭 TRP探頭 SRG軟件

技術(shù)參數(shù)

SRP-4面銅探頭測試技術(shù)參數(shù)： 銅厚測量范圍： 化學(xué)銅：10 μin – 500 μin （0.25 μm – 12.7 μm） 電鍍銅：0.1 mil – 6 mil （2.5 μm – 152 μm） 線形銅可測試線寬范圍：8 mil – 250 mil （203 μm – 6350 μm）   度：±1% （±0.1 μm）參考標(biāo)準(zhǔn)片 精確度：化學(xué)銅：標(biāo)準(zhǔn)差0.2 %；電鍍銅：標(biāo)準(zhǔn)差0.5 % 分辨率：0.01 mils ≥ 1 mil, 0.001 mils <1 mil, 0.1 μm ≥ 10 μm, 0.01 μm < 10 μm, 0.001 μm < 1 μm     ETP孔銅探頭測試技術(shù)參數(shù)： 可測試最小孔直徑：35 mils （899 μm） 測量厚度范圍：0.08 – 4.0 mils （2 – 102 μm） 電渦流原理：遵守ASTM-E376-96標(biāo)準(zhǔn)的相關(guān)規(guī)定   度：±0.01 mil （0.25 μm） < 1 mil （25 μm） 精確度：1.2 mil（30μm）時(shí)，達(dá)到1.0% （實(shí)驗(yàn)室情況下） 分辨率：0.01 mils （0.1μm）     TRP-M（微孔）探頭測試技術(shù)參數(shù)： 最小可測試孔直徑范圍：10 – 40 mils （254 – 1016 μm） 孔內(nèi)銅厚測試范圍：0.5-2.5mils（12.7-63.5μm） 最大可測試板厚：175mil （4445 μm） 最小可測試板厚：板厚的最小值必須比所對(duì)應(yīng)測試線路板的最小孔孔徑值高3mils（76.2μm）   度（對(duì)比金相檢測法）：±0.01 mil （0.25 μm） < 1 mil （25 μm） ±10%≥1mil（25 μm） 精確度：不建議對(duì)同一孔進(jìn)行多次測試 分辨率：0.01 mil（0.1 μm）

CMI-700PCB面銅及孔銅厚度測量儀

--銅厚測量范圍：

－－化學(xué)銅：10 μin – 500 μin （0.25 μm – 12.7 μm）

－－電鍍銅：0.1 mil – 6 mil （2.5 μm – 152 μm）

－－線形銅可測試線寬范圍：8 mil – 250 mil （203 μm – 6350 μm）

－－度：±1% （±0.1 μm）參考標(biāo)準(zhǔn)片

－－精確度：化學(xué)銅：標(biāo)準(zhǔn)差0.2 %；電鍍銅：標(biāo)準(zhǔn)差0.5 %

－－分辨率：0.01 mils ≥ 1 mil, 0.001 mils <1 mil,

0.1 μm ≥ 10 μm, 0.01 μm < 10 μm, 0.001 μm < 1 μm

CMI760 PCB專用銅厚測試儀

CMI760銅厚測試儀介紹

牛津儀器測厚儀器CMI760專為滿足印刷電路板行業(yè)銅厚測量和質(zhì)量控制的需求而設(shè)計(jì)。 CMI760可用于測量表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度。這款高擴(kuò)展性的臺(tái)式測厚儀系統(tǒng)能采用微電阻和電渦流兩種方法來達(dá)到對(duì)表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度和精確的測量。CMI 760臺(tái)式測量系統(tǒng)具有非常高的多功能性和可擴(kuò)展性，對(duì)多種探頭的兼容使其滿足了包括表面銅、穿孔內(nèi)銅和微孔內(nèi)銅厚度的測量、以及孔內(nèi)銅質(zhì)量測試的多種應(yīng)用需求。 同時(shí)CMI760具有的統(tǒng)計(jì)功能用于測試數(shù)據(jù)的整理分析。

CMI760銅厚測試儀技術(shù)參數(shù)

SRP-4面銅探頭測試技術(shù)參數(shù)：

銅厚測量范圍： 化學(xué)銅：10 μin – 500 μin (0.25 μm – 12.7 μm) 電鍍銅：0.1 mil – 6 mil (2.5 μm – 152 μm) 線形銅可測試線寬范圍：8 mil – 250 mil (203 μm – 6350 μm) 度：±1% (±0.1 μm)參考標(biāo)準(zhǔn)片 精確度：化學(xué)銅：標(biāo)準(zhǔn)差0.2 %；電鍍銅：標(biāo)準(zhǔn)差0.5 % 分辨率：0.01 mils ≥ 1 mil, 0.001 mils <1 mil, 0.1 μm ≥ 10 μm, 0.01 μm < 10 μm, 0.001 μm < 1 μm

ETP孔銅探頭測試技術(shù)參數(shù)：

可測試最小孔直徑：35 mils (899 μm) 測量厚度范圍：0.08 – 4.0 mils (2 – 102 μm) 電渦流原理：遵守ASTM-E376-96標(biāo)準(zhǔn)的相關(guān)規(guī)定 度：±0.01 mil (0.25 μm) < 1 mil (25 μm) 精確度：1.2 mil（30μm）時(shí)，達(dá)到1.0% （實(shí)驗(yàn)室情況下） 分辨率：0.01 mils (0.1μm)

TRP-M（微孔）探頭測試技術(shù)參數(shù)：

最小可測試孔直徑范圍：10 – 40 mils (254 – 1016 μm) 孔內(nèi)銅厚測試范圍：0.5-2.5mils（12.7-63.5μm） 最大可測試板厚：175mil （4445 μm） 最小可測試板厚：板厚的最小值必須比所對(duì)應(yīng)測試線路板的最小孔孔徑值高3mils(76.2μm) 度（對(duì)比金相檢測法）：±0.01 mil (0.25 μm) < 1 mil (25 μm) ±10%≥1mil(25 μm) 精確度：不建議對(duì)同一孔進(jìn)行多次測試 分辨率：0.01 mil(0.1 μm)

 

美國THERMO/CalMetrics X-RAY鍍層膜厚測試儀標(biāo)準(zhǔn)片

測厚儀標(biāo)準(zhǔn)片一般分為單鍍層片，雙鍍層片,多鍍層片,合金鍍層片,化學(xué)鍍層片。如:

單鍍層：Ag/xx, 雙鍍層：Au/Ni/xx , 三鍍層：Au/Pd/Ni/xx, 合金鍍層：Sn-Pb/xx, 化學(xué)鍍層：Ni-P/xx.

我們可以根據(jù)客戶不同的金屬元素,鍍層結(jié)構(gòu),鍍層厚度等要求向美國工廠定做標(biāo)準(zhǔn)片,并可出據(jù)標(biāo)準(zhǔn)片厚度值證書.

我公司是一精密測試儀器代理商，為香港儀高集團(tuán)附屬成員. 我集團(tuán)在中國和香港地區(qū)代理韓國MICRO PIONEER XRF-2000系列X-射線測厚儀及德國ROENTGENANALYTIK Compact eco系列X-射線測厚儀。此兩種儀器主要用于鍍層或涂層厚度的測量，而且特別適合于對(duì)微細(xì)表面積或超薄鍍層的測量。歡迎隨時(shí)來電咨詢或親臨我司測試及參觀!!!

 

多年來，我們一直于為PCB 廠商，電鍍行業(yè)，科研機(jī)構(gòu)，半導(dǎo)體生產(chǎn)等電子行業(yè)提供高性能的儀器和的售后服務(wù)。讓客戶滿意，為客戶創(chuàng)造最大的價(jià)值是我們始終追求的目標(biāo)，因?yàn)槲覀儓?jiān)信，客戶的需要就是我們前進(jìn)的動(dòng)力。愿我們成為真誠的合作伙伴、共同描繪雙方的發(fā)展藍(lán)圖！欲了解產(chǎn)品詳情，請(qǐng)與我們聯(lián)系或訪問http://eastco.18show.com.cn