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600SMD美國(guó)OMEGA 600SMD 離子污染測(cè)試儀

美國(guó)OMEGA  600SMD 離子污染測(cè)試儀一.說(shuō)明:顯示提示------屏幕清楚的顯示操作者輸入的信息,并且提供繼續(xù)操作的提示給測(cè)試者,以做出不同的條件設(shè)定。系統(tǒng)打印機(jī)---------在測(cè)試進(jìn)行中,點(diǎn)陣打印機(jī)就會(huì)繪制一份離子含量曲線(xiàn)圖表,并且每十秒鐘數(shù)據(jù)點(diǎn)會(huì)標(biāo)識(shí)一次。檢測(cè)結(jié)束后,的離子含量水平、測(cè)試的參數(shù)以及所測(cè)樣品是否合格的情況都會(huì)打印出來(lái)。穩(wěn)定的數(shù)據(jù)庫(kù)---------可以存儲(chǔ)30個(gè)樣品的數(shù)據(jù),包括樣品代碼、客戶(hù)代碼和樣品面積的大小。系統(tǒng)會(huì)保存最近輸入的測(cè)試液的濃度。加熱測(cè)試液----------加熱測(cè)試液是操作SMD600 離子污染測(cè)試儀的重要因素,當(dāng)提高測(cè)試液溫度至110-----125°F時(shí)就可以提高液體內(nèi)離子的分解速度。不銹鋼蓄水箱裝有發(fā)熱管及溫控器,當(dāng)水溫超過(guò)130°F時(shí)就會(huì)發(fā)出警告并停止加溫。系統(tǒng)預(yù)熱需要大約45分鐘,操作的溫度應(yīng)保持在110°F-------125°F,這主要是根據(jù)測(cè)試槽的大小以及周?chē)臏囟葋?lái)調(diào)節(jié)的。電子校驗(yàn)--------此儀器可用電阻測(cè)量系統(tǒng)予以確認(rèn),如果這個(gè)系統(tǒng)不能正常的工作,那么系統(tǒng)就會(huì)停止并且在顯示器上出現(xiàn)相應(yīng)的提示;瘜W(xué)校驗(yàn)--------這個(gè)程序適合所有系統(tǒng)部件的操作確認(rèn),從測(cè)量探頭至系統(tǒng)打印機(jī)。自動(dòng)停止--------操作者對(duì)測(cè)試循環(huán)的時(shí)間可作設(shè)定。如果未設(shè)定,那么系統(tǒng)在離子水平穩(wěn)定并且四分鐘保持不變就會(huì)自動(dòng)停止。RS-232-C數(shù)據(jù)輸出系統(tǒng)---------IBM兼容部分安裝在儀器的后面可作數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換,電腦和儀器需要驅(qū)動(dòng)軟件,只有當(dāng)數(shù)據(jù)輸出完畢之后,系統(tǒng)才能進(jìn)行交互(目前尚未有此功能)。測(cè)試槽--------根據(jù)樣品的表面大小、比例來(lái)選擇的測(cè)試液量,可選擇四種不同大小的測(cè)試槽(8”×8”,12”×12”,12”×18”,18”×18”)。理想的操作是達(dá)到比例為35 cc/sq.inch。所有的測(cè)試槽都安裝有浸潤(rùn)式的噴水頭,這樣可以滲透至樣品的不同部位以及增加沖洗的速度。在測(cè)試槽的底部有多個(gè)進(jìn)水口。液體量的指示器--------系統(tǒng)的測(cè)試槽標(biāo)有容積刻度,這樣就可以直接讀出系統(tǒng)液體量。二.操作原理:SMD600離子污染測(cè)試儀通過(guò)監(jiān)控混合液中所含離子的電阻大小從而得出所所含離子的數(shù)量。在測(cè)試的開(kāi)始時(shí),系統(tǒng)的檢測(cè)器和記錄器會(huì)根據(jù)測(cè)試槽內(nèi)最初的離子含量建立一個(gè)基準(zhǔn)數(shù)據(jù),然后計(jì)算在測(cè)試的過(guò)程中增加的離子量,當(dāng)所有的離子溶解入測(cè)試液中時(shí),就可達(dá)到一個(gè)平衡的數(shù)值。在測(cè)試通孔的板時(shí),這些操作大約需要5-10分鐘,測(cè)試SMD的板時(shí),大約需要30-45分鐘。測(cè)試結(jié)束后,的離子含量水平,會(huì)編成一份微觀(guān)圖,包括NaCl/sq.inch 、測(cè)試的參數(shù)以及根據(jù)設(shè)定的標(biāo)準(zhǔn)是否合格情況,在進(jìn)行下一次測(cè)試之前,通過(guò)儀器內(nèi)的除離子系統(tǒng)清潔測(cè)試液,從而達(dá)到再生的功能,并且建立新的基準(zhǔn)水平。三.SMD600離子污染測(cè)試儀是的儀器SMD600離子污染測(cè)試儀是一個(gè)功能齊全的微處理器控制儀器,采用非破壞式的測(cè)試方法,適合用于檢測(cè)印制線(xiàn)路板和相關(guān)部件的離子含量。根據(jù)測(cè)試液中電阻的變化來(lái)測(cè)試離子的含量。利用加熱測(cè)試液至大約120°F并且結(jié)合了噴水器的沖刷,從而更的提高了清潔度,對(duì)于高密度的SMD產(chǎn)品可以達(dá)到90%--95%的清潔度。四.特點(diǎn):1.理器控制2.?dāng)?shù)據(jù)條顯示,簡(jiǎn)單方便3.可存儲(chǔ)30個(gè)樣品的數(shù)據(jù)4.以曲線(xiàn)圖表的打印所有測(cè)試程序5.自動(dòng)停止測(cè)試6.加熱測(cè)試液以增加離子溶解度7.測(cè)試槽中的噴水頭增加滲透性8.快速測(cè)試9.測(cè)試槽的大小可選擇10.RS-232-C的電腦輸出端口(未有)11.英制/公制的轉(zhuǎn)換

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OMEGA離子污染測(cè)試儀(OMEGA Meter 600 SMD)

一.說(shuō)明: 顯示提示------屏幕清楚的顯示操作者輸入的信息,并且提供繼續(xù)操作的提示給測(cè)試者,以做出不同的條件設(shè)定。 系統(tǒng)打印機(jī)---------在測(cè)試進(jìn)行中,點(diǎn)陣打印機(jī)就會(huì)繪制一份離子含量曲線(xiàn)圖表,并且每十秒鐘數(shù)據(jù)點(diǎn)會(huì)標(biāo)識(shí)一次。檢測(cè)結(jié)束后,的離子含量水平、測(cè)試的參數(shù)以及所測(cè)樣品是否合格的情況都會(huì)打印出來(lái)。 穩(wěn)定的數(shù)據(jù)庫(kù)---------可以存儲(chǔ)30個(gè)樣品的數(shù)據(jù),包括樣品代碼、客戶(hù)代碼和樣品面積的大小。系統(tǒng)會(huì)保存最近輸入的測(cè)試液的濃度。 加熱測(cè)試液----------加熱測(cè)試液是操作SMD600 離子污染測(cè)試儀的重要因素,當(dāng)提高測(cè)試液溫度至110-----125°F時(shí)就可以提高液體內(nèi)離子的分解速度。不銹鋼蓄水箱裝有發(fā)熱管及溫控器,當(dāng)水溫超過(guò)130°F時(shí)就會(huì)發(fā)出警告并停止加溫。系統(tǒng)預(yù)熱需要大約45分鐘,操作的溫度應(yīng)保持在110°F-------125°F,這主要是根據(jù)測(cè)試槽的大小以及周?chē)臏囟葋?lái)調(diào)節(jié)的。 電子校驗(yàn)--------此儀器可用電阻測(cè)量系統(tǒng)予以確認(rèn),如果這個(gè)系統(tǒng)不能正常的工作,那么系統(tǒng)就會(huì)停止并且在顯示器上出現(xiàn)相應(yīng)的提示。 化學(xué)校驗(yàn)--------這個(gè)程序適合所有系統(tǒng)部件的操作確認(rèn),從測(cè)量探頭至系統(tǒng)打印機(jī)。 自動(dòng)停止--------操作者對(duì)測(cè)試循環(huán)的時(shí)間可作設(shè)定。如果未設(shè)定,那么系統(tǒng)在離子水平穩(wěn)定并且四分鐘保持不變就會(huì)自動(dòng)停止。 RS-232-C數(shù)據(jù)輸出系統(tǒng)---------IBM兼容部分安裝在儀器的后面可作數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換,電腦和儀器需要驅(qū)動(dòng)軟件,只有當(dāng)數(shù)據(jù)輸出完畢之后,系統(tǒng)才能進(jìn)行交互(目前尚未有此功能)。 測(cè)試槽--------根據(jù)樣品的表面大小、比例來(lái)選擇的測(cè)試液量,可選擇四種不同大小的測(cè)試槽(8”×8”,12”×12”,12”×18”,18”×18”)。理想的操作是達(dá)到比例為35 cc/sq.inch。所有的測(cè)試槽都安裝有浸潤(rùn)式的噴水頭,這樣可以滲透至樣品的不同部位以及增加沖洗的速度。在測(cè)試槽的底部有多個(gè)進(jìn)水口。 液體量的指示器--------系統(tǒng)的測(cè)試槽標(biāo)有容積刻度,這樣就可以直接讀出系統(tǒng)液體量。 二.操作原理: SMD600離子污染測(cè)試儀通過(guò)監(jiān)控混合液中所含離子的電阻大小從而得出所所含離子的數(shù)量。 在測(cè)試的開(kāi)始時(shí),系統(tǒng)的檢測(cè)器和記錄器會(huì)根據(jù)測(cè)試槽內(nèi)最初的離子含量建立一個(gè)基準(zhǔn)數(shù)據(jù),然后計(jì)算在測(cè)試的過(guò)程中增加的離子量,當(dāng)所有的離子溶解入測(cè)試液中時(shí),就可達(dá)到一個(gè)平衡的數(shù)值。在測(cè)試通孔的板時(shí),這些操作大約需要5-10分鐘,測(cè)試SMD的板時(shí),大約需要30-45分鐘。 測(cè)試結(jié)素后,的離子含量水平,會(huì)編成一份微觀(guān)圖,包括NaCl/sq.inch 、測(cè)試的參數(shù)以及根據(jù)設(shè)定的標(biāo)準(zhǔn)是否合格情況,在進(jìn)行下一次測(cè)試之前,通過(guò)儀器內(nèi)的除離子系統(tǒng)清潔測(cè)試液,從而達(dá)到再生的功能,并且建立新的基準(zhǔn)水平。 三.SMD600離子污染測(cè)試儀是的儀器 SMD600離子污染測(cè)試儀是一個(gè)功能齊全的微處理器控制儀器,采用非破壞式的測(cè)試方法,適合用于檢測(cè)印制線(xiàn)路板和相關(guān)部件的離子含量。根據(jù)測(cè)試液中電阻的變化來(lái)測(cè)試離子的含量。利用加熱測(cè)試液至大約120°F并且結(jié)合了噴水器的沖刷,從而更的提高了清潔度,對(duì)于高密度的SMD產(chǎn)品可以達(dá)到90%--95%的清潔度。 四.特點(diǎn): 1.理器控制 2.?dāng)?shù)據(jù)條顯示,簡(jiǎn)單方便 3.可存儲(chǔ)30個(gè)樣品的數(shù)據(jù)

600SMD離子污染測(cè)試儀

600SMD離子污染測(cè)試儀是一個(gè)功能齊全的微處理器控制儀器,采用非破壞式的測(cè)試方法,適合用于檢測(cè)印制線(xiàn)路板和相關(guān)部件的離子含量。根據(jù)測(cè)試液中電阻的變化來(lái)測(cè)試離子的含量。利用加熱測(cè)試液至大約120°F并且結(jié)合了噴水器的沖刷,從而更的提高了清潔度,對(duì)于高密度的SMD產(chǎn)品可以達(dá)到90%-95%的清潔度。

SMD600離子污染測(cè)試儀

美國(guó)OMEGA離子污染測(cè)試儀SMD600

詳細(xì)說(shuō)明:顯示提示------屏幕清楚的顯示操作者輸入的信息,并且提供繼續(xù)操作的提示給測(cè)試者,以做出不同的條件設(shè)定。系統(tǒng)打印機(jī)---------在測(cè)試進(jìn)行中,點(diǎn)陣打印機(jī)就會(huì)繪制一份離子含量曲線(xiàn)圖表,并且每十秒鐘數(shù)據(jù)點(diǎn)會(huì)標(biāo)識(shí)一次。檢測(cè)結(jié)束后,的離子含量水平、測(cè)試的參數(shù)以及所測(cè)樣品是否合格的情況都會(huì)打印出來(lái)。穩(wěn)定的數(shù)據(jù)庫(kù)---------可以存儲(chǔ)30個(gè)樣品的數(shù)據(jù),包括樣品代碼、客戶(hù)代碼和樣品面積的大小。系統(tǒng)會(huì)保存最近輸入的測(cè)試液的濃度。加熱測(cè)試液----------加熱測(cè)試液是操作SMD600 離子污染測(cè)試儀的重要因素,當(dāng)提高測(cè)試液溫度至110-----125°F時(shí)就可以提高液體內(nèi)離子的分解速度。不銹鋼蓄水箱裝有發(fā)熱管及溫控器,當(dāng)水溫超過(guò)130°F時(shí)就會(huì)發(fā)出警告并停止加溫。系統(tǒng)預(yù)熱需要大約45分鐘,操作的溫度應(yīng)保持在110°F-------125°F,這主要是根據(jù)測(cè)試槽的大小以及周?chē)臏囟葋?lái)調(diào)節(jié)的。電子校驗(yàn)--------此儀器可用電阻測(cè)量系統(tǒng)予以確認(rèn),如果這個(gè)系統(tǒng)不能正常的工作,那么系統(tǒng)就會(huì)停止并且在顯示器上出現(xiàn)相應(yīng)的提示;瘜W(xué)校驗(yàn)--------這個(gè)程序適合所有系統(tǒng)部件的操作確認(rèn),從測(cè)量探頭至系統(tǒng)打印機(jī)。自動(dòng)停止--------操作者對(duì)測(cè)試循環(huán)的時(shí)間可作設(shè)定。如果未設(shè)定,那么系統(tǒng)在離子水平穩(wěn)定并且四分鐘保持不變就會(huì)自動(dòng)停止。RS-232-C數(shù)據(jù)輸出系統(tǒng)---------IBM兼容部分安裝在儀器的后面可作數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換,電腦和儀器需要驅(qū)動(dòng)軟件,只有當(dāng)數(shù)據(jù)輸出完畢之后,系統(tǒng)才能進(jìn)行交互(目前尚未有此功能)。測(cè)試槽--------根據(jù)樣品的表面大小、比例來(lái)選擇的測(cè)試液量,可選擇四種不同大小的測(cè)試槽(8”×8”,12”×12”,12”×18”,18”×18”)。理想的操作是達(dá)到比例為35 cc/sq.inch。所有的測(cè)試槽都安裝有浸潤(rùn)式的噴水頭,這樣可以滲透至樣品的不同部位以及增加沖洗的速度。在測(cè)試槽的底部有多個(gè)進(jìn)水口。液體量的指示器--------系統(tǒng)的測(cè)試槽標(biāo)有容積刻度,這樣就可以直接讀出系統(tǒng)液體量。

操作原理:SMD600離子污染測(cè)試儀通過(guò)監(jiān)控混合液中所含離子的電阻大小從而得出所所含離子的數(shù)量。在測(cè)試的開(kāi)始時(shí),系統(tǒng)的檢測(cè)器和記錄器會(huì)根據(jù)測(cè)試槽內(nèi)最初的離子含量建立一個(gè)基準(zhǔn)數(shù)據(jù),然后計(jì)算在測(cè)試的過(guò)程中增加的離子量,當(dāng)所有的離子溶解入測(cè)試液中時(shí),就可達(dá)到一個(gè)平衡的數(shù)值。在測(cè)試通孔的板時(shí),這些操作大約需要5-10分鐘,測(cè)試SMD的板時(shí),大約需要30-45分鐘。測(cè)試結(jié)素后,的離子含量水平,會(huì)編成一份微觀(guān)圖,包括NaCl/sq.inch 、測(cè)試的參數(shù)以及根據(jù)設(shè)定的標(biāo)準(zhǔn)是否合格情況,在進(jìn)行下一次測(cè)試之前,通過(guò)儀器內(nèi)的除離子系統(tǒng)清潔測(cè)試液,從而達(dá)到再生的功能,并且建立新的基準(zhǔn)水平。

儀器特點(diǎn):1.理器控制2.?dāng)?shù)據(jù)條顯示,簡(jiǎn)單方便3.可存儲(chǔ)30個(gè)樣品的數(shù)據(jù)4.以曲線(xiàn)圖表的打印所有測(cè)試程序5.自動(dòng)停止測(cè)試6.加熱測(cè)試液以增加離子溶解度7.測(cè)試槽中的噴水頭增加滲透性8.快速測(cè)試9.測(cè)試槽的大小可選擇10.RS-232-C的電腦輸出端口(未有)11.英制/公制的轉(zhuǎn)換

SMD600離子污染測(cè)試儀是的儀器SMD600離子污染測(cè)試儀是一個(gè)功能齊全的微處理器控制儀器,采用非破壞式的測(cè)試方法,適合用于檢測(cè)印制線(xiàn)路板和相關(guān)部件的離子含量。根據(jù)測(cè)試液中電阻的變化來(lái)測(cè)試離子的含量。利用加熱測(cè)試液至大約120°F并且結(jié)合了噴水器的沖刷,從而更的提高了清潔度,對(duì)于高密度的SMD產(chǎn)品可以達(dá)到90%--95%的清潔度

美國(guó)OMEGA SMD600美國(guó)OMEGA離子污染測(cè)試儀SMD600

美國(guó)OMEGA離子污染測(cè)試儀SMD600

 

一.說(shuō)明:

顯示提示------屏幕清楚的顯示操作者輸入的信息,并且提供繼續(xù)操作的提示給測(cè)試者,以做出不同的條件設(shè)定。

系統(tǒng)打印機(jī)---------在測(cè)試進(jìn)行中,點(diǎn)陣打印機(jī)就會(huì)繪制一份離子含量曲線(xiàn)圖表,并且每十秒鐘數(shù)據(jù)點(diǎn)會(huì)標(biāo)識(shí)一次。檢測(cè)結(jié)束后,的離子含量水平、測(cè)試的參數(shù)以及所測(cè)樣品是否合格的情況都會(huì)打印出來(lái)。

穩(wěn)定的數(shù)據(jù)庫(kù)---------可以存儲(chǔ)30個(gè)樣品的數(shù)據(jù),包括樣品代碼、客戶(hù)代碼和樣品面積的大小。系統(tǒng)會(huì)保存最近輸入的測(cè)試液的濃度。

加熱測(cè)試液----------加熱測(cè)試液是操作SMD600 離子污染測(cè)試儀的重要因素,當(dāng)提高測(cè)試液溫度至110-----125°F時(shí)就可以提高液體內(nèi)離子的分解速度。不銹鋼蓄水箱裝有發(fā)熱管及溫控器,當(dāng)水溫超過(guò)130°F時(shí)就會(huì)發(fā)出警告并停止加溫。系統(tǒng)預(yù)熱需要大約45分鐘,操作的溫度應(yīng)保持在110°F-------125°F,這主要是根據(jù)測(cè)試槽的大小以及周?chē)臏囟葋?lái)調(diào)節(jié)的。

電子校驗(yàn)--------此儀器可用電阻測(cè)量系統(tǒng)予以確認(rèn),如果這個(gè)系統(tǒng)不能正常的工作,那么系統(tǒng)就會(huì)停止并且在顯示器上出現(xiàn)相應(yīng)的提示。

化學(xué)校驗(yàn)--------這個(gè)程序適合所有系統(tǒng)部件的操作確認(rèn),從測(cè)量探頭至系統(tǒng)打印機(jī)。

自動(dòng)停止--------操作者對(duì)測(cè)試循環(huán)的時(shí)間可作設(shè)定。如果未設(shè)定,那么系統(tǒng)在離子水平穩(wěn)定并且四分鐘保持不變就會(huì)自動(dòng)停止。

RS-232-C數(shù)據(jù)輸出系統(tǒng)---------IBM兼容部分安裝在儀器的后面可作數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換,電腦和儀器需要驅(qū)動(dòng)軟件,只有當(dāng)數(shù)據(jù)輸出完畢之后,系統(tǒng)才能進(jìn)行交互(目前尚未有此功能)。

測(cè)試槽--------根據(jù)樣品的表面大小、比例來(lái)選擇的測(cè)試液量,可選擇四種不同大小的測(cè)試槽(8”×8”,12”×12”,12”×18”,18”×18”)。理想的操作是達(dá)到比例為35 cc/sq.inch。所有的測(cè)試槽都安裝有浸潤(rùn)式的噴水頭,這樣可以滲透至樣品的不同部位以及增加沖洗的速度。在測(cè)試槽的底部有多個(gè)進(jìn)水口。

液體量的指示器--------系統(tǒng)的測(cè)試槽標(biāo)有容積刻度,這樣就可以直接讀出系統(tǒng)液體量。

二.操作原理:

SMD600離子污染測(cè)試儀通過(guò)監(jiān)控混合液中所含離子的電阻大小從而得出所所含離子的數(shù)量。

在測(cè)試的開(kāi)始時(shí),系統(tǒng)的檢測(cè)器和記錄器會(huì)根據(jù)測(cè)試槽內(nèi)最初的離子含量建立一個(gè)基準(zhǔn)數(shù)據(jù),然后計(jì)算在測(cè)試的過(guò)程中增加的離子量,當(dāng)所有的離子溶解入測(cè)試液中時(shí),就可達(dá)到一個(gè)平衡的數(shù)值。在測(cè)試通孔的板時(shí),這些操作大約需要5-10分鐘,測(cè)試SMD的板時(shí),大約需要30-45分鐘。

測(cè)試結(jié)素后,的離子含量水平,會(huì)編成一份微觀(guān)圖,包括NaCl/sq.inch 、測(cè)試的參數(shù)以及根據(jù)設(shè)定的標(biāo)準(zhǔn)是否合格情況,在進(jìn)行下一次測(cè)試之前,通過(guò)儀器內(nèi)的除離子系統(tǒng)清潔測(cè)試液,從而達(dá)到再生的功能,并且建立新的基準(zhǔn)水平。

三.SMD600離子污染測(cè)試儀是的儀器

SMD600離子污染測(cè)試儀是一個(gè)功能齊全的微處理器控制儀器,采用非破壞式的測(cè)試方法,適合用于檢測(cè)印制線(xiàn)路板和相關(guān)部件的離子含量。根據(jù)測(cè)試液中電阻的變化來(lái)測(cè)試離子的含量。利用加熱測(cè)試液至大約120°F并且結(jié)合了噴水器的沖刷,從而更的提高了清潔度,對(duì)于高密度的SMD產(chǎn)品可以達(dá)到90%--95%的清潔度。

四.特點(diǎn):

1.理器控制

2.?dāng)?shù)據(jù)條顯示,簡(jiǎn)單方便

3.可存儲(chǔ)30個(gè)樣品的數(shù)據(jù)

4.以曲線(xiàn)圖表的打印所有測(cè)試程序

5.自動(dòng)停止測(cè)試

6.加熱測(cè)試液以增加離子溶解度

7.測(cè)試槽中的噴水頭增加滲透性

8.快速測(cè)試

9.測(cè)試槽的大小可選擇

10.RS-232-C的電腦輸出端口(未有)

11.英制/公制的轉(zhuǎn)換

 

 

美國(guó)OMEGA離子污染測(cè)試儀

美國(guó)OMEGA離子污染測(cè)試儀適用于PCB、PCBA、半導(dǎo)體等行業(yè),內(nèi)置數(shù)據(jù)打印,可選大小不同的測(cè)試槽。

LZ12離子污染測(cè)試儀-廣東正業(yè)

離子污染測(cè)試儀是廣東正業(yè)自主研發(fā)的一款產(chǎn)品。離子污染測(cè)試儀LZ12屬服務(wù)于印制線(xiàn)路板行業(yè)及相關(guān)產(chǎn)業(yè)的精密檢測(cè)儀器,可對(duì)清洗、涂敷等工藝前后光板進(jìn)行離子污染測(cè)試; 拓展應(yīng)用到對(duì)元器件生產(chǎn)工藝中某一階段 的制品進(jìn)行測(cè)試或?qū)ρb配清洗前后的電路板做離子污染測(cè)試;有利于進(jìn)一步提高電子產(chǎn)品壽命、性、控制環(huán)境污染。          離子污染測(cè)試儀特點(diǎn):     1、操作簡(jiǎn)單,電腦控制,完成預(yù)熱、測(cè)試、再生等工作     2、綠色軟件,無(wú)需安裝,直接運(yùn)行     3、USB,RS232數(shù)據(jù)線(xiàn)自由切換,可滿(mǎn)足不同端口電腦需求     4、3種操作語(yǔ)言可供選擇:英文、簡(jiǎn)體中文和繁體中文     5、實(shí)時(shí)顯示電導(dǎo)率和離子曲線(xiàn),測(cè)試過(guò)程更直觀(guān)     6、的系統(tǒng)安全性:多級(jí)操作用戶(hù)密碼保護(hù)     7、具有加熱及溫度控制功能,可以在恒定的40度下工作     8、采用陰陽(yáng)離子混合交換樹(shù)脂,過(guò)濾效果更好     9、符合標(biāo)準(zhǔn):     GB/T 4677 22a《印制板測(cè)試方法 印制板表面離子污染》;     GB/T 18268《測(cè)量、控制和實(shí)驗(yàn)室用的電設(shè)備電磁兼容性要求》;     SJ/T 11364《電子信息產(chǎn)品污染控制標(biāo)識(shí)要求》;     IPC-6012B 3.9《剛性印制板的鑒定及性能規(guī)范:清潔度》;     IPC-TN-650 2.3.25B《印制板表面離子污染測(cè)試方法》          離子污染測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)     項(xiàng)目 規(guī)格     型號(hào) LZ12     測(cè)試方法 靜態(tài)測(cè)試     測(cè)試精度 ±5%     電導(dǎo)率分析率 0.001μs/cm     測(cè)量板尺寸 10cm×10cm~60cm×35cm     萃取液比重 0.85~0.855     萃取液體積 約17L     水箱體積 352mm×70mm×600mm(L×W×H)     外形尺寸 1050mm×600mm×920mm(L×W×H)     功率 1300W     電源要求 220V~50HZ     重量 約115kg     工作環(huán)境溫度 22±3℃     工作萃取液溫度 40±2℃

該公司產(chǎn)品分類(lèi): 耗材產(chǎn)品 鋰電檢測(cè)設(shè)備 PCB檢測(cè)儀器

SMD600離子污染測(cè)試儀

產(chǎn)地:美國(guó)   型號(hào):SMD600SMD600離子污染測(cè)試儀是一個(gè)功能齊全的微處理器控制儀器,采用非破壞式的測(cè)量方法,適合用于檢測(cè)印制線(xiàn)路板和相關(guān)部件的離子含量。根據(jù)測(cè)試液中電阻的變化來(lái)測(cè)試離子的含量。特點(diǎn):  微處理控制器  數(shù)據(jù)條顯示簡(jiǎn)單方便  可存儲(chǔ)30個(gè)樣品數(shù)據(jù)  曲線(xiàn)圖表的打印所以測(cè)試程序  自動(dòng)停止測(cè)試  加熱測(cè)試液以增加離子溶解度  測(cè)試槽中的噴水頭增加滲透性  快速測(cè)試  測(cè)試槽的大小可選擇  英制/工制的轉(zhuǎn)換

CT100離子污染測(cè)試儀

METRONELEC 離子污染程度測(cè)試儀 CT100 什么是離子污染? 離子污染就是在潮濕空氣中的離子形式出現(xiàn)的殘留物。 殘留物來(lái)自不同渠道….任

何地方都有可能造成離子污染… 離子殘留,通常是有極性的,而且有可能在線(xiàn)路板上引起電氣化學(xué)效應(yīng)(如果同時(shí)還有電子出現(xiàn)) 這些污染

物由于不能通過(guò)目檢發(fā)現(xiàn),其存在尤其危險(xiǎn)。 清洗或者免清洗 我們需要同時(shí)檢查兩種工藝。清洗或者未清洗都會(huì)留下污染物。 免清洗不只是

指我們所用的化學(xué)品原材料/工藝,他取決于我們線(xiàn)路板的清潔程度,我們不能將受到污染的線(xiàn)路作為正常使用。 如果結(jié)果是可以接受的,我

們可以使用免清洗工藝,反之我們需要進(jìn)行清洗…… 殘留物來(lái)源 如果清潔度沒(méi)有被定義, 供應(yīng)商可能會(huì)提供被嚴(yán)重污染的產(chǎn)品,其代價(jià)可能

會(huì)超過(guò)清洗工藝…… 通常污染物來(lái)自工藝本身。但是工藝的波動(dòng)以及誤操作也可能帶來(lái)污染物。 所有的工藝都會(huì)留下殘留物…包括清洗 采用

清洗工藝的價(jià)格并不是線(xiàn)性上升的… 關(guān)于免清洗工藝 手工焊接,每個(gè)焊點(diǎn)都會(huì)有殘留物。所以污染程度和焊點(diǎn)的數(shù)量以及殘留物的活性有關(guān)

。(助焊劑的活性) 在波峰焊中,大量地采用助焊劑,污染會(huì)非常嚴(yán)重:(1 to 10 μg Eq NaCl) 回流焊應(yīng)用,污染物通常是由于印刷造成的

, 所以元器件的分布密度會(huì)對(duì)最終結(jié)果產(chǎn)生影響。(0.3 to 3 μg Eq NaCl) 關(guān)于清洗工藝 CT100比一般清洗機(jī)的效率都要高,殘留物僅為(

從0.0 到 2 μg Eq NaCl) 清洗的效果非常重要 水清洗機(jī)通常說(shuō)來(lái)比較復(fù)雜,在沒(méi)有污染程度測(cè)試儀的基礎(chǔ)上,很難想象可以將機(jī)器調(diào)整到

參數(shù)… 你不可能使用目檢… 為什么要對(duì)污染程度進(jìn)行測(cè)試? 為了我們產(chǎn)品和工藝的性。

SMD600離子污染測(cè)試儀

 產(chǎn)地:美國(guó)   型號(hào):SMD600SMD600離子污染測(cè)試儀是一個(gè)功能齊全的微處理器控制儀器,采用非破壞式的測(cè)量方法,適合用于檢測(cè)印制線(xiàn)路板和相關(guān)部件的離子含量。根據(jù)測(cè)試液中電阻的變化來(lái)測(cè)試離子的含量。特點(diǎn):  微處理控制器  數(shù)據(jù)條顯示簡(jiǎn)單方便  可存儲(chǔ)30個(gè)樣品數(shù)據(jù)  曲線(xiàn)圖表的打印所以測(cè)試程序  自動(dòng)停止測(cè)試  加熱測(cè)試液以增加離子溶解度  測(cè)試槽中的噴水頭增加滲透性  快速測(cè)試  測(cè)試槽的大小可選擇  英制/工制的轉(zhuǎn)換

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