巖芯綜合測(cè)試系統(tǒng)
TopFer 6600開(kāi)關(guān)電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)
| ▲ 適用于AC/DC Power Supply 及 DC/DC Convertor之測(cè)試應(yīng)用 ▲ 擴(kuò)充性強(qiáng)，可輕易整合標(biāo)準(zhǔn)化界面之測(cè)試器 ▲ 測(cè)試速度快，較傳統(tǒng)ATS速度快3-4倍 ▲ 開(kāi)放式系統(tǒng)平臺(tái)，可依需求自行編輯測(cè)試步驟 ▲ 標(biāo)準(zhǔn)化儀控界面及圖形化操作環(huán)境（Windows界面） ▲ 提供報(bào)表設(shè)計(jì)，統(tǒng)計(jì)分析能力 |
| 標(biāo)準(zhǔn)配置構(gòu)成： 3臺(tái)6650電子負(fù)載，3臺(tái)6620電子負(fù)載，1臺(tái)6601擴(kuò)展測(cè)量單元，1臺(tái)AC Source 6110,一個(gè)機(jī)柜及配套線材.可根據(jù)需求,靈活配置. |
| TopFer 6600 主要特性 |
| ● 效率高 采用同步平行之測(cè)試架構(gòu)較一般傳統(tǒng)ATS速度快約3~4倍。 ● 系統(tǒng)穩(wěn)定度強(qiáng) AC Source、電子負(fù)載等配件穩(wěn)定性和可靠性極佳。 ● 準(zhǔn)確度高 DC、14-BIT，100%模擬各種輸入，準(zhǔn)確度0.02%+0.02%F。 ● 擴(kuò)充性強(qiáng) 透過(guò)10組Ext Measurement,可測(cè)至PCB內(nèi)的AC和DC電壓模擬 ● 統(tǒng)計(jì)分析能力 全面分析測(cè)試結(jié)果并產(chǎn)生分析圖表，實(shí)時(shí)提供制程偏差預(yù)警。 |
| 1 | 直流輸出電壓 | 23 | 輸入有效值電流 |
| 2 | 直流輸出電流 | 24 | 輸入峰值電流 |
| 3 | 峰對(duì)峰值噪聲 | 25 | 輸入功率 |
| 4 | 有效值噪聲 | 26 | 輸入電流諧波 |
| 5 | 暫態(tài)反映時(shí)間 | 27 | 輸入功率因素 |
| 6 | 暫態(tài)電壓 | 28 | 輸入頻率緩升/降測(cè)試 |
| 7 | 電壓穩(wěn)定度 | 29 | 輸入電壓緩升/降測(cè)試 |
| 8 | 電流穩(wěn)定度 | 30 | 輸出電壓順序 |
| 9 | 綜合穩(wěn)定測(cè)試 | 31 | 短路測(cè)試 |
| 10 | 開(kāi)機(jī)時(shí)序 | 32 | 短路電流測(cè)試 |
| 11 | 上升時(shí)間 | 33 | 過(guò)電壓保護(hù) |
| 12 | 下降時(shí)間 | 34 | 低電壓保護(hù) |
| 13 | 關(guān)機(jī)時(shí)間 | 35 | 過(guò)載保護(hù) |
| 14 | 額外量測(cè) | 36 | 過(guò)功率保護(hù) |
| 15 | 浪涌電流測(cè)試 | 37 | 擴(kuò)充量測(cè) |
| 16 | 過(guò)沖電壓 | 38 | 測(cè)試中調(diào)整 |
| 17 | 電源備妥信號(hào)（PG） | 39 | 輸入斷電測(cè)試 |
| 18 | 電源失效信號(hào)（PF） | 40 | 輸入電源失真模擬 |
| 19 | 開(kāi)啟電源供應(yīng)器信號(hào) | 41 | GPIB讀/寫(xiě) |
| 20 | 輸出上升波形 | 42 | TTL信號(hào)控制 |
| 21 | 輸出下降波形 | 43 | 繼電器控制 |
| 22 | 效率 | 44 | 動(dòng)態(tài)測(cè)試 |
| Specifications | ||
| MODEL | 6620 | 6650 |
| Max.power | 200W | 300W |
| Max.voltage | 100V | 100V |
| Min.operating | 1.0V @1A | 1.0V @1A |
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| 2.0V @20A | 3.0V @50A |
| Load current | ||
| Range | 0-1A/0-20A | 0-1A/0-50A |
| Resolution | 12 bits | 12 bits |
| Accuracy（250C） | 0.2%+2% F.S. @If.s=1A | 0.2%+2% F.S. @If.s=1A |
|
| 0.6%+0.7% F.S.@If.s=20A | 0.6%+0.7% F.S. @If.s=50A |
| Tc | 50ppm/℃ | 50ppm/℃ |
| Overshoot | 0.5%F.S | 0.5%F.S |
| Load resistance | ||
| Range（If.s=1A） | 1.001-1000ohm | 1.001-1001ohm |
| （If.s=20A） | 1.070-1000ohm | 0.030-800ohm |
| Resolution | 12 bits | 12 bits |
| Accuracy（250C） | 0.2%+2% F.S. @If.s=1A | 0.2%+2% F.S. @If.s=1A |
|
| 0.6%+0.7% F.S. @If.s=20A | 0.6%+0.7% F.S. @If.s=50A |
| Tc | 50ppm/℃ | 50ppm/℃ |
| Slew rates | ||
| Range（If.s=1A） | 1-50mA/us | 1-50mA/us |
| （If.s=20A） | 1-1000mA/us | 5-2500mA/us |
| Resolution | 12 bits | 12 bits |
| Accuracy | 5% | 5% |
| Dynamic period | ||
| Range | 4uS-10mS | 4uS-10mS |
| Resolution | 1uS | 1uS |
| Accuracy | 1uS+100PPM | 1uS+102PPM |
| Timings | ||
| Range | 0-16sec/0-1000sec | 0-16sec/0-1000sec |
| Resolution | 256uS/25mS | 256uS/25mS |
| Accuracy | 1uS+100PPM |
|
| EXT.wave input | ||
| Range | 0-10V | 0-10V |
| Transfer ratio | 0.1A/V @If.s=1A | 0.1A/V @If.s=1A |
|
| 2.0A/V @If.s=20A | 5.0A/V @If.s=50A |
| Accuracy | 0.2% @If.s=1A | 0.2% @If.s=1A |
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| 0.6% @If.s=20A | 0.6% @If.s=50A |
| Basic test NO. | 8 | 8 |
| DC voltage | ||
| Range | 0-10V/0-100V | 0-20V/0-100V |
| Resolution | 14 bits | 14 bits |
| Accuracy | 0.05% F.S @Vf.s=10V | 0.05% F.S @Vf.s=10V |
|
| 0.02%+0.05% F.S @Vf.s=20V,100V,200V | 0.02%+0.05% F.S @Vf.s=100V |
| Pk-Pk ADC | ||
| Range | 0-10V/0-100V | 0-10V/0-100V |
| Resolution | 12 bits | 12 bits |
| Accuracy | 0.05% F.S @Vf.s=10V | 0.05% F.S @Vf.s=10V |
|
| 0.02%+0.05% F.S @Vf.s=20V,100V,200V | 0.02%+0.05% F.S @Vf.s=100V |
| Freq. | 25Hz-20 KHz | 25Hz-20 KHz |
| Pk-Pk detector | ||
| Range | 0-1V/0-10V | 0-1V/0-10V |
| Resolution | 14 bits | 14 bits |
| Accuracy | 1%+10mV | 1%+10mV |
| Freq. | 25Hz-1000 KHz | 25Hz-1000 KHz |
| RMS noise | ||
| Range | 0-1V/0-10V | 0-1V/0-10V |
| Resolution | 14 bits | 14 bits |
| Accuracy | 1%+10mV | 1%+10mV |
| Freq. | 25Hz-1000 KHz | 25Hz-1000 KHz |
| Current | ||
| Range | 0-1A/0-20A | 0-1A/0-50A, |
| Resolution | 14 bits | 14 bits |
| Accuracy | 0.2%+2% F.S. @1A | 0.2%+2% F.S. @1A |
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| 0.2%+0.7% F.S. @20A | 0.2%+0.7% F.S. @50A |
| Timing | ||
| Range | 0-16 sec | 0-16 sec |
| Resolution | 1 us | 1 us |
| Accuracy | 10us+100PPM | 10us+100PPM |
LMK98LMK98 顯示器視角快速測(cè)試系統(tǒng)
| －－－－－－角度相關(guān)的亮度、對(duì)比度測(cè)試
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6242/6243智能型多點(diǎn)環(huán)境測(cè)試系統(tǒng)
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| 名 稱(chēng) | 多點(diǎn)風(fēng)速儀（SYSTEM 6242/6243） | |
| 型 號(hào) | 本體 | （1/1箱體）MODEL 1550 |
| （1/2箱體）MODEL 1560 | ||
| 測(cè)試對(duì)象 | 常溫、常壓下的潔凈空氣流 | |
| 顯示分辨率 | 風(fēng)速 | 0～9.99m/s 0.01m/s,10.0～25/50m/s 0.1m/s |
| 風(fēng)溫 | 0.1°C | |
| 濕度 | 0.1%RH | |
| 功 能 | 顯示 | MAN：用UP/DOWN開(kāi)關(guān)來(lái)切換模板，以模板單位來(lái)顯示測(cè)試值 AUTO:每2秒自動(dòng)切換模板顯示測(cè)試值 |
| 測(cè)試方式 | 成組方式：全ch測(cè)試數(shù)據(jù)高速傳送 通道方式：只傳送指定的ch的測(cè)試數(shù)據(jù) | |
| 數(shù)據(jù)選擇 | 瞬時(shí)值方式：已指定的時(shí)間間隔進(jìn)行數(shù)據(jù)輸出 平均值方式：將指定時(shí)間間隔內(nèi)的數(shù)據(jù)進(jìn)行平均輸出 ※ 數(shù)據(jù)傳送中顯示REMOTE，不顯示測(cè)試值 ※ 反復(fù)次數(shù)：1～65,535次 ※ 測(cè)試時(shí)間間隔：0.1×T秒（T:165,535） | |
| 打印 | 顯示方式時(shí)，每隔2秒顯示的測(cè)試值被打印輸出，打印AUTO時(shí)自動(dòng)的按次的模板進(jìn)行打印輸出；MAN時(shí)，顯示的模板每2秒打印輸出一次 | |
| 接 口 | 數(shù)據(jù)傳送 | RS-232C（標(biāo)準(zhǔn)） GP-IB（選擇件） 級(jí)聯(lián)連接 RS-232C（選擇件） |
| 波特率 | 300、600、1200、2400、4800、9600、19200bps任意選擇 | |
| 打印機(jī)輸出 | 并行接口 | |
| 本體使用環(huán)境 | 5～40°C | |
| 外觀尺寸 | MODEL 1550 430（W）×140（H）×500（D）mm MODEL 1560 226（W）×140（H）×325（D）mm | |
| 重 量 | MODEL 1550 約10kg MODEL 1560 約5kg | |
| 電 源 | AC 100V 50/60HZ | |
| 標(biāo)準(zhǔn)附件 | RS-232C電纜（1.5m）×1，打印機(jī)電纜（1.5m）×1，電源電纜（1.5m）×1， 使用說(shuō)明書(shū)×1,保險(xiǎn)絲×2（4A） | |
| 選擇件 | 空面板、探頭電纜、控制箱安裝件、級(jí)聯(lián)連接用電纜?RS-232C（1.5m） | |
KY3510電化學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)
電化學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 訂貨號(hào)：KY3510
儀器簡(jiǎn)介：該儀器由主機(jī)+系統(tǒng)軟件+電極系統(tǒng)+計(jì)算機(jī)+打印機(jī)組成電化學(xué)測(cè)試系統(tǒng)，該系統(tǒng)應(yīng)用于電化學(xué)機(jī)理研究、電極過(guò)程動(dòng)力學(xué)研究、金屬腐蝕、生物學(xué)及冶金、制藥、環(huán)境生態(tài)學(xué)等領(lǐng)域的研究及阻抗測(cè)試。 www.bjkaiyun.com技術(shù)參數(shù)：電勢(shì)控制范圍：±10V； 恒電流范圍：±500mA； 電流靈敏度：50pA； 掃描速度：0.1mV/s ? 5000V/s； 電位分辨率：0.0001V； 槽壓:±50V 方波頻率:1Hz－－-100KHz； 正弦波頻率:1mHz－－-10kHz。 www.kaiyunyi.com
SCT-B浙江寧波太陽(yáng)能電池測(cè)試系統(tǒng)
| 輻照強(qiáng)度 | 100mW | 單次閃光時(shí)間 | 10ms |
| 測(cè)量電壓 | 1V（1mV） | 測(cè)量電流 | 10A（分辨率1mA） |
| 激光切割機(jī)
激光雕刻機(jī)
激光打標(biāo)機(jī)
激光劃片機(jī)
激光刻膜機(jī) | 太陽(yáng)能電池分選機(jī)產(chǎn)品特點(diǎn)： 太陽(yáng)能電池分選及專(zhuān)門(mén)用于太陽(yáng)能單晶硅和多晶硅單體電池片的分選篩選 通過(guò)模擬太陽(yáng)光譜光源，對(duì)電池片的相關(guān)參數(shù)進(jìn)行測(cè)量，根據(jù)測(cè)量結(jié)果將電池片進(jìn)行分類(lèi) 自動(dòng)校正設(shè)置，輸入補(bǔ)償參數(shù)，進(jìn)行自動(dòng)/手動(dòng)溫度補(bǔ)償和光強(qiáng)度補(bǔ)償，具備自動(dòng)測(cè)溫與溫度修正功能 基于Windows的操作界面，測(cè)試軟件人性化設(shè)計(jì)，記錄并顯示測(cè)試曲線（I-V曲線、P曲線）和測(cè)試參數(shù)（Voc、Isc、Pm、Im、Vm、FF、EFF），每片測(cè)試的序列號(hào)自動(dòng)生成并保存到指定文件夾。 | ||
 | 售前服務(wù) 一、提供技術(shù)咨詢(xún)：我們會(huì)在10個(gè)小時(shí)以?xún)?nèi)，根據(jù)您的需要為您提供任何專(zhuān)業(yè)的技術(shù)及價(jià)格方面的咨詢(xún)、并且郵寄相關(guān)樣品及產(chǎn)品資料，或者及時(shí)對(duì)于您所關(guān)心的任何問(wèn)題給予快速回復(fù)，比如：加工工藝在不同材質(zhì)上的應(yīng)用區(qū)別，加工時(shí)間與花形花色的關(guān)系等等。 二、提供考察接待：我們歡迎您隨時(shí)隨地蒞臨公司現(xiàn)場(chǎng)考察，并為您提供任何便利條件。
售中服務(wù) 一、無(wú)論您是國(guó)外的客戶(hù)還是國(guó)內(nèi)的客戶(hù)，無(wú)論您是我們的老客戶(hù)還是我們的新朋友，無(wú)論您的合同經(jīng)額是大還是小，我們都將誠(chéng)信、公平、熱情、嚴(yán)謹(jǐn)?shù)赝粚?duì)待； 二、我們守時(shí)、保質(zhì)、保量地嚴(yán)格執(zhí)行合同規(guī)定的各項(xiàng)條款，并且為客戶(hù)提供超值的服務(wù)，比如安裝、培訓(xùn)等等。
售后服務(wù) 我們建立了全球售后服務(wù)信息處理系統(tǒng)，24小時(shí)跟蹤客戶(hù)。 一、自購(gòu)實(shí)到貨之日起，終身享受軟件免費(fèi)升級(jí)。 二、自購(gòu)買(mǎi)之日起，隨時(shí)可以到公司免費(fèi)參加各種技術(shù)培訓(xùn)班。 三、在國(guó)內(nèi)維修服務(wù)點(diǎn)，300公里以?xún)?nèi)，我們24小時(shí)內(nèi)上門(mén)服務(wù)并維修，300公里以外72小時(shí)內(nèi)維修。國(guó)外的客戶(hù)我們?cè)?0小時(shí)以?xún)?nèi)做出回復(fù)，72小時(shí)內(nèi)做出維修服務(wù)。
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1068+1320直流疊加測(cè)試系統(tǒng)
1068+1320直流疊加測(cè)試系統(tǒng)
■20點(diǎn)快速掃描測(cè)試功能
■20點(diǎn)持續(xù)輸出溫升實(shí)驗(yàn)功能
■自動(dòng)計(jì)算疊加偏置電流后感值下降百分比
■自動(dòng)感應(yīng)觸發(fā)測(cè)試功能
■輸出電流擴(kuò)充功能
■自動(dòng)測(cè)試Handler界面（選購(gòu)）
■簡(jiǎn)易的儀器參數(shù)設(shè)置
■測(cè)試頻率40Hz~200kHz（±0.02%）
■內(nèi)置2A偏流,可控制CD1320等多型號(hào)偏流源
■ 五種阻抗輸出模式,量測(cè)結(jié)果與各類(lèi)型LCR表比對(duì)
■20×2LCD顯示,可同屏顯示測(cè)量結(jié)果及測(cè)試條件
■測(cè)量參數(shù)由警示聲響作為GO/NG判定結(jié)果
■100組儀器內(nèi)部設(shè)置存儲(chǔ),單組20點(diǎn)頻率信號(hào)電壓或偏流掃描測(cè)試功能
■獨(dú)有誤差扣除功能,經(jīng)儀器函數(shù)運(yùn)算可消除測(cè)試環(huán)境和不同儀器間誤差
■特有兩次測(cè)量平衡計(jì)算及功率電感加偏流后感量跌落百分?jǐn)?shù)計(jì)算并判別
貼片鉭電容具備著自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)功能
隨著電子設(shè)備需用量的極大增長(zhǎng)，以及大規(guī)模集成電路的發(fā)展，貼片鉭電容的應(yīng)用范圍還將不斷擴(kuò)大。貼片鉭電容是一種較新型的貼片電解電容器，自從五十年代問(wèn)世以來(lái)，即以其優(yōu)異的性能，如體積小、單位體積電容大（是鋁電解的3倍），漏電流少（鉭電解要比鋁電解小一級(jí)數(shù)量級(jí)），工作溫度范圍寬和性能穩(wěn)定可靠等特點(diǎn)，為各行各業(yè)廣泛采用。
當(dāng)今世界上基于PC的自動(dòng)化解決方案的數(shù)量，正以每年20%的速度增長(zhǎng)。這是因?yàn)樵絹?lái)越多的自動(dòng)化任務(wù)，包括開(kāi)環(huán)和閉環(huán)控制，運(yùn)動(dòng)控制等已經(jīng)加入到典型的PC任務(wù)（如數(shù)據(jù)處理和人機(jī)界面）的范圍內(nèi)。通過(guò)將所有的功能集成于PC這個(gè)統(tǒng)一開(kāi)放的平臺(tái)上，可以減小安裝空間和節(jié)省電纜，將復(fù)雜的通訊連接簡(jiǎn)單化。而貼片鉭電容自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)就是利用PC的強(qiáng)大數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)處理功能，以及PC的大容量的存儲(chǔ)空間，將復(fù)雜的數(shù)據(jù)記錄傳輸至集中控制和處理單元。
由于貼片鉭電容的優(yōu)異性能及其應(yīng)用范圍的不斷擴(kuò)大，市場(chǎng)對(duì)高效率、高質(zhì)量的貼片鉭電容進(jìn)行老化試驗(yàn)和測(cè)試的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)有了迫切的需求。本貼片鉭電容鉭電容自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)與GB 7213-87（等效IEC384-15-84）《電子設(shè)備用固定電容器第十五部分：分規(guī)范非固體或固體電解質(zhì)貼片鉭電容》國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)能緊密結(jié)合，目的是為了解決貼片鉭電容測(cè)試自動(dòng)化，提高鉭電容測(cè)試的可靠性，提高測(cè)試效率，減少人為差錯(cuò)，使貼片鉭電容[www.dglangxun.com]測(cè)試水平在符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的基礎(chǔ)上提供一種新的測(cè)試裝置。
它實(shí)現(xiàn)了把世界上不同制造廠商生產(chǎn)的各種可程控儀器用專(zhuān)用電纜互連而組成總線式自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。國(guó)外已大量應(yīng)用貼片電解電容GPIB總線自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，國(guó)外的可程控儀器95%配置了GPIB接口，國(guó)內(nèi)有很多測(cè)試設(shè)備也有GPIB接口或可改造成為帶GPIB接口的儀器，這些資源正在有待于被激活，省錢(qián)省時(shí)地組建成基于GPIB總線的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。
JEDEC22-B113PCB板焊點(diǎn)可靠性四點(diǎn)彎曲疲勞測(cè)試系統(tǒng)
PCB板焊點(diǎn)性四點(diǎn)彎曲疲勞測(cè)試系統(tǒng)
隨著手持式產(chǎn)品在IC封裝性的需求增加業(yè)界正在研究可減少時(shí)間與成本的性評(píng)估方式。就我們所知溫度循環(huán)試驗(yàn)thermal cycle testing是驗(yàn)證焊點(diǎn)性的重要測(cè)試之一但其驗(yàn)證往往需要很長(zhǎng)時(shí)間才知道結(jié)果。為了縮短驗(yàn)證時(shí)間文章研究機(jī)械疲勞性試驗(yàn)取代溫度循環(huán)試驗(yàn)的可能性。選擇四點(diǎn)循環(huán)彎曲試驗(yàn)cyclic bending test為研究的重點(diǎn)在JEDEC22-B113規(guī)范中的定義四點(diǎn)循環(huán)彎曲試驗(yàn)條件包含頻率跟位移來(lái)仿真實(shí)際的條件。一般被應(yīng)用來(lái)評(píng)估焊點(diǎn)老化效應(yīng)的測(cè)試方法都使用循環(huán)彎曲試驗(yàn)cyclic bending test與溫度循環(huán)試驗(yàn)thermal cycle test。疲勞延展性測(cè)試必須包含相對(duì)一個(gè)循環(huán)的相關(guān)應(yīng)變量 以Δεp/2表示相關(guān)方程式為Δεp/2 εf2Nfc。此研究中將建議以Coffin-Manson 規(guī)則中的潛變疲勞壽命預(yù)估模型去建立新的損壞機(jī)制函數(shù)使用此損壞機(jī)制函數(shù)我們可以了解到在潛變疲勞測(cè)試中不同等級(jí)的壽命跟應(yīng)變變化量的關(guān)系畫(huà)出Coffin-Manson方程式曲線。在實(shí)際應(yīng)用中手持式產(chǎn)品會(huì)遇到一些環(huán)境效應(yīng)像是溫度與機(jī)械應(yīng)力。焊點(diǎn)性總是考慮產(chǎn)品性的主要因子有很多文章報(bào)告已經(jīng)完成對(duì)電子封裝板級(jí)性在溫度與機(jī)械應(yīng)力下的研究。一般電子封裝板級(jí)性在0100℃溫度循環(huán)條件下驗(yàn)證時(shí)間大約需半年為了縮短驗(yàn)證時(shí)間表面焊點(diǎn)疲勞壽命預(yù)估的方法將被研究。此研究中將使用TFBGA封裝經(jīng)再流焊制程上板后的試驗(yàn)樣品。業(yè)界想發(fā)展快速又縮短時(shí)間的方法去仿真溫度循環(huán)試驗(yàn)像是機(jī)械性推力疲勞試驗(yàn)、四點(diǎn)循環(huán)彎曲試驗(yàn)等。文中使用的是在高溫環(huán)境下四點(diǎn)循環(huán)彎曲試驗(yàn)來(lái)當(dāng)做快速的機(jī)械疲勞性驗(yàn)證方法為了能仿真溫度循環(huán)的溫度效應(yīng)特別設(shè)計(jì)四點(diǎn)循環(huán)彎曲試驗(yàn)在高溫環(huán)境下執(zhí)行且在印刷電路板面上位于封裝的角落地方測(cè)量應(yīng)變來(lái)測(cè)量高溫效應(yīng)狀況。在此研究中將對(duì)0.5mm間距無(wú)鉛TFBGA的封裝樣品在循環(huán)彎曲試驗(yàn)與溫度循環(huán)試驗(yàn)下的焊點(diǎn)疲勞壽命去探討其關(guān)聯(lián)性。循環(huán)彎曲試驗(yàn)將以應(yīng)變?yōu)闇y(cè)試條件其條件將參考溫度循環(huán)試驗(yàn)應(yīng)變量測(cè)結(jié)果為依據(jù)。有系統(tǒng)實(shí)驗(yàn)計(jì)劃的實(shí)施將對(duì)上板樣品在循環(huán)彎曲試驗(yàn)與溫度循環(huán)試驗(yàn)下的效應(yīng)做比較這比較將針對(duì)不同的印刷電路板材料有鹵與無(wú)鹵材料在循環(huán)彎曲試驗(yàn)與溫度循環(huán)試驗(yàn)的不同壽命與應(yīng)變變化量。
設(shè)計(jì)試驗(yàn)時(shí)，在芯片和PCB內(nèi)引入菊花鏈結(jié)構(gòu)使得組裝后的焊點(diǎn)形成網(wǎng)絡(luò)，通過(guò)檢測(cè)網(wǎng)絡(luò)通斷來(lái)判斷焊點(diǎn)是否失效。一般需要采用高速連續(xù)方案，在亞微秒（納秒）內(nèi)連續(xù)高速采樣，以及時(shí)探測(cè)到焊點(diǎn)的開(kāi)裂。評(píng)價(jià)時(shí)常根據(jù)某一恒定的金屬界面上電位降或電阻變化來(lái)判斷焊點(diǎn)的質(zhì)量，試樣電阻超過(guò)閾值電阻至少要求的持續(xù)時(shí)間達(dá)到要求判斷為失效，否則稱(chēng)為“出現(xiàn)故障”，“有點(diǎn)問(wèn)題”，“開(kāi)放”，或“間歇”，“失效”是更和的。一旦達(dá)到設(shè)定失效的標(biāo)準(zhǔn)，疲勞試驗(yàn)機(jī)將立即停機(jī)，并記錄和保存相關(guān)的數(shù)據(jù)。
隨著手持式產(chǎn)品在IC封裝性的需求增加業(yè)界正在研究可減少時(shí)間與成本的性評(píng)估方式。就我們所知溫度循環(huán)試驗(yàn)thermal cycle testing是驗(yàn)證焊點(diǎn)性的重要測(cè)試之一但其驗(yàn)證往往需要很長(zhǎng)時(shí)間才知道結(jié)果。為了縮短驗(yàn)證時(shí)間文章研究機(jī)械疲勞性試驗(yàn)取代溫度循環(huán)試驗(yàn)的可能性。選擇四點(diǎn)循環(huán)彎曲試驗(yàn)cyclic bending test為研究的重點(diǎn)在JEDEC22-B113規(guī)范中的定義四點(diǎn)循環(huán)彎曲試驗(yàn)條件包含頻率跟位移來(lái)仿真實(shí)際的條件
按照不同的要求選擇高低溫環(huán)境下的三點(diǎn)彎曲或四點(diǎn)彎曲疲勞測(cè)試或常溫條件下的三點(diǎn)彎曲或四點(diǎn)彎曲疲勞測(cè)試。
日本加野6242智能型多點(diǎn)環(huán)境測(cè)試系統(tǒng) ,環(huán)境測(cè)試
智能型多點(diǎn)環(huán)境測(cè)試系統(tǒng) 6242/6243
市場(chǎng)上唯一性的多點(diǎn)檢測(cè)系統(tǒng)。- 超強(qiáng)功能：最多可同時(shí)檢測(cè)320通道，并可同時(shí)檢測(cè)風(fēng)速、風(fēng)溫、濕度、風(fēng)壓 - WINDOWS版測(cè)試軟件，圖表數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示。
| 名 稱(chēng) | 多點(diǎn)風(fēng)速儀（SYSTEM 6242/6243） | |
| 型 號(hào) | 本體 | （1/1箱體）MODEL 1550 |
| （1/2箱體）MODEL 1560 | ||
| 測(cè)試對(duì)象 | 常溫、常壓下的潔凈空氣流 | |
| 顯示分辨率 | 風(fēng)速 | 0～9.99m/s 0.01m/s,10.0～25/50m/s 0.1m/s |
| 風(fēng)溫 | 0.1°C | |
| 濕度 | 0.1%RH | |
| 功 能 | 顯示 | MAN：用UP/DOWN開(kāi)關(guān)來(lái)切換模板，以模板單位來(lái)顯示測(cè)試值 AUTO:每2秒自動(dòng)切換模板顯示測(cè)試值 |
| 測(cè)試方式 | 成組方式：全ch測(cè)試數(shù)據(jù)高速傳送 通道方式：只傳送指定的ch的測(cè)試數(shù)據(jù) | |
| 數(shù)據(jù)選擇 | 瞬時(shí)值方式：已指定的時(shí)間間隔進(jìn)行數(shù)據(jù)輸出 平均值方式：將指定時(shí)間間隔內(nèi)的數(shù)據(jù)進(jìn)行平均輸出 ※ 數(shù)據(jù)傳送中顯示REMOTE，不顯示測(cè)試值 ※ 反復(fù)次數(shù)：1～65,535次 ※ 測(cè)試時(shí)間間隔：0.1×T秒（T:165,535） | |
| 打印 | 顯示方式時(shí)，每隔2秒顯示的測(cè)試值被打印輸出，打印AUTO時(shí)自動(dòng)的按次的模板進(jìn)行打印輸出；MAN時(shí)，顯示的模板每2秒打印輸出一次 | |
| 接 口 | 數(shù)據(jù)傳送 | RS-232C（標(biāo)準(zhǔn)） GP-IB（選擇件） 級(jí)聯(lián)連接 RS-232C（選擇件） |
| 波特率 | 300、600、1200、2400、4800、9600、19200bps任意選擇 | |
| 打印機(jī)輸出 | 并行接口 | |
| 本體使用環(huán)境 | 5～40°C | |
| 外觀尺寸 | MODEL 1550 430（W）×140（H）×500（D）mm MODEL 1560 226（W）×140（H）×325（D）mm | |
| 重 量 | MODEL 1550 約10kg MODEL 1560 約5kg | |
| 電 源 | AC 100V 50/60HZ | |
| 標(biāo)準(zhǔn)附件 | RS-232C電纜（1.5m）×1，打印機(jī)電纜（1.5m）×1，電源電纜（1.5m）×1， 使用說(shuō)明書(shū)×1,保險(xiǎn)絲×2（4A） | |
| 選擇件 | 空面板、探頭電纜、控制箱安裝件、級(jí)聯(lián)連接用電纜?RS-232C（1.5m） | |
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