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主要特點(diǎn)和優(yōu)點(diǎn) 高達(dá)28.6 Gb/s 的碼型發(fā)生、誤碼分析和BER 測(cè)試能力 經(jīng)校準(zhǔn)的集成經(jīng)校準(zhǔn)的集成壓力生成技術(shù)，滿足多種標(biāo)準(zhǔn)壓力靈敏度和時(shí)鐘恢復(fù)抖動(dòng)容限測(cè)試要求 最高100MHz 的正弦抖動(dòng)(SJ)頻率 隨機(jī)抖動(dòng)(RJ) 有界不相關(guān)抖動(dòng)(BUJ) 正弦干擾(SI) 擴(kuò)展頻譜時(shí)鐘 PCIe 2.0和3.0測(cè)試 IEEE 802.3ba和32G光纖通道測(cè)試 加壓力的電眼圖測(cè)試包括： PCI Express 10/40/100Gb 以太網(wǎng) SFP+/SFI XFP/XFI OIF/CEI 光纖通道(FC8, FC16, FC32) SATA USB 3.0* InfiniBand (SDR, QDR, FDR, EDR) 抖動(dòng)裕量(Margin)測(cè)試、抖動(dòng)容限一致性模板測(cè)試 快速輸入上升時(shí)間/高輸入帶寬錯(cuò)誤，準(zhǔn)確分析信號(hào)完整性 物理層測(cè)試套件，支持模板測(cè)試、抖動(dòng)峰值、BER輪廓和Q因子分析，使用標(biāo)準(zhǔn)或用戶自定義抖動(dòng)容限模板庫進(jìn)行全方位測(cè)試 集成的眼圖和BER相關(guān)分析 抖動(dòng)分離及定位（Jitter Map)選件系統(tǒng)豐富的抖動(dòng)解析 – 支持長碼型(如PRBS-31)抖動(dòng)三角測(cè)量，把基于BER的抖動(dòng)分解功能擴(kuò)展到Dual Dirac TJ、DJ和RJ之外，全面分解抖動(dòng)子成分 專利的誤碼定位分析技術(shù)（Error Location AnalysisTM），迅速了解BER性能，評(píng)估確定性誤碼與隨機(jī)性誤碼，執(zhí)行詳細(xì)的碼型相關(guān)誤碼分析，執(zhí)行誤碼突發(fā)分析或無誤碼間隔分析 應(yīng)用 設(shè)計(jì)驗(yàn)證包括信號(hào)完整性、抖動(dòng)和時(shí)序分析 對(duì)高速串行系統(tǒng)、復(fù)雜設(shè)計(jì)的性能測(cè)試 串行數(shù)據(jù)流和高性能網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)認(rèn)證測(cè)試 設(shè)計(jì)/ 驗(yàn)證高速I/O 組件和系統(tǒng) 信號(hào)完整性分析- 模板、峰值抖動(dòng)、BER 輪廓、抖動(dòng)分離及定位(Jitter Map)和Q 因子分析 設(shè)計(jì)/ 驗(yàn)證光發(fā)射 高達(dá)28.6 Gb/s 的碼型發(fā)生、誤碼分析和BER 測(cè)試能力 經(jīng)校準(zhǔn)的集成經(jīng)校準(zhǔn)的集成壓力生成技術(shù)，滿足多種標(biāo)準(zhǔn)壓力靈敏度和時(shí)鐘恢復(fù)抖動(dòng)容限測(cè)試要求 最高100MHz 的正弦抖動(dòng)(SJ)頻率 隨機(jī)抖動(dòng)(RJ) 有界不相關(guān)抖動(dòng)(BUJ) 正弦干擾(SI) 擴(kuò)展頻譜時(shí)鐘 PCIe 2.0和3.0測(cè)試 IEEE 802.3ba和32G光纖通道測(cè)試 加壓力的電眼圖測(cè)試包括： PCI Express 10/40/100Gb 以太網(wǎng) SFP+/SFI XFP/XFI OIF/CEI 光纖通道(FC8, FC16, FC32) SATA USB 3.0* InfiniBand (SDR, QDR, FDR, EDR) 抖動(dòng)裕量(Margin)測(cè)試、抖動(dòng)容限一致性模板測(cè)試 快速輸入上升時(shí)間/高輸入帶寬錯(cuò)誤，準(zhǔn)確分析信號(hào)完整性 物理層測(cè)試套件，支持模板測(cè)試、抖動(dòng)峰值、BER輪廓和Q因子分析，使用標(biāo)準(zhǔn)或用戶自定義抖動(dòng)容限模板庫進(jìn)行全方位測(cè)試 集成的眼圖和BER相關(guān)分析 抖動(dòng)分離及定位（Jitter Map)選件系統(tǒng)豐富的抖動(dòng)解析 – 支持長碼型(如PRBS-31)抖動(dòng)三角測(cè)量，把基于BER的抖動(dòng)分解功能擴(kuò)展到Dual Dirac TJ、DJ和RJ之外，全面分解抖動(dòng)子成分 專利的誤碼定位分析技術(shù)（Error Location AnalysisTM），迅速了解BER性能，評(píng)估確定性誤碼與隨機(jī)性誤碼，執(zhí)行詳細(xì)的碼型相關(guān)誤碼分析，執(zhí)行誤碼突發(fā)分析或無誤碼間隔分析 應(yīng)用 設(shè)計(jì)驗(yàn)證包括信號(hào)完整性、抖動(dòng)和時(shí)序分析 對(duì)高速串行系統(tǒng)、復(fù)雜設(shè)計(jì)的性能測(cè)試 串行數(shù)據(jù)流和高性能網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)認(rèn)證測(cè)試 設(shè)計(jì)/ 驗(yàn)證高速I/O 組件和系統(tǒng) 信號(hào)完整性分析- 模板、峰值抖動(dòng)、BER 輪廓、抖動(dòng)分離及定位(Jitter Map)和Q 因子分析 設(shè)計(jì)/ 驗(yàn)證光發(fā)射詳細(xì)介紹 硅光二極管 最大可測(cè)量50.00mW 相對(duì)值 最大鎖定，數(shù)據(jù)平均（20數(shù)據(jù)序列平均） 直讀波長（488，633，670，780，830nm） RS-232C接口激光功率計(jì)特征： 超高速針 不到1秒的響應(yīng)時(shí)間 讀取電源 PH系列熱電堆和光學(xué)探測(cè)器 大屏幕液晶顯示 77 x 58 mm 17.5 mm 位 背光（帶交流整流器） 指針有三種顯示功能 普通 尾部（表示速度） 條柱顯示 還可以保持高值和低值 一鍵導(dǎo)航 可直接訪問或長按訪問主要功能 耗電量低 4節(jié) AA 堿性電池可連續(xù)使用300小時(shí)主要特點(diǎn)和優(yōu)點(diǎn)支持最高1.6Gb/s 數(shù)據(jù)碼型發(fā)生/ 誤碼檢測(cè)，快速、精確地對(duì)數(shù)據(jù)通信系統(tǒng)進(jìn)行參數(shù)測(cè)試PRBS或者8Mb長度用戶自定義碼型可以靈活的調(diào)試和驗(yàn)證任何數(shù)字信號(hào)內(nèi)建極精確的時(shí)鐘源可調(diào)節(jié)幅度、偏置、邏輯閾值和端接等參數(shù)，為測(cè)試提供靈活多樣的信號(hào)激勵(lì)差分或單端IO 確保滿足所有通信總線標(biāo)準(zhǔn)BitAlyzer® 誤碼分析快速理解被測(cè)系統(tǒng)的誤碼率極限、評(píng)估確定性和隨機(jī)性誤碼，詳細(xì)的碼型相關(guān)誤碼分析，進(jìn)行突發(fā)(Burst)分析以及無誤碼時(shí)間間隔分析等自動(dòng)化眼圖測(cè)量和快速眼圖模板測(cè)試提供了對(duì)被測(cè)系統(tǒng)快速的信號(hào)完整性分析ANSI 標(biāo)準(zhǔn)的抖動(dòng)測(cè)量 (RJ、DJ 和TJ)，能夠測(cè)量BER 在10-12時(shí)的TJ 和RJ支持Q 因子分析，揭示眼高和BER 之間的關(guān)系BER 輪廓揭示眼圖和BER 的關(guān)系，可以將輪廓導(dǎo)出為眼圖模板內(nèi)建的前向誤碼糾錯(cuò) (Forward Error Correction) 可以仿真通信系統(tǒng)FEC 設(shè)計(jì)的性能誤碼定位及分析 (Error Maping) 揭示信號(hào)出現(xiàn)誤碼的位置和原因詳細(xì)介紹 dBm和W測(cè)量 相對(duì)值 偏移，數(shù)據(jù)平均（20數(shù)據(jù)序列平均） 直讀波長（650，780，800，850，880nm） RS-232C接口 可通過更換光學(xué)接頭適配器來配備各種接頭 2m長傳感器延長線

產(chǎn)品說明：

誤碼率分析儀為測(cè)量串行數(shù)據(jù)系統(tǒng)的信號(hào)完整性提供了一種新方法。誤碼率分析儀通過把眼圖分析與BER碼型生成結(jié)合起來，您可以更迅速、更、更地執(zhí)行誤碼率檢測(cè)。通過誤碼率分析儀，您可以簡(jiǎn)便地隔離問題碼和碼型序列，然后通過七種誤碼分析功能，進(jìn)一步展開分析，實(shí)現(xiàn)異常深入的統(tǒng)計(jì)測(cè)量能力。 誤碼率分析儀選型指南： 抖動(dòng)裕量（Margin）測(cè)試、抖動(dòng)容限一致性模板測(cè)試 物理層測(cè)試套件，支持模板測(cè)試、抖動(dòng)峰值、BER 輪廓和Q因子分析，使用標(biāo)準(zhǔn)或用戶自定義抖動(dòng)容限模板庫進(jìn)行測(cè)試 集成的眼圖和BER 相關(guān)分析 抖動(dòng)分離及定位（Jitter Map）選件系統(tǒng)豐富的抖動(dòng)解析 - 支持長碼型（如PRBS-31）抖動(dòng)三角測(cè)量，把基于BER 的抖動(dòng)分解功能擴(kuò)展到Dual Dirac TJ、DJ 和RJ 限制之外，分解抖動(dòng)子成分 專利的誤碼定位分析技術(shù)（Error Location AnalysisTM ），迅速了解BER性能限制，評(píng)估確定性誤碼與隨機(jī)性誤碼，執(zhí)行詳細(xì)的碼型相關(guān)誤碼分析，執(zhí)行誤碼突發(fā)分析或無誤碼間隔分析。 誤碼率分析儀網(wǎng)站地址：http://www.hncsw.net/product/Ber-analyzer/。

名稱：SB-3000數(shù)據(jù)通信測(cè)試儀
編號(hào)：Pro201121972851
價(jià)格：面議
概述 Overview 主要用于測(cè)量通信線路數(shù)據(jù)通信的誤碼率和分析線路故障及原因；可方便地完成對(duì)2M系統(tǒng)，N×64k信道傳輸參數(shù)測(cè)量及日常維護(hù)測(cè)試；可對(duì)Mbit/s接口數(shù)字通道、V.24同步、V .35、RS449、X.21、同向64kbit/s接口數(shù)字通道進(jìn)行測(cè)試，具有兩個(gè)2Mbit／s接口，可同時(shí)對(duì)兩條通道進(jìn)行測(cè)試。

主要特點(diǎn)和優(yōu)點(diǎn) 高達(dá)28.6 Gb/s 的碼型發(fā)生、誤碼分析和BER 測(cè)試能力 經(jīng)校準(zhǔn)的集成經(jīng)校準(zhǔn)的集成壓力生成技術(shù)，滿足多種標(biāo)準(zhǔn)壓力靈敏度和時(shí)鐘恢復(fù)抖動(dòng)容限測(cè)試要求 最高100MHz 的正弦抖動(dòng)(SJ)頻率 隨機(jī)抖動(dòng)(RJ) 有界不相關(guān)抖動(dòng)(BUJ) 正弦干擾(SI) 擴(kuò)展頻譜時(shí)鐘 PCIe 2.0和3.0測(cè)試 IEEE 802.3ba和32G光纖通道測(cè)試 加壓力的電眼圖測(cè)試包括： PCI Express 10/40/100Gb 以太網(wǎng) SFP+/SFI XFP/XFI OIF/CEI 光纖通道(FC8, FC16, FC32) SATA USB 3.0* InfiniBand (SDR, QDR, FDR, EDR) 抖動(dòng)裕量(Margin)測(cè)試、抖動(dòng)容限一致性模板測(cè)試 快速輸入上升時(shí)間/高輸入帶寬錯(cuò)誤，準(zhǔn)確分析信號(hào)完整性 物理層測(cè)試套件，支持模板測(cè)試、抖動(dòng)峰值、BER輪廓和Q因子分析，使用標(biāo)準(zhǔn)或用戶自定義抖動(dòng)容限模板庫進(jìn)行全方位測(cè)試 集成的眼圖和BER相關(guān)分析 抖動(dòng)分離及定位（Jitter Map)選件系統(tǒng)豐富的抖動(dòng)解析 – 支持長碼型(如PRBS-31)抖動(dòng)三角測(cè)量，把基于BER的抖動(dòng)分解功能擴(kuò)展到Dual Dirac TJ、DJ和RJ之外，全面分解抖動(dòng)子成分 專利的誤碼定位分析技術(shù)（Error Location AnalysisTM），迅速了解BER性能，評(píng)估確定性誤碼與隨機(jī)性誤碼，執(zhí)行詳細(xì)的碼型相關(guān)誤碼分析，執(zhí)行誤碼突發(fā)分析或無誤碼間隔分析 應(yīng)用 設(shè)計(jì)驗(yàn)證包括信號(hào)完整性、抖動(dòng)和時(shí)序分析 對(duì)高速串行系統(tǒng)、復(fù)雜設(shè)計(jì)的性能測(cè)試 串行數(shù)據(jù)流和高性能網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)認(rèn)證測(cè)試 設(shè)計(jì)/ 驗(yàn)證高速I/O 組件和系統(tǒng) 信號(hào)完整性分析- 模板、峰值抖動(dòng)、BER 輪廓、抖動(dòng)分離及定位(Jitter Map)和Q 因子分析 設(shè)計(jì)/ 驗(yàn)證光發(fā)射 高達(dá)28.6 Gb/s 的碼型發(fā)生、誤碼分析和BER 測(cè)試能力 經(jīng)校準(zhǔn)的集成經(jīng)校準(zhǔn)的集成壓力生成技術(shù)，滿足多種標(biāo)準(zhǔn)壓力靈敏度和時(shí)鐘恢復(fù)抖動(dòng)容限測(cè)試要求 最高100MHz 的正弦抖動(dòng)(SJ)頻率 隨機(jī)抖動(dòng)(RJ) 有界不相關(guān)抖動(dòng)(BUJ) 正弦干擾(SI) 擴(kuò)展頻譜時(shí)鐘 PCIe 2.0和3.0測(cè)試 IEEE 802.3ba和32G光纖通道測(cè)試 加壓力的電眼圖測(cè)試包括： PCI Express 10/40/100Gb 以太網(wǎng) SFP+/SFI XFP/XFI OIF/CEI 光纖通道(FC8, FC16, FC32) SATA USB 3.0* InfiniBand (SDR, QDR, FDR, EDR) 抖動(dòng)裕量(Margin)測(cè)試、抖動(dòng)容限一致性模板測(cè)試 快速輸入上升時(shí)間/高輸入帶寬錯(cuò)誤，準(zhǔn)確分析信號(hào)完整性 物理層測(cè)試套件，支持模板測(cè)試、抖動(dòng)峰值、BER輪廓和Q因子分析，使用標(biāo)準(zhǔn)或用戶自定義抖動(dòng)容限模板庫進(jìn)行全方位測(cè)試 集成的眼圖和BER相關(guān)分析 抖動(dòng)分離及定位（Jitter Map)選件系統(tǒng)豐富的抖動(dòng)解析 – 支持長碼型(如PRBS-31)抖動(dòng)三角測(cè)量，把基于BER的抖動(dòng)分解功能擴(kuò)展到Dual Dirac TJ、DJ和RJ之外，全面分解抖動(dòng)子成分 專利的誤碼定位分析技術(shù)（Error Location AnalysisTM），迅速了解BER性能，評(píng)估確定性誤碼與隨機(jī)性誤碼，執(zhí)行詳細(xì)的碼型相關(guān)誤碼分析，執(zhí)行誤碼突發(fā)分析或無誤碼間隔分析 應(yīng)用 設(shè)計(jì)驗(yàn)證包括信號(hào)完整性、抖動(dòng)和時(shí)序分析 對(duì)高速串行系統(tǒng)、復(fù)雜設(shè)計(jì)的性能測(cè)試 串行數(shù)據(jù)流和高性能網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)認(rèn)證測(cè)試 設(shè)計(jì)/ 驗(yàn)證高速I/O 組件和系統(tǒng) 信號(hào)完整性分析- 模板、峰值抖動(dòng)、BER 輪廓、抖動(dòng)分離及定位(Jitter Map)和Q 因子分析 設(shè)計(jì)/ 驗(yàn)證光發(fā)射激光功率計(jì)特征： 超高速針 不到1秒的響應(yīng)時(shí)間 讀取電源 PH系列熱電堆和光學(xué)探測(cè)器 大屏幕液晶顯示 77 x 58 mm 17.5 mm 位 背光（帶交流整流器） 指針有三種顯示功能 普通 尾部（表示速度） 條柱顯示 還可以保持高值和低值 一鍵導(dǎo)航 可直接訪問或長按訪問主要功能 耗電量低 4節(jié) AA 堿性電池可連續(xù)使用300小時(shí)主要特點(diǎn)和優(yōu)點(diǎn)支持最高1.6Gb/s 數(shù)據(jù)碼型發(fā)生/ 誤碼檢測(cè)，快速、精確地對(duì)數(shù)據(jù)通信系統(tǒng)進(jìn)行參數(shù)測(cè)試PRBS或者8Mb長度用戶自定義碼型可以靈活的調(diào)試和驗(yàn)證任何數(shù)字信號(hào)內(nèi)建極精確的時(shí)鐘源可調(diào)節(jié)幅度、偏置、邏輯閾值和端接等參數(shù)，為測(cè)試提供靈活多樣的信號(hào)激勵(lì)差分或單端IO 確保滿足所有通信總線標(biāo)準(zhǔn)BitAlyzer® 誤碼分析快速理解被測(cè)系統(tǒng)的誤碼率極限、評(píng)估確定性和隨機(jī)性誤碼，詳細(xì)的碼型相關(guān)誤碼分析，進(jìn)行突發(fā)(Burst)分析以及無誤碼時(shí)間間隔分析等自動(dòng)化眼圖測(cè)量和快速眼圖模板測(cè)試提供了對(duì)被測(cè)系統(tǒng)快速的信號(hào)完整性分析ANSI 標(biāo)準(zhǔn)的抖動(dòng)測(cè)量 (RJ、DJ 和TJ)，能夠測(cè)量BER 在10-12時(shí)的TJ 和RJ支持Q 因子分析，揭示眼高和BER 之間的關(guān)系BER 輪廓揭示眼圖和BER 的關(guān)系，可以將輪廓導(dǎo)出為眼圖模板內(nèi)建的前向誤碼糾錯(cuò) (Forward Error Correction) 可以仿真通信系統(tǒng)FEC 設(shè)計(jì)的性能誤碼定位及分析 (Error Maping) 揭示信號(hào)出現(xiàn)誤碼的位置和原因詳細(xì)介紹 硅光二極管 最大可測(cè)量50.00mW 相對(duì)值 最大鎖定，數(shù)據(jù)平均（20數(shù)據(jù)序列平均） 直讀波長（488，633，670，780，830nm） RS-232C接口詳細(xì)介紹 dBm和W測(cè)量 相對(duì)值 偏移，數(shù)據(jù)平均（20數(shù)據(jù)序列平均） 直讀波長（650，780，800，850，880nm） RS-232C接口 可通過更換光學(xué)接頭適配器來配備各種接頭 2m長傳感器延長線