動物注射泵 樣品均質(zhì)器 粘合劑分配器 蠕動泵
元 素 | 檢出限(DL) | 相對標準偏差(RSD) | 線性范圍 |
As Sb Bi Se Te Pb Sn | <0.01 µg/ L | 1% | 103 |
Hg | <0.001 µg/ L | 1% | 103 |
Cd | <0.001 µg/ L | 1% | 103 |
Zn | <2.0 µg/ L | 1% | 103 |
Ge | <0.3 µg/ L | 1% | 103 |
氣態(tài)汞(空氣、天然氣、實驗室工作現(xiàn)場等) | <1.0 ng/ m3 | 2% | 102 |
水樣中汞(飲用水、礦泉水、海水、地表水等) | <0.0002 µg/ L | 2% | 102 |
ELVAX PROSPECTOR應(yīng)用概覽: Elvatech是一個緊湊的桌面能量色散x射線熒光光譜儀,合金分析儀。它是正確的和可負擔(dān)得起的解決方案為珠寶行業(yè),合金排序、表達QC在冶金(金屬分析儀)。 ElvaX勘探器是便攜式的能量散射型X射線熒光儀(EDXRF), 應(yīng)用了最新的XRF系統(tǒng),是Elvatech 引以為傲的產(chǎn)品。像所有ElvaX 產(chǎn)品一樣,此款便攜式手持能量散射型X射線熒光儀(EDXRF)以直觀和用戶友好為設(shè)計理念。 該系統(tǒng)運用一塊7.2 Vdc 鋰電池,正常使用下,充一次電可以使用8小時。ElvaX 勘探器在40 kV 高壓下操作,但最高可設(shè)置到50 kV,可檢測范圍從Cl 到 U。氫元素可檢測范圍從Mg 到 U。ElvaX 勘探器在帶有4英寸高分辨率觸摸屏顯示器HP PDA控制下操作,系統(tǒng)具有高靈活性和可用性。使用PC或筆記本電腦控制,ElvaX ProSpector可成為實驗室級的操作儀器 所有設(shè)備的現(xiàn)場服務(wù)由一個擁有多年能量散射型X射線熒光儀(EDXRF)經(jīng)驗的工程師團隊支持。 ELVAX PROSPECTOR的分析原理: 能量色散X射線熒光光譜法 ELVAX PROSPECTORS可分析的元素: ELVAX PROSPECTOR可分析的元素范圍是元素周期表中原子序數(shù)17號CL到92號U之間的元素。ELVAX PROSPECTOR工廠預(yù)制的 基本參數(shù)法校準曲線可分析的元素包括Ag, As, Au, Ba, Ca, Cd, Cr, Co, Cu, Fe, Hg, K, Mn, Ni, Pb, Rb, Se, Sr, Sn, Sb, Ta, Th, Ti, Tl, V, W, Zn, Zr,完全覆蓋EPA6200方法中涉及的所有26個元素。其他不在以上工廠預(yù)制校準曲線內(nèi)的元素還可以根據(jù)用戶需要進行添加。ELVAX PROSPECTORS標準測試元素: 機型一: Al,Mg,Si,Ti,V,Cr,Mn,F(xiàn)e,Co,Ni,Cu,Zn,Zr,Nb 機型二: [Ti--U] Ti,V,Cr,Mn,F(xiàn)e,Co,Ni,Cu,Zn,Zr,Nb Mo,W,Ta,稀土,鉛,鉍,銀,錫,其他元素可根據(jù)需要增加。ELVAX PROSPECTOR可分析的樣品類型: 固體、粉末、液體 (部分樣品需要配置相應(yīng)的樣品容器)ELVAX PROSPECTOR典型分析時間: 15秒~120秒,視不同樣品類型和分析精度要求而定ELVAX PROSPECTOR對各元素的測試報告:
元素 | ERM®-EC680K(標樣) | ElvaX ProSpector分析儀 |
標準值(ppm) | 測試值(ppm) | |
As | 4.1±0.5 | 3.9±0.2 |
Br | 96±4 | 97.5±1.9 |
Cd | 19.6±1.4 | 21.2±0.8 |
Cl | 102.2±3 | 99.4±9.4 |
Cr | 20.2±1.1 | 21.4±7.5 |
Hg | 4.64±0.2 | < 7.0 |
Pb | 13.6±0.5 | 12.6±2.2 |
S | 76±4 | |
Sb | 10.1±1.6 | 10.6±0.6 |
元素 | ERM®-EC681K(標樣) | ElvaX ProSpector分析儀 |
標準值(ppm) | 測試值(ppm) | |
As | 29.1±1.8 | 28.1±2.2 |
Br | 770±40 | 758.9±10.9 |
Cd | 137±4 | 132.2±0.8 |
Cl | 800±50 | 820.6±19.4 |
Cr | 100±5 | 106.5±7.5 |
Hg | 23.7±0.8 | 20.0±5.6 |
Pb | 98±6 | 98.7±2.2 |
S | 630±40 | |
Sb | 99±6 | 96.2±0.6 |
*檢測下限受樣品基體、干擾元素、測量時間等因素影響而不同。 ELVAX PROSPECTOR參數(shù)和基本配置:
Оption –氫元素(SDD檢測器) | 從Mg(Z = 12)到CL(Z = 16 |
電池 | 可反復(fù)充電、多次拔插、且有電量顯示功能的Li離子電池,典型工作情況 下單塊電池工作時間8小時,配有110/230V,50/60HZ直流電源充電器。 |
尺寸 | 242 mm x 230 mm x 78 mm |
重量(含電池) | 1230 g(1440克) |
'
技術(shù)參數(shù):
1、檢出線(D.L.): As、Pb、Se、Bi、Sn、Sb、Te、Hg< 0.01µg/LHg(冷原子法)、Cd<0.001µg/LGe<0.05µg/LZn<1.0µg/L 、Au<3.0µg/L2、精密度<1.0%3、線性范圍: 大于三個數(shù)量級。
主要特點:
一、技術(shù)指標1、檢出限 (D.L.): As、Pb、Se、Bi、Sn、Sb、Te、Hg< 0.01µg/L Hg(冷原子法)、Cd<0.001µg/L Ge<0.05µg/L Zn<1.0µg/L Au<3.0µg/L2、精密度<1.0%3、線性范圍: 大于三個數(shù)量級。
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技術(shù)參數(shù):1.功率50W,最大電壓50KV,最大電流2mA2.50W端窗Pd靶X光管3.硅漂移計數(shù)器,分辨率小于170eV4.3位置次級靶自動轉(zhuǎn)換系統(tǒng),即3束X激發(fā)光源。5.可選真空、充氣、常壓系統(tǒng)主要特點:1.偏振X光激發(fā)樣品,具有極低的背景,的靈敏度2.真正意義的Na-U的全分析,無需濾光片。3.分析的含量范圍ppm級到100%4.極為豐富的軟件系統(tǒng),提供各種方法及校正模式
X熒光光譜儀
產(chǎn)品型號:NDA300
品牌:納優(yōu)
應(yīng)用領(lǐng)域
●RoHS指令篩選檢測
●無鹵指令篩選檢測
●玩具指令篩選檢測
●日用消費品中限制元素篩選檢測
●合金成分分析
●土壤、污水重金屬檢測
主要配置
●SDD硅漂移電致冷半導(dǎo)體探測器
●側(cè)窗鉬(Mo)靶管
● 標配16組復(fù)合濾光片
● 配置了0.5mm、1mm、3mm、4*4mm四種準直器
● 具備符合中國國家標準的樣品混測功能
● 具備開放工作曲線技術(shù)平臺
● 內(nèi)致標準工作曲線
● 配置On-Line實時在線技術(shù)支持與服務(wù)平臺
● 分析軟件操作系統(tǒng)分級管理
產(chǎn)品參數(shù)
名稱:X熒光光譜儀
輸入電壓:220±5V/50Hz
消耗功率:≤500W
環(huán)境溫度:15-30℃
環(huán)境溫度:≤80%(不結(jié)露)
主機外形(mm):長*寬*高=900*500*440
樣品倉:長*寬*高=430*380*120
主機重量:約60公斤
技術(shù)指標
測量元素范圍:S-U
測量時間:對聚合物材料,典型測量時間為30秒
精密度 (Pb,Br,Cr,Hg)≤15ppm Cd≤7ppm
準確度(Pb,Br,Cr,Hg)≤100ppm Cd≤10ppm
對銅基材料,典型測量時間為50秒
精密度Pb≤50ppm, 準確度Pb≤150ppm
*注1:項目課題:出口機電產(chǎn)品國際綠色貿(mào)易壁壘應(yīng)對技術(shù)及應(yīng)用;子課題:支持RoHS指令的新型X熒光分析儀開發(fā)與企業(yè)應(yīng)用;項目組織單位:中國機械工業(yè)聯(lián)合會;課題負責(zé)人:楊李鋒(納優(yōu)科技公司總經(jīng)理)。
*注2:《RoHS檢測用X熒光能譜儀(XRF)性能評價規(guī)范》為全球范圍內(nèi)首部用于評價能量色散X熒光光譜儀的性能的參照范本,其中包括:安全性能、儀器硬件基本性能指標及分析方法配置、精密度指標測試、準確度指標測試、典型材料(聚合物、金屬等)中各種有害元素的檢出限、儀器對不同基體材料測量的適應(yīng)性和擴展性及其它性能參數(shù)等測試項目以及儀器性能評價步驟等,對于X熒光光譜儀生產(chǎn)廠家和購買儀器的用戶均有實際參考指導(dǎo)意義。
*注3:該檢測必須“一機一檢”,其檢測內(nèi)容、方法及步驟等均以《RoHS檢測用X熒光能譜儀(XRF)性能評價規(guī)范》(見注2)為準。檢測報告也稱儀器檢測鑒定證書,該證書最大的特點就是“唯一性”,一機一證,證書封頁注明儀器出廠編號、檢測報告編號的同時,需蓋有賽西實驗室矩形騎縫章印。
X熒光光譜儀
詳細介紹
德國布魯克
手持式X熒光光譜儀-常見合金詳細說明:
主要應(yīng)用:石油化工、軍工、航空、航天、鋼鐵、電站、電廠 、鍋爐壓力容器、機械制造與加工、金屬回收與分類、貴金屬、RoHS檢測、礦石、土壤等
手持式X熒光光譜儀 儀器簡介Bruker公司是手持式X熒光光譜儀的先驅(qū),2001年在美國納斯達克證券交易所上市。2001年第一次把X射線管應(yīng)用于手持式X熒光光譜儀中;2002年第一次實現(xiàn)手持式X熒光光譜儀測量輕元素;2008年第一次在手持X熒光光譜儀中使用硅漂移檢測器(SDD)。S1 TURBOSD使用了XFlash®SDD探測器技術(shù),大大提高了手持式X熒光光譜儀的靈敏度和精度。 確保了工業(yè)生產(chǎn)的安全和產(chǎn)品的質(zhì)量。成為目前世界同類儀器中分析速度最快,分析范圍最廣的設(shè)備?蓽y量的基體/應(yīng)用范圍:工具鋼,低合金鋼,不銹鋼,鈷合金,鎳合金,銅合金,鈦合金,鋯合金,鎢合金,鋅合金,鋯合金等手持式X熒光光譜儀 主要特點品牌中的精英,精品中的極品! 快速、高效、準確;檢測項目:材料分析、廢料分撿、牌號識別的最理想工具。手持式X熒光光譜儀 功能模塊定量分析牌號識別混料識別合格與否判定圖譜顯示應(yīng)用領(lǐng)域石油化工、軍工、航空、航天、鋼鐵、電站、電廠、鍋爐壓力容器機械制造與加工、金屬回收與分類、貴金屬、RoHS檢測(玩具、塑料等)礦石、土壤、其它技術(shù)參數(shù)重量:1.5kg尺寸:30cm(L)x10cm(W)x28cm(H)激發(fā)源:X射線管,Ag靶,40kV檢測器:XFlash®硅漂移檢測器(SDD), 檢測速度快; 能量分辨率高:145eV, 計數(shù)率:100 kcps 操作系統(tǒng):HP掌上電腦:Windows Mobile5.0 Bruker 專用軟件冷卻系統(tǒng):Peltier半導(dǎo)體冷卻系統(tǒng)電源:交、直流供電;2塊充電鋰電池,可連續(xù)工作8-12小時工作條件:濕度范圍:-20℃~+55℃ 濕度范圍:0~95%電池充電器:交流充電器:110/220V,50/60Hz計算機/顯示器:240x320彩顯; 65,536像素; 背景光可調(diào); 觸摸屏測量模式:樣品表面溫度 牌號識別、定量分析、顯示測量譜線、合格與否判定 使用熱表面適配器,最高可測500℃高溫件數(shù)據(jù)傳輸:USB,無線藍牙,SD卡數(shù)據(jù)存儲:主機:512MB存儲卡:CF/SD卡,2GB,能存儲幾十萬個牌號和測量數(shù)據(jù)安全:密碼保護,設(shè)有多級安全鎖運輸箱:減震、抗壓、防水、密封儀器箱支持語言:包括中、英文在內(nèi)共12種語言(用戶自選)質(zhì)保期:2年獲得認證 :CE、TUV、ISO9001、IECEE
l 接近實驗室分析精度,檢出限可低至1-10ppm。
l 檢測范圍廣,覆蓋周期表從F到U所有元素!
l 營地現(xiàn)場即時快速分析,節(jié)約大量的運輸經(jīng)費,大幅度提高效率!
對野外采取的大量的地質(zhì)樣本(礦石或土壤)進行精確的定量分析是地質(zhì)隊在野外地質(zhì)勘查中的主要工作之一,然而大量待測試樣的保管和運輸已經(jīng)成為勘探工作的一大負擔(dān),尤其是在預(yù)查普查階段。Epsilon 3能夠在野外對試樣進行快速準確的定量分析,使地質(zhì)工作者從繁重的工作中解放出來,讓他們專注于更加重要的
工作。
Epsilon 3—足以滿足甚至超出您的需求
1. Epsilon 3無需樣品預(yù)處理(可直接分析固體,粉末及液體樣品);另外大樣品模式下,可以直接測試巖心等未經(jīng)制備的樣品;
2. 高分辨率硅漂移探測器,脈沖復(fù)位電路提供的計數(shù)率可超過200,000cps,分辨率通常超過135eV;
3. 操作簡單,分析速度快(分析一個樣品僅需3-5分鐘);
4. 先進的無標定分析軟件Omnina,可在無標準參考樣情況下進行可靠定量分析;
5. 車載實驗室,方便實用,準確度高,滿足地質(zhì)野外探礦及應(yīng)急分析要求。
| | | |
技術(shù)優(yōu)勢:
Epsilon 3結(jié)合了最新激發(fā)和檢測技術(shù)以及智能設(shè)計,可與體積更大、功率更高的光譜儀相媲美,甚至超出。
Epsilon 3已經(jīng)成為一款經(jīng)濟實惠且可行的移動實驗室,從而實現(xiàn)試樣的野外快速分析,極大減輕工作量提高工作效率。
參數(shù):
Epsilon 3技術(shù)指標 | Epsilon 3L技術(shù)指標 | |
綜述 | ||
能量色散X射線熒光光譜儀,元素測定范圍F-U,濃度范圍:ppm-100% | ||
樣品處理 | ||
樣品類型: | 粉末(松散或者壓片)、熔片、金屬、液體、薄膜、大尺寸樣品 | |
樣品尺寸: | 固體27-51.5mm直徑,高度10cm;通常樣品杯放置10ml液體或者粉末 LSM:大樣品模式 樣品尺寸:4.9×20×10(H×W×D) | |
樣品交換器 : | 10位,可取出 | |
X射線管 | ||
類型: | 金屬陶瓷,側(cè)窗 | |
陽極材料: | Rh,Ag,Mo | |
光管設(shè)置: | 軟件控制,最大電壓30kV,最大功率9W | 軟件控制,最大電壓50kV,最大功率15W |
光管濾波片: | 六個,軟件選擇 | |
探測器 | ||
高分辨硅漂移探測器(135 eV@ 5.9 keV/1,000 cps) | ||
電學(xué)指標 | ||
電源電壓: | 90-264V | |
功率: | 250W | |
安裝 | ||
尺寸: | 231×530×510mm | 270×530×510mm |
重量: | 40.5kg | 42.5kg |
環(huán)境溫度: | 5°C-35°C |
RoHS檢測: 用戶可方便對RoHS控制的六類物質(zhì)進行檢測與控制。 Pb、Cd、Hg、六價Cr(測試總Cr)PBB、PBDE (測試總Br)。 無鹵檢測: 優(yōu)良的硬件設(shè)計和完善的軟件解譜方法,可以精準的測試氯(Cl)元素。檢出下限低至≤60ppm。
開放性工作曲線 用戶可很方便的根據(jù)自身材質(zhì)狀況,建立風(fēng)險材料的工作曲線,全面提高工作曲線與被測材料的對應(yīng)性。從而大幅度提升風(fēng)險物質(zhì)的檢測精度。
應(yīng)用領(lǐng)域
►RoHS指令篩選檢測
►無鹵指令篩選檢測
►玩具指令篩選檢測
►金屬鍍層測厚
►合金成分分析
技術(shù)特點
►配置最新專利技術(shù)“樣品免拆分”檢測模式:采用最新專利技術(shù)的光路結(jié)構(gòu),最小照射光斑直徑可達到0.5mm,輔以精確的光斑定位系統(tǒng),從而可以實現(xiàn)對復(fù)雜樣品進行免拆分直接測量的要求
►配置符合中國國家標準的樣品混測功能:方形4mmⅩ4mm光斑設(shè)計,配合0.5mm光斑配合使用,能夠?qū)﹄娐钒宓葟?fù)雜樣品實現(xiàn)“免拆分”區(qū)域掃描測量功能;從而顯著節(jié)省測量時間,大幅度提高檢測效率
►配置ON-Line實時在線技術(shù)支持系統(tǒng)(選配):實時解決用戶在使用過程中的疑難技術(shù)問題,同時對用戶操作人員進行培訓(xùn)
►配置十六組復(fù)合濾光片:NDA200型配置了16組復(fù)合型濾光片,是業(yè)界配置最全、數(shù)目最多的配置之一;16組濾光片的配置,極大的保證了XRF分析儀針對各種復(fù)雜樣品檢測的適應(yīng)性
►內(nèi)置標準工作曲線:儀器內(nèi)置了滿足EU-RoHS以及CHINA-RoHS產(chǎn)品認證要求的基礎(chǔ)材料的工作曲線,方便用戶直接使用;并與國家指定的認證檢測實驗室保持一致
►具備開放的工作曲線技術(shù)平臺:基于開放的工作曲線技術(shù)平臺,電子生產(chǎn)企業(yè)可以建立針對自己工廠特定物料的工作曲線,確保XRF分析儀檢測結(jié)果的可靠性和準確性
►分析軟件操作系統(tǒng)分級管理:儀器系統(tǒng)軟件配置了操作員、工程師兩級操作功能菜單,便于工廠有序管理;操作員菜單簡單直觀,避免儀器重要參數(shù)的誤修改;工程師菜單功能強大,儀器的各種參數(shù)設(shè)置權(quán)限全部開放給用戶
►采用經(jīng)典的迷宮式輻射防護結(jié)構(gòu):采用了經(jīng)典的迷宮式輻射防護結(jié)構(gòu),在保持儀器外形美觀操作方便的同時,徹底杜絕低能散射X射線的泄露
►可選配專利技術(shù)“影響權(quán)系數(shù)法”多層鍍層測厚功能:納優(yōu)科技獨創(chuàng)的“影響權(quán)系數(shù)法”多層鍍層測厚技術(shù),顯著提高鍍層厚度測量的準確度;最大可測量鍍層數(shù)量為9層;徹底解決了常規(guī)XRF測厚方法所不能解決的塑料基體鍍層厚度測量的技術(shù)難題
►外觀設(shè)計實用美觀:符合人體工程學(xué)的儀器外形設(shè)計,操作人員測量過程方便舒適
分析方法及系統(tǒng)軟件
分析方法配置:
►基于蒙特卡洛計算模型的基本參數(shù)法
► 經(jīng)驗系數(shù)法
► 理論α系數(shù)法
軟件功能描述:
► RoHS指令、無鹵指令等環(huán)保指令所限制的Pb、Hg、Cd、TCr、TBr、Cl等元素含量的分析
► 各種金屬材料、無機非金屬材料(不包括聚合物材料)的材質(zhì)分析(S~U元素)
► 聚合物等有機材料中硫(S)~鈾(U)元素的含量分析
► 分析報告的自主定制與輸出打印
► 分析結(jié)果的保存、查詢及統(tǒng)計
► On-Line實時在線技術(shù)支持與技術(shù)服務(wù)功能
► 多層鍍層厚度測量功能(選配)
主要配置
►美國Si-PIN電制冷半導(dǎo)體探測器
►側(cè)窗鉬(Mo)靶管
►標配16組復(fù)合濾光片
►配置了Φ0.5mm、Φ1mm、Φ3mm、Φ4mm四種準直器
►具備符合中國國家標準的樣品混側(cè)功能
►內(nèi)置標準工作曲線
►配置On-line實時在線技術(shù)支持與服務(wù)平臺
►具備開放工作曲線技術(shù)平臺
►分析軟件操作系統(tǒng)分級管理
產(chǎn)品參數(shù)
名稱:X熒光光譜儀
型號:NDA200
輸入電壓:220±5V/50Hz
消耗功率:≤500W
環(huán)境溫度:15-30℃
環(huán)境濕度:≤80%(不結(jié)露)
主機外形(mm):長*寬*高=900*500*440
樣品倉(mm):長*寬*高=430*380*120
主機重量:約60公斤
技術(shù)指標
元素種類:元素周期表中硫(S)~鈾(U)之間元素
測量時間:
對聚合物材料,典型測量時間為200秒
對銅基體材料,典型測量時間為400秒
檢出限指標(LOD):
對聚合物材料:LOD(Pb)≤5mg/Kg;LOD(Hg)≤5mg/Kg;LOD(TCr)≤5mg/Kg;LOD(TBr)≤5mg/Kg;LOD(Cd)≤5mg/Kg
對銅基體材料:LOD(Pb)≤50mg/Kg
精密度指標,以連續(xù)測量7次的標準偏差σ表征:
對聚合物(塑膠)材料:LOD(Pb)≤15mg/Kg;LOD(Hg)≤15mg/Kg;LOD(TCr)≤15mg/Kg;LOD(TBr)≤15mg/Kg;LOD(Cd)≤7mg/Kg
對銅基體材料:LOD(Pb)≤50mg/Kg
準確度指標,以系統(tǒng)偏差δ進行表征
對聚合物材料:δ(Pb)≤100mg/Kg; δ(Hg)≤100mg/Kg; δ(TBr)≤100mg/Kg; δ(TCr)≤100mg/Kg; δ(Cd)≤10mg/Kg
對銅基體材料:δ(Pb)≤150mg/Kg