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Zetatrac新型Zetatrac 納米/Zeta電位分析儀

30多年來(lái),Microtrac 公司一直于激光散射技術(shù)在顆粒粒度分布中的應(yīng)用。作為行業(yè)的先鋒,早在1990年,納米顆粒分析儀器,NPA引入由于顆粒在懸浮體系中的布朗運(yùn)動(dòng)而產(chǎn)生的能譜概念,利用背散射Back-scattered和異相多譜勒頻移Heterodyne Doppler Frequency Shifts技術(shù),結(jié)合動(dòng)態(tài)光散射理論和的數(shù)學(xué)處理模型,取代傳統(tǒng)的光子相關(guān)光譜PCS,Photon Correlation Spectroscopy方法,將分析范圍為延伸至0.003-6.5µm。隨著技術(shù)的發(fā)展,Microtrac 公司不斷完善其麾下的專(zhuān)業(yè)顆粒分析儀器,快速分析高濃度的納米顆粒,生化材料及膠體體系成為現(xiàn)實(shí),成為眾多行業(yè)納米分析的參考儀器。  應(yīng)用領(lǐng)域:  有機(jī)聚和物和高分子研究,納米金屬和其他納米無(wú)機(jī)物,結(jié)晶分析,表面活性劑膠束大小,蛋白質(zhì),甾體,DNA,RNA,極稀濃度或不宜稀釋高濃度的樣品分析。

主要特點(diǎn)

﹡ 專(zhuān)利的異相多譜勒頻移Heterodyne Doppler Frequency Shifts技術(shù),比較傳統(tǒng)的多譜勒頻 移分析方法,獲得顆粒散射信號(hào)的強(qiáng)度高出幾個(gè)數(shù)量級(jí),提高分析結(jié)果的性 ﹡ 專(zhuān)利的可控參比方法CRM, Controlled Reference Method,能精細(xì)分析多譜勒頻移產(chǎn)生的能 譜,確保分析的靈敏度 ﹡ 超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設(shè)計(jì),避免了多重散射現(xiàn)象,高濃度溶液中納米顆粒測(cè) 試的性 ﹡ 的“Y型”光纖光路系統(tǒng),精確聚焦藍(lán)寶石測(cè)量窗口,消除雜散光對(duì)檢測(cè)器的負(fù)面影響 ﹡ 專(zhuān)利的快速傅利葉變換算法FFT,F(xiàn)ast Fourier Transform Algorithm Method,迅速處理檢 測(cè)系統(tǒng)獲得的光譜,縮短分析時(shí)間 ﹡ 引進(jìn)“非球形”顆粒概念對(duì)米氏理論計(jì)算的校正因素,內(nèi)置常用分析物質(zhì)光學(xué)數(shù)據(jù)庫(kù),提 高顆粒粒度分布測(cè)試的性 ﹡ 符合甚至部分超過(guò)ISO 13321 激光粒度分析國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)-納米分析部分 ﹡ 符合甚至部分超過(guò)21 CFR PART 11 安全要求及FDA標(biāo)準(zhǔn)

技術(shù)參數(shù)

粒度范圍:0.8納米- 6.5微米 Zeta 電位測(cè)量:+/- 5mv 電泳遷移:+/- 0.4 μs/volt/cm 重復(fù)性:誤差小于1%(標(biāo)準(zhǔn)顆粒) 測(cè)量原理:動(dòng)態(tài)光背散射技術(shù)及米氏理論 專(zhuān)利技術(shù):HDF,CRM,F(xiàn)FT,“Y”型光纖光路設(shè)計(jì),“非球形”顆粒校正選項(xiàng),微電場(chǎng)設(shè)計(jì)技術(shù) 檢測(cè)角度:180º 濃度范圍:0.1ppm – 40wt% 分析時(shí)間:30-120 秒 光源:3mW 780nm 半導(dǎo)體光纖 樣品體積:0.2ml 操作軟件:兼容Windows 98, 2000,NT, XP等 國(guó)際標(biāo)準(zhǔn):ISO 13321 環(huán)境溫度:10ºC to 35ºC 相對(duì)濕度:小于90%

 

NANOPLUS納米粒度與Zeta電位分析儀

NanoPlus是一款新型的、具有極寬測(cè)試范圍的多用途分析儀,它采用光子相關(guān)光譜法、電泳光散射以及最新的FST技術(shù)來(lái)分析納米粒度和zeta電位,并可測(cè)定固體以及高濃度懸浮液的zeta電位,符合ISO標(biāo)準(zhǔn)。該儀器采用了高靈敏度測(cè)量技術(shù),可同時(shí)滿足低濃度和高濃度樣品納米粒度與zeta電位分析的要求,濃度范圍由0.001%到40%,可檢測(cè)粒徑從0.6nm到10μm,濃度從0.00001%到40%的樣品的粒徑。

該款儀器具有以下技術(shù)特點(diǎn):

  • 可測(cè)定顆粒在高濃度溶液中的zeta電位
  • 可測(cè)定固體zeta電位
  • 寬粒徑范圍(0.6nm~10μm),寬濃度范圍(粒徑測(cè)試:0.00001%~40%,zeta電位測(cè)試:0.001%~40%)
  • 可精確測(cè)量稀釋或濃縮的懸浮液
  • 用戶友好的軟件
  • 多種樣品池選擇
  • 可選擇一次性樣品池
  • 結(jié)合線性相關(guān)器和對(duì)數(shù)相關(guān)器相結(jié)合的技術(shù)對(duì)各種樣品進(jìn)行表征
  • 可選擇自動(dòng)滴定裝置控制懸浮液PH值

 

產(chǎn)品應(yīng)用:

 

半導(dǎo)體

研究半導(dǎo)體晶體表面殘留雜質(zhì)與磨蝕劑、添加劑和晶片表面之間的相互影響的凈化機(jī)制。

 

醫(yī)藥和食品行業(yè)

乳劑的分散和凝聚的模擬控制研究(如食品、香水、藥品和化妝品),蛋白質(zhì)功能研究,核糖體分散和凝聚控制研究,表面活性劑功能研究(微囊)。

 

陶瓷和顏料工業(yè)

表面重整控制研究、分散和凝聚陶瓷(矽土、氧化鋁、二氧化鈦等)和無(wú)機(jī)溶膠的研究,顏料的分散和凝聚的控制研究,浮礦收集器的吸附研究。

 

聚合物和化工領(lǐng)域

乳劑(涂料和粘合劑)的分散和凝聚控制研究,乳膠表面重整控制(藥品和工業(yè)用途)。電解聚合物(聚苯乙烯磺酸鈉、多羧酸等)功能研究,控制造紙和生產(chǎn)紙漿過(guò)程研究,紙漿添加劑研究。

該公司產(chǎn)品分類(lèi): 反應(yīng)釜、反應(yīng)器 密度儀、密度計(jì) 壓汞儀 物理/化學(xué)吸附儀 比表面儀、比表面積、比表面及孔結(jié)構(gòu)分析儀 孔徑/隙度分析儀 蒸氣吸附儀 粒度儀、激光粒度儀、粒度分析儀 沉降粒度儀/顆粒沉降儀 顆粒計(jì)數(shù)器 Zeta電位儀/微電泳儀 固體(粉末)表面分析儀

激光粒度儀及Zeta電位分析儀

   90Plus專(zhuān)門(mén)用于納米及亞微米顆粒的粒徑測(cè)量,操作方便、快捷,并可升級(jí)帶Zeta電位測(cè)量功能。ZetaPlus的升級(jí)產(chǎn)品為ZetaPALS。對(duì)于高濃度懸浮體系粒度的測(cè)量,BI-FOQELS為選擇。此外,對(duì)于需要研究體系聚集過(guò)程,或測(cè)量分子量的用戶,還可選擇添加BI-200SM以完成研究目的。主要特點(diǎn)   1.高功率的激光器了測(cè)量結(jié)果的精度。2.開(kāi)放式樣品池和平板式電極的設(shè)計(jì),是具有革新性的專(zhuān)利技術(shù)。3.基本避免了電滲運(yùn)動(dòng)和交叉污染的影響,從而提高測(cè)量的精度和速度。4.采用世界公認(rèn)功能的相關(guān)器BI-9000,儀器具有的性能。5.良好的升級(jí)前景,延長(zhǎng)了儀器的使用壽命。  技術(shù)參數(shù)     1.粒度范圍:2nm-5um2.溫控范圍:6-75℃, ±0.1℃3.濃度范圍:0.01%-0.1%體積 (0.001%-40%選項(xiàng))4.pH范圍:2-125.激光器功率:30mW  

諸城納米粒度及zeta電位分析儀宣威激光粒度及zeta電位分析儀宣威

產(chǎn)品簡(jiǎn)介:工作原理:采用全量程米氏散射理論,充分考慮到被測(cè)顆粒和分散介質(zhì)的折射率等光學(xué)性質(zhì),根據(jù)大小不同的顆粒在各角度上散射光強(qiáng)的變化反演出顆粒群的粒度分布數(shù)據(jù)。    顆粒測(cè)試的數(shù)據(jù)計(jì)算一般分為無(wú)約束擬合反演和有約束擬合反演兩種方法。有約束擬合反演在計(jì)算前假設(shè)顆粒群符合某種分布規(guī)律,再根據(jù)該規(guī)律反演出粒度分布。這種運(yùn)算相對(duì)比較簡(jiǎn)單,但由于事先的假設(shè)與實(shí)際情況之間不可避免會(huì)存在偏差,從而有約束擬合計(jì)算出的測(cè)試數(shù)據(jù)不能真實(shí)反映顆粒群的實(shí)際粒度分布。無(wú)約束擬合反演即測(cè)試前對(duì)顆粒群不做任何假設(shè),通過(guò)光強(qiáng)直接準(zhǔn)確地計(jì)算出顆粒群的粒度分布。這種計(jì)算前提是合理的探測(cè)器設(shè)計(jì)和粒度分級(jí),給設(shè)備本身提出很高的要求。采用優(yōu)的非均勻性交叉三維扇形矩陣排列的探測(cè)器陣列和合理的粒度分級(jí),從而能夠準(zhǔn)確地測(cè)量顆粒群的粒度分布。技術(shù)特點(diǎn):測(cè)試穩(wěn)定的基礎(chǔ):只有系統(tǒng)能夠提供穩(wěn)定的光信號(hào),才能夠充分保證測(cè)試數(shù)據(jù)的穩(wěn)定。Rise-2022型干濕兩用激光粒度分析儀選用He-Ne氣體激光光源,波長(zhǎng)0.6328微米,波長(zhǎng)短,線寬窄,穩(wěn)定性好,使用壽命大于25000小時(shí),能夠很好的為系統(tǒng)提供穩(wěn)定的激光源信號(hào)。數(shù)據(jù)可靠的保證:保證測(cè)試數(shù)據(jù)可靠首先是信號(hào)探測(cè)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)合理,被測(cè)樣品分散效果的優(yōu)劣和被測(cè)分散液的均勻程度是得出真實(shí)結(jié)果的另一決定性因素。探測(cè)器:光電探測(cè)系統(tǒng)設(shè)計(jì)獨(dú)特,靈敏度高,主檢測(cè)器一個(gè),輔助檢測(cè)器多個(gè),采用非均勻性交叉三維扇形矩陣排列,檢測(cè)角達(dá)到90度,充分保證了信號(hào)探測(cè)的全面性。光路:采用一個(gè)量程設(shè)計(jì),會(huì)聚光路獨(dú)特,減少了傅立葉透鏡組,使測(cè)量范圍更寬,分辨率更高,光路免調(diào)。功能強(qiáng)大的分析軟件:PADMAS顆粒粒度測(cè)量分析系統(tǒng)(Particle Diameter Measure & Analysis System)功能強(qiáng)大,測(cè)試數(shù)據(jù)可以做平均、統(tǒng)計(jì)、比較和模式轉(zhuǎn)換等處理,具有微分分布、累積分布、標(biāo)準(zhǔn)分級(jí)、R-R分布、自定義分級(jí)、按目分級(jí)和數(shù)量分布等多種格式。在0.02~2000微米內(nèi)默認(rèn)分級(jí)130級(jí),在量程范圍內(nèi),從1~130級(jí)可自定義分級(jí)。測(cè)試報(bào)告中有粒度分布圖形和粒度數(shù)據(jù)圖表,有D10、D50、D90、平均粒徑和比表面積等特征參數(shù),有四個(gè)自定義參數(shù)根據(jù) 需要自行輸入,重量比表面積與體積比表面積可以互換。粒度數(shù)據(jù)可保存到EXCEL。支持中、英文格式1、諸城納米粒度及zeta電位分析儀宣威激光粒度及zeta電位分析儀宣威熱門(mén)搜索:BT-9300S激光粒度分析儀激光粒度儀     激光粒度分析儀-WJL-628     便攜式高分辨激光粒度分析儀     CW300S-70清潔度掃描儀     激光粒度分析儀WJL-628     WJL-608激光粒度分析儀     【河北慧采科技開(kāi)發(fā)有限公司】老百姓信得過(guò)產(chǎn)品★★消費(fèi)者放心滿意品牌★★邢臺(tái)十強(qiáng)企業(yè)★★中國(guó)質(zhì)量AAA級(jí)企業(yè)★★邢臺(tái)質(zhì)量.服務(wù).誠(chéng)信AAA企業(yè)★★撥打電話請(qǐng)告訴我產(chǎn)品訂貨號(hào)2、諸城納米粒度及zeta電位分析儀宣威激光粒度及zeta電位分析儀宣威多種型號(hào)圖片
型號(hào):RL134585激光粒度分析儀-WJL-628型號(hào):RL134587CW300S-70清潔度掃描儀型號(hào):RL134592激光粒度分析儀WJL-628
【諸城納米粒度及zeta電位分析儀宣威激光粒度及zeta電位分析儀宣威一共有★★30★★多種型號(hào)以上只顯示1-3種型號(hào),如沒(méi)有合適您的產(chǎn)品請(qǐng)咨詢 河北慧采科技開(kāi)發(fā)有限公司】3、諸城納米粒度及zeta電位分析儀宣威激光粒度及zeta電位分析儀宣威多種型號(hào)內(nèi)容型號(hào):RL134585激光粒度分析儀-WJL-628

主要技術(shù)指標(biāo):

1、測(cè)量范圍:濕法:0.02~1200微米

       干法:0.1~1200微米

2、準(zhǔn)確性誤差:〈±1%(國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)D50)

3、重復(fù)性偏差:〈±1%(國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)D50)

4、電氣要求:交流220±10V,50Hz, 200W

5、外觀尺寸:主機(jī)1000×330×300mm 

干法進(jìn)樣系統(tǒng)350×330×300mm

濕法進(jìn)樣系統(tǒng)350×330×300mm

6、重量:50KG

工作原理:

采用全量程米氏散射理論,充分考慮到被測(cè)顆粒和分散介質(zhì)的折射率等光學(xué)性質(zhì),根據(jù)大小不同的顆粒在各角度上散射光強(qiáng)的變化反演出顆粒群的粒度分布數(shù)據(jù)。

    顆粒測(cè)試的數(shù)據(jù)計(jì)算一般分為無(wú)約束擬合反演和有約束擬合反演兩種方法。有約束擬合反演在計(jì)算前假設(shè)顆粒群符合某種分布規(guī)律,再根據(jù)該規(guī)律反演出粒度分布。這種運(yùn)算相對(duì)比較簡(jiǎn)單,但由于事先的假設(shè)與實(shí)際情況之間不可避免會(huì)存在偏差,從而有約束擬合計(jì)算出的測(cè)試數(shù)據(jù)不能真實(shí)反映顆粒群的實(shí)際粒度分布。

欄目頁(yè)面:http://www.runlian365.com/chanpin/9502.html粒度分析儀來(lái)源網(wǎng)址:http://www.runlian365.com/chanpin/did-134585-pid-9502.html激光粒度分析儀-WJL-628型號(hào):RL134587CW300S-70清潔度掃描儀

CW300S-70清潔度掃描儀

清潔度掃描儀用途:

      CW300S-70 清潔度掃描顯微鏡性能卓越,應(yīng)用領(lǐng)域廣泛。在模具制造、精密制造、電線電纜、數(shù)字化工程、鞋楦服飾等方面都有成功案例。

清潔度掃描儀應(yīng)用范圍 :

      汽車(chē)零部件掃描、快速檢測(cè)、快速成型、汽車(chē)零件清潔度檢測(cè)、顆粒度分析、醫(yī)用針制造,電纜絕緣層檢測(cè)、科學(xué)研究、計(jì)算機(jī)視覺(jué)、先進(jìn)制造、數(shù)字文物、數(shù)字博物館、考古研究、顯微形貌

清潔度掃描儀功能介紹:

1.本掃描儀可以快速掃描樣品表面數(shù)據(jù),能掃描顆粒、空洞、溝槽,斷裂的表面。

2.具有圖形編輯功能,可以去噪、標(biāo)準(zhǔn)化,去處不需要部分

3.掃描速度可以無(wú)級(jí)調(diào)整,可以快速預(yù)覽掃描結(jié)果

4.可以通過(guò)標(biāo)定自定位,進(jìn)行自動(dòng)拼接,無(wú)需貼標(biāo)記點(diǎn);也可以手工輔助拼接。

5.提供標(biāo)定功能,無(wú)需返廠即可進(jìn)行精度校正,標(biāo)定完成后,會(huì)自動(dòng)分析標(biāo)定結(jié)果報(bào)告,保證標(biāo)定質(zhì)量

6.提供多處理器優(yōu)化,使多核工作站能全速運(yùn)行,獲得實(shí)時(shí)性能

7.可以生成多種數(shù)據(jù)格式,供其他軟件使用,包括sfl,ply等,可以轉(zhuǎn)換到AutoCAD,Geomagic Studio,Rapid Form中進(jìn)行高級(jí)處理 。

 掃描范圍及精度:

產(chǎn)品型號(hào):   CW300S-70

單面掃描范圍(mm):   250×70

單幅精度(mm):   0.005

平均點(diǎn)距(mm):  0.04

單面掃描速度(s) : <30s

掃描方式:  非接觸/面掃描

欄目頁(yè)面:http://www.runlian365.com/chanpin/9502.html粒度分析儀來(lái)源網(wǎng)址:http://www.runlian365.com/chanpin/did-134587-pid-9502.htmlCW300S-70清潔度掃描儀型號(hào):RL134592激光粒度分析儀WJL-628

工作原理:

采用全量程米氏散射理論,充分考慮到被測(cè)顆粒和分散介質(zhì)的折射率等光學(xué)性質(zhì),根據(jù)大小不同的顆粒在各角度上散射光強(qiáng)的變化反演出顆粒群的粒度分布數(shù)據(jù)。

    顆粒測(cè)試的數(shù)據(jù)計(jì)算一般分為無(wú)約束擬合反演和有約束擬合反演兩種方法。有約束擬合反演在計(jì)算前假設(shè)顆粒群符合某種分布規(guī)律,再根據(jù)該規(guī)律反演出粒度分布。這種運(yùn)算相對(duì)比較簡(jiǎn)單,但由于事先的假設(shè)與實(shí)際情況之間不可避免會(huì)存在偏差,從而有約束擬合計(jì)算出的測(cè)試數(shù)據(jù)不能真實(shí)反映顆粒群的實(shí)際粒度分布。

無(wú)約束擬合反演即測(cè)試前對(duì)顆粒群不做任何假設(shè),通過(guò)光強(qiáng)直接準(zhǔn)確地計(jì)算出顆粒群的粒度分布。這種計(jì)算前提是合理的探測(cè)器設(shè)計(jì)和粒度分級(jí),給設(shè)備本身提出很高的要求。

采用優(yōu)的非均勻性交叉三維扇形矩陣排列的探測(cè)器陣列和合理的粒度分級(jí),從而能夠準(zhǔn)確地測(cè)量顆粒群的粒度分布。

技術(shù)特點(diǎn):

測(cè)試穩(wěn)定的基礎(chǔ):只有系統(tǒng)能夠提供穩(wěn)定的光信號(hào),才能夠充分保證測(cè)試數(shù)據(jù)的穩(wěn)定。Rise-2022型干濕兩用激光粒度分析儀選用He-Ne氣體激光光源,波長(zhǎng)0.6328微米,波長(zhǎng)短,線寬窄,穩(wěn)定性好,使用壽命大于25000小時(shí),能夠很好的為系統(tǒng)提供穩(wěn)定的激光源信號(hào)。

數(shù)據(jù)可靠的保證:保證測(cè)試數(shù)據(jù)可靠首先是信號(hào)探測(cè)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)合理,被測(cè)樣品分散效果的優(yōu)劣和被測(cè)分散液的均勻程度是得出真實(shí)結(jié)果的另一決定性因素。

探測(cè)器:光電探測(cè)系統(tǒng)設(shè)計(jì)獨(dú)特,靈敏度高,主檢測(cè)器一個(gè),輔助檢測(cè)器多個(gè),采用非均勻性交叉三維扇形矩陣排列,檢測(cè)角達(dá)到90度,充分保證了信號(hào)探測(cè)的全面性。

光路:采用一個(gè)量程設(shè)計(jì),會(huì)聚光路獨(dú)特,減少了傅立葉透鏡組,使測(cè)量范圍更寬,分辨率更高,光路免調(diào)。

功能強(qiáng)大的分析軟件:PADMAS顆粒粒度測(cè)量分析系統(tǒng)(Particle Diameter Measure & Analysis System)功能強(qiáng)大,測(cè)試數(shù)據(jù)可以做平均、統(tǒng)計(jì)、比較和模式轉(zhuǎn)換等處理,具有微分分布、累積分布、標(biāo)準(zhǔn)分級(jí)、R-R分布、自定義分級(jí)、按目分級(jí)和數(shù)量分布等多種格式。在0.02~2000微米內(nèi)默認(rèn)分級(jí)130級(jí),在量程范圍內(nèi),從1~130級(jí)可自定義分級(jí)。測(cè)試報(bào)告中有粒度分布圖形和粒度數(shù)據(jù)圖表,有D10D50、D90、平均粒徑和比表面積等特征參數(shù),有四個(gè)自定義參數(shù)根據(jù) 需要自行輸入,重量比表面積與體積比表面積可以互換。粒度數(shù)據(jù)可保存到EXCEL。支持中、英文格式測(cè)試報(bào)告打印,頁(yè)眉和頁(yè)腳可根據(jù)需要進(jìn)行修改,有打印預(yù)覽功能,能夠?qū)⒘6确植紙D形和粒度數(shù)據(jù)圖表存成圖片或PDF格式,便與WORD交互使用?筛鶕(jù)用戶需要增加其他處理功能。操作簡(jiǎn)便:標(biāo)準(zhǔn)、量化、簡(jiǎn)單的操作能夠在短時(shí)間內(nèi)熟練掌握,測(cè)試數(shù)據(jù)過(guò)程在1分鐘內(nèi)完成。

可視性強(qiáng):測(cè)試軟件界面友好,測(cè)試過(guò)程清晰可見(jiàn),瞬時(shí)刷新,可視性強(qiáng),可隨時(shí)觀察儀器運(yùn)行狀況、測(cè)試數(shù)據(jù)波動(dòng)清況,分析所測(cè)數(shù)據(jù)的真實(shí)性、可靠性。循環(huán)、超聲、攪拌和排液等操作鍵都在智能化觸摸式操作面板上,標(biāo)準(zhǔn)、量化、簡(jiǎn)單的操作,有效縮短了測(cè)試時(shí)間,降低了對(duì)操作人員的要求。

設(shè)備維護(hù):全面的技術(shù)培訓(xùn)和內(nèi)容詳盡的使用操作說(shuō)明書(shū)、軟件在線幫助使操作人員能準(zhǔn)確操作、解決疑問(wèn)、排除故障。

技術(shù)支持:根據(jù)樣品的密度、異性、脆性、磁性、毒性、流動(dòng)性、團(tuán)聚性、溶解性和物理化學(xué)反應(yīng)等理化特性,我們總結(jié)出了一套科學(xué)、系統(tǒng)和完整的分散測(cè)試方案,隨著儀器提供給用戶。我們既銷(xiāo)售儀器,又提供分散測(cè)試方案。

分散方法

 集合了WJL系列濕法激光粒度分析儀和干法激光粒度分析儀的分散方法,干樣干測(cè),濕樣濕測(cè)。

干法分散:

  在干法狀態(tài)下,樣品通過(guò)自動(dòng)干粉進(jìn)樣器均勻輸送到高壓氣流中,在高壓氣流的帶動(dòng)下連續(xù)高速噴射到分散器中,在到達(dá)分散器出口處樣品已經(jīng)被充分分散,穿過(guò)激光束之后樣品進(jìn)入收集器中,同時(shí)電腦立刻顯示出粒度分布信息。

1.干法分散,不需要任何分散劑和溶劑。

2. 采用靜音無(wú)油空氣壓縮機(jī),配以高效冷凝器,保證產(chǎn)生純凈壓縮空氣;

3. 瞬時(shí)分散、瞬時(shí)測(cè)量,測(cè)試精度快,分析效率高,從進(jìn)樣到出結(jié)果一分鐘內(nèi)完成;

濕法分散:

     超聲分散系統(tǒng)能夠?qū)Ρ粶y(cè)樣品進(jìn)行充分的分散。大功率超聲器(100W),超聲時(shí)間全自動(dòng)操作和觸摸式按鍵連續(xù)調(diào)節(jié),設(shè)置時(shí)間數(shù)字顯示,超聲時(shí)間0~950秒連續(xù)可調(diào)可根據(jù)樣品分散的難易程度設(shè)置超聲時(shí)間,良好的屏蔽處理使超聲分散和樣品測(cè)試可同時(shí)進(jìn)行,即使具有超強(qiáng)團(tuán)聚性的顆粒也能夠充分分散以獲得真實(shí)的粒度分布數(shù)據(jù)。樣品分散池(400ml)與主機(jī)一體,不銹鋼材質(zhì),設(shè)計(jì)獨(dú)特,呈圓形,循環(huán)排液方便,不留塵垢,便于清洗。采用濕法分散,可用蒸餾水、純凈水和酒精等液體作分散介質(zhì)。

分散液均化:分散液的均勻程度是向探測(cè)系統(tǒng)提供穩(wěn)定散射光信號(hào)的前提,本儀器采用連續(xù)可調(diào)的攪拌和循環(huán)充分保證了分散液的均勻度。

攪拌系統(tǒng):根據(jù)被測(cè)樣品的特性選擇合適的攪拌速度,防止顆粒沉淀,使分散液混合均勻,攪拌轉(zhuǎn)速全自動(dòng)操作和觸摸式按鍵連續(xù)可調(diào),設(shè)置速度數(shù)字顯示,攪拌轉(zhuǎn)速0~3000轉(zhuǎn)/分鐘連續(xù)可調(diào),測(cè)試過(guò)程中同時(shí)開(kāi)啟超聲可避免因攪拌速度過(guò)快產(chǎn)生氣泡造成的測(cè)試誤差。

循環(huán)系統(tǒng):根據(jù)被測(cè)樣品的特性選擇合適的循環(huán)泵速,防止循環(huán)管路中顆粒沉淀,循環(huán)泵速全自動(dòng)操作和觸摸式按鍵連續(xù)可調(diào),設(shè)置速度數(shù)字顯示,循環(huán)泵速0~5000轉(zhuǎn)/分鐘連續(xù)可調(diào),測(cè)試過(guò)程中同時(shí)開(kāi)啟超聲既可避免因循環(huán)速度過(guò)快產(chǎn)生氣泡造成的測(cè)試誤差,又能夠防止顆粒在循環(huán)過(guò)程中產(chǎn)生團(tuán)聚。

主要技術(shù)指標(biāo):

1、測(cè)量范圍:濕法:0.021200微米

       干法:0.11200微米

2、準(zhǔn)確性誤差:〈±1%(國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)D50

3、重復(fù)性偏差:〈±1%(國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)D50

4、電氣要求:交流220±10V,50Hz, 200W

5、外觀尺寸:主機(jī)1000×330×300mm 

干法進(jìn)樣系統(tǒng)350×330×300mm

濕法進(jìn)樣系統(tǒng)350×330×300mm

6、重量:50KG

 

欄目頁(yè)面:http://www.runlian365.com/chanpin/9502.html粒度分析儀來(lái)源網(wǎng)址:http://www.runlian365.com/chanpin/did-134592-pid-9502.html激光粒度分析儀WJL-628溫馨提示:潤(rùn)聯(lián)為您提供產(chǎn)品的詳細(xì)產(chǎn)品價(jià)格、產(chǎn)品圖片等產(chǎn)品介紹信息,您可以直接聯(lián)系廠家獲取產(chǎn)品的具體資料,聯(lián)系時(shí)請(qǐng)說(shuō)明是在潤(rùn)聯(lián)看到的,并告知型號(hào)
該公司產(chǎn)品分類(lèi): 泵閥 勞保 五金 儀器 機(jī)械

超聲粒度及Zeta電位分析儀DT-1202

超聲粒度及Zeta電位分析儀

提供所有單臺(tái)儀器測(cè)量粒度分布, zeta電位和流變性質(zhì)(選件)的可能性 在一個(gè)樣品池中可以同時(shí)測(cè)量粒度分布和zeta電位 可以選擇附加各種探頭式測(cè)量傳感器, 包括溫度、pH值、電導(dǎo)率、和流變性質(zhì)測(cè)量,以及非水系統(tǒng)選項(xiàng)和軟件控制的自動(dòng)滴定系統(tǒng) 所有探頭均可同時(shí)操作 統(tǒng)一的數(shù)據(jù)管理                                                      超聲粒度及Zeta電位分析儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介:利用超聲波在含有顆粒的連續(xù)相中傳播時(shí),聲與顆粒的相互作用產(chǎn)生的聲吸收、耗散和散射所引起的損失效應(yīng)來(lái)測(cè)量顆粒粒度及濃度,采用多頻電聲學(xué)測(cè)量技術(shù)測(cè)量膠體體系的Zeta電位。對(duì)于高達(dá)50%(體積)濃度的樣品,無(wú)需進(jìn)行樣品稀釋或處理即可直接測(cè)量。甚至對(duì)于漿糊、凝膠、水泥及用其它儀器很難測(cè)量的材料都可用Zeta Probe 直接進(jìn)行測(cè)量。 傳統(tǒng)方法要求稀釋樣品或進(jìn)行其它的樣品處理,既費(fèi)時(shí)又容易出錯(cuò),而多頻電聲技術(shù)則可避免這些問(wèn)題。超聲探頭(Zeta Probe)能直接在樣品的原始條件下測(cè)量zeta電位,允許樣品濃度高達(dá)50%(體積)。Zeta Probe 結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)緊湊,外置的Zeta電位滴定裝置(可選配).自動(dòng)滴定裝置可自動(dòng)、快速地判斷等電點(diǎn),可快速得到※佳分散劑和絮凝劑。對(duì)粒度和雙電層失真進(jìn)行自動(dòng)校正。該儀器的軟件易于使用,通用性強(qiáng),非常適用于科研及工廠的優(yōu)化控制超聲粒度及Zeta電位分析儀參數(shù)規(guī)格: 1. 粒徑由超聲波( Acoustic)方式 , Zeta 電位由電聲波( Electro Acoustic)方式 2. 樣品無(wú)需稀釋直接測(cè)定,測(cè)量固體含量范圍:1% ~ 50% 3. 樣品※大測(cè)量攪拌濃度:10,000cps 4. 樣品測(cè)量電位范圍:+/- 300mV或以上 5. 聲波范圍: 500~3000m/s 6. 頻率范圍: 1 to 100 MHz , multiple gap 自動(dòng)掃描18個(gè)gap或以上 7. 粒徑測(cè)量: 5nm ~ 1000um 8. 可測(cè)量混合物之粒徑及Zeta電位 , 并可分析混合物之個(gè)別粒徑 9. 測(cè)量Zeta電位只需10ml或以下 10. 操作軟件功能: - 需在Windows XP下操作 - 粒徑分布圖及累計(jì)圖 - 粒徑分布數(shù)據(jù)表含D10 , D50 , D90 - 數(shù)據(jù)庫(kù)可在 Windows Access中由使用者自由選取 - 使用者可自由選取聲波速度及衰減圖 - 任何兩個(gè)參數(shù)的散射圖 - 用戶定義自動(dòng)選擇多數(shù)據(jù)系列Multiple data series automatically selected from user query 11.可選自動(dòng)酸堿與濃度滴定裝置 12.可選自動(dòng)測(cè)量粒徑及Zeta電位對(duì)pH變化 13.可以及時(shí)分析/顯示Zeta電位與等電點(diǎn) 14.可及時(shí)測(cè)量/顯示樣品pH值,電導(dǎo)率,溫度 15.可選數(shù)據(jù)資料處理與顯示系統(tǒng): Pentium 4 –3.0GHz或以上, 512 MB RAM, 80 GB, 19” LCD , Windows XP及 Office軟件 ( or Lap computer

超聲粒度及Zeta電位分析儀DT-1202產(chǎn)品特點(diǎn):1.能分析多種分散物的混合體 2.無(wú)需依賴Double Layer 模式,精確地判定等電點(diǎn) 3.可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系 4.可排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾 5.可精確測(cè)量無(wú)水體系 6.Zeta電位測(cè)試采用多頻電聲測(cè)量技術(shù),無(wú)需先測(cè)量粒度即可進(jìn)行電位測(cè)量 7.樣品的※高濃度可達(dá)50%(體積比),被測(cè)樣品無(wú)需稀釋?zhuān)瑢?duì)濃縮膠體和乳膠可進(jìn)行直接測(cè)量 8.具有自動(dòng)電位滴定功能產(chǎn)品相冊(cè): 

 

該公司產(chǎn)品分類(lèi): 超聲粒度和Zeta電位分析儀 粒子界面特性評(píng)價(jià)裝置 介電常數(shù)測(cè)定儀 非水電導(dǎo)率測(cè)定儀 超聲流變儀 Zeta電位分析儀 超聲粒度分析儀 光學(xué)流變系統(tǒng) 混凝土流變儀 混凝土收縮測(cè)試儀 水泥/砂漿流變儀 砂漿干燥收縮測(cè)試儀 自動(dòng)混凝土攪拌機(jī) 蛋白質(zhì)聚集體分析儀 表面特性分析儀 超聲粒度和Zeta電位分析儀 圖像法Zeta電位 納米粒度及Zeta電位分析儀 微區(qū)掃描電化學(xué)顯微鏡 真密度分析儀

DT-300電聲法zeta電位分析儀

12.00

Normal07.8 磅02falsefalsefalseEN-USZH-CNX-NONE

DT系列儀器即是由專(zhuān)業(yè)從事聲學(xué)研究的科學(xué)家組成的、位于美國(guó)新澤西州的dispersion technology Co.研發(fā)生產(chǎn)的系列儀器,可準(zhǔn)確測(cè)量原濃溶液的粒徑、流變及電動(dòng)學(xué)參數(shù),如zeta電位、電導(dǎo)率等等。

1、 用于水相、有機(jī)相(極性或非極性溶劑)懸浮液和乳液表征

2、 采用多頻電聲測(cè)量技術(shù)由超聲探頭(Zeta Probe)直接測(cè)量

3、 Zeta電位測(cè)量范圍:無(wú)限制;低表面電荷可低至0.1mV

4、 原濃溶液測(cè)試,最小樣品量低至 2ml

5、  同時(shí)測(cè)量動(dòng)態(tài)遷移率和雙電層厚度(Debye Length, 德拜長(zhǎng)度)

6、 通過(guò)Access數(shù)據(jù)庫(kù)進(jìn)行數(shù)據(jù)管理

7、可選自動(dòng)滴定系統(tǒng)(DT-310

該公司產(chǎn)品分類(lèi): 比表面積和孔徑分析儀 真密度計(jì) 真密度分析儀 真密度測(cè)試儀 全自動(dòng)真密度計(jì) 開(kāi)孔、閉孔率分析儀 開(kāi)孔、閉孔率測(cè)定儀 真密度分析儀 壓實(shí)密度測(cè)試儀 壓實(shí)密度分析儀 壓實(shí)密度儀 振實(shí)密度儀 振實(shí)密度測(cè)試儀 堆密度測(cè)試儀 振實(shí)密度計(jì) 薄膜孔隙率分析儀 薄膜孔徑測(cè)試儀 圖像法zeta電位儀 比表面儀 比表面積測(cè)定儀

激光粒度儀及Zeta電位分析儀

   90Plus專(zhuān)門(mén)用于納米及亞微米顆粒的粒徑測(cè)量,操作方便、快捷,并可升級(jí)帶Zeta電位測(cè)量功能。ZetaPlus的升級(jí)產(chǎn)品為ZetaPALS。對(duì)于高濃度懸浮體系粒度的測(cè)量,BI-FOQELS為選擇。此外,對(duì)于需要研究體系聚集過(guò)程,或測(cè)量分子量的用戶,還可選擇添加BI-200SM以完成研究目的。主要特點(diǎn)   1.高功率的激光器了測(cè)量結(jié)果的精度。2.開(kāi)放式樣品池和平板式電極的設(shè)計(jì),是具有革新性的專(zhuān)利技術(shù)。3.基本避免了電滲運(yùn)動(dòng)和交叉污染的影響,從而提高測(cè)量的精度和速度。4.采用世界公認(rèn)功能的相關(guān)器BI-9000,儀器具有的性能。5.良好的升級(jí)前景,延長(zhǎng)了儀器的使用壽命。  技術(shù)參數(shù)     1.粒度范圍:2nm-5um2.溫控范圍:6-75℃, ±0.1℃3.濃度范圍:0.01%-0.1%體積 (0.001%-40%選項(xiàng))4.pH范圍:2-125.激光器功率:30mW  

Zetatrac新型Zetatrac 納米/Zeta電位分析儀

30多年來(lái),Microtrac 公司一直于激光散射技術(shù)在顆粒粒度分布中的應(yīng)用。作為行業(yè)的先鋒,早在1990年,納米顆粒分析儀器,NPA引入由于顆粒在懸浮體系中的布朗運(yùn)動(dòng)而產(chǎn)生的能譜概念,利用背散射Back-scattered和異相多譜勒頻移Heterodyne Doppler Frequency Shifts技術(shù),結(jié)合動(dòng)態(tài)光散射理論和的數(shù)學(xué)處理模型,取代傳統(tǒng)的光子相關(guān)光譜PCS,Photon Correlation Spectroscopy方法,將分析范圍為延伸至0.003-6.5µm。隨著技術(shù)的發(fā)展,Microtrac 公司不斷完善其麾下的專(zhuān)業(yè)顆粒分析儀器,快速分析高濃度的納米顆粒,生化材料及膠體體系成為現(xiàn)實(shí),成為眾多行業(yè)納米分析的參考儀器。  應(yīng)用領(lǐng)域:  有機(jī)聚和物和高分子研究,納米金屬和其他納米無(wú)機(jī)物,結(jié)晶分析,表面活性劑膠束大小,蛋白質(zhì),甾體,DNA,RNA,極稀濃度或不宜稀釋高濃度的樣品分析。

主要特點(diǎn)

﹡ 專(zhuān)利的異相多譜勒頻移Heterodyne Doppler Frequency Shifts技術(shù),比較傳統(tǒng)的多譜勒頻 移分析方法,獲得顆粒散射信號(hào)的強(qiáng)度高出幾個(gè)數(shù)量級(jí),提高分析結(jié)果的性 ﹡ 專(zhuān)利的可控參比方法CRM, Controlled Reference Method,能精細(xì)分析多譜勒頻移產(chǎn)生的能 譜,確保分析的靈敏度 ﹡ 超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設(shè)計(jì),避免了多重散射現(xiàn)象,高濃度溶液中納米顆粒測(cè) 試的性 ﹡ 的“Y型”光纖光路系統(tǒng),精確聚焦藍(lán)寶石測(cè)量窗口,消除雜散光對(duì)檢測(cè)器的負(fù)面影響 ﹡ 專(zhuān)利的快速傅利葉變換算法FFT,F(xiàn)ast Fourier Transform Algorithm Method,迅速處理檢 測(cè)系統(tǒng)獲得的光譜,縮短分析時(shí)間 ﹡ 引進(jìn)“非球形”顆粒概念對(duì)米氏理論計(jì)算的校正因素,內(nèi)置常用分析物質(zhì)光學(xué)數(shù)據(jù)庫(kù),提 高顆粒粒度分布測(cè)試的性 ﹡ 符合甚至部分超過(guò)ISO 13321 激光粒度分析國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)-納米分析部分 ﹡ 符合甚至部分超過(guò)21 CFR PART 11 安全要求及FDA標(biāo)準(zhǔn)

技術(shù)參數(shù)

粒度范圍:0.8納米- 6.5微米 Zeta 電位測(cè)量:+/- 5mv 電泳遷移:+/- 0.4 μs/volt/cm 重復(fù)性:誤差小于1%(標(biāo)準(zhǔn)顆粒) 測(cè)量原理:動(dòng)態(tài)光背散射技術(shù)及米氏理論 專(zhuān)利技術(shù):HDF,CRM,F(xiàn)FT,“Y”型光纖光路設(shè)計(jì),“非球形”顆粒校正選項(xiàng),微電場(chǎng)設(shè)計(jì)技術(shù) 檢測(cè)角度:180º 濃度范圍:0.1ppm – 40wt% 分析時(shí)間:30-120 秒 光源:3mW 780nm 半導(dǎo)體光纖 樣品體積:0.2ml 操作軟件:兼容Windows 98, 2000,NT, XP等 國(guó)際標(biāo)準(zhǔn):ISO 13321 環(huán)境溫度:10ºC to 35ºC 相對(duì)濕度:小于90%

 

最新產(chǎn)品

熱門(mén)儀器: 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見(jiàn)分光光度計(jì) 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗(yàn)機(jī) 酸度計(jì)(PH計(jì)) 離心機(jī) 高速離心機(jī) 冷凍離心機(jī) 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 生物試劑