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Zetatrac新型Zetatrac 納米/Zeta電位分析儀

30多年來，Microtrac 公司一直于激光散射技術(shù)在顆粒粒度分布中的應(yīng)用。作為行業(yè)的先鋒，早在1990年，納米顆粒分析儀器，NPA引入由于顆粒在懸浮體系中的布朗運(yùn)動(dòng)而產(chǎn)生的能譜概念，利用背散射Back-scattered和異相多譜勒頻移Heterodyne Doppler Frequency Shifts技術(shù)，結(jié)合動(dòng)態(tài)光散射理論和的數(shù)學(xué)處理模型，取代傳統(tǒng)的光子相關(guān)光譜PCS,Photon Correlation Spectroscopy方法，將分析范圍為延伸至0.003-6.5µm。隨著技術(shù)的發(fā)展，Microtrac 公司不斷完善其麾下的專業(yè)顆粒分析儀器，快速分析高濃度的納米顆粒，生化材料及膠體體系成為現(xiàn)實(shí)，成為眾多行業(yè)納米分析的參考儀器。  應(yīng)用領(lǐng)域：  有機(jī)聚和物和高分子研究，納米金屬和其他納米無(wú)機(jī)物，結(jié)晶分析，表面活性劑膠束大小，蛋白質(zhì)，甾體，DNA，RNA，極稀濃度或不宜稀釋高濃度的樣品分析。

主要特點(diǎn)

﹡ 專利的異相多譜勒頻移Heterodyne Doppler Frequency Shifts技術(shù)，比較傳統(tǒng)的多譜勒頻 移分析方法，獲得顆粒散射信號(hào)的強(qiáng)度高出幾個(gè)數(shù)量級(jí)，提高分析結(jié)果的性 ﹡ 專利的可控參比方法CRM, Controlled Reference Method，能精細(xì)分析多譜勒頻移產(chǎn)生的能 譜，確保分析的靈敏度 ﹡ 超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設(shè)計(jì)，避免了多重散射現(xiàn)象，高濃度溶液中納米顆粒測(cè) 試的性 ﹡ 的“Y型”光纖光路系統(tǒng)，精確聚焦藍(lán)寶石測(cè)量窗口，消除雜散光對(duì)檢測(cè)器的負(fù)面影響 ﹡ 專利的快速傅利葉變換算法FFT，F(xiàn)ast Fourier Transform Algorithm Method，迅速處理檢 測(cè)系統(tǒng)獲得的光譜，縮短分析時(shí)間 ﹡ 引進(jìn)“非球形”顆粒概念對(duì)米氏理論計(jì)算的校正因素，內(nèi)置常用分析物質(zhì)光學(xué)數(shù)據(jù)庫(kù)，提 高顆粒粒度分布測(cè)試的性 ﹡ 符合甚至部分超過ISO 13321 激光粒度分析國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)－納米分析部分 ﹡ 符合甚至部分超過21 CFR PART 11 安全要求及FDA標(biāo)準(zhǔn)

技術(shù)參數(shù)

粒度范圍：0.8納米－ 6.5微米 Zeta 電位測(cè)量：+/- 5mv 電泳遷移：+/- 0.4 μs/volt/cm 重復(fù)性：誤差小于1%（標(biāo)準(zhǔn)顆粒） 測(cè)量原理：動(dòng)態(tài)光背散射技術(shù)及米氏理論 專利技術(shù)：HDF，CRM，F(xiàn)FT，“Ｙ”型光纖光路設(shè)計(jì)，“非球形”顆粒校正選項(xiàng)，微電場(chǎng)設(shè)計(jì)技術(shù) 檢測(cè)角度：180º 濃度范圍：0.1ppm – 40wt% 分析時(shí)間：30-120 秒 光源：3mW 780nm 半導(dǎo)體光纖 樣品體積：0.2ml 操作軟件：兼容Windows 98, 2000,NT, XP等 國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)：ISO 13321 環(huán)境溫度：10ºC to 35ºC 相對(duì)濕度：小于90%

 

NANOPLUS納米粒度與Zeta電位分析儀

NanoPlus是一款新型的、具有極寬測(cè)試范圍的多用途分析儀，它采用光子相關(guān)光譜法、電泳光散射以及最新的FST技術(shù)來分析納米粒度和zeta電位，并可測(cè)定固體以及高濃度懸浮液的zeta電位，符合ISO標(biāo)準(zhǔn)。該儀器采用了高靈敏度測(cè)量技術(shù)，可同時(shí)滿足低濃度和高濃度樣品納米粒度與zeta電位分析的要求，濃度范圍由0.001%到40%，可檢測(cè)粒徑從0.6nm到10μm，濃度從0.00001%到40%的樣品的粒徑。

該款儀器具有以下技術(shù)特點(diǎn)：

  • 可測(cè)定顆粒在高濃度溶液中的zeta電位
  • 可測(cè)定固體zeta電位
  • 寬粒徑范圍（0.6nm~10μm），寬濃度范圍（粒徑測(cè)試：0.00001%~40%，zeta電位測(cè)試：0.001%~40%）
  • 可精確測(cè)量稀釋或濃縮的懸浮液
  • 用戶友好的軟件
  • 多種樣品池選擇
  • 可選擇一次性樣品池
  • 結(jié)合線性相關(guān)器和對(duì)數(shù)相關(guān)器相結(jié)合的技術(shù)對(duì)各種樣品進(jìn)行表征
  • 可選擇自動(dòng)滴定裝置控制懸浮液PH值

 

產(chǎn)品應(yīng)用：

 

半導(dǎo)體

研究半導(dǎo)體晶體表面殘留雜質(zhì)與磨蝕劑、添加劑和晶片表面之間的相互影響的凈化機(jī)制。

 

醫(yī)藥和食品行業(yè)

乳劑的分散和凝聚的模擬控制研究（如食品、香水、藥品和化妝品），蛋白質(zhì)功能研究，核糖體分散和凝聚控制研究，表面活性劑功能研究（微囊）。

 

陶瓷和顏料工業(yè)

表面重整控制研究、分散和凝聚陶瓷（矽土、氧化鋁、二氧化鈦等）和無(wú)機(jī)溶膠的研究，顏料的分散和凝聚的控制研究，浮礦收集器的吸附研究。

 

聚合物和化工領(lǐng)域

乳劑（涂料和粘合劑）的分散和凝聚控制研究，乳膠表面重整控制（藥品和工業(yè)用途）。電解聚合物（聚苯乙烯磺酸鈉、多羧酸等）功能研究，控制造紙和生產(chǎn)紙漿過程研究，紙漿添加劑研究。

該公司產(chǎn)品分類： 反應(yīng)釜、反應(yīng)器 密度儀、密度計(jì) 壓汞儀 物理/化學(xué)吸附儀 比表面儀、比表面積、比表面及孔結(jié)構(gòu)分析儀 孔徑/隙度分析儀 蒸氣吸附儀 粒度儀、激光粒度儀、粒度分析儀 沉降粒度儀/顆粒沉降儀 顆粒計(jì)數(shù)器 Zeta電位儀/微電泳儀 固體(粉末)表面分析儀

激光粒度儀及Zeta電位分析儀

   90Plus專門用于納米及亞微米顆粒的粒徑測(cè)量，操作方便、快捷，并可升級(jí)帶Zeta電位測(cè)量功能。ZetaPlus的升級(jí)產(chǎn)品為ZetaPALS。對(duì)于高濃度懸浮體系粒度的測(cè)量，BI-FOQELS為選擇。此外，對(duì)于需要研究體系聚集過程，或測(cè)量分子量的用戶，還可選擇添加BI-200SM以完成研究目的。主要特點(diǎn)   1.高功率的激光器了測(cè)量結(jié)果的精度。2.開放式樣品池和平板式電極的設(shè)計(jì),是具有革新性的專利技術(shù)。3.基本避免了電滲運(yùn)動(dòng)和交叉污染的影響，從而提高測(cè)量的精度和速度。4.采用世界公認(rèn)功能的相關(guān)器BI-9000，儀器具有的性能。5.良好的升級(jí)前景，延長(zhǎng)了儀器的使用壽命。  技術(shù)參數(shù)     1.粒度范圍：2nm-5um2.溫控范圍：6-75℃, ±0.1℃3.濃度范圍：0.01%-0.1%體積 (0.001%-40%選項(xiàng))4.pH范圍：2-125.激光器功率：30mW  

超聲粒度及Zeta電位分析儀DT-1202

超聲粒度及Zeta電位分析儀

提供所有單臺(tái)儀器測(cè)量粒度分布, zeta電位和流變性質(zhì)(選件)的可能性 在一個(gè)樣品池中可以同時(shí)測(cè)量粒度分布和zeta電位 可以選擇附加各種探頭式測(cè)量傳感器, 包括溫度、pH值、電導(dǎo)率、和流變性質(zhì)測(cè)量，以及非水系統(tǒng)選項(xiàng)和軟件控制的自動(dòng)滴定系統(tǒng) 所有探頭均可同時(shí)操作 統(tǒng)一的數(shù)據(jù)管理                                                      超聲粒度及Zeta電位分析儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介：利用超聲波在含有顆粒的連續(xù)相中傳播時(shí)，聲與顆粒的相互作用產(chǎn)生的聲吸收、耗散和散射所引起的損失效應(yīng)來測(cè)量顆粒粒度及濃度，采用多頻電聲學(xué)測(cè)量技術(shù)測(cè)量膠體體系的Zeta電位。對(duì)于高達(dá)50％（體積）濃度的樣品，無(wú)需進(jìn)行樣品稀釋或處理即可直接測(cè)量。甚至對(duì)于漿糊、凝膠、水泥及用其它儀器很難測(cè)量的材料都可用Zeta Probe 直接進(jìn)行測(cè)量。 傳統(tǒng)方法要求稀釋樣品或進(jìn)行其它的樣品處理，既費(fèi)時(shí)又容易出錯(cuò)，而多頻電聲技術(shù)則可避免這些問題。超聲探頭（Zeta Probe）能直接在樣品的原始條件下測(cè)量zeta電位，允許樣品濃度高達(dá)50％（體積）。Zeta Probe 結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)緊湊，外置的Zeta電位滴定裝置(可選配).自動(dòng)滴定裝置可自動(dòng)、快速地判斷等電點(diǎn)，可快速得到※佳分散劑和絮凝劑。對(duì)粒度和雙電層失真進(jìn)行自動(dòng)校正。該儀器的軟件易于使用，通用性強(qiáng)，非常適用于科研及工廠的優(yōu)化控制超聲粒度及Zeta電位分析儀參數(shù)規(guī)格： 1. 粒徑由超聲波( Acoustic)方式 , Zeta 電位由電聲波( Electro Acoustic)方式 2. 樣品無(wú)需稀釋直接測(cè)定,測(cè)量固體含量范圍:1% ～ 50% 3. 樣品※大測(cè)量攪拌濃度:10,000cps 4. 樣品測(cè)量電位范圍:+/- 300mV或以上 5. 聲波范圍: 500～3000m/s 6. 頻率范圍: 1 to 100 MHz , multiple gap 自動(dòng)掃描18個(gè)gap或以上 7. 粒徑測(cè)量: 5nm ～ 1000um 8. 可測(cè)量混合物之粒徑及Zeta電位 , 并可分析混合物之個(gè)別粒徑 9. 測(cè)量Zeta電位只需10ml或以下 10. 操作軟件功能: - 需在Windows XP下操作 - 粒徑分布圖及累計(jì)圖 - 粒徑分布數(shù)據(jù)表含D10 , D50 , D90 - 數(shù)據(jù)庫(kù)可在 Windows Access中由使用者自由選取 - 使用者可自由選取聲波速度及衰減圖 - 任何兩個(gè)參數(shù)的散射圖 - 用戶定義自動(dòng)選擇多數(shù)據(jù)系列Multiple data series automatically selected from user query 11.可選自動(dòng)酸堿與濃度滴定裝置 12.可選自動(dòng)測(cè)量粒徑及Zeta電位對(duì)pH變化 13.可以及時(shí)分析/顯示Zeta電位與等電點(diǎn) 14.可及時(shí)測(cè)量/顯示樣品pH值,電導(dǎo)率,溫度 15.可選數(shù)據(jù)資料處理與顯示系統(tǒng): Pentium 4 –3.0GHz或以上, 512 MB RAM, 80 GB, 19” LCD , Windows XP及 Office軟件 ( or Lap computer

超聲粒度及Zeta電位分析儀DT-1202產(chǎn)品特點(diǎn)：1.能分析多種分散物的混合體 2.無(wú)需依賴Double Layer 模式,精確地判定等電點(diǎn) 3.可適用于高導(dǎo)電（highly conducting）體系 4.可排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾 5.可精確測(cè)量無(wú)水體系 6.Zeta電位測(cè)試采用多頻電聲測(cè)量技術(shù)，無(wú)需先測(cè)量粒度即可進(jìn)行電位測(cè)量 7.樣品的※高濃度可達(dá)50％（體積比）,被測(cè)樣品無(wú)需稀釋，對(duì)濃縮膠體和乳膠可進(jìn)行直接測(cè)量 8.具有自動(dòng)電位滴定功能產(chǎn)品相冊(cè)： 

 

該公司產(chǎn)品分類： 超聲粒度和Zeta電位分析儀 粒子界面特性評(píng)價(jià)裝置 介電常數(shù)測(cè)定儀 非水電導(dǎo)率測(cè)定儀 超聲流變儀 Zeta電位分析儀 超聲粒度分析儀 光學(xué)流變系統(tǒng) 混凝土流變儀 混凝土收縮測(cè)試儀 水泥/砂漿流變儀 砂漿干燥收縮測(cè)試儀 自動(dòng)混凝土攪拌機(jī) 蛋白質(zhì)聚集體分析儀 表面特性分析儀 超聲粒度和Zeta電位分析儀 圖像法Zeta電位 納米粒度及Zeta電位分析儀 微區(qū)掃描電化學(xué)顯微鏡 真密度分析儀

DT-300電聲法zeta電位分析儀

12.00

Normal07.8 磅02falsefalsefalseEN-USZH-CNX-NONE

DT系列儀器即是由專業(yè)從事聲學(xué)研究的科學(xué)家組成的、位于美國(guó)新澤西州的dispersion technology Co.研發(fā)生產(chǎn)的系列儀器，可準(zhǔn)確測(cè)量原濃溶液的粒徑、流變及電動(dòng)學(xué)參數(shù)，如zeta電位、電導(dǎo)率等等。

1、 用于水相、有機(jī)相（極性或非極性溶劑）懸浮液和乳液表征

2、 采用多頻電聲測(cè)量技術(shù)由超聲探頭（Zeta Probe）直接測(cè)量

3、 Zeta電位測(cè)量范圍：無(wú)限制；低表面電荷可低至0.1mV

4、 原濃溶液測(cè)試，最小樣品量低至 2ml

5、  同時(shí)測(cè)量動(dòng)態(tài)遷移率和雙電層厚度（Debye Length， 德拜長(zhǎng)度）

6、 通過Access數(shù)據(jù)庫(kù)進(jìn)行數(shù)據(jù)管理

7、可選自動(dòng)滴定系統(tǒng)（DT-310）

該公司產(chǎn)品分類： 比表面積和孔徑分析儀 真密度計(jì) 真密度分析儀 真密度測(cè)試儀 全自動(dòng)真密度計(jì) 開孔、閉孔率分析儀 開孔、閉孔率測(cè)定儀 真密度分析儀 壓實(shí)密度測(cè)試儀 壓實(shí)密度分析儀 壓實(shí)密度儀 振實(shí)密度儀 振實(shí)密度測(cè)試儀 堆密度測(cè)試儀 振實(shí)密度計(jì) 薄膜孔隙率分析儀 薄膜孔徑測(cè)試儀 圖像法zeta電位儀 比表面儀 比表面積測(cè)定儀

激光粒度儀及Zeta電位分析儀

   90Plus專門用于納米及亞微米顆粒的粒徑測(cè)量，操作方便、快捷，并可升級(jí)帶Zeta電位測(cè)量功能。ZetaPlus的升級(jí)產(chǎn)品為ZetaPALS。對(duì)于高濃度懸浮體系粒度的測(cè)量，BI-FOQELS為選擇。此外，對(duì)于需要研究體系聚集過程，或測(cè)量分子量的用戶，還可選擇添加BI-200SM以完成研究目的。主要特點(diǎn)   1.高功率的激光器了測(cè)量結(jié)果的精度。2.開放式樣品池和平板式電極的設(shè)計(jì),是具有革新性的專利技術(shù)。3.基本避免了電滲運(yùn)動(dòng)和交叉污染的影響，從而提高測(cè)量的精度和速度。4.采用世界公認(rèn)功能的相關(guān)器BI-9000，儀器具有的性能。5.良好的升級(jí)前景，延長(zhǎng)了儀器的使用壽命。  技術(shù)參數(shù)     1.粒度范圍：2nm-5um2.溫控范圍：6-75℃, ±0.1℃3.濃度范圍：0.01%-0.1%體積 (0.001%-40%選項(xiàng))4.pH范圍：2-125.激光器功率：30mW  

Zetatrac新型Zetatrac 納米/Zeta電位分析儀

30多年來，Microtrac 公司一直于激光散射技術(shù)在顆粒粒度分布中的應(yīng)用。作為行業(yè)的先鋒，早在1990年，納米顆粒分析儀器，NPA引入由于顆粒在懸浮體系中的布朗運(yùn)動(dòng)而產(chǎn)生的能譜概念，利用背散射Back-scattered和異相多譜勒頻移Heterodyne Doppler Frequency Shifts技術(shù)，結(jié)合動(dòng)態(tài)光散射理論和的數(shù)學(xué)處理模型，取代傳統(tǒng)的光子相關(guān)光譜PCS,Photon Correlation Spectroscopy方法，將分析范圍為延伸至0.003-6.5µm。隨著技術(shù)的發(fā)展，Microtrac 公司不斷完善其麾下的專業(yè)顆粒分析儀器，快速分析高濃度的納米顆粒，生化材料及膠體體系成為現(xiàn)實(shí)，成為眾多行業(yè)納米分析的參考儀器。  應(yīng)用領(lǐng)域：  有機(jī)聚和物和高分子研究，納米金屬和其他納米無(wú)機(jī)物，結(jié)晶分析，表面活性劑膠束大小，蛋白質(zhì)，甾體，DNA，RNA，極稀濃度或不宜稀釋高濃度的樣品分析。

主要特點(diǎn)

﹡ 專利的異相多譜勒頻移Heterodyne Doppler Frequency Shifts技術(shù)，比較傳統(tǒng)的多譜勒頻 移分析方法，獲得顆粒散射信號(hào)的強(qiáng)度高出幾個(gè)數(shù)量級(jí)，提高分析結(jié)果的性 ﹡ 專利的可控參比方法CRM, Controlled Reference Method，能精細(xì)分析多譜勒頻移產(chǎn)生的能 譜，確保分析的靈敏度 ﹡ 超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設(shè)計(jì)，避免了多重散射現(xiàn)象，高濃度溶液中納米顆粒測(cè) 試的性 ﹡ 的“Y型”光纖光路系統(tǒng)，精確聚焦藍(lán)寶石測(cè)量窗口，消除雜散光對(duì)檢測(cè)器的負(fù)面影響 ﹡ 專利的快速傅利葉變換算法FFT，F(xiàn)ast Fourier Transform Algorithm Method，迅速處理檢 測(cè)系統(tǒng)獲得的光譜，縮短分析時(shí)間 ﹡ 引進(jìn)“非球形”顆粒概念對(duì)米氏理論計(jì)算的校正因素，內(nèi)置常用分析物質(zhì)光學(xué)數(shù)據(jù)庫(kù)，提 高顆粒粒度分布測(cè)試的性 ﹡ 符合甚至部分超過ISO 13321 激光粒度分析國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)－納米分析部分 ﹡ 符合甚至部分超過21 CFR PART 11 安全要求及FDA標(biāo)準(zhǔn)

技術(shù)參數(shù)

粒度范圍：0.8納米－ 6.5微米 Zeta 電位測(cè)量：+/- 5mv 電泳遷移：+/- 0.4 μs/volt/cm 重復(fù)性：誤差小于1%（標(biāo)準(zhǔn)顆粒） 測(cè)量原理：動(dòng)態(tài)光背散射技術(shù)及米氏理論 專利技術(shù)：HDF，CRM，F(xiàn)FT，“Ｙ”型光纖光路設(shè)計(jì)，“非球形”顆粒校正選項(xiàng)，微電場(chǎng)設(shè)計(jì)技術(shù) 檢測(cè)角度：180º 濃度范圍：0.1ppm – 40wt% 分析時(shí)間：30-120 秒 光源：3mW 780nm 半導(dǎo)體光纖 樣品體積：0.2ml 操作軟件：兼容Windows 98, 2000,NT, XP等 國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)：ISO 13321 環(huán)境溫度：10ºC to 35ºC 相對(duì)濕度：小于90%

 

顆粒度及Zeta電位分析儀

我們的粒度和Zeta電位分析儀器, 采用專利技術(shù)---多頻電聲學(xué)測(cè)量技術(shù)測(cè)量膠體體系的Zeta電位。對(duì)于高達(dá)50％（體積）濃度的樣品，無(wú)需進(jìn)行樣品稀釋或前處理即可直接測(cè)量。甚至對(duì)于漿糊、凝膠、水泥及用其它儀器很難測(cè)量的材料都可用Zeta Probe 直接進(jìn)行測(cè)量。傳統(tǒng)方法要求稀釋樣品或進(jìn)行其它的樣品處理，既費(fèi)時(shí)又容易出錯(cuò)，而專利的多頻電聲技術(shù)則可避免這些問題。Zeta Probe 能直接在樣品的原始條件下測(cè)量zeta電位，允許樣品濃度高達(dá)50％（體積）。Zeta Probe結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)緊湊，外置的Zeta電位滴定裝置(可選配).自動(dòng)滴定裝置可自動(dòng)、快速地判斷等電點(diǎn)，可快速得到分散劑和絮凝劑。對(duì)粒度和雙電層失真進(jìn)行自動(dòng)校正。該儀器的軟件易于使用，通用性強(qiáng)，非常適用于科研及工廠的優(yōu)化控制。

產(chǎn)品特性1.能分析多種分散物的混合體 2.無(wú)需依賴Double Layer 模式,精確地判定等電點(diǎn) 3.可適用于高導(dǎo)電（highly conducting）體系 4.可排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾 5.可精確測(cè)量無(wú)水體系 6.Zeta電位測(cè)試采用多頻電聲測(cè)量技術(shù)，無(wú)需先測(cè)量粒度即可進(jìn)行電位測(cè)量7.樣品的濃度可達(dá)50％（體積比）,被測(cè)樣品無(wú)需稀釋，對(duì)濃縮膠體和乳膠可進(jìn)行直接測(cè)量 8.具有自動(dòng)電位滴定功能

產(chǎn)品規(guī)格1.所檢測(cè)粒徑范圍款從５nm至 1000um hspace=02.可測(cè)量Zeta電位、超聲波頻率、電導(dǎo)率、PH、溫度、聲衰減、聲速、電聲信號(hào)，動(dòng)態(tài)遷移率、等電點(diǎn)（IEP） 3.Zeta電位測(cè)量范圍：無(wú)限制, low surface charges (可低至0.1mv),高精度（±0.1mv） 4.Zero surface charge條件下也可測(cè)量粒徑 5.允許樣品濃度：0.1～50％（體積百分?jǐn)?shù)） 6.樣品體積：20-110ml（檢測(cè)粒徑），2-100ml（檢測(cè)Zeta電位）7.PH 范圍：0.5～13.5 8.電導(dǎo)率范圍：0.0001～10 S/m9.溫度范圍：< 50℃10.最大粘度：20，000厘泊11.電位滴定和體積滴定，滴定分辨率0.1μl

DT-1200高濃度膠體顆粒度及Zeta電位分析儀

主要特點(diǎn)

1.能分析多種分散物的混合體 2.無(wú)需依賴Double Layer 模式,精確地判定等電點(diǎn) 3.可適用于高導(dǎo)電（highly conducting）體系 4.可排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾 5.可精確測(cè)量無(wú)水體系 6.Zeta電位測(cè)試采用多頻電聲測(cè)量技術(shù)，無(wú)需先測(cè)量粒度即可進(jìn)行電位測(cè)量 7.樣品的濃度可達(dá)50％（體積比）,被測(cè)樣品無(wú)需稀釋，對(duì)濃縮膠體和乳膠可進(jìn)行直接測(cè)量 8.具有自動(dòng)電位滴定功能

儀器介紹

高濃度膠體和乳液的特性參數(shù)檢測(cè)儀,測(cè)試:  粒徑、Zeta電位、滴定、電導(dǎo)等  此儀器容易使用、測(cè)量精確。對(duì)于高達(dá)50％（體積）濃度的樣品，也無(wú)需進(jìn)行稀釋或樣品前處理即可直接測(cè)量。甚至對(duì)于漿糊、凝膠、水泥以及用其它儀器很難測(cè)量的材料都可直接進(jìn)行測(cè)量。結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)緊湊，外置的Zeta電位滴定裝置(可選配).自動(dòng)滴定裝置可自動(dòng)、快速地判斷等電點(diǎn)，可快速得到分散劑和絮凝劑。對(duì)粒度和雙電層失真進(jìn)行自動(dòng)校正。該儀器的軟件易于使用，通用性強(qiáng)，非常適用于科研及工廠的優(yōu)化控制。  Dispersion Technology，Inc.         產(chǎn)品：       　                      應(yīng)用于：  DT-1200聲波和電聲波測(cè)量?jī)x        實(shí)驗(yàn)室中粒徑和Zeta電位及滴定、pH值測(cè)量  DT-100聲波測(cè)量?jī)x                 實(shí)驗(yàn)室中粒徑分析儀   DT-300Zeta電位探頭               實(shí)驗(yàn)室中Zeta電位分析  DT-400自動(dòng)膠體滴定               滴定、pH值、表面活性、鹽度等  分析軟件                         膠體科學(xué)領(lǐng)域的理論  典型應(yīng)用領(lǐng)域：       Aggregative Stability, 水泥漿, 陶瓷, 化學(xué)機(jī)械研磨, 煤漿, 涂料, 化妝品, 環(huán)境保護(hù)浮選法礦物富集, 食品工業(yè), 乳膠, 微乳, 混合分散體系, 納米粉, 無(wú)水體系, 油漆成像材料.  測(cè)量參數(shù)：       粒子/液體的密度、液體的粘度、粒子的重量百分比、介電常數(shù)等參數(shù)。  優(yōu)于光學(xué)方法的技術(shù)優(yōu)勢(shì)：       1、被測(cè)樣品無(wú)需稀釋       2、排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾       3、不需定標(biāo)       4、能分析多種分散物的混合體       5、高精度       6、所檢測(cè)粒徑范圍款從５nm至 1000um  優(yōu)于electroactics方法的技術(shù)優(yōu)勢(shì)：       1、無(wú)需定標(biāo)       2、能測(cè)更寬的粒徑范圍       3、無(wú)需依賴Double Layer 模式       4、不需依賴（electric surface properties）電表面特性       5、Zero surface charge條件下也可測(cè)量粒徑       6、可適用于無(wú)水體系       7、可適用于高導(dǎo)電（highly conducting）體系  優(yōu)于微電泳方法的技術(shù)優(yōu)勢(shì)：       1、無(wú)需稀釋，固含量高達(dá)50%       2、可排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾       3、高精度（±0.1mv）       4、low surface charges (可低至0.1mv)        5、electrosmotic flow 不影響測(cè)量       6、對(duì)流（convection）不影響測(cè)量       7、可精確測(cè)量無(wú)水體系

Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀

     作為最先將背向光散射技術(shù)（Back-Scattering）引入高濃度粒度分析的廠家，Brookhaven公司應(yīng)用全新的光纖技術(shù)將背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)進(jìn)行了完美結(jié)合，突破性地推出了結(jié)合15°、90°與173°三個(gè)散射角度與硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技術(shù)的Omni多角度粒與高靈敏度Zeta電位分析儀。隨著Omni的出現(xiàn)，突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測(cè)量的局限性，實(shí)現(xiàn)在同一臺(tái)粒度分析儀中，既可以同時(shí)兼顧大、小顆粒的散射光信號(hào)，又可以有效地提高了測(cè)量濃度上限，最高可達(dá)40%wt；硬件PALS技術(shù)（與傳統(tǒng)基于頻移技術(shù)的光散射方法相比，靈敏度可提高1000倍）的應(yīng)用，徹底解決了長(zhǎng)期以來無(wú)法對(duì)諸如在低介電常數(shù)、高粘度、高鹽度以及等電點(diǎn)附近這些測(cè)量條件下（電泳遷移率比通常水相條件下低10－1000倍，傳統(tǒng)方法沒有足夠的分辨率進(jìn)行測(cè)量）的樣品進(jìn)行分析的難題。Omni是目前市場(chǎng)上功能最強(qiáng)大的粒度與Zeta電位分析儀。

 

NanoBrook產(chǎn)品系列

 

項(xiàng)目

173

173Plus

Omni

ZetaPALS

功 能

粒度測(cè)量功能

●

●

●

○

分子量測(cè)量功能

●

●

●

○

Zeta電位測(cè)量功能

○

○

●

●

技 術(shù) 參 數(shù)

散射角

15°與173°

15°、90°與173°

○

粒度范圍

0.3nm-10μm

○

分子量測(cè)定范圍

342～2×107Dalton

○

相關(guān)器

4×522個(gè)物理通道，4×1011個(gè)線性通道

○

Zeta電位適用粒度范圍

○

1nm～100μm

Zeta電位范圍

○

－500mV～500mV

電導(dǎo)率范圍

○

0-30S/m

電泳遷移率范圍

○

10-11～10-7m2/V.s

電極

○

開放式永久型電極

系 統(tǒng) 參 數(shù)

溫控范圍與精度

－5～110℃，±0.1℃

激光源

35mW光泵半導(dǎo)體激光器

檢測(cè)器

PMT或APD

分析軟件

Particle Solution粒度與Zeta電位分析軟件

大小及重量

233mm（H）×427mm（W）×481mm（D），15kg

選 件

BI-ZTU自動(dòng)滴定儀

可對(duì)PH值、電導(dǎo)率和添加劑濃度作圖

BI-870介電常數(shù)儀

直接測(cè)量溶劑的介電常數(shù)值

BI-SV10粘度計(jì)

用于測(cè)量溶劑及溶液的粘度

●代表“有” ○代表“無(wú)”

 

 

典型應(yīng)用

 

☆   蛋白、免疫球蛋白、縮氨酸、DNA、RNA、膠束

☆   脂質(zhì)體、外切酶體及其他生物膠體

☆   多糖、藥物制備

☆   納米顆粒、聚合物膠乳、微乳液

☆   油包水、水包油體系

☆   涂料、顏料、油漆、油墨、調(diào)色劑

☆   食品、化妝品配方

☆   陶瓷、耐火材料、廢水處理、炭黑

 

ZetaPALS測(cè)定電泳遷移率 （單位 10 -8m2 /V·s）

樣品 

PALS 結(jié)果 

文獻(xiàn)值 

備注

NIST 1980

2.51 ± 0.11

2.53 ± 0.12

標(biāo)準(zhǔn)樣品電泳遷移率

Blood Cells

-1.081 ± 0.015

-1.08 ± 0.02

分散于生理鹽水

Fe 2O3

0.013 ± 0.0015

N.A.

分散于十二烷

TiO2

0.255 ± 0.010

N.A.

分散于甲苯（非脫水）

TiO2

0.155 ± 0.011

N.A.

分散于甲苯（脫水）

TiO2

-0.503 ± 0.0015

N.A.

分散于乙醇

Casein

-0.025 ± 0.002

N.A.

分散于PEG（粘性）

SiO2

-0.73 ± 0.04

N.A.

分散于 2.0 M KCl（高鹽濃度）

 

應(yīng)用案例

 不同粒徑對(duì)Zeta電位等電點(diǎn)的影響       不同官能團(tuán)配比對(duì)等電點(diǎn)的影響        Zeta電位值與細(xì)胞吸收度的關(guān)系

    通過調(diào)整顆粒的粒徑或正負(fù)電荷官能團(tuán)的比例，混合電荷修飾的納米金顆粒其等電點(diǎn)可以在4～7之間明顯的變化，不同比例的官能團(tuán)和顆粒的靜電荷對(duì)動(dòng)物細(xì)胞吸收度有著重大影響。（數(shù)據(jù)摘自JACS）

技術(shù)參數(shù)

 

適用粒度范圍：粒度：0.3nm～10μm（與折射率，濃度，散射角有關(guān)）；Zeta電位：1nm～100μm

樣品濃度范圍：0.1ppm至40%w/v（與顆粒大小和折射率有關(guān)）

典型精度：粒度：1％；Zeta電位：3％

樣品類型：蛋白、納米粒子、聚合物及分散于水或其他溶劑中的膠體樣品

樣品體積：粒度：1～3ml，50μL微量樣品池，10μL微量樣品池（最新）；Zeta電位：0.18～1.5 ml

分子量測(cè)定范圍：342～2×107Dalton

Zeta電位范圍：-500mV～500mV

電導(dǎo)率范圍：0～30S/m

電泳遷移率范圍：10-11 ～ 10-7 m2 /V.s

電場(chǎng)強(qiáng)度：0 ～ 60 kV/m

電極：永久性開放式電極，電極材料純鈀；耐腐蝕電極（選件）；微量電極（選件）

溫控范圍與精度：-5℃～110℃，±0.1℃。

pH測(cè)量范圍：1-14

激光源：35mW光泵半導(dǎo)體激光器（可選5mW He-Ne激光器）

檢測(cè)器：高靈敏雪崩型二極管（APD）

相關(guān)器：4×522個(gè)物理通道，4×1011個(gè)線性通道，采用動(dòng)態(tài)采樣時(shí)間及動(dòng)態(tài)延遲時(shí)間分配

自動(dòng)趨勢(shì)分析：對(duì)時(shí)間、溫度及其他參數(shù)

散射角：15°、90°與173°

室溫操作情況：10°C ～ 75°C，濕度 0% ～95%, 無(wú)冷凝

大小及重量：233mm （H） x 427 mm （W） x 481 mm （D），15 kg

電源：100/115/220/240 VAC, 50/60 Hz, 300 W

計(jì)算機(jī)（選件）：商用計(jì)算機(jī)，包括WindowTM軟件

自動(dòng)滴定儀（選件）：獨(dú)立四泵驅(qū)動(dòng)，可對(duì)pH值、電導(dǎo)率和添加劑濃度作圖

該公司產(chǎn)品分類： 光散射系統(tǒng) 粒度及Zeta電位測(cè)量 TurboCorr數(shù)字相關(guān)器 Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀 NanoDLS高靈敏在線粒度分析儀 FOQELS高濃度粒度分析儀 BI-XDC圓盤式離心沉降粒度儀 BioDLS高通量自動(dòng)化粒度分析儀 BI-DCP圓盤式離心沉降粒度儀 ACOS實(shí)時(shí)在線粒度檢測(cè)系統(tǒng) 173Plus多角度粒度分析儀 90Plus亞微米激光粒度分析儀 BI-ZTU自動(dòng)滴定儀 BI-870介電常數(shù)測(cè)定儀 Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀 90Plus Zeta型Zeta電位及粒度分析儀 90Plus PALS高靈敏度Zeta電位及粒度分析儀 BI-2010/2020粘度檢測(cè)器 BI-DNDC示差折射儀 BI-MwA多角度激光光散射（絕對(duì)分子量測(cè)定）儀

最新產(chǎn)品
熱門儀器： 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計(jì) 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗(yàn)機(jī) 酸度計(jì)（PH計(jì)） 離心機(jī) 高速離心機(jī) 冷凍離心機(jī) 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 生物試劑