光學測角比較儀
一、主要用途:光學測角儀結(jié)構(gòu)簡單,使用廣泛,它是用比較的方法測定角度的良好儀器,它與標準件或角度塊規(guī)比較可測量金屬與光學零件的角度;測量導(dǎo)軌的直線性;測量零件部件的平行度;測量兩個平面的垂直度。此外,還可以與多面體或角度塊組合使用進行分度測量等工作。光學比較測角儀是在C60的基礎(chǔ)上增加了測微器裝置。視場中直讀一小格為1ˊ=60秒,而理論上測微器需轉(zhuǎn)8.33小格,合到測微器上的一小格=7.2秒。即測微器每轉(zhuǎn)動一周(50小格)=視場中移動6小格=360秒。本儀器之特點為解決了測量范圍大與精度高之間的一對矛盾。
二、結(jié)構(gòu)原理:本儀器有如下幾個部分組成:1、帶有標尺分劃板的自準平行光管;2、具有精密平面性的工作臺;3、支架;4、照明設(shè)備;三、技術(shù)數(shù)據(jù):測微器最小分讀值: 7.2秒/格標尺讀數(shù)范圍: 60´儀器示值誤差: ±6"放大倍數(shù): 14×平臺工作面積: 200×200mm儀器外形尺寸: 200×250×400mm重量: 15kg燈泡: 6.3v,3w
三坐標測量儀>> 非接觸式三坐標測量儀 /UG系列三維光學坐標測量儀
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產(chǎn)品型號:165*48
日本三豐PJ-A3000系列投影測量儀
特點:1.追求高效率、高操作性的泛用投影機。2.數(shù)位式方字表示,容易讀取數(shù)值(RS-232數(shù)位式文字表C輸出:X,Y軸角度計數(shù)器)。3.重視操作性的上一個下動對焦大型把手。4.采用浮動載物強機構(gòu),量測更為輕松、快速。5.投影幕布為實線十字線。6.搭配2D數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)QM-DATA200使用,尺寸量測更簡易。技術(shù)參數(shù):
測量儀 內(nèi)置光柵尺D微分頭 內(nèi)置光柵尺分辨率 0.001mm投影屏幕 有效直徑:315mm 數(shù)顯角度:±370°功能:方向轉(zhuǎn)換,SPC輸出,調(diào)零(PJ-A3010F-200E,-100E,A3005F-150)投影鏡頭 10×鏡頭套裝(172-202)放大精度 輪廓照明:±0.1%以下表面照明:±0.15%以下輪廓照明 光源:鹵素燈泡(24V,150W)光學系統(tǒng):遠心系統(tǒng)功能:高/低亮度轉(zhuǎn)換,吸熱光片表面照明 光源:鹵素燈泡(24V,150W)光學系統(tǒng):半反射垂直照明電源 100/110/120/220/240V AC(可轉(zhuǎn)換),50/60Hz
技術(shù)規(guī)格:
型號 | PJ-A3005D-50 | PJ-A3010F-100 | PJ-A3005F-150 | PJ-A3010F-200 | |
測量范圍(X x Y軸) | 50 x 50mm | 100 x 100mm | 150 x 50mm | 200 x 100mm | |
讀數(shù)裝置 | 數(shù)顯微分頭 | 內(nèi)裝光柵尺 | |||
可快速移動 | — | X.Y兩軸 | |||
分辨率 | 0.001mm | ||||
投影屏 | 有效直徑:315mm 回轉(zhuǎn)角度:±360° 角度讀數(shù):0.01°或1′(可換) | ||||
投影鏡頭 | 10X鏡頭組(標準配置),可選配20X、50X、100X鏡頭 | ||||
放大精度 | 輪廓照明:±0.1%或更小 表面照明:±0.15%或更小 | ||||
輪廓照明 | 光源:鹵素燈(24V 150W) 高低亮度轉(zhuǎn)換 | ||||
表面照明 | 光源:鹵素燈(24V 150W) 半反射鏡垂直照明 | ||||
數(shù)據(jù)輸出 | 僅XY坐標數(shù)據(jù)輸出 |
產(chǎn)品包含產(chǎn)品資料testo 465轉(zhuǎn)速儀包括塑料儀器箱,SoftCase保護套,反射貼和電池。
RPM (光學) | |
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測量范圍 | 1 ~ 99999 rpm |
測量精度 | ±0.02 %測量值 |
分辨率 | 0.01 rpm (1 ~ 99.99 rpm) 0.1 rpm (100 ~ 999.9 rpm) 1 rpm (1000 ~ 99999 rpm) |
技術(shù)參數(shù) | |
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保修 | 1年 |
電池類型 | 2節(jié)AA電池 |
電池壽命 | 40小時 |
顯示屏類型 | LCD |
顯示屏尺寸 | 單行 |
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通過分析薄膜表面的反射光和薄膜與基底界面的反射光相干形成的反射譜,用相應(yīng)的軟件來擬合運算,得到單層或多層膜系各層的厚度d,折射率n,消光系數(shù)k。該設(shè)備關(guān)鍵部件均為國外進口,也可根據(jù)客戶需要整機進口。
儀器特點
1 非接觸式測量,用光纖探頭來接收反射光,不會破壞和污染薄膜;
2 測量速度快,測量時間為秒的量級;
3 可用來測薄膜厚度,也可用來測量薄膜的折射率n和消光吸收k;
4 可測單層薄膜,還可測多層膜系;
5 可廣泛應(yīng)用于各種介質(zhì),半導(dǎo)體,液晶等透明半透明薄膜材料;
6 軟件的材料庫中整合了大量材料的折射率和消光系數(shù),可供用戶參考;
7 內(nèi)嵌微型光纖光譜儀,結(jié)構(gòu)緊湊, 光纖光譜儀也可單獨使用。
參數(shù)和性能指標
厚度范圍: 20nm-50um(只測膜厚),100nm-25um(同時測量膜厚和光學常數(shù)n,k)
度: <1nm或<0.5%
重復(fù)性: 0.1nm
波長范圍: 380nm-1000nm
可測層數(shù): 1-4層
樣品尺寸: 樣品鍍膜區(qū)直徑>1.2mm
測量速度: 5s-60s
光斑直徑: 1.2mm-10mm可調(diào)
儀器成套性
測厚儀主體(內(nèi)含光源和光纖光譜儀),光纖跳線,光纖探頭,標準硅片,支撐部件,配套軟件
可擴展性
通過光纖連接帶有C口的顯微鏡,就可以使本測量儀適用于微區(qū)(>10um)薄膜厚度的測量。
強大的軟件功能
界面友好,操作簡便;
可保存測量得到的反射譜;
可讀取保存的反射率數(shù)據(jù);
可選擇是否測量折射率n,消光系數(shù)k;
可選擇光譜范圍;
可猜測薄膜厚度以節(jié)省測量時間;
可從大量的材料庫中選擇薄膜和基底的材料;
用戶可自己擴充材料庫。
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