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MP10渦流法涂鍍層測厚儀

價(jià)格便宜的ISOSCOPE® MP10儀器適合于使用在不需要全部測量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)，評估和輸出，但又需要在各種幾何外形和鍍層厚度范圍的測試工件上測量的情況下。配有不同種類的探頭以適應(yīng)各種應(yīng)用情況。探頭自動(dòng)識(shí)別。應(yīng)用程式特定的校準(zhǔn)參數(shù)儲(chǔ)存在測量探頭中，因此儀器一旦連接了任何探頭都能立即進(jìn)行測量。 ISOSCOPE® MP10配備有一個(gè)獨(dú)特的和便于讀取的60 x 30 mm (2.4" x 1.2")液晶顯示器。大量顯示的信息使得操作異常簡便，包括單個(gè)測量讀數(shù)，測量次數(shù)，以及顯示操作模式和設(shè)置的圖標(biāo)和符號(hào)， 2行文本各16個(gè)字母或可自由選擇的符號(hào)以用于顯示數(shù)據(jù)和操作員提示。 ISOSCOPE® MP10 采用根據(jù)DIN EN ISO 2360, ASTM B244標(biāo)準(zhǔn)的電渦流方法，適用于測量：l 非導(dǎo)電涂層在非鐵金屬基材上，例如：油漆、臘克和合成涂層在鋁、銅、黃銅、鋅和不銹鋼上 l 鋁的陽極氧化層（非鐵基材）

韓國Micro Pioneer XRF-2000 系列熒光金屬鍍層測厚儀

韓國Micro Pioneer XRF-2000 系列熒光金屬鍍層測厚儀

Micro Pioneer XRF-2000 系列熒光金屬鍍層測厚儀能提供金屬鍍層厚度的測量,同時(shí)可對電鍍液進(jìn)行分析,不單性能,而且價(jià)錢超值.只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到的測量結(jié)果,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任.

可測元素范圍：

鈦(Ti) – 鈾(U)

可測量厚度范圍：

原子序22-25，0.1-0.8μm

26-40，0.05-35μm

43-52，0.1-100μm

72-82，0.05-5μm

X-射線管：油冷,超微細(xì)對焦

高壓：0-50KV(程控)

準(zhǔn)直器：

固定種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm

自動(dòng)種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm

電腦系統(tǒng)：IBM相容,17”顯示器

 

綜合性能:鍍層分析  定性分析  定量分析  鍍液分析

鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.

鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對方式,無需購買標(biāo)準(zhǔn)藥液.

定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.

光譜對比功能:可將樣品的光譜和標(biāo)準(zhǔn)件的光譜進(jìn)行對比,可確定樣品與標(biāo)準(zhǔn)件的差別,從而控制來料的純度.

統(tǒng)計(jì)功能:能夠?qū)y量結(jié)果進(jìn)行系統(tǒng)分析統(tǒng)計(jì),方便的控制品質(zhì).

 

多年來，我們一直于為PCB 廠商，電鍍行業(yè)，科研機(jī)構(gòu)，半導(dǎo)體生產(chǎn)等電子行業(yè)提供高性能的儀器和的售后服務(wù)。讓客戶滿意，為客戶創(chuàng)造最大的價(jià)值是我們始終追求的目標(biāo)，因?yàn)槲覀儓?jiān)信，客戶的需要就是我們前進(jìn)的動(dòng)力。愿我們成為真誠的合作伙伴、共同描繪雙方的發(fā)展藍(lán)圖！欲了解產(chǎn)品詳情，請與我們聯(lián)系或訪問http://eastco.18show.com.cn

Thick 800A鍍層測厚儀

儀器介紹

       Thick800A是天瑞集多年的經(jīng)驗(yàn)，專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款儀器，可全自動(dòng)軟件操作，可多點(diǎn)測試，由軟件控制儀器的測試點(diǎn)，以及移動(dòng)平臺(tái)。是一款功能強(qiáng)大的儀器，配上專門為其開發(fā)的軟件，在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。

性能特點(diǎn)

滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測試點(diǎn)的需求高精度移動(dòng)平臺(tái)可精確定位測試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測試高度定位激光確定定位光斑，確保測試點(diǎn)與光斑對齊鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測點(diǎn)高分辨率探頭使分析結(jié)果更加良好的射線屏蔽作用測試口高度敏感性傳感器保護(hù)

技術(shù)指標(biāo)

型號(hào)：Thick 800A元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。 同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。多變量非線性回收程序度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。 外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm 樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm重量：90kg

標(biāo)準(zhǔn)配置

開放式樣品腔。精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測器和X光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。 Si-Pin探測器。信號(hào)檢測電子電路。高低壓電源。X光管。高度傳感器保護(hù)傳感器計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)

應(yīng)用領(lǐng)域

黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行，首飾銷售和檢測機(jī)構(gòu)；電鍍行業(yè)。

該公司產(chǎn)品分類： ROHS2.0測試儀 等離子體發(fā)射光譜儀ICP 手持式光譜儀 光電直讀光譜儀 波長色散X熒光光譜儀 能量色散X熒光光譜儀

涂層鍍層測厚儀

一、德國Elwktro physik涂層鍍層測厚儀1、 MIKROTEST自動(dòng)型覆層測厚儀   適用于鋼、鐵上點(diǎn)鍍層、漆、搪瓷、塑料、橡膠層   自動(dòng)測量不會(huì)發(fā)生誤操作   不用校準(zhǔn)，設(shè)定，檢閱簡便   不需要電池或其他電源   抗機(jī)械沖擊，耐酸及溶劑腐蝕   平衡裝置消除地心引力影響，可在任意方向和管內(nèi)測量 型號(hào) 測量范圍（um） 讀數(shù)精度 最小測量區(qū)直徑（mm） 最小半徑（mm） 基體最小厚度（mm） 凸 凹 MIKROTEST 6G 0-100 1um或5%度數(shù) 20 5 25 0.5 MIKROTEST 6F 0-1000 3um或5%讀數(shù) 30 8 25 0.5  2、 Minitest 電子型涂鍍層測厚儀   小巧、實(shí)用，用于無損、快速、精確地測量涂層、鍍層厚度   F型用于鋼鐵上的所有非磁性涂層鍍層   N型用于有色金屬上的所有絕緣涂層   讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)可以打印（選配）   尤其適用于防腐工業(yè)及建筑型材料，制造工業(yè)的防腐涂鍍層測量Minitest 600,600B電子型涂層測厚儀技術(shù)規(guī)格：測量范圍：F型    0-3000um          N型    0-2000um          FN型   0-3000um（F）,0-2000um（N）允許誤差：±2um或±2-4%最小曲率半徑：5mm（凸），25mm（凹）最小測量面積：φ20mm最小基本厚度：0.5mm（F型），50mm（N型）顯示：4位數(shù)字校準(zhǔn)方式：標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)，一點(diǎn)校準(zhǔn)，二點(diǎn)校準(zhǔn)接口：RS-232（不適用于B型） 二、德國BYK多用途干膜檢驗(yàn)儀（PIG）   在各種底材上（鐵，非磁性金屬，塑料，木材）測量涂層厚度   測量范圍：0-2000um/2um   用十字劃格刀進(jìn)行附著力的測試符合ASTM D3359，DIN53 151   通過顯微鏡可觀察針孔、陷坑、裂痕、氣泡、鱗片層間附著力以及底材預(yù)處理的質(zhì)量控制   加硬刀頭可進(jìn)行布氏壓痕硬度試驗(yàn) 三、德國BYK濕膜測厚儀  具有多種規(guī)格可供選擇：測量范圍               外徑尺寸1、25-2000um                90mm2、5-150um                  58mm3、1-80mils                  90mm4、0-6mis                   58mm  

DT-156涂鍍層測厚儀

  產(chǎn)品系列DT-156涂鍍層測厚儀探頭可以工作在電磁感應(yīng)和渦流兩種原理下。在自動(dòng)模式（AUTO）下，兩種原理可視測量的基體自動(dòng)轉(zhuǎn)換，或可通過菜單進(jìn)行自動(dòng)模式和非自動(dòng)模式轉(zhuǎn)換。 特性 1、可測量涂鍍層：①磁性物質(zhì)表面的非磁性涂鍍層厚度②非磁性金屬表面的絕緣涂鍍層厚度2、豐富的操作菜單3、連續(xù)和單次測量方式4、直接工作模式和組工作模式5、可統(tǒng)計(jì)并顯示：平均值、最大值、最小值、標(biāo)準(zhǔn)方差、統(tǒng)計(jì)數(shù)6、可進(jìn)行一點(diǎn)或兩點(diǎn)校準(zhǔn)7、可保存400個(gè)測量數(shù)據(jù)8、USB連接并將數(shù)據(jù)傳輸至電腦9、實(shí)時(shí)刪除測量數(shù)據(jù)和組數(shù)據(jù)10、紅寶石探頭11、低電和錯(cuò)誤提示12、可設(shè)置的自動(dòng)關(guān)機(jī)功能 技術(shù)指標(biāo)

傳感器探頭 鐵磁性 非鐵磁性
工作原理 磁感應(yīng) 渦流
測量范圍 0~1250μm 0~1250μm
精確度 ±3%+1μm ±3%+1.5μm
分辨率 0.1μm 0.1μm
最小曲率半徑 1.5mm 3mm
最小測量面積（直徑） 7mm  5mm 
可測量基體最小厚度 0.5mm 0.3mm

尺寸：113.5*54*27mm重量：110g

該公司產(chǎn)品分類： 數(shù)據(jù)記錄儀 數(shù)字萬用表 電力測試儀 環(huán)境測試儀 汽車類儀表 工業(yè)紅外熱像儀 涂層測厚儀 紅外線測溫儀 數(shù)字鉗形表

QNix4500鍍層測厚儀

 4500鍍層測厚儀

品牌：德國尼克斯

型號(hào)：QNix4500

 

QNix4500涂鍍層測厚儀，我公司大量現(xiàn)貨供應(yīng)，提供送貨上門服務(wù)，可開具增值稅專用發(fā)票；產(chǎn)品保證為原廠原裝，假一罰十萬現(xiàn)金；歡迎來電咨詢我們，謝謝。

 

一、4500鍍層測厚儀簡介

QNix4200和QNix4500這兩種型號(hào)一體化設(shè)計(jì)，只需調(diào)零，無需校準(zhǔn)，使用極其簡單。其中QNix4200為磁性測厚儀，可以用來測量鋼、鐵等磁性基體上的非磁性涂層、鍍層；QNix4500為磁性和渦流兩用測厚儀，不僅可以用來測量鋼鐵等磁性基體上的非磁性涂鍍層，還可以用來測量鋁、銅、不銹鋼等非磁性金屬表面的非導(dǎo)電涂層，如油漆層、氧化膜、磷化膜等覆層。這兩個(gè)型號(hào)操作簡單，攜帶方便，精度高，為廣大用戶所喜愛。

 

二、測量

將儀器探頭垂直接觸被測物的表面，儀器將自動(dòng)開機(jī)并測得數(shù)據(jù)。注意：測量時(shí)務(wù)必要使探頭垂直接觸被測物表面、并壓實(shí)，每測量一次后將儀器拿起，離開被測物10cm以上，再進(jìn)行下一點(diǎn)測量。

 

三、調(diào)零

儀器在測量前，為減少測量誤差，應(yīng)在基體上取零位作基準(zhǔn)。建議用未噴涂的同一種工件表面調(diào)零，因?yàn)椴牧现g磁性和導(dǎo)電性不同，會(huì)造成一定誤差。若沒有未噴涂的工件可以用附送的調(diào)零板調(diào)零。用儀器測量基體，如顯示0，表明已是零位，不需要再調(diào)零。如不顯示0，則需要調(diào)零。將儀器探頭壓在調(diào)零板或未噴涂的工件表面上，不要抬起，按一下儀器上的紅鍵松開，聽到響聲液晶顯示一組數(shù)后，拿開儀器，再次聽到響聲后，液晶顯示0，調(diào)零完畢。 注意：由于工件表面粗糙度的原因，調(diào)零后，再測時(shí)不一定是絕對的零位，這是正，F(xiàn)象。

 

四、Fe/NFe探頭轉(zhuǎn)換

QNix4500為兩用探頭，當(dāng)測量不同的基體時(shí)，需要對磁性模式（Fe）與非磁性模式（NFe）進(jìn)行轉(zhuǎn)換。在開機(jī)狀態(tài)下，按紅鍵進(jìn)入菜單選項(xiàng)，繼續(xù)按紅鍵選擇Fe或者Nfe；選項(xiàng)短暫停留后，就已選擇相應(yīng)的測量模式，也可以選擇Fe/Nfe選項(xiàng)，短暫停留后就進(jìn)入自動(dòng)識(shí)別基體模式（推薦使用）！

 菜單中Averaging為平均值選項(xiàng)，在Averaging選項(xiàng)短暫停留后出現(xiàn)ON和OFF兩個(gè)選項(xiàng)，在ON選項(xiàng)下短暫停留后進(jìn)入平均值測量模式，測量時(shí)所顯示讀數(shù)為最后三次讀數(shù)的平均值（包括本次測量），在OFF選項(xiàng)下短暫停留后退出平均值測量模式。

 

五、顯示

Fe：測量鐵磁性基體模式

NFe：測量非磁性基體模式

Err：操作失誤

INFI：探頭模式與被測基體不符（見第八項(xiàng)，第二點(diǎn)）

BAT：電量不足，需換電池

 

六、4500鍍層測厚儀維護(hù)和維修

QNix4200/4500測厚儀采用最先進(jìn)的電子技術(shù),能滿足各種不同的測量要求。高精度的設(shè)備,堅(jiān)固的結(jié)構(gòu)和便于使用等特點(diǎn)使得該儀器具有廣泛的應(yīng)用。只要正確使用和維護(hù),它的壽命會(huì)很長。儀器需要保持清潔, 不要摔落, 避免與潮氣,具有化學(xué)腐蝕性的物質(zhì)或氣體接觸。使用完畢,儀器應(yīng)被放回具有保護(hù)性和便于挪動(dòng)的盒子中。溫度的劇烈變化將影響測量結(jié)果,所以不要直接把儀器暴露在強(qiáng)烈的陽光下或能引起溫度聚變的能量中。儀器對大多數(shù)溶劑具有抵抗性,但不能保證極少數(shù)化學(xué)物質(zhì)的腐蝕,這時(shí)處理的方法僅僅是用一塊潮濕,柔軟的布擦洗儀器。只有探針保持清潔,才能獲得準(zhǔn)確的數(shù)據(jù),所以要定期檢查探針,清理探針上殘留的污物諸如漆等。儀器長期不被使用時(shí), 為避免因漏電而損壞,要取出電池。出現(xiàn)故障時(shí),請不要自行修理,我們的維修部門隨時(shí)竭誠為您服務(wù)。

 

七、技術(shù)參數(shù)

磁性基體：Fe探頭（4200/4500）

非磁性基體：NFe探頭（4500）

測量范圍：Fe:0-3000μm/NFe:0-3000μm

精度：

0-50μm:≤±1μm；50-1000μm:≤±1.5%讀數(shù)；1000-3000μm:≤±3%讀數(shù)

最小接觸面：10×10mm

最小曲率半徑： 凸面：3mm 凹面：25mm

最小機(jī)體厚度：Fe:0.2mm/NFe:0.05μm

溫度補(bǔ)償范圍：-10℃-60℃

測量范圍：0℃-50℃

顯示：LCD液晶

探頭：紅寶石固定式

電源：2×1.5V干電池

尺寸：100×60×27mm

重量：105g

 

八、4500鍍層測厚儀注意事項(xiàng)和常見問題     

1.測量應(yīng)為點(diǎn)接觸，嚴(yán)禁將探頭置于被測物表面滑動(dòng)。

2.出現(xiàn)INFI時(shí)，有可能是由于測量基體選擇錯(cuò)誤造成的，請按照第四項(xiàng)選擇測量基體FE、NFE或自動(dòng)識(shí)別FE/NFE，如未能解決，請執(zhí)行第三項(xiàng)調(diào)零過程即可。     

3.因國家地區(qū)所用厚度單位不同，在中國銷售的Qnix4500/4200型使用的是μm，因此屏蔽了英制單位mil，有時(shí)因操作不當(dāng)激活mil單位，此時(shí)用戶只需復(fù)位即可，復(fù)位過程為先把電池取下，然后按住紅鍵裝上電池，復(fù)位完成后松開紅鍵即可。

 

4500鍍層測厚儀的任何有關(guān)信息，都可以咨詢我們；還可以獲得更多的圖片，技術(shù)參數(shù)，規(guī)格型號(hào)，用途說明，使用操作說明書，使用注意事項(xiàng)；具體操作方法等；歡迎致電我們，我們將提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品和完善的服務(wù)。

該公司產(chǎn)品分類： 霧度儀 美能達(dá)光澤度儀維修 BYK光澤度儀維修 光澤度儀維修 日本孔雀 日本得樂 量具量儀 BYK色差儀維修 綜合測試卡 色彩還原測試卡 精密色差儀 其它測試卡 畸變測試卡 灰階測試卡 膚色卡 分辨率測試卡 動(dòng)態(tài)范圍測試卡 白平衡測試卡 SFR/MTF測試卡 圖像分析軟件

CMI900CMI900鍍層測厚儀及X射線熒光測厚儀

X射線熒光測厚儀CMI900

CMI900鍍層測厚儀及X射線熒光測厚儀CMI900介紹

CMI900X射線熒光鍍層測厚儀，有著非破壞，非接觸，多層合金測量，高生產(chǎn)力，高再現(xiàn)性等優(yōu)點(diǎn)，在質(zhì)量管理到不良品分析有著廣泛的應(yīng)用。用于電子元器件，半導(dǎo)體，PCB，汽車零部件，功能性電鍍，裝飾件，連接器等多個(gè)行業(yè)。

CMI900鍍層測厚儀及X射線熒光測厚儀CMI900主要特點(diǎn)

樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量) 可檢測元素范圍：Ti22 – U92 可同時(shí)測定5層/15種元素 精度高、穩(wěn)定性好 強(qiáng)大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)、處理功能 測量范圍寬 NIST認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)片 全球服務(wù)及支持

CMI900鍍層測厚儀及X射線熒光測厚儀CMI900技術(shù)參數(shù)

主要規(guī)格 規(guī)格描述 X射線激發(fā)系統(tǒng) 垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng) 空冷式微聚焦型X射線管，Be窗 標(biāo)準(zhǔn)靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等 功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標(biāo)準(zhǔn) 75W(4-50kV，0-1.5mA)－任選 裝備有安全防射線光閘 二次X射線濾光片：3個(gè)位置程控交換，多種材質(zhì)、多種厚度的二次濾光片任選 準(zhǔn)直器程控交換系統(tǒng) 最多可同時(shí)裝配6種規(guī)格的準(zhǔn)直器 多種規(guī)格尺寸準(zhǔn)直器任選： －圓形，如4、6、8、12、20 mil等 －矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等 測量斑點(diǎn)尺寸 在12.7mm聚焦距離時(shí)，最小測量斑點(diǎn)尺寸為：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm準(zhǔn)直器) 在12.7mm聚焦距離時(shí)，最大測量斑點(diǎn)尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準(zhǔn)直器) 樣品室 CMI900 CMI950 －樣品室結(jié)構(gòu) 開槽式樣品室 開閉式樣品室 －最大樣品臺(tái)尺寸 610mm x 610mm 300mm x 300mm －XY軸程控移動(dòng)范圍 標(biāo)準(zhǔn)：152.4 x 177.8mm 還有5種規(guī)格任選 300mm x 300mm －Z軸程控移動(dòng)高度 43.18mm XYZ程控時(shí)，152.4mm XY軸手動(dòng)時(shí)，269.2mm －XYZ三軸控制方式 多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動(dòng)控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動(dòng)控制 －樣品觀察系統(tǒng) 高分辨彩色CCD觀察系統(tǒng)，標(biāo)準(zhǔn)放大倍數(shù)為30倍。50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選。 激光自動(dòng)對焦功能 可變焦距控制功能和固定焦距控制功能 計(jì)算機(jī)系統(tǒng)配置 IBM計(jì)算機(jī) 惠普或愛普生彩色噴墨打印機(jī) 分析應(yīng)用軟件 操作系統(tǒng)：Windows2000中文平臺(tái) 分析軟件包：SmartLink FP軟件包 －測厚范圍 可測定厚度范圍：取決于您的具體應(yīng)用。 －基本分析功能 采用基本參數(shù)法校正。牛津儀器將根據(jù)您的應(yīng)用提供必要的校正用標(biāo)準(zhǔn)樣品。 樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量) 可檢測元素范圍：Ti22 – U92 可同時(shí)測定5層/15種元素/共存元素校正 貴金屬檢測，如Au karat評價(jià) 材料和合金元素分析， 材料鑒別和分類檢測 液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量 多達(dá)4個(gè)樣品的光譜同時(shí)顯示和比較 元素光譜定性分析 －調(diào)整和校正功能 系統(tǒng)自動(dòng)調(diào)整和校正功能，自動(dòng)消除系統(tǒng)漂移 －測量自動(dòng)化功能 鼠標(biāo)激活測量模式：“PointShoot” 多點(diǎn)自動(dòng)測量模式：隨機(jī)模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復(fù)測量模式 測量位置預(yù)覽功能 激光對焦和自動(dòng)對焦功能 －樣品臺(tái)程控功能 設(shè)定測量點(diǎn) 連續(xù)多點(diǎn)測量 測量位置預(yù)覽(圖表顯示) －統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能 平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、相對標(biāo)準(zhǔn)偏差、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、數(shù)據(jù)編號(hào)、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖 數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表、直方圖 數(shù)據(jù)庫存儲(chǔ)功能 任選軟件：統(tǒng)計(jì)報(bào)告編輯器允許用戶自定義多媒體報(bào)告書 －系統(tǒng)安全監(jiān)測功能 Z軸保護(hù)傳感器 樣品室門開閉傳感器 操作系統(tǒng)多級(jí)密碼操作系統(tǒng)：操作員、分析員、工程師

 

CMI900CMI900涂鍍層測厚儀

CMI900/950系列X射線熒光測厚儀 Advanced Materials Analysis Instrument

CMI900/950系列X射線熒光測厚儀是一種功能強(qiáng)大的材料涂/鍍層測量儀器，可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領(lǐng)域，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供、快速的分析；赪indows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版SmartLink FP應(yīng)用軟件包，實(shí)現(xiàn)了對CMI900/950主機(jī)的自動(dòng)化控制，分析中不需要任何手動(dòng)調(diào)整或手動(dòng)參數(shù)設(shè)定？赏瑫r(shí)測定最多5層、15種元素。數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)報(bào)告功能允許用戶自定義多媒體分析報(bào)告格式，以滿足您特定的分析報(bào)告格式要求；如在分析報(bào)告中插入數(shù)據(jù)圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。統(tǒng)計(jì)功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。

CMI900/950系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀、各種尺寸的樣品；并且測量點(diǎn)最小可達(dá)0.025 x 0.051毫米。

COMPACT ECOX射線鍍層測厚儀

  COMPACT ECO測厚儀能提供一般鍍層厚度和元素分析功能。不單性能、而且價(jià)錢超值。分析鍍層厚度和元素成色同時(shí)進(jìn)行，只需幾秒鐘，便能非破壞性地得到的測量結(jié)果甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任。

最新產(chǎn)品

熱門儀器： 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計(jì) 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗(yàn)機(jī) 酸度計(jì)（PH計(jì)） 離心機(jī) 高速離心機(jī) 冷凍離心機(jī) 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 生物試劑