廣東正業(yè)提供CMI900鍍層測厚儀,CMI700涂層鍍層測厚儀,CMI500銅厚測厚儀,CMI165等涂鍍層測厚儀,元素分析儀,無損檢測測厚儀.廣東正業(yè)中國大陸的牛津儀器一級代理,專業(yè)銷售維修:X-STRATA960,980等各種型號涂鍍層測厚儀,擁有一支經(jīng)驗(yàn)豐富的服務(wù)團(tuán)隊(duì),為客戶提供及時(shí),的售前/售后服務(wù)和技術(shù)支持。
CMI900用于鍍層厚度測量以及分析鍍層金屬成分、鍍液,是一款專用鍍層測厚儀、(印制線路板之金/鎳、錫/鉛、錫/銀等)的非破壞性精確測量及材料成分分析。
CMI900鍍層測厚儀用途:
1.多鍍層金屬厚度測
2.合金鑒定及化學(xué)分析
3.電鍍液分析
4.金成色分析
CMI900鍍層測厚儀特征:
應(yīng)用X射線熒光原理測量,精確度高且不破壞樣品。
NIST(美國國家標(biāo)準(zhǔn)和技術(shù)學(xué)會(huì))的標(biāo)準(zhǔn)片。
CMI900系列膜厚測試儀能夠測量多幾種形狀,各種尺寸的樣品;并且測量點(diǎn)最小可達(dá)0.025×0.051毫米。
CMI900系列采用開槽式樣品室,以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規(guī)格的樣品臺(tái)供用戶選擇用,分別為:標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái),XY軸固定,Z軸自動(dòng)控制;擴(kuò)展型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái),XY軸固定,Z軸自動(dòng)控制;可調(diào)高度型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái),XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制;程控樣品臺(tái),XYZ軸自動(dòng)控制;超寬程控樣品臺(tái),XYZ軸自動(dòng)控制。
CMI900鍍層測厚儀技術(shù)參數(shù):
項(xiàng)目 | 規(guī)格 |
測量元素 | 22(TI)-92(U) |
測量層數(shù) | 5層(4層鍍層+基材層) |
X射線管功率 | 50W |
X射線管靶材 | 鎢 |
最大可安裝準(zhǔn)直器數(shù)量 | 6個(gè) |
外形尺寸 | 305×711×356mm(標(biāo)準(zhǔn)臺(tái)) |
概述: PosiTector 200 采用超聲波技術(shù),非破壞性測量,應(yīng)用廣泛,可測量木材、混泥土、塑料、組合物等等。型號可測量多層系統(tǒng)中的三個(gè)單層的厚度,且型號帶有圖解讀數(shù),其數(shù)據(jù)可用于對涂層系統(tǒng)進(jìn)行詳細(xì)分析。
簡單 |
技術(shù)參數(shù)
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注: | B-小量程C-大量程S-標(biāo)準(zhǔn)型A-型 |
一、概述 5000um型涂層測厚儀(鍍層測厚儀)測量范圍:0~5000um,是高新技術(shù)的結(jié)晶,它采用單片機(jī)技術(shù),精度高、數(shù)字顯示、示值穩(wěn)定、功耗低、操作簡單方便、觸摸按鍵、單探頭全量程測量、體積小、重量輕;且具有存儲(chǔ)、讀出、統(tǒng)計(jì)、低電壓指示、系統(tǒng)校準(zhǔn),其性能達(dá)到當(dāng)代國際同類儀器的先進(jìn)水平。 應(yīng)用范圍: 涂層測厚儀儀器采用磁性測厚法,可以方便無損地測量鐵磁材料上非磁性涂層的厚度,如鋼鐵表面上的鋅、銅、鉻等鍍層或油漆、搪瓷、玻璃鋼、噴塑、瀝青等涂層的厚度。該儀器廣泛應(yīng)用于機(jī)械、汽車、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。 工作原理 : 5000um型涂鍍層測厚儀采用電磁感應(yīng)法測量涂鍍層的厚度。位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路,隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變,該磁回路將不同程度的改變,引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以精確地測量探頭與鐵磁性材料間的距離,即涂鍍層厚度。 二、產(chǎn)品性能 1、測量范圍: 0~5000um 2、測量誤差(H為被測覆層厚度):±(3%H+1um) 3、重復(fù)性:±(1.5%H+2um) 5、最小示值: 1um6、顯示方式: 4位液晶數(shù)字顯示 7、主要功能: (1).測量: 單探頭全量程測厚 (2).存儲(chǔ)、刪除: 可存入測量數(shù)據(jù)600個(gè),對測量中的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除,也可以刪除存儲(chǔ)區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)。 (3).讀: 讀出已存入的測量數(shù)據(jù) (4).統(tǒng)計(jì): 設(shè)有三個(gè)統(tǒng)計(jì)量,平均值最大值最小值 (5).校準(zhǔn): 可進(jìn)行系統(tǒng)校準(zhǔn) (6).電量: 具有欠壓顯示功能 (7).打。 可打印測量值,選配微型打印機(jī) (8).關(guān)機(jī): 具有自動(dòng)關(guān)機(jī)和手動(dòng)關(guān)機(jī)兩種方法 8、電源: 兩節(jié)1.5v電池 9、功耗: 最大功耗100mw 10、外形盡寸: 51mm*126mm*27mm 11、重量: 160g(含電池) 12、使用環(huán)境溫度: 0℃~+40℃ 相對濕度:不大于90% 13、基體最小厚度: 0.5mm 14、基體最小平面的直徑: 7mm 15、最小曲率半徑: 凸:1.5mm 凹:6mm 16、欠電壓指示: 右上角顯示"" *臨界厚度。汗ぜF基厚度大于1mm時(shí),其涂(鍍)層厚度的測量不受鐵基厚度 | |
三、5000um型涂層測厚儀(涂鍍層測厚儀)配置單 1、5000um型涂鍍層測厚儀 一臺(tái) 2、七號電池 二節(jié) 3、探頭 一支 4、標(biāo)準(zhǔn)樣片 一盒 5、手提箱 一個(gè) 6、說明書、合格證 一套 選配件: 1、打印機(jī)及通訊打印連線 1套 2、微機(jī)通訊軟件 1盤 3、內(nèi)防腐探頭 |
功能特點(diǎn):
傳感器探頭 | 鐵磁性 | 非鐵磁性 |
工作原理 | 磁感應(yīng) | 渦流 |
測量范圍 | 0~1250um | 0~1250um |
| 0~49.21mil | 0~49.21mils |
誤差 | 0~850 um (1~3%+1um) | 0~850 um(1~3%+1.5um) |
(相對當(dāng)前讀數(shù)) | 850um~1250um (3~ 5%) | 850um~1250 um (3~ 5%) |
| 0~33.46 mils (1~3%+0.039mils) | 0~33.46mils (1~3%+0.059mils) |
| 33.46um~49.21mils 3~ 5%) | 33.46um~49.21mils (3~ 5%) |
精度 | 0~50um (0.1um) | 0~50um (0.1um) |
| 50um~850um(1um) | 50um~850um(1um) |
| 850um~1250um(0.01mm) | 850um~1250um(0.01mm) |
| 0~1.968mils (0.001mils) | 0~1.968mils (0.001mils) |
| 1.968mils~33.46mils(0.01mils) | 1.968mils~33.46mils(0.01mils) |
| 33.46mils~49.21mils(0.1mils) | 33.46mils~49.21mils(0.1mils) |
涂鍍層測厚儀PosiTector6000系列 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
美國DeFelsko公司新的PosiTector 6000系列涂鍍層測厚儀儀器特點(diǎn)
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涂層測厚儀PosiTector6000系列技術(shù)參數(shù)
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特點(diǎn)簡介:采用MCS-51系列高性能單片微處理器,自動(dòng)采集、計(jì)算 并顯示結(jié)果,采用四位LED顯示。如配用微型打印機(jī),可 自動(dòng)打印測量結(jié)果。與PC電腦連接,電腦可控制測量 過程,顯示并可儲(chǔ)存測量曲線及結(jié)果,由通用打印機(jī)打印 測量報(bào)告。 臺(tái)灣技術(shù) 專業(yè)制造 | |||||||||||||||||||||||||||||||||
產(chǎn)品說明 | |||||||||||||||||||||||||||||||||
測量對象: 單金屬鍍層:(Cu Zn、Ni、Ag、Sn、Cr等) 合金鍍層(Pb-Sn、Cr-Zn、Zn-Ni、Ni-P等); 復(fù)合鍍層(Cu+Ni+Cr/Fe等); 多線鍍層(需配用電位記錄儀,如與PC電腦連接則不需記錄儀); 詳細(xì)說明: 測量品種:銅、鎳、鉻、鋅、鎘、銀、金、多層鎳各層厚度及層間電位差! y量范圍:0.03μm~99.99μm 度:±10% 復(fù)現(xiàn)精度:<5% 電位測量范圍:-100mv~+400mv 電位測量精度:±5% 本產(chǎn)品榮獲國家輕工部科技成果三等獎(jiǎng)。
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韓國MicroPioneer XRF-2000 X射線鍍層測厚儀/膜厚儀
產(chǎn)品介紹
X 螢光射線膜厚分析儀是利用 XRF 原理來分析測量金屬厚度及物質(zhì)成分,可用於材料的涂層 / 鍍層厚度、材料組成和貴金屬含量檢測。
XRF-2000 系列分為以下三種: 1. H-Type :密閉式樣品室,方便測量的樣品較大,高度約100mm以下。 2. L-Type : 密閉式樣品室,方便測量 樣品較小,高度約30mm以下。 3. PCB-Type : 開放式樣品室,方便大面積的如大型電路板高度約30mm以下的量測 。 應(yīng)用 : 測量鍍金、涂層、薄膜、元素的成分或者是厚度,其可偵測元素的范圍: Ti(22)~U(92 )。 行業(yè) : 五金類、螺絲類、 PCB 類、連接器端子類行業(yè)、電鍍類等。 特色 : 非破壞,非接觸式檢測分析,快速精準(zhǔn)。 可測量高達(dá)六層的鍍層 (五層厚度 + 底材 ) 并可同時(shí)分析多種元素。 相容Microsoft微軟作業(yè)系統(tǒng)之測量軟體,操作方便,直接可用Office軟體編輯報(bào)告 。 全系列獨(dú)特設(shè)計(jì)樣品與光徑自動(dòng)對準(zhǔn)系統(tǒng)。 標(biāo)準(zhǔn)配備: 溶液分析軟體 ,可以分析電鍍液成份與含量。 準(zhǔn)直器口徑多種選擇,可根據(jù)樣品大小來選擇準(zhǔn)值器的口徑。 移動(dòng)方式:全系列全自動(dòng)載臺(tái)電動(dòng)控制,減少人為視差 。 獨(dú)特2D與3D或任意位置表面量測分析。 雷射對焦,配合彩色CCD擷取影像使用point and shot功能。
標(biāo)準(zhǔn)ROI軟體 搭配內(nèi)建多種專業(yè)報(bào)告格式,亦可將數(shù)據(jù)、圖形、統(tǒng)計(jì)等作成完整報(bào)告 。
光學(xué)2 0X 影像放大功能,更能精確對位。
單位選擇: mils 、 uin 、 mm 、 um 。 優(yōu)於美製儀器的設(shè)計(jì)與零件可 靠度以及擁有價(jià)格與零件的最佳優(yōu)勢。 儀器正常使用保固期一年,強(qiáng)大的專業(yè)技術(shù)支援及良好的售后服務(wù)。 測試方法符合 ISO 3497 、 ASTM B568 及 DIN 50987。
韓國Micro Pioneer 還推出一款元素分析及測厚兩用的XRF-2000R型號
Micro Pioneer XRF-2000R X光鍍層測厚儀及ROHS元素分析儀
是在XRF-2000系列測厚儀的基礎(chǔ)上增加了元素分析及有害物質(zhì)檢測的功能,
其物點(diǎn)為:高分辨率,固態(tài)探測器; 可分析超薄樣品
分析有害物質(zhì),元素分析分之 ppm - 100%, 符合RoHS / WEEE標(biāo)準(zhǔn)測試以及ELV指令優(yōu)化的應(yīng)用;
可測量多層鍍層厚度及錫鉛成分分析;
電鍍?nèi)芤悍治觯?/span>
定性分析超過30種元素,能夠測量液體,固體,粉末,薄膜和不規(guī)則形狀;
貴金屬元素含量和分析(金,銀,鉑,和珠寶);
自動(dòng)過濾器,多準(zhǔn)直儀(五個(gè)準(zhǔn)直器,從0.1mm-3.0mm)和全自動(dòng)XYZ移動(dòng)樣品臺(tái);
性價(jià)比超強(qiáng)的元素分析及鍍層測厚雙功能分析儀器
儀器尺寸:W610mm D670mm H490mm, 重量:75Kg (net)
可測量樣器大。篧550mm D550mm H30mm
基于25年涂鍍層測量經(jīng)驗(yàn),在CMI900系列測厚儀的堅(jiān)實(shí)基礎(chǔ)上,引進(jìn)的設(shè)計(jì):
l 新100瓦X射線管 - 市場上所能提供的X射線管。提高30%測量精度,同時(shí)減少50%測量時(shí)間
l 更小的X射線光斑尺寸 - 新增15mil直徑準(zhǔn)直器,可測量電子器件上更小的部位。提供改進(jìn)的CCD攝像頭及縮放裝置,同時(shí)提供更高精度的Y軸控制。
l 距離獨(dú)立測量(DIM) - 更靈活地特殊形狀樣品,可在DIM范圍內(nèi)12.5-90mm(0.5-3.5inch)對樣品表面進(jìn)行測量,Z軸可控制范圍為230mm(9inch)?赏ㄟ^手動(dòng)調(diào)整也可以通過自動(dòng)鐳射聚焦來實(shí)現(xiàn)對樣品的精確對準(zhǔn)。
l 自動(dòng)鐳射聚焦 - 自動(dòng)尋找振決的聚焦距離,改善DIM的聚焦過程并提高系統(tǒng)測量再現(xiàn)性。也可選擇標(biāo)準(zhǔn)的鐳射聚焦模式。
l 的大型樣品室 - 更大的開槽式樣品室(580x510x230mm : 23x20x9inch),開槽式設(shè)計(jì)可容納超大尺寸的樣品?蓮母鱾(gè)方向簡便的裝載和觀察樣品。
l 3種樣品臺(tái)選項(xiàng) - XY程控控制(200x200mm或8x8inch移動(dòng)范圍)/XY手動(dòng)控制(250x250mm或10x10英寸)/固定樣品臺(tái);標(biāo)準(zhǔn)配置Z軸程控控制(230mm或9inch移動(dòng)范圍)。
l 內(nèi)置PC用戶界面
技術(shù)參數(shù)
l X射線激發(fā)和檢測
牛津儀器制造的100瓦(50kV-2.0mA)微焦點(diǎn)鎢靶X射線管
高分辨封氣(Xe)正比計(jì)數(shù)器可獲取的計(jì)數(shù)靈敏度,配合二次濾光器機(jī)構(gòu)實(shí)現(xiàn)的檢出效果
l 數(shù)字脈沖處理
4096通道數(shù)字多道分析器,數(shù)字光譜處理過程可獲取的信號采集(每秒計(jì)數(shù)量),從而的測量統(tǒng)計(jì)結(jié)果
l 手動(dòng)或自動(dòng)透鏡控制
手動(dòng)透鏡控制:通過手動(dòng)調(diào)整DIM旋鈕控制分析聚焦距離
自動(dòng)透鏡控制:激光束自動(dòng)尋找DIM系統(tǒng)的分析聚焦距離
l 自由距離測定
簡化系統(tǒng)設(shè)置和維護(hù)
在聚焦距離范圍內(nèi)僅需要一個(gè)校正
對不規(guī)則樣品更靈活的測量
在12.7mm-88.9mm的自由距離內(nèi),可測量樣品表面的任何一點(diǎn)
通過DIM旋鈕或使用自動(dòng)激光聚焦功能,可快速、的確定聚焦距離
l 附帶自動(dòng)透鏡功能的自動(dòng)激光聚焦
獨(dú)特的、自動(dòng)樣品擺放系統(tǒng)
激光掃描單鍵啟動(dòng)
消除樣品碰擊Z軸的機(jī)會(huì)
改善DIM的聚焦過程
l 標(biāo)準(zhǔn)激光聚焦
標(biāo)準(zhǔn)激光聚焦功能在所要求的聚焦聚焦上,自動(dòng)尋找正確的Z軸位置,提高分析再現(xiàn)性,結(jié)果不受人為操作的影響
Z軸聚焦掃描單鍵啟動(dòng)
改善DIM和常規(guī)固定焦距測量時(shí)的聚焦過程
l 微小準(zhǔn)直器
儀器至少裝備一個(gè)客戶指定規(guī)格的準(zhǔn)直器以化測量,并提高測量效率
備有各種規(guī)格準(zhǔn)直器(0.015mm – 0.5mm),園形或矩形供客戶選用
多準(zhǔn)直器程序交換系統(tǒng)可同時(shí)安裝4個(gè)準(zhǔn)直器
l 大樣品室設(shè)計(jì)
方便超大樣品的推拉式平臺(tái):如大面積PCB板、較長的管材樣品
大型開發(fā)式樣品室:方便于從各方向進(jìn)樣和觀察樣品
三種樣品臺(tái)備選:可編程XY軸樣品臺(tái)、手動(dòng)XY軸樣品臺(tái)、固定位置樣品臺(tái)
標(biāo)準(zhǔn)配置自動(dòng)化Z軸:最大高度230mm
l 集成化計(jì)算機(jī)
工作站式設(shè)計(jì):改善人機(jī)工程學(xué)、方便使用
簡化設(shè)備安裝:僅需要接入主電源線,沒有其他電纜
減少整機(jī)占用空間
USB和Ethernet接口:打印機(jī)、刻錄機(jī)、局域網(wǎng)和遠(yuǎn)程在線支持功能
l 其他硬件特點(diǎn)
CCD相機(jī)擁有2x、3x或4x的變焦功能,可實(shí)現(xiàn)對測定樣品的高分辨、實(shí)時(shí)、彩色圖像觀測
溫度補(bǔ)償功能監(jiān)測系統(tǒng)溫度,并自動(dòng)校正由于溫度變化可能引起的儀器漂移,的儀器穩(wěn)定性
光譜校準(zhǔn)、單擊鼠標(biāo)執(zhí)行系統(tǒng)性能自檢和校正程序儀器的穩(wěn)定性
堅(jiān)實(shí)耐用的儀器設(shè)計(jì)適用于各種工業(yè)環(huán)境
一體化工作站設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的人機(jī)工程學(xué)