土地面積測量儀型號:MJ-I一、儀器簡介:
可實時顯示經緯度實現(xiàn)精確定位,還可測量距離、周長,實現(xiàn)一臺儀器多種用途,用于各種形狀農田、綠地、森林、水域、灘涂等野外規(guī)則和不規(guī)則面積的精確測量。畝和平方米可以同時顯示,并可直接設置單價和價格計算功能,更適應中國國情。
二、技術參數(shù): 面積測量范圍:1-60000畝;如果以平方米為單位,則測量范圍為:500-99999999m2面積測量精度:1-10畝 ±2.5%;10畝以上 ±1% ;經緯度位置精度:2.5米(CEP);
距離測量范圍:0-999999.9米;距離測量精度:2.5米(CEP) (備注:1畝=666平方米)。
LS183光學透過率測量儀
使用說明書 V1
一:概述LS183測試原理是采用紫外光源,紅外光源和可見光源照射被測透明物質,感應器分別探測三種光源的入射光強和透過被測透明物質后的光強,透過光強與入射光強的比值即為透過率,用百分數(shù)表示。
LS183專業(yè)用于玻璃,鍍膜材料,有機材料,涂料,太陽膜等透光物質的光學透過率測試。適用于單層玻璃,夾層玻璃(中空玻璃),貼膜玻璃,PMMA材料,PC材料等的光學性能測試。
二: LS183參數(shù)1.外形尺寸:長216mm × 高134mm × 寬29mm;
2.測試槽尺寸:寬47mm × 深91 mm
3.儀器重量:約590克;
4. 樣品厚度:小于47mm
5.分辨率: 0.1%;
6.測量精度:優(yōu)于±2%(無色均勻透光物質),出廠用標準樣板檢測優(yōu)于±1%;
7.紫外線: 峰值波長365nm;
8.可見光: 380nm-760nm全波長;
9. 紅外線: 峰值波長940nm;
10.5V AC/DC電源供電,也可用移動電源供電(選配件);
三: LS183結構說明右圖為儀器的側邊打標文字。
l “OFF/ON” 為儀器開關
l “5VDC” 為AC/DC電源插口
l “USB” 為一個Micro USB座,方便移動電源給儀器供電
l “Display1 ,Display2,Display3” 為一個撥碼開關,撥動開關可以選擇三種不同的顯示方式(中文,英文和圖形)
四:儀器操作
LS183光學透過率測量儀用于測試各種透光物質對于紫外線,紅外線和可見光的透過率。測量步驟如下:
1:插上電源,打開測試儀的電源開關。測試槽內為空,儀器首先進行自測試和自校準,自校準完成以后,紫外透過率,紅外透過率,透光率都顯示為100%,表示無被測物時的透過率為100%。
2:將被測試物放入測試槽內。LCD上分別顯示被測物對紫外線,紅外線和可見光的透過率。
五:儀器特點
1.紫外透過率儀,紅外透過率儀,可見光透過率儀(透光率計)三合一;
2.平行光路設計,可以測試大厚度的材料;
3.大液晶顯示,撥碼開關選擇三個不同顯示界面;
4.適用于涂料,中空玻璃,貼膜玻璃,PMMA材料,PC材料等的透過率測試;
5.儀器具有實時動態(tài)自校準功能,開機后自動校準到100%透過率;
6.操作簡單,測量快速,只需將被測物放入測試槽,立即同時顯示三項測試結果;
7.適用于產品性能展示,工廠出貨快速檢驗,采購商進貨檢驗等多種場合。
8.專利產品,專利號:2012203020234
六:使用步驟及注意事項1.儀器接上專用電源,保持測試槽內為空,打開儀器開關;
2.儀器不使用時,請關閉電源;
3.開機時儀器自測試和自校準,測試槽內一定要為空,否則不能完成自校準;
4.避免與腐蝕性物品接觸、遠離高溫高濕的環(huán)境;
5.長時間連續(xù)使用時,由于LED光源的發(fā)光效率(LED光源溫度升高,效率下降)的原因,可能導致三個窗口數(shù)據(jù)不能顯示為100,此時請關閉儀器的電源,重新開機自檢和自校準,不影響測量精度和正常使用;
七:服務生產制造商:深圳市林上科技有限公司
公司網(wǎng)址:http://www.lstek.cn
產品網(wǎng)站:http://www.lstek.cn/Product/LS183.html
聯(lián)系電話: 聯(lián)系人:羅小姐
EF-VS900系列數(shù)字三維攝影測量儀用于對大型或超大型(幾米到幾十米)物體的關鍵點進行測量。與傳統(tǒng)三坐標測量儀相比,沒有機械行程限制,不受被測的大小、外型、體積限制,能減少累積誤差,提高整體三維數(shù)據(jù)的測量精度。該系統(tǒng)可單獨使用,也可以與EF-VS800系列三維光學掃描測量儀配合使用,能大型物體整體點云拼接精度。
一、EF-VS900系列數(shù)字三維攝影測量儀系統(tǒng)組成:
1、 系統(tǒng)測量軟件:系統(tǒng)測量軟件安裝在高性能臺式機或筆記本電腦上。
2、 編碼參考點:由一個中心點和周圍的環(huán)狀編碼組成,每個點有自己的編號。
3、 非編碼參考點:未編碼參考點,用來得到測量物體相關部分的三維坐標。
4、 專業(yè)工業(yè)相機:固定焦距可互換鏡頭的高分辨率工業(yè)數(shù)字相機。
5、 高精度測量標尺:刻度尺作為測量結果的比例,具有極精確的已經測量的參考點來確定它們的長度。
二、EF-VS900系列數(shù)字三維攝影測量儀功能:
1、可以測量出大型物體(幾米到幾十米)表面的編碼點與參考點的三維坐標。
2、可配EF-VS800系列三維光學掃描測量儀,快速獲得高精度超大物體的三維數(shù)據(jù),對大面積曲面的點云信息進行校正,大大提高三維掃描儀的整體點云拼接精度。
3、可以對被測工件與CAD數(shù)模進行幾何形狀比對,快速方便地進行大型工件產品外型質量檢測。
4、可以測量出工件在受力情況下不同時期的位移和變形,可以對飛機、橋梁、汽車等進行三維檢測、形變檢測。測量精度。
5、測量精度高,對于5m的物體,測量精度為0.1mm。奧林巴斯測量顯微鏡STM6保持了Olympus測量顯微鏡一貫的特色,具有的精度和耐久度。它的結構緊湊,雖然擁有眾多的多樣化功能,但在同類測量顯微鏡中體積是最小的。為了每一位的使用者的要求都能得到滿足,不僅配有電動調焦功能(這是Olympus在世界上采用的),極為的UIS 2無限遠光學系統(tǒng),還提供了有多種擴展配件以供選擇。STM6,正是為了執(zhí)行當今要求的測量任務而造!
三坐標測量儀蘇一光RTS632DL全站儀是本公司最新推出的全站中文數(shù)字鍵盤全站儀,內置大容量內存和各種應用測量程序,功能強大、性能穩(wěn)定、使用方便。適用于建筑放樣、道路放樣、地形地籍測量及控制點測量等測量工作。
南京天地精繪儀器設備有限公司
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地址:南京市下關區(qū)和燕路5號燕語華庭商務中心403
儀器型號 | RTS632H | RTS632HL | RTS635H | RTS635HL | |
望遠鏡 | |||||
鏡筒長 | 156mm | ||||
成像 | 正像 | ||||
物鏡有效直徑 | Ф40mm | ||||
放大倍率 | 30× | ||||
視場 | 1°20′ | ||||
最短視距 | 1.8m | ||||
距離測量(良好天氣條件)*1 | |||||
測程 | 單棱鏡 | 2200m | |||
三棱鏡 | 2600m | ||||
精度 | ±(2+2×10-6·D)mm | ||||
測量時間 | 標準/跟蹤 1.5/0.7 ,初始:3s | ||||
測距最小讀數(shù) | 精密測量模式 | 1mm | |||
跟蹤測量模式 | 10mm | ||||
溫度設定范圍 | -40℃ ~ +60℃ 步長 1℃ | ||||
大氣壓改正 | 600hPa-1500hPa 步長 1hPa | ||||
棱鏡常數(shù)改正 | -99.9mm ~ +99.9mm | ||||
角度測量 | |||||
讀數(shù)系統(tǒng) | 光電增量編碼系統(tǒng) | ||||
最小讀數(shù) | (Degree) 1″/ 5″ | ||||
(Gon) 0.3mgon/ 1.5 mgon | |||||
精度*2 | 2″ | 5″ | |||
長水準氣泡 | |||||
管型氣泡精度 | 30″/2mm | ||||
圓型氣泡精度 | 8′/2mm | ||||
補償器 | |||||
范圍 | ±3′ | ||||
光學對點器 | |||||
精度 | 1/2000 | / | 1/2000 | / | |
成像 | 正像 | 正像 | |||
放大倍率 | 3× | 3× | |||
視場 | 4° | 4° | |||
調焦范圍 | 0.5m ~ ∞ | 0.5m ~ ∞ | |||
激光對點器(可選) | |||||
調焦范圍 | / | 0.5m ~ ∞ | / | 0.5m ~ ∞ | |
工作距離 | 0.5 ~ 80 m | 0.5 ~ 80 m | |||
精度 | 1/2000 | 1/2000 | |||
顯示 | |||||
類型 | 兩側點陣液晶顯示 | ||||
照明 | |||||
液晶屏 | 液晶背光 | ||||
分劃板 | 有 | ||||
電源 | |||||
電池 | |||||
工作電壓 | 7.2VDC(可充 Ni- MH 電池) | ||||
工作時間 | 約8小時 (連續(xù)測距/角度測量) | ||||
約12小時 (角度測量) | |||||
充電器 | FDJ6 110/220 V 充電時間約3.5小時 | ||||
其他 | |||||
內存容量 | 8000點 | ||||
主機重量(帶電池) | 4.5kg | ||||
體積 | (W×D×H) 約160×155×360 mm | ||||
溫度范圍 | -20℃ ~ +50℃ | ||||
I/O 上傳/下載 | RS232c | ||||
數(shù)據(jù)輸出 | 數(shù)據(jù)下載及格式轉換軟件 com600 |
應用程序: 坐標放樣/坐標測量/后方交會/遙測懸高/對邊測量/角度距離放樣/面積測量/ 方位角/Z坐標/自由測站/圓柱偏心/平面偏心/角度偏心/距離偏心/直線放樣
型號 | DS-VS202-H | DS-VM202-H |
SENSOR 尺寸 | 1/3〞CMOS彩色 | |
有效像素 | 1600H×1200V(200萬像素) | |
像元尺寸 | 2.8μm×2.8μm | |
支持的顯示器分辨率 | 1600*1200,1680*1050 ,1440*900, 1360*768 ,1280*1024, 1024*768,800*600 | |
幀率 | 1600*1200: 23FPS 1680*1050: 26.5FPS 1440*900: 28FPS 1360*768: 29FPS 1280*1024: 25FPS 1024*768: 23FPS 800*600: 23FPS | |
清晰度 | 水平方向800線,垂直方向700線 | |
信噪比 | 42.3dB | |
動態(tài)范圍 | 71dB | |
掃描方式 | 逐行掃描(電子滾動快門) | |
曝光控制 | 自動/手動 | |
白平衡 | 手動白平衡/自動白平衡 | |
顏色模式 | 彩色、黑白、深褐色、負片 | |
鏡像功能 | 支持上下、左右鏡像 | |
凍結功能 | 支持全屏凍結、凍結回放,支持靜態(tài)圖像與動態(tài)圖像1/2屏對比 | |
可編程控制 | 圖像拍照、曝光時間、GAMMA、對比度、銳度、R/B增益、顏色飽和度、消屏閃、照片日期 | |
OSD | 支持中英文菜單 | |
參數(shù)保存功能 | 退出菜單自動保存 | |
測量功能 | 1. 直線長度測量(10組) 2. 圓周長、面積測量(5組) 3. 矩形面積測量(5組) 4. 角度測量(5組) 5. 橢圓周長,面積測量(5組) 6. 一組屏幕刻度線(可任意移動位置和設置刻度) | |
存儲功能 | 1. 支持市面各品牌256M-32GB U盤, 2. 拍照數(shù)量不限 3. 能設定文件名和存儲日期 4. 支持保存標示線、測量圖形、標記 | 無 |
存儲時間 | 2-4秒(依分辨率大小有所差異) | 略 |
標志線 | 5組(十條)十字線,可任意移動位置和設置6種顏色 | |
圖像標記功能 | 支持10個標記 | |
數(shù)據(jù)接口 | VGA | |
鼠標接口 | 標準PS2接口,鼠標光標每秒刷新60次 | |
數(shù)字軟鍵盤 | 支持 | |
工作溫度 | 0-40℃ | |
功耗 | 約2.5W | |
鏡頭 | C接口 | |
外觀尺寸 | 52*52*52mm | |
產品工作指示 | 紅色LED上電指示和工作指示 |
雙折射測量系統(tǒng) /雙折射測試儀
全自動雙折射測量系統(tǒng) ABR-10A ( 高解析度、高速型 ) 雙折射系數(shù)的線性解析度高達 0.01nm ; 可同時測量延遲軸和主軸兩個方向; 基于光學相位差的雙折射系數(shù)顯示; 一秒采樣時間; 應用: 液晶顯示屏膜; 聚合物膜的取向; DVD 和 CD 光學系統(tǒng)組件; 由于薄膜和基材之間熱膨脹系數(shù)不同引起的應力; 某些透明材料的內部殘余應力,如光學玻璃和塑料; 某些透明材料的熱應力; 光彈性系數(shù); 全自動雙折射測量系統(tǒng) ABR-22( 自動測量線性和周向雙折射系數(shù),高速型 )
雙折射測量系統(tǒng) /雙折射測試儀
特點: 可同時或獨立測量線性和周向雙折射系數(shù); 無需樣品旋轉,即可測量主軸和延遲軸的線性雙折射系數(shù)、圓周雙折射系數(shù)的旋轉角; 一秒采樣時間; 可選樣品旋轉臺; 二維或三維顯示 雙折射系數(shù)的線性解析度高達 0.01nm ; 可全自動操作; 應用: 液晶顯示屏 (TN, STN) 的雙折射分布 ; 液晶顯示屏 (TN, STN) 的雙折射系數(shù)與電壓的關系; 電-光學器件 ( 如: Pockel 效應、 Faraday 旋轉、 Kerr 旋轉等 ) ; 光學晶體研究; 聚合物膜研究; 全自動雙折射測量系統(tǒng) ABR-30( 超高速型 ) 特點: ABR-30 可以實現(xiàn)雙折射系數(shù)的高速測量: 100 微秒; 維護成本極低; 二維或三維顯示; 可選樣品旋轉臺; 操作方便; 應用: 在靜態(tài)和高速旋轉速度下進行光學儲存器件表征; 動態(tài)雙折射研究 ( 如液晶、高分子 ) ; 對某些透明材料的熱沖擊; 動態(tài)光彈性系數(shù); 光學相位調制器;