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30多年來(lái)，Microtrac 公司一直于激光散射技術(shù)在顆粒粒度分布中的應(yīng)用。作為行業(yè)的先鋒，早在1990年，納米顆粒分析儀器，NPA引入由于顆粒在懸浮體系中的布朗運(yùn)動(dòng)而產(chǎn)生的能譜概念，利用背散射Back-scattered和異相多譜勒頻移Heterodyne Doppler Frequency Shifts技術(shù)，結(jié)合動(dòng)態(tài)光散射理論和的數(shù)學(xué)處理模型，取代傳統(tǒng)的光子相關(guān)光譜PCS,Photon Correlation Spectroscopy方法，將分析范圍為延伸至0.003-6.5µm。隨著技術(shù)的發(fā)展，Microtrac 公司不斷完善其麾下的專業(yè)顆粒分析儀器，快速分析高濃度的納米顆粒，生化材料及膠體體系成為現(xiàn)實(shí)，成為眾多行業(yè)納米分析的參考儀器。  應(yīng)用領(lǐng)域：  有機(jī)聚和物和高分子研究，納米金屬和其他納米無(wú)機(jī)物，結(jié)晶分析，表面活性劑膠束大小，蛋白質(zhì)，甾體，DNA，RNA，極稀濃度或不宜稀釋高濃度的樣品分析。

   90Plus專門用于納米及亞微米顆粒的粒徑測(cè)量，操作方便、快捷，并可升級(jí)帶Zeta電位測(cè)量功能。ZetaPlus的升級(jí)產(chǎn)品為ZetaPALS。對(duì)于高濃度懸浮體系粒度的測(cè)量，BI-FOQELS為選擇。此外，對(duì)于需要研究體系聚集過(guò)程，或測(cè)量分子量的用戶，還可選擇添加BI-200SM以完成研究目的。主要特點(diǎn)   1.高功率的激光器了測(cè)量結(jié)果的精度。2.開放式樣品池和平板式電極的設(shè)計(jì),是具有革新性的專利技術(shù)。3.基本避免了電滲運(yùn)動(dòng)和交叉污染的影響，從而提高測(cè)量的精度和速度。4.采用世界公認(rèn)功能的相關(guān)器BI-9000，儀器具有的性能。5.良好的升級(jí)前景，延長(zhǎng)了儀器的使用壽命。  技術(shù)參數(shù)     1.粒度范圍：2nm-5um2.溫控范圍：6-75℃, ±0.1℃3.濃度范圍：0.01%-0.1%體積 (0.001%-40%選項(xiàng))4.pH范圍：2-125.激光器功率：30mW  

酸堿、氧化-還原電位分析儀 型號(hào):M294094

TW61M/PH/ORP-2002型酸堿、氧化-還原電位分析儀以操作簡(jiǎn)便，運(yùn)行穩(wěn)定著稱，該品牌的酸堿、氧化-電位變送器具 有以下功能優(yōu)勢(shì)： 穩(wěn)定性好、低干擾 采用LCD顯示視界 采用電壓穩(wěn)定、抗干擾性強(qiáng)的線性電源 主要操作由一個(gè)鍵完成，操作非常簡(jiǎn)單 可選擇4-20mA信號(hào)隔離輸出（通訊接口） 適用高輸入阻抗的電極 特別適用于廢水處理系統(tǒng)、純水系統(tǒng)等過(guò)程 電極護(hù)套管：可耐強(qiáng)酸、強(qiáng)堿、1-4米可以任意選擇尺寸 安裝支架：全不銹鋼設(shè)計(jì)、美觀、機(jī)械強(qiáng)度好 電極信號(hào)線：日本進(jìn)口同芯屏蔽電纜、5-200米可選 標(biāo)準(zhǔn)成套配備： 1、PH/ORP變送器 2、PH/ORP電極 3、電極護(hù)套管（1米，可選擇加長(zhǎng)） 4、防水接線盒（1P65） 5、安裝支架（全不銹鋼設(shè)計(jì)） 6、電極信號(hào)線（20米，可選擇加長(zhǎng)） 主要技術(shù)參數(shù)： 測(cè) 量 范 圍 :0－14PH、－1000-1000mV 精 確 度: 0.01PH、1mV 操 作 溫 度: 0-60℃ 顯 示: 液晶顯示屏 信 號(hào) 輸 出: DC4-20mA Max. Load 1k 控 制 : ON/OFF 接 點(diǎn) 電 流 :220VAC Max. 3A 設(shè) 定 點(diǎn): 2 電 源:220VAC 50Hz 開 孔 尺 寸:92mm(H)-92mm(W)-110mm(D) 凈 重: 0.2Kg 電 極 選 擇 S-400-RT330-A10FF　PH污水及管路安裝電極 S-400-RTPBO-A10FF PH污水及管路安裝電極S400-02-Y　 PH/ORP經(jīng)濟(jì)型電極

產(chǎn)品圖片

NanoPlus是一款新型的、具有極寬測(cè)試范圍的多用途分析儀，它采用光子相關(guān)光譜法、電泳光散射以及最新的FST技術(shù)來(lái)分析納米粒度和zeta電位，并可測(cè)定固體以及高濃度懸浮液的zeta電位，符合ISO標(biāo)準(zhǔn)。該儀器采用了高靈敏度測(cè)量技術(shù)，可同時(shí)滿足低濃度和高濃度樣品納米粒度與zeta電位分析的要求，濃度范圍由0.001%到40%，可檢測(cè)粒徑從0.6nm到10μm，濃度從0.00001%到40%的樣品的粒徑。

該款儀器具有以下技術(shù)特點(diǎn)：

• 可測(cè)定顆粒在高濃度溶液中的zeta電位
• 可測(cè)定固體zeta電位
• 寬粒徑范圍（0.6nm~10μm），寬濃度范圍（粒徑測(cè)試：0.00001%~40%，zeta電位測(cè)試：0.001%~40%）
• 可精確測(cè)量稀釋或濃縮的懸浮液
• 用戶友好的軟件
• 多種樣品池選擇
• 可選擇一次性樣品池
• 結(jié)合線性相關(guān)器和對(duì)數(shù)相關(guān)器相結(jié)合的技術(shù)對(duì)各種樣品進(jìn)行表征
• 可選擇自動(dòng)滴定裝置控制懸浮液PH值

 

產(chǎn)品應(yīng)用：

 

半導(dǎo)體

研究半導(dǎo)體晶體表面殘留雜質(zhì)與磨蝕劑、添加劑和晶片表面之間的相互影響的凈化機(jī)制。

 

醫(yī)藥和食品行業(yè)

乳劑的分散和凝聚的模擬控制研究（如食品、香水、藥品和化妝品），蛋白質(zhì)功能研究，核糖體分散和凝聚控制研究，表面活性劑功能研究（微囊）。

 

陶瓷和顏料工業(yè)

表面重整控制研究、分散和凝聚陶瓷（矽土、氧化鋁、二氧化鈦等）和無(wú)機(jī)溶膠的研究，顏料的分散和凝聚的控制研究，浮礦收集器的吸附研究。

 

聚合物和化工領(lǐng)域

乳劑（涂料和粘合劑）的分散和凝聚控制研究，乳膠表面重整控制（藥品和工業(yè)用途）。電解聚合物（聚苯乙烯磺酸鈉、多羧酸等）功能研究，控制造紙和生產(chǎn)紙漿過(guò)程研究，紙漿添加劑研究。

電導(dǎo)率儀-上海雷磁數(shù)字電導(dǎo)率儀DDS-307A/電導(dǎo)率儀/在線電導(dǎo)儀/雷磁電導(dǎo)儀/電位分析儀

電導(dǎo)率儀-上海雷磁數(shù)字電導(dǎo)率儀DDS-307A

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多孔固體孔隙率和zeta電位分析儀主要特點(diǎn)：

1、測(cè)定多孔固體材料的兩種不同性質(zhì)的參數(shù)：孔隙率和固體表面zeta電位，包括孔壁電荷

2、探頭式測(cè)量孔隙率，快速、安全、無(wú)污染，對(duì)樣品無(wú)損傷

3、探頭式測(cè)定zeta電位

應(yīng)用領(lǐng)域：只要是孔徑在儀器測(cè)試范圍之內(nèi)、能被某種液體浸潤(rùn)的材料均可進(jìn)行分析。

典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：陶瓷、電池材料、建材、耐火材料、巖心、食品、制藥、色譜柱基質(zhì)等等

 

美國(guó)康塔（Quantachrome）是的當(dāng)代顆粒技術(shù)開創(chuàng)者。四十年多來(lái)，康塔（Quantachrome）的科學(xué)家革新了測(cè)量技術(shù)并設(shè)計(jì)了相應(yīng)的儀器，使得粉體及多孔物質(zhì)的測(cè)量更加精確、精密，更加。這包括：比表面積分析儀，比表面積和孔徑分析儀，薄膜孔徑和孔隙度分析儀，超聲粒度及ZETA電位分析儀，圖像粒度儀，大孔孔徑分析壓汞儀，水吸附分析儀，高壓吸附儀，真密度計(jì)，振實(shí)密度儀等。美國(guó)康塔公司不僅通過(guò)了ISO9001 及歐洲CE 認(rèn)證，也取得了美國(guó)FDA IQ/OQ認(rèn)證。

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Nicomp 380 系列納米激光粒度儀 專為復(fù)雜體系提供高精度粒度解析方案基本信息

儀器型號(hào)：N3000 Basic 

工作原理：動(dòng)態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）

檢測(cè)范圍： 0.3nm-10.0μm

      Nicomp 380 N3000系列納米激光粒度儀是在原有的經(jīng)典型號(hào)380DLS基礎(chǔ)上升級(jí)配套而來(lái)，采用動(dòng)態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理檢測(cè)分析顆粒的粒度分布，粒徑檢測(cè)范圍 0.3nm – 10μm。其配套粒度分析軟件復(fù)合采用了高斯（ Gaussian）單峰算法和擁有獨(dú)特技術(shù)的 Nicomp 多峰算法，對(duì)于多組分、粒徑分布不均勻分散體系的分析具有獨(dú)特優(yōu)勢(shì)。

 

技術(shù)優(yōu)勢(shì)

 

1、高靈敏度PMT檢測(cè)器；

2、可搭配不同功率光源；

3、精確度高，接近樣品真實(shí)值；

4、快速檢測(cè)，可以追溯歷史數(shù)據(jù)；

5、結(jié)果數(shù)據(jù)以多種形式和格式呈現(xiàn)；

6、符合USP,CP等個(gè)多藥典要求；

7、無(wú)需校準(zhǔn)；

8、復(fù)合型算法：

（1）高斯（Gaussion）單峰算法與獨(dú)特的Nicomp多峰算法自由切換

9、模塊化設(shè)計(jì)便于維護(hù)和升級(jí)；

（1）可自動(dòng)稀釋模塊（選配）；

（2）自動(dòng)進(jìn)樣系統(tǒng)（選配）；

（3）搭配多角度檢測(cè)器（選配）；

Nicomp多峰分布概念

 

      基線調(diào)整自動(dòng)補(bǔ)償功能和高分辨率多峰算法是Nicomp 380系列儀器所獨(dú)有的兩個(gè)主要特點(diǎn)，Nicomp創(chuàng)始人Dave Nicole很早就認(rèn)識(shí)到傳統(tǒng)的動(dòng)態(tài)光散射理論僅給出高斯模式的粒度分布，這和實(shí)踐生產(chǎn)生活中不相符，因?yàn)楝F(xiàn)實(shí)中很多樣本是多分散體系，非單分散體系，而且高斯分布靈敏性不足，分辨率不高，這些特點(diǎn)都制約了納米粒度儀在實(shí)際生產(chǎn)生活中的使用。其開創(chuàng)性的開創(chuàng)了Nicomp多峰分布理論，大大提高了動(dòng)態(tài)光散射理論的分辨率和靈敏性。

 

圖一：Nicomp多分分布數(shù)據(jù)呈現(xiàn)

 

      如圖一：此數(shù)據(jù)為Nicomp創(chuàng)始人Dave Nicole親測(cè)其血液所得的真實(shí)案例。其檢測(cè)項(xiàng)目為：高密度脂蛋白，低密度脂蛋白和超低密度脂蛋白，由圖中可以看出，其血液中三個(gè)組分的平均粒徑分別顯示在7.0nm；29.3nm和217.5nm。由此可見(jiàn)，Nicomp分布模式可以有效反應(yīng)多組分體系的粒徑分布。

 

 

Nicomp多峰分布優(yōu)勢(shì)

       Nicomp系列儀器均可以自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切換。其不僅可以給出傳統(tǒng)的DLS系統(tǒng)的結(jié)果，更可以通過(guò)Nicomp多峰分布模式體現(xiàn)樣品的真實(shí)情況。依托于Nicomp系列儀器一系列優(yōu)異的算法和高靈敏性的硬件設(shè)計(jì)，Nicomp納米激光粒度儀可以有效區(qū)分1:2的多分散體系。

 

 

圖二：高斯分布及Nicomp多峰分布對(duì)比圖

      如圖二：此數(shù)據(jù)為檢測(cè)93nm和150nm的標(biāo)粒按照1:2的比例混合后所測(cè)得的數(shù)據(jù)。左邊為高斯分布（Gaussian）結(jié)果，右圖為Nicomp多峰分布算法結(jié)果，兩者都為光強(qiáng)徑數(shù)據(jù)。從高斯分布可以得到此混合標(biāo)粒的平均粒徑為110nm-120nm之間，卻無(wú)法得到實(shí)際的多組分體系結(jié)構(gòu)。從右側(cè)的Nicomp多峰分布可以得到結(jié)果為雙峰，即如數(shù)據(jù)呈現(xiàn)，體系中的粒子主要分布于98.2nm以及190nm附近，這和實(shí)際情況相符。 

 

      為滿足不同客戶的實(shí)際檢測(cè)需求，我司的Nicomp 380 N3000會(huì)配備相應(yīng)的配置，旨在為客戶們?cè)诳刂瞥杀镜幕A(chǔ)上，得到需求的解決方案，取得收益。

 

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì) 

 

模塊化設(shè)計(jì)

      Nicomp 380納米激光粒度儀是全球率先在應(yīng)用動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)上的基礎(chǔ)上加入多模塊方法的先進(jìn)粒度儀。隨著模塊的升級(jí)和增加，Nicomp 380的功能體系越來(lái)越強(qiáng)大，可以用于各種復(fù)雜體系的檢測(cè)分析。

 

自動(dòng)稀釋模塊

      帶有獨(dú)特的自動(dòng)稀釋模塊消除了人工稀釋高濃度樣品帶來(lái)的誤差，且不需要人工不斷試錯(cuò)來(lái)獲得合適的測(cè)試濃度，這大大縮短了測(cè)試者寶貴時(shí)間，且無(wú)需培訓(xùn)，測(cè)試結(jié)果重現(xiàn)性好，誤差率＜1%。

 

380/HPLD大功率激光器

      美國(guó)PSS粒度儀公司在開發(fā)儀器的過(guò)程中，考慮到在各種極端實(shí)驗(yàn)測(cè)試條件中不同的需求，對(duì)不同使用條件和環(huán)境配置了不同功率的激光發(fā)生器。大功率的激光器可以對(duì)小的粒子也能搜集到足夠的散射信號(hào)，使得儀器能夠得到小粒子的粒徑分布。同樣，大功率激光器在測(cè)試大粒子的時(shí)候同樣也很有幫助，比如在檢測(cè)右旋糖酐大分子時(shí)，折射率的特性會(huì)引起光散射強(qiáng)度不足。                                    

      因?yàn)榇蠊β始す馄鞯奶匦?，?huì)彌補(bǔ)散射光強(qiáng)的不足和衰減，測(cè)試微小的微乳、表面活性劑膠束、蛋白質(zhì)以及其他大分子不再是一個(gè)苛刻的難題。即使沒(méi)有色譜分離，Nicomp 380納米粒徑分析儀甚至也可以輕易估算出生物高分子的聚集程度。

 

雪崩二極管 (APD) 探測(cè)器

      Nicomp 380納米粒徑分析儀可以裝配各種大功率的激光發(fā)生器和雪崩二極管檢測(cè)器（相比較傳統(tǒng)的光電倍增管有3-5倍放大增益效果）。

      APD通常被用于散射發(fā)生不明顯的體系里來(lái)增加信噪比和敏感度，如蛋白質(zhì)、不溶性膠束、濃度低的體系以及大分子基團(tuán)，他們的顆粒的一般濃度為1mg/mL甚至更低，這些顆粒是由對(duì)光的散射不敏感的原子組成。APD外置了一個(gè)大功率激光發(fā)生器模塊，在非常短的時(shí)間內(nèi)就能檢測(cè)分析納米級(jí)顆粒的分布情況。

 

380/MA多角度檢測(cè)器（選配）

      粒徑大于100 nm的顆粒在激光的照射下不會(huì)朝著各個(gè)方向散射。多角度檢測(cè)角器通過(guò)調(diào)節(jié)檢測(cè)角度來(lái)增加粒子對(duì)光的敏感性來(lái)測(cè)試某些特殊級(jí)別粒子。Nicomp 380可以配備范圍在10°-175，步長(zhǎng)0.7°的多角度測(cè)角器，從而使得單一90°檢測(cè)角測(cè)試不了的樣品，通過(guò)調(diào)節(jié)角度進(jìn)行檢測(cè)，改善對(duì)大粒子多分散系粒徑分析的精確度。

超聲粒度及Zeta電位分析儀

提供所有單臺(tái)儀器測(cè)量粒度分布, zeta電位和流變性質(zhì)(選件)的可能性 在一個(gè)樣品池中可以同時(shí)測(cè)量粒度分布和zeta電位 可以選擇附加各種探頭式測(cè)量傳感器, 包括溫度、pH值、電導(dǎo)率、和流變性質(zhì)測(cè)量，以及非水系統(tǒng)選項(xiàng)和軟件控制的自動(dòng)滴定系統(tǒng) 所有探頭均可同時(shí)操作 統(tǒng)一的數(shù)據(jù)管理                                                      超聲粒度及Zeta電位分析儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介：利用超聲波在含有顆粒的連續(xù)相中傳播時(shí)，聲與顆粒的相互作用產(chǎn)生的聲吸收、耗散和散射所引起的損失效應(yīng)來(lái)測(cè)量顆粒粒度及濃度，采用多頻電聲學(xué)測(cè)量技術(shù)測(cè)量膠體體系的Zeta電位。對(duì)于高達(dá)50％（體積）濃度的樣品，無(wú)需進(jìn)行樣品稀釋或處理即可直接測(cè)量。甚至對(duì)于漿糊、凝膠、水泥及用其它儀器很難測(cè)量的材料都可用Zeta Probe 直接進(jìn)行測(cè)量。 傳統(tǒng)方法要求稀釋樣品或進(jìn)行其它的樣品處理，既費(fèi)時(shí)又容易出錯(cuò)，而多頻電聲技術(shù)則可避免這些問(wèn)題。超聲探頭（Zeta Probe）能直接在樣品的原始條件下測(cè)量zeta電位，允許樣品濃度高達(dá)50％（體積）。Zeta Probe 結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)緊湊，外置的Zeta電位滴定裝置(可選配).自動(dòng)滴定裝置可自動(dòng)、快速地判斷等電點(diǎn)，可快速得到※佳分散劑和絮凝劑。對(duì)粒度和雙電層失真進(jìn)行自動(dòng)校正。該儀器的軟件易于使用，通用性強(qiáng)，非常適用于科研及工廠的優(yōu)化控制超聲粒度及Zeta電位分析儀參數(shù)規(guī)格： 1. 粒徑由超聲波( Acoustic)方式 , Zeta 電位由電聲波( Electro Acoustic)方式 2. 樣品無(wú)需稀釋直接測(cè)定,測(cè)量固體含量范圍:1% ～ 50% 3. 樣品※大測(cè)量攪拌濃度:10,000cps 4. 樣品測(cè)量電位范圍:+/- 300mV或以上 5. 聲波范圍: 500～3000m/s 6. 頻率范圍: 1 to 100 MHz , multiple gap 自動(dòng)掃描18個(gè)gap或以上 7. 粒徑測(cè)量: 5nm ～ 1000um 8. 可測(cè)量混合物之粒徑及Zeta電位 , 并可分析混合物之個(gè)別粒徑 9. 測(cè)量Zeta電位只需10ml或以下 10. 操作軟件功能: - 需在Windows XP下操作 - 粒徑分布圖及累計(jì)圖 - 粒徑分布數(shù)據(jù)表含D10 , D50 , D90 - 數(shù)據(jù)庫(kù)可在 Windows Access中由使用者自由選取 - 使用者可自由選取聲波速度及衰減圖 - 任何兩個(gè)參數(shù)的散射圖 - 用戶定義自動(dòng)選擇多數(shù)據(jù)系列Multiple data series automatically selected from user query 11.可選自動(dòng)酸堿與濃度滴定裝置 12.可選自動(dòng)測(cè)量粒徑及Zeta電位對(duì)pH變化 13.可以及時(shí)分析/顯示Zeta電位與等電點(diǎn) 14.可及時(shí)測(cè)量/顯示樣品pH值,電導(dǎo)率,溫度 15.可選數(shù)據(jù)資料處理與顯示系統(tǒng): Pentium 4 –3.0GHz或以上, 512 MB RAM, 80 GB, 19” LCD , Windows XP及 Office軟件 ( or Lap computer

超聲粒度及Zeta電位分析儀DT-1202產(chǎn)品特點(diǎn)：1.能分析多種分散物的混合體 2.無(wú)需依賴Double Layer 模式,精確地判定等電點(diǎn) 3.可適用于高導(dǎo)電（highly conducting）體系 4.可排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾 5.可精確測(cè)量無(wú)水體系 6.Zeta電位測(cè)試采用多頻電聲測(cè)量技術(shù)，無(wú)需先測(cè)量粒度即可進(jìn)行電位測(cè)量 7.樣品的※高濃度可達(dá)50％（體積比）,被測(cè)樣品無(wú)需稀釋，對(duì)濃縮膠體和乳膠可進(jìn)行直接測(cè)量 8.具有自動(dòng)電位滴定功能產(chǎn)品相冊(cè)： 

 

產(chǎn)品簡(jiǎn)介:工作原理：采用全量程米氏散射理論，充分考慮到被測(cè)顆粒和分散介質(zhì)的折射率等光學(xué)性質(zhì)，根據(jù)大小不同的顆粒在各角度上散射光強(qiáng)的變化反演出顆粒群的粒度分布數(shù)據(jù)。    顆粒測(cè)試的數(shù)據(jù)計(jì)算一般分為無(wú)約束擬合反演和有約束擬合反演兩種方法。有約束擬合反演在計(jì)算前假設(shè)顆粒群符合某種分布規(guī)律，再根據(jù)該規(guī)律反演出粒度分布。這種運(yùn)算相對(duì)比較簡(jiǎn)單，但由于事先的假設(shè)與實(shí)際情況之間不可避免會(huì)存在偏差，從而有約束擬合計(jì)算出的測(cè)試數(shù)據(jù)不能真實(shí)反映顆粒群的實(shí)際粒度分布。無(wú)約束擬合反演即測(cè)試前對(duì)顆粒群不做任何假設(shè)，通過(guò)光強(qiáng)直接準(zhǔn)確地計(jì)算出顆粒群的粒度分布。這種計(jì)算前提是合理的探測(cè)器設(shè)計(jì)和粒度分級(jí)，給設(shè)備本身提出很高的要求。采用優(yōu)的非均勻性交叉三維扇形矩陣排列的探測(cè)器陣列和合理的粒度分級(jí)，從而能夠準(zhǔn)確地測(cè)量顆粒群的粒度分布。技術(shù)特點(diǎn)：測(cè)試穩(wěn)定的基礎(chǔ)：只有系統(tǒng)能夠提供穩(wěn)定的光信號(hào)，才能夠充分保證測(cè)試數(shù)據(jù)的穩(wěn)定。Rise-2022型干濕兩用激光粒度分析儀選用He-Ne氣體激光光源，波長(zhǎng)0.6328微米，波長(zhǎng)短，線寬窄，穩(wěn)定性好，使用壽命大于25000小時(shí)，能夠很好的為系統(tǒng)提供穩(wěn)定的激光源信號(hào)。數(shù)據(jù)可靠的保證：保證測(cè)試數(shù)據(jù)可靠首先是信號(hào)探測(cè)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)合理，被測(cè)樣品分散效果的優(yōu)劣和被測(cè)分散液的均勻程度是得出真實(shí)結(jié)果的另一決定性因素。探測(cè)器：光電探測(cè)系統(tǒng)設(shè)計(jì)獨(dú)特，靈敏度高，主檢測(cè)器一個(gè)，輔助檢測(cè)器多個(gè)，采用非均勻性交叉三維扇形矩陣排列，檢測(cè)角達(dá)到90度，充分保證了信號(hào)探測(cè)的全面性。光路：采用一個(gè)量程設(shè)計(jì)，會(huì)聚光路獨(dú)特，減少了傅立葉透鏡組，使測(cè)量范圍更寬，分辨率更高，光路免調(diào)。功能強(qiáng)大的分析軟件：PADMAS顆粒粒度測(cè)量分析系統(tǒng)（Particle Diameter Measure & Analysis System）功能強(qiáng)大，測(cè)試數(shù)據(jù)可以做平均、統(tǒng)計(jì)、比較和模式轉(zhuǎn)換等處理，具有微分分布、累積分布、標(biāo)準(zhǔn)分級(jí)、R-R分布、自定義分級(jí)、按目分級(jí)和數(shù)量分布等多種格式。在0.02~2000微米內(nèi)默認(rèn)分級(jí)130級(jí)，在量程范圍內(nèi)，從1~130級(jí)可自定義分級(jí)。測(cè)試報(bào)告中有粒度分布圖形和粒度數(shù)據(jù)圖表，有D10、D50、D90、平均粒徑和比表面積等特征參數(shù)，有四個(gè)自定義參數(shù)根據(jù) 需要自行輸入，重量比表面積與體積比表面積可以互換。粒度數(shù)據(jù)可保存到EXCEL。支持中、英文格式1、諸城納米粒度及zeta電位分析儀宣威激光粒度及zeta電位分析儀宣威熱門搜索:BT-9300S激光粒度分析儀激光粒度儀     激光粒度分析儀-WJL-628     便攜式高分辨激光粒度分析儀     CW300S-70清潔度掃描儀     激光粒度分析儀WJL-628     WJL-608激光粒度分析儀     【河北慧采科技開發(fā)有限公司】老百姓信得過(guò)產(chǎn)品★★消費(fèi)者放心滿意品牌★★邢臺(tái)十強(qiáng)企業(yè)★★中國(guó)質(zhì)量AAA級(jí)企業(yè)★★邢臺(tái)質(zhì)量.服務(wù).誠(chéng)信AAA企業(yè)★★撥打電話請(qǐng)告訴我產(chǎn)品訂貨號(hào)2、諸城納米粒度及zeta電位分析儀宣威激光粒度及zeta電位分析儀宣威多種型號(hào)圖片

型號(hào):RL134585激光粒度分析儀-WJL-628	型號(hào):RL134587CW300S-70清潔度掃描儀	型號(hào):RL134592激光粒度分析儀WJL-628

【諸城納米粒度及zeta電位分析儀宣威激光粒度及zeta電位分析儀宣威一共有★★30★★多種型號(hào)以上只顯示1-3種型號(hào)，如沒(méi)有合適您的產(chǎn)品請(qǐng)咨詢 河北慧采科技開發(fā)有限公司】3、諸城納米粒度及zeta電位分析儀宣威激光粒度及zeta電位分析儀宣威多種型號(hào)內(nèi)容型號(hào):RL134585激光粒度分析儀-WJL-628

主要技術(shù)指標(biāo)：

1、測(cè)量范圍：濕法：0.02～1200微米

       干法：0.1～1200微米

2、準(zhǔn)確性誤差：〈±1%（國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)D50）

3、重復(fù)性偏差：〈±1%（國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)D50）

4、電氣要求：交流220±10V，50Hz, 200W

5、外觀尺寸：主機(jī)1000×330×300mm 

干法進(jìn)樣系統(tǒng)350×330×300mm

濕法進(jìn)樣系統(tǒng)350×330×300mm

6、重量：50KG

工作原理：

采用全量程米氏散射理論，充分考慮到被測(cè)顆粒和分散介質(zhì)的折射率等光學(xué)性質(zhì)，根據(jù)大小不同的顆粒在各角度上散射光強(qiáng)的變化反演出顆粒群的粒度分布數(shù)據(jù)。

    顆粒測(cè)試的數(shù)據(jù)計(jì)算一般分為無(wú)約束擬合反演和有約束擬合反演兩種方法。有約束擬合反演在計(jì)算前假設(shè)顆粒群符合某種分布規(guī)律，再根據(jù)該規(guī)律反演出粒度分布。這種運(yùn)算相對(duì)比較簡(jiǎn)單，但由于事先的假設(shè)與實(shí)際情況之間不可避免會(huì)存在偏差，從而有約束擬合計(jì)算出的測(cè)試數(shù)據(jù)不能真實(shí)反映顆粒群的實(shí)際粒度分布。

欄目頁(yè)面:http://www.runlian365.com/chanpin/9502.html粒度分析儀來(lái)源網(wǎng)址:http://www.runlian365.com/chanpin/did-134585-pid-9502.html激光粒度分析儀-WJL-628型號(hào):RL134587CW300S-70清潔度掃描儀欄目頁(yè)面:http://www.runlian365.com/chanpin/9502.html粒度分析儀來(lái)源網(wǎng)址:http://www.runlian365.com/chanpin/did-134587-pid-9502.htmlCW300S-70清潔度掃描儀型號(hào):RL134592激光粒度分析儀WJL-628

 

欄目頁(yè)面:http://www.runlian365.com/chanpin/9502.html粒度分析儀來(lái)源網(wǎng)址:http://www.runlian365.com/chanpin/did-134592-pid-9502.html激光粒度分析儀WJL-628溫馨提示：潤(rùn)聯(lián)為您提供產(chǎn)品的詳細(xì)產(chǎn)品價(jià)格、產(chǎn)品圖片等產(chǎn)品介紹信息，您可以直接聯(lián)系廠家獲取產(chǎn)品的具體資料，聯(lián)系時(shí)請(qǐng)說(shuō)明是在潤(rùn)聯(lián)看到的，并告知型號(hào)