国产超级乱淫视频播放免费,1024在线视频精品免费播放,久草成人在线视频

Zetatrac新型Zetatrac 納米/Zeta電位分析儀

30多年來(lái)，Microtrac 公司一直于激光散射技術(shù)在顆粒粒度分布中的應(yīng)用。作為行業(yè)的先鋒，早在1990年，納米顆粒分析儀器，NPA引入由于顆粒在懸浮體系中的布朗運(yùn)動(dòng)而產(chǎn)生的能譜概念，利用背散射Back-scattered和異相多譜勒頻移Heterodyne Doppler Frequency Shifts技術(shù)，結(jié)合動(dòng)態(tài)光散射理論和的數(shù)學(xué)處理模型，取代傳統(tǒng)的光子相關(guān)光譜PCS,Photon Correlation Spectroscopy方法，將分析范圍為延伸至0.003-6.5µm。隨著技術(shù)的發(fā)展，Microtrac 公司不斷完善其麾下的專業(yè)顆粒分析儀器，快速分析高濃度的納米顆粒，生化材料及膠體體系成為現(xiàn)實(shí)，成為眾多行業(yè)納米分析的參考儀器。應(yīng)用領(lǐng)域：有機(jī)聚和物和高分子研究，納米金屬和其他納米無(wú)機(jī)物，結(jié)晶分析，表面活性劑膠束大小，蛋白質(zhì)，甾體，DNA，RNA，極稀濃度或不宜稀釋高濃度的樣品分析。

主要特點(diǎn)

﹡ 專利的異相多譜勒頻移Heterodyne Doppler Frequency Shifts技術(shù)，比較傳統(tǒng)的多譜勒頻移分析方法，獲得顆粒散射信號(hào)的強(qiáng)度高出幾個(gè)數(shù)量級(jí)，提高分析結(jié)果的性 ﹡ 專利的可控參比方法CRM, Controlled Reference Method，能精細(xì)分析多譜勒頻移產(chǎn)生的能譜，確保分析的靈敏度 ﹡ 超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設(shè)計(jì)，避免了多重散射現(xiàn)象，高濃度溶液中納米顆粒測(cè) 試的性 ﹡ 的“Y型”光纖光路系統(tǒng)，精確聚焦藍(lán)寶石測(cè)量窗口，消除雜散光對(duì)檢測(cè)器的負(fù)面影響 ﹡ 專利的快速傅利葉變換算法FFT，F(xiàn)ast Fourier Transform Algorithm Method，迅速處理檢測(cè)系統(tǒng)獲得的光譜，縮短分析時(shí)間 ﹡ 引進(jìn)“非球形”顆粒概念對(duì)米氏理論計(jì)算的校正因素，內(nèi)置常用分析物質(zhì)光學(xué)數(shù)據(jù)庫(kù)，提高顆粒粒度分布測(cè)試的性 ﹡ 符合甚至部分超過(guò)ISO 13321 激光粒度分析國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)－納米分析部分 ﹡ 符合甚至部分超過(guò)21 CFR PART 11 安全要求及FDA標(biāo)準(zhǔn)

技術(shù)參數(shù)

粒度范圍：0.8納米－ 6.5微米 Zeta 電位測(cè)量：+/- 5mv 電泳遷移：+/- 0.4 μs/volt/cm 重復(fù)性：誤差小于1%（標(biāo)準(zhǔn)顆粒）測(cè)量原理：動(dòng)態(tài)光背散射技術(shù)及米氏理論專利技術(shù)：HDF，CRM，F(xiàn)FT，“Ｙ”型光纖光路設(shè)計(jì)，“非球形”顆粒校正選項(xiàng)，微電場(chǎng)設(shè)計(jì)技術(shù) 檢測(cè)角度：180º 濃度范圍：0.1ppm – 40wt% 分析時(shí)間：30-120 秒光源：3mW 780nm 半導(dǎo)體光纖樣品體積：0.2ml 操作軟件：兼容Windows 98, 2000,NT, XP等國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)：ISO 13321 環(huán)境溫度：10ºC to 35ºC 相對(duì)濕度：小于90%

激光粒度儀及Zeta電位分析儀

90Plus專門用于納米及亞微米顆粒的粒徑測(cè)量，操作方便、快捷，并可升級(jí)帶Zeta電位測(cè)量功能。ZetaPlus的升級(jí)產(chǎn)品為ZetaPALS。對(duì)于高濃度懸浮體系粒度的測(cè)量，BI-FOQELS為選擇。此外，對(duì)于需要研究體系聚集過(guò)程，或測(cè)量分子量的用戶，還可選擇添加BI-200SM以完成研究目的。主要特點(diǎn) 1.高功率的激光器了測(cè)量結(jié)果的精度。2.開放式樣品池和平板式電極的設(shè)計(jì),是具有革新性的專利技術(shù)。3.基本避免了電滲運(yùn)動(dòng)和交叉污染的影響，從而提高測(cè)量的精度和速度。4.采用世界公認(rèn)功能的相關(guān)器BI-9000，儀器具有的性能。5.良好的升級(jí)前景，延長(zhǎng)了儀器的使用壽命。技術(shù)參數(shù) 1.粒度范圍：2nm-5um2.溫控范圍：6-75℃, ±0.1℃3.濃度范圍：0.01%-0.1%體積 (0.001%-40%選項(xiàng))4.pH范圍：2-125.激光器功率：30mW

酸堿、氧化-還原電位分析儀型號(hào):M294094

TW61M/PH/ORP-2002型酸堿、氧化-還原電位分析儀以操作簡(jiǎn)便，運(yùn)行穩(wěn)定著稱，該品牌的酸堿、氧化-電位變送器具有以下功能優(yōu)勢(shì)：穩(wěn)定性好、低干擾采用LCD顯示視界采用電壓穩(wěn)定、抗干擾性強(qiáng)的線性電源主要操作由一個(gè)鍵完成，操作非常簡(jiǎn)單可選擇4-20mA信號(hào)隔離輸出（通訊接口）適用高輸入阻抗的電極特別適用于廢水處理系統(tǒng)、純水系統(tǒng)等過(guò)程電極護(hù)套管：可耐強(qiáng)酸、強(qiáng)堿、1-4米可以任意選擇尺寸安裝支架：全不銹鋼設(shè)計(jì)、美觀、機(jī)械強(qiáng)度好電極信號(hào)線：日本進(jìn)口同芯屏蔽電纜、5-200米可選標(biāo)準(zhǔn)成套配備： 1、PH/ORP變送器 2、PH/ORP電極 3、電極護(hù)套管（1米，可選擇加長(zhǎng)） 4、防水接線盒（1P65） 5、安裝支架（全不銹鋼設(shè)計(jì)） 6、電極信號(hào)線（20米，可選擇加長(zhǎng)）主要技術(shù)參數(shù)：測(cè) 量范圍 :0－14PH、－1000-1000mV 精確度: 0.01PH、1mV 操作溫度: 0-60℃ 顯示: 液晶顯示屏信號(hào) 輸出: DC4-20mA Max. Load 1k 控制 : ON/OFF 接點(diǎn) 電流 :220VAC Max. 3A 設(shè) 定點(diǎn): 2 電源:220VAC 50Hz 開孔尺寸:92mm(H)-92mm(W)-110mm(D) 凈重: 0.2Kg 電極選擇 S-400-RT330-A10FF　PH污水及管路安裝電極 S-400-RTPBO-A10FF PH污水及管路安裝電極S400-02-Y　 PH/ORP經(jīng)濟(jì)型電極

產(chǎn)品圖片

NANOPLUS納米粒度與Zeta電位分析儀

NanoPlus是一款新型的、具有極寬測(cè)試范圍的多用途分析儀，它采用光子相關(guān)光譜法、電泳光散射以及最新的FST技術(shù)來(lái)分析納米粒度和zeta電位，并可測(cè)定固體以及高濃度懸浮液的zeta電位，符合ISO標(biāo)準(zhǔn)。該儀器采用了高靈敏度測(cè)量技術(shù)，可同時(shí)滿足低濃度和高濃度樣品納米粒度與zeta電位分析的要求，濃度范圍由0.001%到40%，可檢測(cè)粒徑從0.6nm到10μm，濃度從0.00001%到40%的樣品的粒徑。

該款儀器具有以下技術(shù)特點(diǎn)：

可測(cè)定顆粒在高濃度溶液中的zeta電位
可測(cè)定固體zeta電位
寬粒徑范圍（0.6nm~10μm），寬濃度范圍（粒徑測(cè)試：0.00001%~40%，zeta電位測(cè)試：0.001%~40%）
可精確測(cè)量稀釋或濃縮的懸浮液
用戶友好的軟件
多種樣品池選擇
可選擇一次性樣品池
結(jié)合線性相關(guān)器和對(duì)數(shù)相關(guān)器相結(jié)合的技術(shù)對(duì)各種樣品進(jìn)行表征
可選擇自動(dòng)滴定裝置控制懸浮液PH值

產(chǎn)品應(yīng)用：

半導(dǎo)體

研究半導(dǎo)體晶體表面殘留雜質(zhì)與磨蝕劑、添加劑和晶片表面之間的相互影響的凈化機(jī)制。

醫(yī)藥和食品行業(yè)

乳劑的分散和凝聚的模擬控制研究（如食品、香水、藥品和化妝品），蛋白質(zhì)功能研究，核糖體分散和凝聚控制研究，表面活性劑功能研究（微囊）。

陶瓷和顏料工業(yè)

表面重整控制研究、分散和凝聚陶瓷（矽土、氧化鋁、二氧化鈦等）和無(wú)機(jī)溶膠的研究，顏料的分散和凝聚的控制研究，浮礦收集器的吸附研究。

聚合物和化工領(lǐng)域

乳劑（涂料和粘合劑）的分散和凝聚控制研究，乳膠表面重整控制（藥品和工業(yè)用途）。電解聚合物（聚苯乙烯磺酸鈉、多羧酸等）功能研究，控制造紙和生產(chǎn)紙漿過(guò)程研究，紙漿添加劑研究。

該公司產(chǎn)品分類：反應(yīng)釜、反應(yīng)器密度儀、密度計(jì) 壓汞儀物理/化學(xué)吸附儀比表面儀、比表面積、比表面及孔結(jié)構(gòu)分析儀孔徑/隙度分析儀蒸氣吸附儀粒度儀、激光粒度儀、粒度分析儀沉降粒度儀/顆粒沉降儀顆粒計(jì)數(shù)器 Zeta電位儀/微電泳儀固體(粉末)表面分析儀

DDS-307A電導(dǎo)率儀-上海雷磁數(shù)字電導(dǎo)率儀DDS-307A/電導(dǎo)率儀/在線電導(dǎo)儀/雷磁電導(dǎo)儀/電位分析儀

電導(dǎo)率儀-上海雷磁數(shù)字電導(dǎo)率儀DDS-307A/電導(dǎo)率儀/在線電導(dǎo)儀/雷磁電導(dǎo)儀/電位分析儀

電導(dǎo)率儀-上海雷磁數(shù)字電導(dǎo)率儀DDS-307A

售后保障 1、上海謙科售出的HWC-10B磁力攪拌恒溫循環(huán)水浴可享受7天包退，30天包換，1年免費(fèi)維修，終身保修的貼心服務(wù)，讓您購(gòu)買儀器更放心；2、您在上海謙科購(gòu)買的磁力攪拌水浴鍋如在使用中有任何疑問(wèn)，請(qǐng)直接與我公司工程師聯(lián)系（021-6051-5240 186-021-71157）我們將在24小時(shí)內(nèi)對(duì)您的疑問(wèn)作出響應(yīng)并解答，讓您使用儀器更舒心；3、上海謙科將始終堅(jiān)守“誠(chéng)信”“快速”“低價(jià)”“安全”的服務(wù)，讓您買到質(zhì)優(yōu)價(jià)廉，服務(wù)周到的產(chǎn)品，為此我們不遺余力！

數(shù)字電導(dǎo)率儀DDS-307A

儀器特點(diǎn)：

儀器用于精確測(cè)量各種液體介質(zhì)的電導(dǎo)率，當(dāng)配以0.1、0.01規(guī)格常數(shù)的電導(dǎo)電極時(shí)，可以精確測(cè)量高純水電導(dǎo)率。儀器廣泛適用于各領(lǐng)域的科研的生產(chǎn)。儀器特別設(shè)計(jì)（0～2×105）μS自動(dòng)六檔量程測(cè)量，使測(cè)量誤差最小。

●采用高件能微機(jī)芯片，大屏幕液晶多參數(shù)顯示●電導(dǎo)率測(cè)量、電阻率測(cè)量、TDS測(cè)量、溫度測(cè)量●自動(dòng)校準(zhǔn)、自動(dòng)量程切換、自動(dòng)溫度補(bǔ)償（0～100℃）

可接0.01;0.1;1;10四種規(guī)格常數(shù)的電極技術(shù)指標(biāo)：1.儀器級(jí)別：1.0級(jí) 2.測(cè)量范圍：電導(dǎo)率：（0～1.999）μS；（2.0～19.99）μS；（20.0～199.9）μS；（200～1999）μS；（2.0～19.99）mS；（20.0～199.9）mS 溫度：-5～105（℃）3.電子單元基本誤差：電導(dǎo)率：±1.0（FS）溫度：±0.5（℃）4.電子單元穩(wěn)定性：±0.5（FS）5.溫度補(bǔ)償系數(shù)：2.0（％）6.溫度補(bǔ)償范圍：0～100（℃）

特約定制如果您沒(méi)有在本站找到適合您的恒溫水槽（�。�，您可以通過(guò)我們的定制專線與我們?nèi)〉寐?lián)系或者向我們提交您的定制需求，我們會(huì)將您的需求反饋給我們的技術(shù)工程師，同時(shí)在24小時(shí)內(nèi)與您取得聯(lián)系，給您提供詳細(xì)的解決方案！1、我要撥打定制專線定制需要產(chǎn)品：021-6051-5240 186-021-71157

該公司產(chǎn)品分類：其它設(shè)備離心機(jī) 分光光度計(jì) 電子天平馬弗爐干燥箱生化培養(yǎng)箱振蕩器/搖床低溫恒溫槽恒溫水浴鍋蒸餾水器高壓滅菌器潔凈采樣車空氣自凈器空氣凈化器通風(fēng)柜/通風(fēng)廚生物安全柜凈化工作臺(tái) 其它實(shí)驗(yàn)室通用設(shè)備恒溫加溫設(shè)備

WAVE 2305多孔固體孔隙率和表面電位分析儀

12.00Normal07.8 磅02falsefalsefalseEN-USZH-CNX-NONE

多孔固體孔隙率和zeta電位分析儀主要特點(diǎn)：

1、測(cè)定多孔固體材料的兩種不同性質(zhì)的參數(shù)：孔隙率和固體表面zeta電位，包括孔壁電荷

2、探頭式測(cè)量孔隙率，快速、安全、無(wú)污染，對(duì)樣品無(wú)損傷

3、探頭式測(cè)定zeta電位

應(yīng)用領(lǐng)域：只要是孔徑在儀器測(cè)試范圍之內(nèi)、能被某種液體浸潤(rùn)的材料均可進(jìn)行分析。

典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：陶瓷、電池材料、建材、耐火材料、巖心、食品、制藥、色譜柱基質(zhì)等等

美國(guó)康塔（Quantachrome）是的當(dāng)代顆粒技術(shù)開創(chuàng)者。四十年多來(lái)，康塔（Quantachrome）的科學(xué)家革新了測(cè)量技術(shù)并設(shè)計(jì)了相應(yīng)的儀器，使得粉體及多孔物質(zhì)的測(cè)量更加精確、精密，更加。這包括：比表面積分析儀，比表面積和孔徑分析儀，薄膜孔徑和孔隙度分析儀，超聲粒度及ZETA電位分析儀，圖像粒度儀，大孔孔徑分析壓汞儀，水吸附分析儀，高壓吸附儀，真密度計(jì)，振實(shí)密度儀等。美國(guó)康塔公司不僅通過(guò)了ISO9001 及歐洲CE 認(rèn)證，也取得了美國(guó)FDA IQ/OQ認(rèn)證。

更多信息請(qǐng)關(guān)注康塔官方網(wǎng)站，請(qǐng)點(diǎn)擊這里

該公司產(chǎn)品分類：比表面積和孔徑分析儀真密度計(jì) 真密度分析儀真密度測(cè)試儀全自動(dòng)真密度計(jì) 開孔、閉孔率分析儀開孔、閉孔率測(cè)定儀真密度分析儀壓實(shí)密度測(cè)試儀壓實(shí)密度分析儀壓實(shí)密度儀振實(shí)密度儀振實(shí)密度測(cè)試儀堆密度測(cè)試儀振實(shí)密度計(jì) 薄膜孔隙率分析儀薄膜孔徑測(cè)試儀圖像法zeta電位儀比表面儀比表面積測(cè)定儀

NICOMP 380納米粒徑與電位分析儀

Nicomp 380 系列納米激光粒度儀專為復(fù)雜體系提供高精度粒度解析方案基本信息

圖片1.png

儀器型號(hào)：N3000 Basic

工作原理：動(dòng)態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）

檢測(cè)范圍： 0.3nm-10.0μm

Nicomp 380 N3000系列納米激光粒度儀是在原有的經(jīng)典型號(hào)380DLS基礎(chǔ)上升級(jí)配套而來(lái)，采用動(dòng)態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理檢測(cè)分析顆粒的粒度分布，粒徑檢測(cè)范圍 0.3nm – 10μm。其配套粒度分析軟件復(fù)合采用了高斯（ Gaussian）單峰算法和擁有獨(dú)特技術(shù)的 Nicomp 多峰算法，對(duì)于多組分、粒徑分布不均勻分散體系的分析具有獨(dú)特優(yōu)勢(shì)。

技術(shù)優(yōu)勢(shì)

1、高靈敏度PMT檢測(cè)器；

2、可搭配不同功率光源；

3、精確度高，接近樣品真實(shí)值；

4、快速檢測(cè)，可以追溯歷史數(shù)據(jù)；

5、結(jié)果數(shù)據(jù)以多種形式和格式呈現(xiàn)；

6、符合USP,CP等個(gè)多藥典要求；

7、無(wú)需校準(zhǔn)；

8、復(fù)合型算法：

（1）高斯（Gaussion）單峰算法與獨(dú)特的Nicomp多峰算法自由切換

9、模塊化設(shè)計(jì)便于維護(hù)和升級(jí)；

（1）可自動(dòng)稀釋模塊（選配）；

（2）自動(dòng)進(jìn)樣系統(tǒng)（選配）；

（3）搭配多角度檢測(cè)器（選配）；

Nicomp多峰分布概念

基線調(diào)整自動(dòng)補(bǔ)償功能和高分辨率多峰算法是Nicomp 380系列儀器所獨(dú)有的兩個(gè)主要特點(diǎn)，Nicomp創(chuàng)始人Dave Nicole很早就認(rèn)識(shí)到傳統(tǒng)的動(dòng)態(tài)光散射理論僅給出高斯模式的粒度分布，這和實(shí)踐生產(chǎn)生活中不相符，因?yàn)楝F(xiàn)實(shí)中很多樣本是多分散體系，非單分散體系，而且高斯分布靈敏性不足，分辨率不高，這些特點(diǎn)都制約了納米粒度儀在實(shí)際生產(chǎn)生活中的使用。其開創(chuàng)性的開創(chuàng)了Nicomp多峰分布理論，大大提高了動(dòng)態(tài)光散射理論的分辨率和靈敏性。

圖片2.jpg

圖一：Nicomp多分分布數(shù)據(jù)呈現(xiàn)

如圖一：此數(shù)據(jù)為Nicomp創(chuàng)始人Dave Nicole親測(cè)其血液所得的真實(shí)案例。其檢測(cè)項(xiàng)目為：高密度脂蛋白，低密度脂蛋白和超低密度脂蛋白，由圖中可以看出，其血液中三個(gè)組分的平均粒徑分別顯示在7.0nm；29.3nm和217.5nm。由此可見(jiàn)，Nicomp分布模式可以有效反應(yīng)多組分體系的粒徑分布。

Nicomp多峰分布優(yōu)勢(shì)

Nicomp系列儀器均可以自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切換。其不僅可以給出傳統(tǒng)的DLS系統(tǒng)的結(jié)果，更可以通過(guò)Nicomp多峰分布模式體現(xiàn)樣品的真實(shí)情況。依托于Nicomp系列儀器一系列優(yōu)異的算法和高靈敏性的硬件設(shè)計(jì)，Nicomp納米激光粒度儀可以有效區(qū)分1:2的多分散體系。

圖片3.png 圖片4.png

圖二：高斯分布及Nicomp多峰分布對(duì)比圖

如圖二：此數(shù)據(jù)為檢測(cè)93nm和150nm的標(biāo)粒按照1:2的比例混合后所測(cè)得的數(shù)據(jù)。左邊為高斯分布（Gaussian）結(jié)果，右圖為Nicomp多峰分布算法結(jié)果，兩者都為光強(qiáng)徑數(shù)據(jù)。從高斯分布可以得到此混合標(biāo)粒的平均粒徑為110nm-120nm之間，卻無(wú)法得到實(shí)際的多組分體系結(jié)構(gòu)。從右側(cè)的Nicomp多峰分布可以得到結(jié)果為雙峰，即如數(shù)據(jù)呈現(xiàn)，體系中的粒子主要分布于98.2nm以及190nm附近，這和實(shí)際情況相符。

為滿足不同客戶的實(shí)際檢測(cè)需求，我司的Nicomp 380 N3000會(huì)配備相應(yīng)的配置，旨在為客戶們?cè)诳刂瞥杀镜幕A(chǔ)上，得到需求的解決方案，取得收益。

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

模塊化設(shè)計(jì)

Nicomp 380納米激光粒度儀是全球率先在應(yīng)用動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)上的基礎(chǔ)上加入多模塊方法的先進(jìn)粒度儀。隨著模塊的升級(jí)和增加，Nicomp 380的功能體系越來(lái)越強(qiáng)大，可以用于各種復(fù)雜體系的檢測(cè)分析。

自動(dòng)稀釋模塊

帶有獨(dú)特的自動(dòng)稀釋模塊消除了人工稀釋高濃度樣品帶來(lái)的誤差，且不需要人工不斷試錯(cuò)來(lái)獲得合適的測(cè)試濃度，這大大縮短了測(cè)試者寶貴時(shí)間，且無(wú)需培訓(xùn)，測(cè)試結(jié)果重現(xiàn)性好，誤差率＜1%。

380/HPLD大功率激光器

美國(guó)PSS粒度儀公司在開發(fā)儀器的過(guò)程中，考慮到在各種極端實(shí)驗(yàn)測(cè)試條件中不同的需求，對(duì)不同使用條件和環(huán)境配置了不同功率的激光發(fā)生器。大功率的激光器可以對(duì)小的粒子也能搜集到足夠的散射信號(hào)，使得儀器能夠得到小粒子的粒徑分布。同樣，大功率激光器在測(cè)試大粒子的時(shí)候同樣也很有幫助，比如在檢測(cè)右旋糖酐大分子時(shí)，折射率的特性會(huì)引起光散射強(qiáng)度不足。

因?yàn)榇蠊β始す馄鞯奶匦�，�?huì)彌補(bǔ)散射光強(qiáng)的不足和衰減，測(cè)試微小的微乳、表面活性劑膠束、蛋白質(zhì)以及其他大分子不再是一個(gè)苛刻的難題。即使沒(méi)有色譜分離，Nicomp 380納米粒徑分析儀甚至也可以輕易估算出生物高分子的聚集程度。

雪崩二極管 (APD) 探測(cè)器

Nicomp 380納米粒徑分析儀可以裝配各種大功率的激光發(fā)生器和雪崩二極管檢測(cè)器（相比較傳統(tǒng)的光電倍增管有3-5倍放大增益效果）。

APD通常被用于散射發(fā)生不明顯的體系里來(lái)增加信噪比和敏感度，如蛋白質(zhì)、不溶性膠束、濃度低的體系以及大分子基團(tuán)，他們的顆粒的一般濃度為1mg/mL甚至更低，這些顆粒是由對(duì)光的散射不敏感的原子組成。APD外置了一個(gè)大功率激光發(fā)生器模塊，在非常短的時(shí)間內(nèi)就能檢測(cè)分析納米級(jí)顆粒的分布情況。

380/MA多角度檢測(cè)器（選配）

粒徑大于100 nm的顆粒在激光的照射下不會(huì)朝著各個(gè)方向散射。多角度檢測(cè)角器通過(guò)調(diào)節(jié)檢測(cè)角度來(lái)增加粒子對(duì)光的敏感性來(lái)測(cè)試某些特殊級(jí)別粒子。Nicomp 380可以配備范圍在10°-175，步長(zhǎng)0.7°的多角度測(cè)角器，從而使得單一90°檢測(cè)角測(cè)試不了的樣品，通過(guò)調(diào)節(jié)角度進(jìn)行檢測(cè)，改善對(duì)大粒子多分散系粒徑分析的精確度。

該公司產(chǎn)品分類：均質(zhì)器、均質(zhì)機(jī)、乳化機(jī) 顆粒計(jì)數(shù)器 Zeta電位儀/微電泳儀激光粒度儀、納米粒度儀雜質(zhì)粒度儀 AccuSizer 全自動(dòng)計(jì)數(shù)粒徑檢測(cè)儀在線計(jì)數(shù)粒徑檢測(cè)儀 online 系列單顆粒光學(xué)傳感技術(shù)儀器研磨液檢測(cè)儀脂肪乳檢測(cè)儀磨料漿檢測(cè)儀拋光液檢測(cè)儀 AccuSizer 780 APS 拋光液檢測(cè)儀光阻法顆粒計(jì)數(shù)器光阻法檢測(cè)儀光阻法單顆粒分析儀動(dòng)態(tài)光散射粒度分析儀

超聲粒度及Zeta電位分析儀DT-1202

超聲粒度及Zeta電位分析儀

提供所有單臺(tái)儀器測(cè)量粒度分布, zeta電位和流變性質(zhì)(選件)的可能性在一個(gè)樣品池中可以同時(shí)測(cè)量粒度分布和zeta電位可以選擇附加各種探頭式測(cè)量傳感器, 包括溫度、pH值、電導(dǎo)率、和流變性質(zhì)測(cè)量，以及非水系統(tǒng)選項(xiàng)和軟件控制的自動(dòng)滴定系統(tǒng) 所有探頭均可同時(shí)操作統(tǒng)一的數(shù)據(jù)管理超聲粒度及Zeta電位分析儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介：利用超聲波在含有顆粒的連續(xù)相中傳播時(shí)，聲與顆粒的相互作用產(chǎn)生的聲吸收、耗散和散射所引起的損失效應(yīng)來(lái)測(cè)量顆粒粒度及濃度，采用多頻電聲學(xué)測(cè)量技術(shù)測(cè)量膠體體系的Zeta電位。對(duì)于高達(dá)50％（體積）濃度的樣品，無(wú)需進(jìn)行樣品稀釋或處理即可直接測(cè)量。甚至對(duì)于漿糊、凝膠、水泥及用其它儀器很難測(cè)量的材料都可用Zeta Probe 直接進(jìn)行測(cè)量。傳統(tǒng)方法要求稀釋樣品或進(jìn)行其它的樣品處理，既費(fèi)時(shí)又容易出錯(cuò)，而多頻電聲技術(shù)則可避免這些問(wèn)題。超聲探頭（Zeta Probe）能直接在樣品的原始條件下測(cè)量zeta電位，允許樣品濃度高達(dá)50％（體積）。Zeta Probe 結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)緊湊，外置的Zeta電位滴定裝置(可選配).自動(dòng)滴定裝置可自動(dòng)、快速地判斷等電點(diǎn)，可快速得到※佳分散劑和絮凝劑。對(duì)粒度和雙電層失真進(jìn)行自動(dòng)校正。該儀器的軟件易于使用，通用性強(qiáng)，非常適用于科研及工廠的優(yōu)化控制超聲粒度及Zeta電位分析儀參數(shù)規(guī)格： 1. 粒徑由超聲波( Acoustic)方式 , Zeta 電位由電聲波( Electro Acoustic)方式 2. 樣品無(wú)需稀釋直接測(cè)定,測(cè)量固體含量范圍:1% ～ 50% 3. 樣品※大測(cè)量攪拌濃度:10,000cps 4. 樣品測(cè)量電位范圍:+/- 300mV或以上 5. 聲波范圍: 500～3000m/s 6. 頻率范圍: 1 to 100 MHz , multiple gap 自動(dòng)掃描18個(gè)gap或以上 7. 粒徑測(cè)量: 5nm ～ 1000um 8. 可測(cè)量混合物之粒徑及Zeta電位 , 并可分析混合物之個(gè)別粒徑 9. 測(cè)量Zeta電位只需10ml或以下 10. 操作軟件功能: - 需在Windows XP下操作 - 粒徑分布圖及累計(jì)圖 - 粒徑分布數(shù)據(jù)表含D10 , D50 , D90 - 數(shù)據(jù)庫(kù)可在 Windows Access中由使用者自由選取 - 使用者可自由選取聲波速度及衰減圖 - 任何兩個(gè)參數(shù)的散射圖 - 用戶定義自動(dòng)選擇多數(shù)據(jù)系列Multiple data series automatically selected from user query 11.可選自動(dòng)酸堿與濃度滴定裝置 12.可選自動(dòng)測(cè)量粒徑及Zeta電位對(duì)pH變化 13.可以及時(shí)分析/顯示Zeta電位與等電點(diǎn) 14.可及時(shí)測(cè)量/顯示樣品pH值,電導(dǎo)率,溫度 15.可選數(shù)據(jù)資料處理與顯示系統(tǒng): Pentium 4 –3.0GHz或以上, 512 MB RAM, 80 GB, 19” LCD , Windows XP及 Office軟件 ( or Lap computer

超聲粒度及Zeta電位分析儀DT-1202產(chǎn)品特點(diǎn)：1.能分析多種分散物的混合體 2.無(wú)需依賴Double Layer 模式,精確地判定等電點(diǎn) 3.可適用于高導(dǎo)電（highly conducting）體系 4.可排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾 5.可精確測(cè)量無(wú)水體系 6.Zeta電位測(cè)試采用多頻電聲測(cè)量技術(shù)，無(wú)需先測(cè)量粒度即可進(jìn)行電位測(cè)量 7.樣品的※高濃度可達(dá)50％（體積比）,被測(cè)樣品無(wú)需稀釋，對(duì)濃縮膠體和乳膠可進(jìn)行直接測(cè)量 8.具有自動(dòng)電位滴定功能產(chǎn)品相冊(cè)：

該公司產(chǎn)品分類：超聲粒度和Zeta電位分析儀粒子界面特性評(píng)價(jià)裝置介電常數(shù)測(cè)定儀非水電導(dǎo)率測(cè)定儀超聲流變儀 Zeta電位分析儀超聲粒度分析儀光學(xué)流變系統(tǒng) 混凝土流變儀混凝土收縮測(cè)試儀水泥/砂漿流變儀砂漿干燥收縮測(cè)試儀自動(dòng)混凝土攪拌機(jī) 蛋白質(zhì)聚集體分析儀表面特性分析儀超聲粒度和Zeta電位分析儀圖像法Zeta電位納米粒度及Zeta電位分析儀微區(qū)掃描電化學(xué)顯微鏡真密度分析儀

諸城納米粒度及zeta電位分析儀宣威激光粒度及zeta電位分析儀宣威

產(chǎn)品簡(jiǎn)介:工作原理：采用全量程米氏散射理論，充分考慮到被測(cè)顆粒和分散介質(zhì)的折射率等光學(xué)性質(zhì)，根據(jù)大小不同的顆粒在各角度上散射光強(qiáng)的變化反演出顆粒群的粒度分布數(shù)據(jù)。顆粒測(cè)試的數(shù)據(jù)計(jì)算一般分為無(wú)約束擬合反演和有約束擬合反演兩種方法。有約束擬合反演在計(jì)算前假設(shè)顆粒群符合某種分布規(guī)律，再根據(jù)該規(guī)律反演出粒度分布。這種運(yùn)算相對(duì)比較簡(jiǎn)單，但由于事先的假設(shè)與實(shí)際情況之間不可避免會(huì)存在偏差，從而有約束擬合計(jì)算出的測(cè)試數(shù)據(jù)不能真實(shí)反映顆粒群的實(shí)際粒度分布。無(wú)約束擬合反演即測(cè)試前對(duì)顆粒群不做任何假設(shè)，通過(guò)光強(qiáng)直接準(zhǔn)確地計(jì)算出顆粒群的粒度分布。這種計(jì)算前提是合理的探測(cè)器設(shè)計(jì)和粒度分級(jí)，給設(shè)備本身提出很高的要求。采用優(yōu)的非均勻性交叉三維扇形矩陣排列的探測(cè)器陣列和合理的粒度分級(jí)，從而能夠準(zhǔn)確地測(cè)量顆粒群的粒度分布。技術(shù)特點(diǎn)：測(cè)試穩(wěn)定的基礎(chǔ)：只有系統(tǒng)能夠提供穩(wěn)定的光信號(hào)，才能夠充分保證測(cè)試數(shù)據(jù)的穩(wěn)定。Rise-2022型干濕兩用激光粒度分析儀選用He-Ne氣體激光光源，波長(zhǎng)0.6328微米，波長(zhǎng)短，線寬窄，穩(wěn)定性好，使用壽命大于25000小時(shí)，能夠很好的為系統(tǒng)提供穩(wěn)定的激光源信號(hào)。數(shù)據(jù)可靠的保證：保證測(cè)試數(shù)據(jù)可靠首先是信號(hào)探測(cè)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)合理，被測(cè)樣品分散效果的優(yōu)劣和被測(cè)分散液的均勻程度是得出真實(shí)結(jié)果的另一決定性因素。探測(cè)器：光電探測(cè)系統(tǒng)設(shè)計(jì)獨(dú)特，靈敏度高，主檢測(cè)器一個(gè)，輔助檢測(cè)器多個(gè)，采用非均勻性交叉三維扇形矩陣排列，檢測(cè)角達(dá)到90度，充分保證了信號(hào)探測(cè)的全面性。光路：采用一個(gè)量程設(shè)計(jì)，會(huì)聚光路獨(dú)特，減少了傅立葉透鏡組，使測(cè)量范圍更寬，分辨率更高，光路免調(diào)。功能強(qiáng)大的分析軟件：PADMAS顆粒粒度測(cè)量分析系統(tǒng)（Particle Diameter Measure & Analysis System）功能強(qiáng)大，測(cè)試數(shù)據(jù)可以做平均、統(tǒng)計(jì)、比較和模式轉(zhuǎn)換等處理，具有微分分布、累積分布、標(biāo)準(zhǔn)分級(jí)、R-R分布、自定義分級(jí)、按目分級(jí)和數(shù)量分布等多種格式。在0.02~2000微米內(nèi)默認(rèn)分級(jí)130級(jí)，在量程范圍內(nèi)，從1~130級(jí)可自定義分級(jí)。測(cè)試報(bào)告中有粒度分布圖形和粒度數(shù)據(jù)圖表，有D10、D50、D90、平均粒徑和比表面積等特征參數(shù)，有四個(gè)自定義參數(shù)根據(jù) 需要自行輸入，重量比表面積與體積比表面積可以互換。粒度數(shù)據(jù)可保存到EXCEL。支持中、英文格式1、諸城納米粒度及zeta電位分析儀宣威激光粒度及zeta電位分析儀宣威熱門搜索:BT-9300S激光粒度分析儀激光粒度儀激光粒度分析儀-WJL-628 便攜式高分辨激光粒度分析儀 CW300S-70清潔度掃描儀激光粒度分析儀WJL-628 WJL-608激光粒度分析儀

【河北慧采科技開發(fā)有限公司】老百姓信得過(guò)產(chǎn)品★★消費(fèi)者放心滿意品牌★★邢臺(tái)十強(qiáng)企業(yè)★★中國(guó)質(zhì)量AAA級(jí)企業(yè)★★邢臺(tái)質(zhì)量.服務(wù).誠(chéng)信AAA企業(yè)★★撥打電話請(qǐng)告訴我產(chǎn)品訂貨號(hào)2、諸城納米粒度及zeta電位分析儀宣威激光粒度及zeta電位分析儀宣威多種型號(hào)圖片


型號(hào):RL134585激光粒度分析儀-WJL-628	型號(hào):RL134587CW300S-70清潔度掃描儀	型號(hào):RL134592激光粒度分析儀WJL-628

【諸城納米粒度及zeta電位分析儀宣威激光粒度及zeta電位分析儀宣威一共有★★30★★多種型號(hào)以上只顯示1-3種型號(hào)，如沒(méi)有合適您的產(chǎn)品請(qǐng)咨詢河北慧采科技開發(fā)有限公司】3、諸城納米粒度及zeta電位分析儀宣威激光粒度及zeta電位分析儀宣威多種型號(hào)內(nèi)容

型號(hào):RL134585激光粒度分析儀-WJL-628

主要技術(shù)指標(biāo)：

1、測(cè)量范圍：濕法：0.02～1200微米

干法：0.1～1200微米

2、準(zhǔn)確性誤差：〈±1%（國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)D50）

3、重復(fù)性偏差：〈±1%（國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)D50）

4、電氣要求：交流220±10V，50Hz, 200W

5、外觀尺寸：主機(jī)1000×330×300mm

干法進(jìn)樣系統(tǒng)350×330×300mm

濕法進(jìn)樣系統(tǒng)350×330×300mm

6、重量：50KG

工作原理：

采用全量程米氏散射理論，充分考慮到被測(cè)顆粒和分散介質(zhì)的折射率等光學(xué)性質(zhì)，根據(jù)大小不同的顆粒在各角度上散射光強(qiáng)的變化反演出顆粒群的粒度分布數(shù)據(jù)。

顆粒測(cè)試的數(shù)據(jù)計(jì)算一般分為無(wú)約束擬合反演和有約束擬合反演兩種方法。有約束擬合反演在計(jì)算前假設(shè)顆粒群符合某種分布規(guī)律，再根據(jù)該規(guī)律反演出粒度分布。這種運(yùn)算相對(duì)比較簡(jiǎn)單，但由于事先的假設(shè)與實(shí)際情況之間不可避免會(huì)存在偏差，從而有約束擬合計(jì)算出的測(cè)試數(shù)據(jù)不能真實(shí)反映顆粒群的實(shí)際粒度分布。

欄目頁(yè)面:http://www.runlian365.com/chanpin/9502.html粒度分析儀來(lái)源網(wǎng)址:http://www.runlian365.com/chanpin/did-134585-pid-9502.html激光粒度分析儀-WJL-628型號(hào):RL134587CW300S-70清潔度掃描儀

CW300S-70清潔度掃描儀

清潔度掃描儀用途:

CW300S-70 清潔度掃描顯微鏡性能卓越，應(yīng)用領(lǐng)域廣泛。在模具制造、精密制造、電線電纜、數(shù)字化工程、鞋楦服飾等方面都有成功案例。

清潔度掃描儀應(yīng)用范圍：

汽車零部件掃描、快速檢測(cè)、快速成型、汽車零件清潔度檢測(cè)、顆粒度分析、醫(yī)用針制造，電纜絕緣層檢測(cè)、科學(xué)研究、計(jì)算機(jī)視覺(jué)、先進(jìn)制造、數(shù)字文物、數(shù)字博物館、考古研究、顯微形貌

清潔度掃描儀功能介紹：

1.本掃描儀可以快速掃描樣品表面數(shù)據(jù)，能掃描顆粒、空洞、溝槽，斷裂的表面。

2.具有圖形編輯功能，可以去噪、標(biāo)準(zhǔn)化，去處不需要部分

3.掃描速度可以無(wú)級(jí)調(diào)整，可以快速預(yù)覽掃描結(jié)果

4.可以通過(guò)標(biāo)定自定位，進(jìn)行自動(dòng)拼接，無(wú)需貼標(biāo)記點(diǎn)；也可以手工輔助拼接。

5.提供標(biāo)定功能，無(wú)需返廠即可進(jìn)行精度校正，標(biāo)定完成后，會(huì)自動(dòng)分析標(biāo)定結(jié)果報(bào)告，保證標(biāo)定質(zhì)量

6.提供多處理器優(yōu)化，使多核工作站能全速運(yùn)行，獲得實(shí)時(shí)性能

7.可以生成多種數(shù)據(jù)格式，供其他軟件使用，包括sfl，ply等，可以轉(zhuǎn)換到AutoCAD，Geomagic Studio，Rapid Form中進(jìn)行高級(jí)處理。

掃描范圍及精度:

產(chǎn)品型號(hào): CW300S-70

單面掃描范圍(mm): 250×70

單幅精度(mm): 0.005

平均點(diǎn)距(mm): 0.04

單面掃描速度(s) : ＜30s

掃描方式: 非接觸/面掃描

欄目頁(yè)面:http://www.runlian365.com/chanpin/9502.html粒度分析儀來(lái)源網(wǎng)址:http://www.runlian365.com/chanpin/did-134587-pid-9502.htmlCW300S-70清潔度掃描儀型號(hào):RL134592激光粒度分析儀WJL-628

工作原理：

采用全量程米氏散射理論，充分考慮到被測(cè)顆粒和分散介質(zhì)的折射率等光學(xué)性質(zhì)，根據(jù)大小不同的顆粒在各角度上散射光強(qiáng)的變化反演出顆粒群的粒度分布數(shù)據(jù)。

顆粒測(cè)試的數(shù)據(jù)計(jì)算一般分為無(wú)約束擬合反演和有約束擬合反演兩種方法。有約束擬合反演在計(jì)算前假設(shè)顆粒群符合某種分布規(guī)律，再根據(jù)該規(guī)律反演出粒度分布。這種運(yùn)算相對(duì)比較簡(jiǎn)單，但由于事先的假設(shè)與實(shí)際情況之間不可避免會(huì)存在偏差，從而有約束擬合計(jì)算出的測(cè)試數(shù)據(jù)不能真實(shí)反映顆粒群的實(shí)際粒度分布。

無(wú)約束擬合反演即測(cè)試前對(duì)顆粒群不做任何假設(shè)，通過(guò)光強(qiáng)直接準(zhǔn)確地計(jì)算出顆粒群的粒度分布。這種計(jì)算前提是合理的探測(cè)器設(shè)計(jì)和粒度分級(jí)，給設(shè)備本身提出很高的要求。

采用優(yōu)的非均勻性交叉三維扇形矩陣排列的探測(cè)器陣列和合理的粒度分級(jí)，從而能夠準(zhǔn)確地測(cè)量顆粒群的粒度分布。

技術(shù)特點(diǎn)：

測(cè)試穩(wěn)定的基礎(chǔ)：只有系統(tǒng)能夠提供穩(wěn)定的光信號(hào)，才能夠充分保證測(cè)試數(shù)據(jù)的穩(wěn)定。Rise-2022型干濕兩用激光粒度分析儀選用He-Ne氣體激光光源，波長(zhǎng)0.6328微米，波長(zhǎng)短，線寬窄，穩(wěn)定性好，使用壽命大于25000小時(shí)，能夠很好的為系統(tǒng)提供穩(wěn)定的激光源信號(hào)。

數(shù)據(jù)可靠的保證：保證測(cè)試數(shù)據(jù)可靠首先是信號(hào)探測(cè)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)合理，被測(cè)樣品分散效果的優(yōu)劣和被測(cè)分散液的均勻程度是得出真實(shí)結(jié)果的另一決定性因素。

探測(cè)器：光電探測(cè)系統(tǒng)設(shè)計(jì)獨(dú)特，靈敏度高，主檢測(cè)器一個(gè)，輔助檢測(cè)器多個(gè)，采用非均勻性交叉三維扇形矩陣排列，檢測(cè)角達(dá)到90度，充分保證了信號(hào)探測(cè)的全面性。

光路：采用一個(gè)量程設(shè)計(jì)，會(huì)聚光路獨(dú)特，減少了傅立葉透鏡組，使測(cè)量范圍更寬，分辨率更高，光路免調(diào)。

功能強(qiáng)大的分析軟件：PADMAS顆粒粒度測(cè)量分析系統(tǒng)（Particle Diameter Measure & Analysis System）功能強(qiáng)大，測(cè)試數(shù)據(jù)可以做平均、統(tǒng)計(jì)、比較和模式轉(zhuǎn)換等處理，具有微分分布、累積分布、標(biāo)準(zhǔn)分級(jí)、R-R分布、自定義分級(jí)、按目分級(jí)和數(shù)量分布等多種格式。在0.02~2000微米內(nèi)默認(rèn)分級(jí)130級(jí)，在量程范圍內(nèi)，從1~130級(jí)可自定義分級(jí)。測(cè)試報(bào)告中有粒度分布圖形和粒度數(shù)據(jù)圖表，有D10、D50、D90、平均粒徑和比表面積等特征參數(shù)，有四個(gè)自定義參數(shù)根據(jù) 需要自行輸入，重量比表面積與體積比表面積可以互換。粒度數(shù)據(jù)可保存到EXCEL。支持中、英文格式測(cè)試報(bào)告打印，頁(yè)眉和頁(yè)腳可根據(jù)需要進(jìn)行修改，有打印預(yù)覽功能，能夠?qū)⒘６确植紙D形和粒度數(shù)據(jù)圖表存成圖片或PDF格式，便與WORD交互使用�？筛鶕�(jù)用戶需要增加其他處理功能。操作簡(jiǎn)便：標(biāo)準(zhǔn)、量化、簡(jiǎn)單的操作能夠在短時(shí)間內(nèi)熟練掌握，測(cè)試數(shù)據(jù)過(guò)程在1分鐘內(nèi)完成。

可視性強(qiáng)：測(cè)試軟件界面友好，測(cè)試過(guò)程清晰可見(jiàn)，瞬時(shí)刷新，可視性強(qiáng)，可隨時(shí)觀察儀器運(yùn)行狀況、測(cè)試數(shù)據(jù)波動(dòng)清況，分析所測(cè)數(shù)據(jù)的真實(shí)性、可靠性。循環(huán)、超聲、攪拌和排液等操作鍵都在智能化觸摸式操作面板上，標(biāo)準(zhǔn)、量化、簡(jiǎn)單的操作，有效縮短了測(cè)試時(shí)間，降低了對(duì)操作人員的要求。

設(shè)備維護(hù)：全面的技術(shù)培訓(xùn)和內(nèi)容詳盡的使用操作說(shuō)明書、軟件在線幫助使操作人員能準(zhǔn)確操作、解決疑問(wèn)、排除故障。

技術(shù)支持：根據(jù)樣品的密度、異性、脆性、磁性、毒性、流動(dòng)性、團(tuán)聚性、溶解性和物理化學(xué)反應(yīng)等理化特性，我們總結(jié)出了一套科學(xué)、系統(tǒng)和完整的分散測(cè)試方案，隨著儀器提供給用戶。我們既銷售儀器，又提供分散測(cè)試方案。

分散方法

集合了WJL系列濕法激光粒度分析儀和干法激光粒度分析儀的分散方法，干樣干測(cè)，濕樣濕測(cè)。

干法分散：

在干法狀態(tài)下，樣品通過(guò)自動(dòng)干粉進(jìn)樣器均勻輸送到高壓氣流中，在高壓氣流的帶動(dòng)下連續(xù)高速噴射到分散器中，在到達(dá)分散器出口處樣品已經(jīng)被充分分散，穿過(guò)激光束之后樣品進(jìn)入收集器中，同時(shí)電腦立刻顯示出粒度分布信息。

1.干法分散，不需要任何分散劑和溶劑。

2. 采用靜音無(wú)油空氣壓縮機(jī)，配以高效冷凝器，保證產(chǎn)生純凈壓縮空氣；

3. 瞬時(shí)分散、瞬時(shí)測(cè)量，測(cè)試精度快，分析效率高，從進(jìn)樣到出結(jié)果一分鐘內(nèi)完成；

濕法分散：

超聲分散系統(tǒng)能夠?qū)Ρ粶y(cè)樣品進(jìn)行充分的分散。大功率超聲器（100W），超聲時(shí)間全自動(dòng)操作和觸摸式按鍵連續(xù)調(diào)節(jié)，設(shè)置時(shí)間數(shù)字顯示，超聲時(shí)間0~9分50秒連續(xù)可調(diào), 可根據(jù)樣品分散的難易程度設(shè)置超聲時(shí)間，良好的屏蔽處理使超聲分散和樣品測(cè)試可同時(shí)進(jìn)行，即使具有超強(qiáng)團(tuán)聚性的顆粒也能夠充分分散以獲得真實(shí)的粒度分布數(shù)據(jù)。樣品分散池（400ml）與主機(jī)一體,不銹鋼材質(zhì)，設(shè)計(jì)獨(dú)特，呈圓形，循環(huán)排液方便，不留塵垢，便于清洗。采用濕法分散，可用蒸餾水、純凈水和酒精等液體作分散介質(zhì)。

分散液均化：分散液的均勻程度是向探測(cè)系統(tǒng)提供穩(wěn)定散射光信號(hào)的前提，本儀器采用連續(xù)可調(diào)的攪拌和循環(huán)充分保證了分散液的均勻度。

攪拌系統(tǒng)：根據(jù)被測(cè)樣品的特性選擇合適的攪拌速度，防止顆粒沉淀，使分散液混合均勻，攪拌轉(zhuǎn)速全自動(dòng)操作和觸摸式按鍵連續(xù)可調(diào)，設(shè)置速度數(shù)字顯示，攪拌轉(zhuǎn)速0~3000轉(zhuǎn)/分鐘連續(xù)可調(diào)，測(cè)試過(guò)程中同時(shí)開啟超聲可避免因攪拌速度過(guò)快產(chǎn)生氣泡造成的測(cè)試誤差。

循環(huán)系統(tǒng)：根據(jù)被測(cè)樣品的特性選擇合適的循環(huán)泵速，防止循環(huán)管路中顆粒沉淀，循環(huán)泵速全自動(dòng)操作和觸摸式按鍵連續(xù)可調(diào)，設(shè)置速度數(shù)字顯示，循環(huán)泵速0~5000轉(zhuǎn)/分鐘連續(xù)可調(diào)，測(cè)試過(guò)程中同時(shí)開啟超聲既可避免因循環(huán)速度過(guò)快產(chǎn)生氣泡造成的測(cè)試誤差，又能夠防止顆粒在循環(huán)過(guò)程中產(chǎn)生團(tuán)聚。