主要特點(diǎn)
1.能分析多種分散物的混合體 2.無需依賴Double Layer 模式,精確地判定等電點(diǎn) 3.可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系 4.可排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾 5.可精確測量無水體系 6.Zeta電位測試采用多頻電聲測量技術(shù),無需先測量粒度即可進(jìn)行電位測量 7.樣品的濃度可達(dá)50%(體積比),被測樣品無需稀釋,對濃縮膠體和乳膠可進(jìn)行直接測量 8.具有自動電位滴定功能
儀器介紹
高濃度膠體和乳液的特性參數(shù)檢測儀,測試: 粒徑、Zeta電位、滴定、電導(dǎo)等 此儀器容易使用、測量精確。對于高達(dá)50%(體積)濃度的樣品,也無需進(jìn)行稀釋或樣品前處理即可直接測量。甚至對于漿糊、凝膠、水泥以及用其它儀器很難測量的材料都可直接進(jìn)行測量。結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)緊湊,外置的Zeta電位滴定裝置(可選配).自動滴定裝置可自動、快速地判斷等電點(diǎn),可快速得到分散劑和絮凝劑。對粒度和雙電層失真進(jìn)行自動校正。該儀器的軟件易于使用,通用性強(qiáng),非常適用于科研及工廠的優(yōu)化控制。 Dispersion Technology,Inc. 產(chǎn)品: 應(yīng)用于: DT-1200聲波和電聲波測量儀 實(shí)驗(yàn)室中粒徑和Zeta電位及滴定、pH值測量 DT-100聲波測量儀 實(shí)驗(yàn)室中粒徑分析儀 DT-300Zeta電位探頭 實(shí)驗(yàn)室中Zeta電位分析 DT-400自動膠體滴定 滴定、pH值、表面活性、鹽度等 分析軟件 膠體科學(xué)領(lǐng)域的理論 典型應(yīng)用領(lǐng)域: Aggregative Stability, 水泥漿, 陶瓷, 化學(xué)機(jī)械研磨, 煤漿, 涂料, 化妝品, 環(huán)境保護(hù)浮選法礦物富集, 食品工業(yè), 乳膠, 微乳, 混合分散體系, 納米粉, 無水體系, 油漆成像材料. 測量參數(shù): 粒子/液體的密度、液體的粘度、粒子的重量百分比、介電常數(shù)等參數(shù)。 優(yōu)于光學(xué)方法的技術(shù)優(yōu)勢: 1、被測樣品無需稀釋 2、排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾 3、不需定標(biāo) 4、能分析多種分散物的混合體 5、高精度 6、所檢測粒徑范圍款從5nm至 1000um 優(yōu)于electroactics方法的技術(shù)優(yōu)勢: 1、無需定標(biāo) 2、能測更寬的粒徑范圍 3、無需依賴Double Layer 模式 4、不需依賴(electric surface properties)電表面特性 5、Zero surface charge條件下也可測量粒徑 6、可適用于無水體系 7、可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系 優(yōu)于微電泳方法的技術(shù)優(yōu)勢: 1、無需稀釋,固含量高達(dá)50% 2、可排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾 3、高精度(±0.1mv) 4、low surface charges (可低至0.1mv) 5、electrosmotic flow 不影響測量 6、對流(convection)不影響測量 7、可精確測量無水體系
我們的粒度和Zeta電位分析儀器, 采用專利技術(shù)---多頻電聲學(xué)測量技術(shù)測量膠體體系的Zeta電位。對于高達(dá)50%(體積)濃度的樣品,無需進(jìn)行樣品稀釋或前處理即可直接測量。甚至對于漿糊、凝膠、水泥及用其它儀器很難測量的材料都可用Zeta Probe 直接進(jìn)行測量。傳統(tǒng)方法要求稀釋樣品或進(jìn)行其它的樣品處理,既費(fèi)時(shí)又容易出錯,而專利的多頻電聲技術(shù)則可避免這些問題。Zeta Probe 能直接在樣品的原始條件下測量zeta電位,允許樣品濃度高達(dá)50%(體積)。Zeta Probe結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)緊湊,外置的Zeta電位滴定裝置(可選配).自動滴定裝置可自動、快速地判斷等電點(diǎn),可快速得到分散劑和絮凝劑。對粒度和雙電層失真進(jìn)行自動校正。該儀器的軟件易于使用,通用性強(qiáng),非常適用于科研及工廠的優(yōu)化控制。
產(chǎn)品特性1.能分析多種分散物的混合體 2.無需依賴Double Layer 模式,精確地判定等電點(diǎn) 3.可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系 4.可排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾 5.可精確測量無水體系 6.Zeta電位測試采用多頻電聲測量技術(shù),無需先測量粒度即可進(jìn)行電位測量7.樣品的濃度可達(dá)50%(體積比),被測樣品無需稀釋,對濃縮膠體和乳膠可進(jìn)行直接測量 8.具有自動電位滴定功能
產(chǎn)品規(guī)格1.所檢測粒徑范圍款從5nm至 1000um 2.可測量Zeta電位、超聲波頻率、電導(dǎo)率、PH、溫度、聲衰減、聲速、電聲信號,動態(tài)遷移率、等電點(diǎn)(IEP) 3.Zeta電位測量范圍:無限制, low surface charges (可低至0.1mv),高精度(±0.1mv) 4.Zero surface charge條件下也可測量粒徑 5.允許樣品濃度:0.1~50%(體積百分?jǐn)?shù)) 6.樣品體積:20-110ml(檢測粒徑),2-100ml(檢測Zeta電位)7.PH 范圍:0.5~13.5 8.電導(dǎo)率范圍:0.0001~10 S/m9.溫度范圍:< 50℃10.最大粘度:20,000厘泊11.電位滴定和體積滴定,滴定分辨率0.1μl
電位分析儀GTW-ZT-Y 技術(shù)參數(shù): 粒度范圍:0.8納米-6.5微米 Zeta電位測量:+/-125mv 電泳遷移:+/-0.4μs/volt/cm 重復(fù)性:誤差小于1%(標(biāo)準(zhǔn)顆粒) 測量原理:動態(tài)光背散射技術(shù)及米氏理論 專利技術(shù):HDF,CRM,F(xiàn)FT,“Y”型光纖光路設(shè)計(jì),“非球形”顆粒校正選項(xiàng),微電場設(shè)計(jì)技術(shù) 檢測角度:180º 濃度范圍:0.1ppm–40wt% 分析時(shí)間:30-120秒 光源:3mW780nm半導(dǎo)體光纖 http://www.hbjmglj.com 樣品體積:0.2-5ml 操作軟件:兼容Windows98,2000,NT,XP,Vista等 國際標(biāo)準(zhǔn):ISO13321 環(huán)境溫度:10ºCto35ºC 相對濕度:小于90% 主要功能: http://www.btjmljc.com 氯離子、維生素C、碘值、過氧化值、總硬度、游離二氧化硫、葡萄糖的測定 凱氏定氮和還原糖的滴定 鈣鎂離子和鉀離子的測定 各種酸含量的測定 http://www.taoshanjx.com 具有終點(diǎn)和等當(dāng)點(diǎn)滴定功能,動態(tài)和等量的加液方式 同步顯示滴定曲線 滴定管的分辨率:1/10000 電位分辨率:0.1mV 儲存100個(gè)樣品結(jié)果人參水分檢測儀 紙板耐破強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī) 日本理研 萬勝鋰電池 碳硅分析儀 數(shù)控銑床廠家 溫度滴定儀 紫紅外火焰探測器 氮?dú)淇找惑w機(jī) 旋渦混合器 PE膜收縮機(jī) 組織搗碎勻漿機(jī) 唐納森濾芯 插銑床 滾涂機(jī) 旋渦混合器 垂直流凈化工作臺 超高純氦氣 裝載機(jī)電子秤 SMC氣缸 電火花檢漏儀 飲料灌裝生產(chǎn)線 函數(shù)信號發(fā)生器 博力飛 配頁機(jī) FESTO氣缸 裝配熱電偶
藥(械)準(zhǔn)字:食藥監(jiān)械(進(jìn))字2014第2213261號
直觀的軟件操作界面和簡易的正常值分析功能使操作者能夠立刻學(xué)會使用查特™Chartr™ EP。
特有的遠(yuǎn)程控制器使操作輕松。
作為最先將背向光散射技術(shù)(Back-Scattering)引入高濃度粒度分析的廠家,Brookhaven公司應(yīng)用全新的光纖技術(shù)將背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動態(tài)光散射技術(shù)進(jìn)行了完美結(jié)合,突破性地推出了結(jié)合15°、90°與173°三個(gè)散射角度與硬件PALS(Phase Analysis Scattering,相位分析光散射)技術(shù)的Omni多角度粒與高靈敏度Zeta電位分析儀。隨著Omni的出現(xiàn),突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測量的局限性,實(shí)現(xiàn)在同一臺粒度分析儀中,既可以同時(shí)兼顧大、小顆粒的散射光信號,又可以有效地提高了測量濃度上限,最高可達(dá)40%wt;硬件PALS技術(shù)(與傳統(tǒng)基于頻移技術(shù)的光散射方法相比,靈敏度可提高1000倍)的應(yīng)用,徹底解決了長期以來無法對諸如在低介電常數(shù)、高粘度、高鹽度以及等電點(diǎn)附近這些測量條件下(電泳遷移率比通常水相條件下低10-1000倍,傳統(tǒng)方法沒有足夠的分辨率進(jìn)行測量)的樣品進(jìn)行分析的難題。Omni是目前市場上功能最強(qiáng)大的粒度與Zeta電位分析儀。
NanoBrook產(chǎn)品系列
項(xiàng)目 | 173 | 173Plus | Omni | ZetaPALS | |
功 能 | 粒度測量功能 | ● | ● | ● | ○ |
分子量測量功能 | ● | ● | ● | ○ | |
Zeta電位測量功能 | ○ | ○ | ● | ● | |
技 術(shù) 參 數(shù) | 散射角 | 15°與173° | 15°、90°與173° | ○ | |
粒度范圍 | 0.3nm-10μm | ○ | |||
分子量測定范圍 | 342~2×107Dalton | ○ | |||
相關(guān)器 | 4×522個(gè)物理通道,4×1011個(gè)線性通道 | ○ | |||
Zeta電位適用粒度范圍 | ○ | 1nm~100μm | |||
Zeta電位范圍 | ○ | -500mV~500mV | |||
電導(dǎo)率范圍 | ○ | 0-30S/m | |||
電泳遷移率范圍 | ○ | 10-11~10-7m2/V.s | |||
電極 | ○ | 開放式永久型電極 | |||
系 統(tǒng) 參 數(shù) | 溫控范圍與精度 | -5~110℃,±0.1℃ | |||
激光源 | 35mW光泵半導(dǎo)體激光器 | ||||
檢測器 | PMT或APD | ||||
分析軟件 | Particle Solution粒度與Zeta電位分析軟件 | ||||
大小及重量 | 233mm(H)×427mm(W)×481mm(D),15kg | ||||
選 件 | BI-ZTU自動滴定儀 | 可對PH值、電導(dǎo)率和添加劑濃度作圖 | |||
BI-870介電常數(shù)儀 | 直接測量溶劑的介電常數(shù)值 | ||||
BI-SV10粘度計(jì) | 用于測量溶劑及溶液的粘度 |
●代表“有” ○代表“無”
典型應(yīng)用
☆ 蛋白、免疫球蛋白、縮氨酸、DNA、RNA、膠束
☆ 脂質(zhì)體、外切酶體及其他生物膠體
☆ 多糖、藥物制備
☆ 納米顆粒、聚合物膠乳、微乳液
☆ 油包水、水包油體系
☆ 涂料、顏料、油漆、油墨、調(diào)色劑
☆ 食品、化妝品配方
☆ 陶瓷、耐火材料、廢水處理、炭黑
ZetaPALS測定電泳遷移率 (單位 10 -8m2 /V·s)
樣品 | PALS 結(jié)果 | 文獻(xiàn)值 | 備注 |
NIST 1980 | 2.51 ± 0.11 | 2.53 ± 0.12 | 標(biāo)準(zhǔn)樣品電泳遷移率 |
Blood Cells | -1.081 ± 0.015 | -1.08 ± 0.02 | 分散于生理鹽水 |
Fe 2O3 | 0.013 ± 0.0015 | N.A. | 分散于十二烷 |
TiO2 | 0.255 ± 0.010 | N.A. | 分散于甲苯(非脫水) |
TiO2 | 0.155 ± 0.011 | N.A. | 分散于甲苯(脫水) |
TiO2 | -0.503 ± 0.0015 | N.A. | 分散于乙醇 |
Casein | -0.025 ± 0.002 | N.A. | 分散于PEG(粘性) |
SiO2 | -0.73 ± 0.04 | N.A. | 分散于 2.0 M KCl(高鹽濃度) |
應(yīng)用案例
不同粒徑對Zeta電位等電點(diǎn)的影響 不同官能團(tuán)配比對等電點(diǎn)的影響 Zeta電位值與細(xì)胞吸收度的關(guān)系
通過調(diào)整顆粒的粒徑或正負(fù)電荷官能團(tuán)的比例,混合電荷修飾的納米金顆粒其等電點(diǎn)可以在4~7之間明顯的變化,不同比例的官能團(tuán)和顆粒的靜電荷對動物細(xì)胞吸收度有著重大影響。(數(shù)據(jù)摘自JACS)
技術(shù)參數(shù)
適用粒度范圍:粒度:0.3nm~10μm(與折射率,濃度,散射角有關(guān));Zeta電位:1nm~100μm
樣品濃度范圍:0.1ppm至40%w/v(與顆粒大小和折射率有關(guān))
典型精度:粒度:1%;Zeta電位:3%
樣品類型:蛋白、納米粒子、聚合物及分散于水或其他溶劑中的膠體樣品
樣品體積:粒度:1~3ml,50μL微量樣品池,10μL微量樣品池(最新);Zeta電位:0.18~1.5 ml
分子量測定范圍:342~2×107Dalton
Zeta電位范圍:-500mV~500mV
電導(dǎo)率范圍:0~30S/m
電泳遷移率范圍:10-11 ~ 10-7 m2 /V.s
電場強(qiáng)度:0 ~ 60 kV/m
電極:永久性開放式電極,電極材料純鈀;耐腐蝕電極(選件);微量電極(選件)
溫控范圍與精度:-5℃~110℃,±0.1℃。
pH測量范圍:1-14
激光源:35mW光泵半導(dǎo)體激光器(可選5mW He-Ne激光器)
檢測器:高靈敏雪崩型二極管(APD)
相關(guān)器:4×522個(gè)物理通道,4×1011個(gè)線性通道,采用動態(tài)采樣時(shí)間及動態(tài)延遲時(shí)間分配
自動趨勢分析:對時(shí)間、溫度及其他參數(shù)
散射角:15°、90°與173°
室溫操作情況:10°C ~ 75°C,濕度 0% ~95%, 無冷凝
大小及重量:233mm (H) x 427 mm (W) x 481 mm (D),15 kg
電源:100/115/220/240 VAC, 50/60 Hz, 300 W
計(jì)算機(jī)(選件):商用計(jì)算機(jī),包括WindowTM軟件
自動滴定儀(選件):獨(dú)立四泵驅(qū)動,可對pH值、電導(dǎo)率和添加劑濃度作圖
30多年來,Microtrac 公司一直于激光散射技術(shù)在顆粒粒度分布中的應(yīng)用。作為行業(yè)的先鋒,早在1990年,納米顆粒分析儀器,NPA引入由于顆粒在懸浮體系中的布朗運(yùn)動而產(chǎn)生的能譜概念,利用背散射Back-scattered和異相多譜勒頻移Heterodyne Doppler Frequency Shifts技術(shù),結(jié)合動態(tài)光散射理論和的數(shù)學(xué)處理模型,取代傳統(tǒng)的光子相關(guān)光譜PCS,Photon Correlation Spectroscopy方法,將分析范圍為延伸至0.003-6.5µm。隨著技術(shù)的發(fā)展,Microtrac 公司不斷完善其麾下的專業(yè)顆粒分析儀器,快速分析高濃度的納米顆粒,生化材料及膠體體系成為現(xiàn)實(shí),成為眾多行業(yè)納米分析的參考儀器。 應(yīng)用領(lǐng)域: 有機(jī)聚和物和高分子研究,納米金屬和其他納米無機(jī)物,結(jié)晶分析,表面活性劑膠束大小,蛋白質(zhì),甾體,DNA,RNA,極稀濃度或不宜稀釋高濃度的樣品分析。
主要特點(diǎn)
﹡ 專利的異相多譜勒頻移Heterodyne Doppler Frequency Shifts技術(shù),比較傳統(tǒng)的多譜勒頻 移分析方法,獲得顆粒散射信號的強(qiáng)度高出幾個(gè)數(shù)量級,提高分析結(jié)果的性 ﹡ 專利的可控參比方法CRM, Controlled Reference Method,能精細(xì)分析多譜勒頻移產(chǎn)生的能 譜,確保分析的靈敏度 ﹡ 超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設(shè)計(jì),避免了多重散射現(xiàn)象,高濃度溶液中納米顆粒測 試的性 ﹡ 的“Y型”光纖光路系統(tǒng),精確聚焦藍(lán)寶石測量窗口,消除雜散光對檢測器的負(fù)面影響 ﹡ 專利的快速傅利葉變換算法FFT,F(xiàn)ast Fourier Transform Algorithm Method,迅速處理檢 測系統(tǒng)獲得的光譜,縮短分析時(shí)間 ﹡ 引進(jìn)“非球形”顆粒概念對米氏理論計(jì)算的校正因素,內(nèi)置常用分析物質(zhì)光學(xué)數(shù)據(jù)庫,提 高顆粒粒度分布測試的性 ﹡ 符合甚至部分超過ISO 13321 激光粒度分析國際標(biāo)準(zhǔn)-納米分析部分 ﹡ 符合甚至部分超過21 CFR PART 11 安全要求及FDA標(biāo)準(zhǔn)
技術(shù)參數(shù)
粒度范圍:0.8納米- 6.5微米 Zeta 電位測量:+/- 5mv 電泳遷移:+/- 0.4 μs/volt/cm 重復(fù)性:誤差小于1%(標(biāo)準(zhǔn)顆粒) 測量原理:動態(tài)光背散射技術(shù)及米氏理論 專利技術(shù):HDF,CRM,F(xiàn)FT,“Y”型光纖光路設(shè)計(jì),“非球形”顆粒校正選項(xiàng),微電場設(shè)計(jì)技術(shù) 檢測角度:180º 濃度范圍:0.1ppm – 40wt% 分析時(shí)間:30-120 秒 光源:3mW 780nm 半導(dǎo)體光纖 樣品體積:0.2ml 操作軟件:兼容Windows 98, 2000,NT, XP等 國際標(biāo)準(zhǔn):ISO 13321 環(huán)境溫度:10ºC to 35ºC 相對濕度:小于90%
LCD(液晶)顯示、采用高性能CPU芯片、高精度AD轉(zhuǎn)換技術(shù)和SMT貼片技術(shù),完成多參數(shù)測量、溫度補(bǔ)償、量程轉(zhuǎn)換、儀表精度高,重復(fù)性好。
技術(shù)參數(shù)
1. 測量范圍:-1999~+1999mV
2. 分辨率:1mV
3. 精確度:±1mV ,±0.03℃
4. 穩(wěn)定性:≤3mV/24h
5. ORP標(biāo)準(zhǔn)液:6.86 4.01
6. 控制范圍:-1999~+1999mV
7. 自動溫度補(bǔ)償:0~100℃(pH)
手動溫度補(bǔ)償:0~80℃(pH)
8. 信號輸出:4~20 mA 的隔離保護(hù)輸出
9. 通訊接口:RS485選配
10. 控制接口:ON/OFF繼電器輸出接點(diǎn)
11. 繼電器承受負(fù)載:最大交流240V 5A
最大交流115V 10A
12. 繼電器遲滯量:可自由調(diào)整
13. 電流輸出負(fù)載:允許最大負(fù)載為750W
14. 訊號輸入阻抗:≥1×1012Ω
15. 絕緣電阻: ≥20MW
16. 訊號輸入阻抗:≥3×1011W
17. 工作電壓:220V±22V、50Hz±0.5Hz
18.儀表尺寸:96(長)×96(寬)×115(深) mm
19.開孔尺寸:91×91mm
20.重量:0.6Kg
21.儀器的工作條件:
①環(huán)境溫度:(0 ~ 60)℃
②空氣相對濕度:≤90%
③除地球磁場外周圍無強(qiáng)磁場干擾