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它按照電位探頭原理操作：一個(gè)帶有四個(gè)彈簧式、鍍金觸針的探頭橫跨于工件裂紋處檢測。持續(xù)的交流電經(jīng)兩個(gè)探針進(jìn)入工件；另外兩個(gè)探頭測量電流通過裂紋底部后電壓的下降值。儀器的交流電利用趨膚效應(yīng)，即電流在導(dǎo)體表面流動，因此也就是沿著裂紋的輪廓。操作和測量值信息是由測量儀的微處理器控制，避免了由于錯(cuò)誤的、未接觸而導(dǎo)致的錯(cuò)誤測量和誤操作現(xiàn)象出現(xiàn)。

檢測報(bào)告可通過RS232串口線從小型打印機(jī)（可按附件提供）打印，也可使儀器同PC通信（通過STATWIN 2002軟件）。此PC須使用Windows操作系統(tǒng)，這樣不僅可以獲得測量值，而且可提供數(shù)據(jù)管理和圖表顯示。此外，也可新建檢測報(bào)告或其他文件。

敬請留意可以測量斜裂紋的版的RMG 4015。

如果使用交流電（AC），因趨膚效應(yīng)，電場和電力線就在表面以下區(qū)域通過。同時(shí)，電流密度增強(qiáng)。下面給出的穿透深度公式是根據(jù)頻率和材料特性得出的。

因?yàn)橼吥w效應(yīng)增加了橫跨裂紋的電壓下降值，與相關(guān)的傳統(tǒng)儀器相比減少了電極之間的電流路徑。因此可以使用小探頭提供高度和精度。即使材料是電的良導(dǎo)體，如高標(biāo)號鋼或鋁，都能測量。

裂紋深度內(nèi)的測量電壓轉(zhuǎn)換是由RMG 4015的微處理器控制的。出廠設(shè)置的校準(zhǔn)表正是出于此目的存儲在儀器中的。測量之前，將探頭放于工件無裂紋處，測量電壓與校準(zhǔn)表中的存儲值相比較。微處理器根據(jù)材料的特殊性來確定以后測量裂紋的確切深度。

測量由微處理器監(jiān)控。由于不充分探針的接觸而導(dǎo)致的誤操作、錯(cuò)誤的接觸或探頭的顫動是可以避免的。這樣，錯(cuò)誤的結(jié)果幾乎不可能發(fā)生。可以獲得的測量再線性性（+/- 0.1mm 100mm裂紋深度）。即使是低標(biāo)號鋼或無滲透（如奧氏體鋼）或高導(dǎo)電的非鐵性材料（如鋁或銅），都能獲得足夠的精度。

薄膜鍵盤是由按鍵組成，可以直接進(jìn)入儀器的基本測量功能。許多參數(shù)可以通過菜單鍵顯示。參數(shù)用清晰的語言顯示（英語或德語）。操作和傳統(tǒng)的壁厚、涂層厚度測量儀一樣簡單容易。

儀器的數(shù)據(jù)記錄器可以處理超過3850個(gè)測量結(jié)果，可以存儲超過300個(gè)獨(dú)立數(shù)據(jù)。內(nèi)置的實(shí)時(shí)時(shí)鐘自動記錄測量數(shù)據(jù)和測量時(shí)間。測量可通過系列界面打印出。相同的界面也允許與PC通信，通過WINDOWS操作系統(tǒng)的應(yīng)用程序程序“STATUS WINDOWS”。它不僅有傳輸功能，也能處理和圖表顯示測量值。除此之外，可以提供檢測報(bào)告和其他文檔。 下載 STATUS Windows信息頁和操作手冊 STATWIN 2002

采用電位探頭原理的裂紋深度測量，RMG 4015具有良好的穩(wěn)定性和簡便的測量方法。外形尺寸的減小，探頭的簡單操作，簡便易用的程序和低價(jià)格使得RMG 4015成為一個(gè)費(fèi)用低，簡單、穩(wěn)定的檢測儀器。它是磁粉探傷和滲透探傷的有益補(bǔ)充。推薦使用在價(jià)格較高或大型工件上，工件再加工和裂紋的增長都需用它控制。

技術(shù)數(shù)據(jù)摘要 測量對象: 電導(dǎo)體材料的表面裂紋的深度 測量原理: 電位探頭 尺寸: 83 X 151 X 35 mm 電源: 2 X 1.5 V 連續(xù)工作時(shí)間: 11.5小時(shí) 數(shù)據(jù)存儲: 處理3850個(gè)測量結(jié)果，存儲300個(gè)獨(dú)立數(shù)據(jù) 測量范圍: 0...99.9mm 測量波動: Fe: 13%, N-Fe: <25%, 鐵的重復(fù)性: +/- 0.1mm 串口線： RS232, 4800 波特 溫度條件: 測量在0-45度范圍內(nèi)，存儲在-20-60度范圍內(nèi)

新: 從現(xiàn)在起，所有的 RMG 4015 都免費(fèi)增加了多點(diǎn)材料校準(zhǔn)功能。這一新增功能使用戶通過簡單地制造可見裂紋的測試件，就可以得到單一材料特性曲線（通過精確測量，可存儲）。至今，這種“特性的曲線”只能在廠家被安裝于儀器中。從今往后，多點(diǎn)材料校準(zhǔn)功能可以對不尋常的電磁體的更的測量。根據(jù)要求，通過QM 的重復(fù)測試，舊儀器可以增加多點(diǎn)材料校準(zhǔn)功能。