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　　　　PG15激光平面干涉儀　　1、工作基于雙光束等厚干涉原理?！　?、根據(jù)近代光學(xué)的研究結(jié)果，光兼有波動與微粒兩重特性。光的干涉現(xiàn)象是光的波動性的特性?！　≈饕夹g(shù)參數(shù)：　　1、標準平面（A面），http://www.shxsyj.com 防爆應(yīng)急燈 防爆泛光燈 防爆無極燈 防爆投光燈不鍍膜。工作直徑：D1=Φ146mm，不平度小于0.02μm（λ/30）?！　?、第二標準平面（B面），不鍍膜。工作直徑：D2=Φ140mm，不平度小于0.03μm（λ/20）?！　?、準直系統(tǒng)：孔徑F/2.8，工作直徑：D1=Φ146mm，焦距：f=400mm　　4、測微目鏡：焦距f=16.7mm,放大倍數(shù)β=15X，視場角2w=40o，成像物鏡：I、D=4.5；П、D=7；Ш、D=10，f=16，f=23，f=37　　5、干涉室尺寸：深260*寬300*190mm。 http://www.ygsmc.com  玉米打捆機 玉米秸稈打捆機 打捆機價格 捆草機　　6、光源規(guī)格：激光ZN18（He-Ne）?！　?、儀器的外形尺寸：長*寬*高350*400*720mm。　　8、儀器重量：100公斤?！　?、防震性能好、有極好的條紋鎖定度、http://www.zhihe17.com 數(shù)字電橋 數(shù)字示波器 直流電子負載 函數(shù)信號發(fā)生器 視場清晰、生產(chǎn)場所可用性優(yōu)于市場同類產(chǎn)品，大容量的　　2、工作室為大批量生產(chǎn)企業(yè)的大鏡面檢測提供了方便?！　∈且环N采用量塊或標準零件借以高精度的比較方式的立式精密長度計量儀器。主要用于150mm以下塊規(guī)，亦可用作高精密度的長度和外徑的精密測量，是各級計量室的基本長度計量儀器之一。塑料開煉機 小型開煉機 BlueM 滾齒機 階梯電價智能電表 IC卡電表 桶裝生產(chǎn)線  ASCO電磁閥 石油低溫儀器 賽多利斯 耐寒電纜 

精密增力電動攪拌器 土壤采樣器 防腐型電磁流量計 拉壓力試驗機 射線探傷機 COD消解器 賀德克濾芯 鋁塑包裝機 土肥儀 自動儀表車床 專用車床 FESTO電磁閥 無線膠裝機 高低溫循環(huán)箱 SMC儲氣罐 西門子電動閥 西藥壓片機 去結(jié)皮高壓水槍 雙色壓片機 USP標準品 干燥混合設(shè)備

 廣東北創(chuàng)光電科技股份有限公司自 2009 年成立，經(jīng)過多年發(fā)展積累，公司現(xiàn)有一個全資子公司－－-佛山市聯(lián)儀光學(xué)及一個控股子公司－－-成都清儀科技有限公司。形成了覆蓋光學(xué)鏡頭、檢測儀器、光學(xué)鏡片、自動化設(shè)備等多領(lǐng)域研發(fā)生產(chǎn)的產(chǎn)業(yè)布局。在佛山擁有 6000多平米的光學(xué)鏡片加工生產(chǎn)基地及一個1000多平米的鏡頭組裝工廠，2014年公司正式進駐佛山智慧新城，購置了600平米的研發(fā)中心。目前公司具有中大口徑鏡片月產(chǎn)100萬片及光學(xué)鏡頭月產(chǎn)30萬顆的生產(chǎn)能力。

公司不斷追求創(chuàng)新，先后自主開發(fā)設(shè)計了多款光學(xué)鏡頭、光譜分析儀器及非接觸式厚度測量儀器，已經(jīng)廣泛應(yīng)在國內(nèi)外眾多的光學(xué)生產(chǎn)企業(yè)，并廣受好評。產(chǎn)品品質(zhì)及服務(wù)已經(jīng)趕超日本同類產(chǎn)品。北創(chuàng)光電現(xiàn)已經(jīng)成為經(jīng)國家認定的高新技術(shù)企業(yè)，我們的所有產(chǎn)品均為自主研發(fā)生產(chǎn)，擁有自主知識產(chǎn)權(quán)。公司在發(fā)展過程中，組建了強大的研發(fā)團隊，擁有多名光學(xué)、軟件、電子、機械等方面的優(yōu)秀人才和技術(shù)資源。我們將不斷創(chuàng)新，為廣大客戶提供一流的產(chǎn)品和服務(wù)。

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 北京飛凱曼科技公司提供高性價比FPS50型F-P掃描干涉儀。F-P掃描干涉儀是19世紀末法國物理學(xué)家發(fā)明的，是利用多光束干涉產(chǎn)生十分細銳的干涉條紋的重要光譜儀器。廣泛用于光譜線的精細結(jié)構(gòu)和超精細結(jié)構(gòu)的研究，以了解物質(zhì)的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。歷史上，科學(xué)家曾利用F-P干涉儀精確測定了里德伯常數(shù)；發(fā)現(xiàn)了蘭姆位移等。隨著科技的進步，其應(yīng)用范圍不斷擴大，現(xiàn)在F-P干涉在光學(xué)測量方面對位移測量的精度已進入納米量級。 

F-P掃描干涉儀是一種基于薄膜分振幅干涉原理實現(xiàn)不等強度多光束干涉的典型實驗裝置。它具有很高的分辨本領(lǐng)和集光本領(lǐng)，因此常用于分析光譜的超精細結(jié)構(gòu)，研究光的塞曼效應(yīng)和物質(zhì)的受激布里淵散射，精確比較測定光波波長和波長差，以及激光選模等項工作中。     

應(yīng)用相關(guān)理論對F-P干涉儀進行研究分析，分析研究它的色分辨本領(lǐng),及涉及的因素,對如何提高干涉儀的色分辨本領(lǐng)和改進干涉儀有廣泛的意義。

產(chǎn)品功能和特點：

1）     測試儀集成度高，免維護；

2）     適用于多種波長；

3）     多種精細常數(shù)可選；

4）     高性價比。

技術(shù)參數(shù)：

1）        干涉儀結(jié)構(gòu)：可調(diào)自由光譜區(qū)，平行平板結(jié)構(gòu)

2）        適用波長：473、532、632.8、680、850、980、1064、1310、1319nm等

3）        精細常數(shù)：50、100、200等

4）        掃描頻率：1-100Hz

5）        掃描波形：鋸齒波（0-200V）

應(yīng)用：

激光器的縱模觀察和測量

詳細信息請聯(lián)系我們： 134-26411645   @pcm-bj.com  QQ: