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SH-110 Ⅱ新加坡TESHERCK 2D錫膏厚度測試儀SH-110-II

 

    能:1.測量錫膏厚度:計算方形、不規(guī)則多邊形、圓形錫膏面積和體積。
         2.檢查幾何形狀、X軸間距、Y軸間距和兩線夾角,零件腳共平面度
         3.影像捕捉、處理;S.P.C分析、報表輸出
量測原理:非接觸激光測度儀由專用激光器產(chǎn)生線型光束,以一定的傾角投射到待測量目標上,由于待測與基板存在高度差,此時觀測到的目標和基板上的激光束相應出現(xiàn)斷續(xù)落差,根據(jù)三角函數(shù)關系可以用觀測到的落差計算出待測目標與周圍基板存在高度差,從而實現(xiàn)非接觸式的快速測量。
軟件介紹:1.視頻觀察、圖像保存、厚度測量、數(shù)據(jù)記錄、背景光、激光亮度控制、面積(方形、不規(guī)則多邊形、圓形)/體積/間距/(X軸、Y軸)/夾角測量,可記憶24條生產(chǎn)線任意數(shù)量產(chǎn)品
          2.根據(jù)的產(chǎn)品、生產(chǎn)線和日期范圍進行數(shù)據(jù)查詢、修改、刪除、導出(文本和Excel表格)、
打印,能統(tǒng)計平均值、最大值、最小值、方差、標準差、不良數(shù)、不良率、偏度、峰度、
Ca、Cp、Cpk、Pp、Ppk,并可繪制、預覽、打印X-BAR管制圖和R管制圖(其中的管制
參數(shù)可自行設定)
技術參數(shù):測量原理:非接觸式、0.005mm鐳射激光線   測量精度 ±0.002mm   重復測量精度:±0.004mm
         基座尺寸:324mm×320mm                 電磁式移動平臺尺寸:230mm×200mm
    光線放大倍率:30x 45x 60x 90x 110x(5檔可調)    照明系統(tǒng):環(huán)形LED無影光源(PC控制亮度調節(jié))
        測量光線:可低至5.0μm高精度激光束 測量軟件SH-110Ⅱ/HSPC2000(英簡繁Windows2000/XP)
    置:  SH-110Ⅱ主機壹臺         主機控制盒壹個             視頻捕捉卡壹個
操作說明書壹本           RS232傳輸線壹條           電源線壹條        鑷子壹把 
軟件光盤壹個            厚度、長度校正塊壹套       驅動U盤壹個

SH-110-2D新加坡TESHERCK 2D錫膏厚度測試儀SH-110-2D

 

    :1.測量錫膏厚度:計算方形、不規(guī)則多邊形、圓形錫膏面積和體積。
         2.檢查幾何形狀、X軸間距、Y軸間距和兩線夾角,零件腳共平面度
         3.影像捕捉、處理;S.P.C分析、報表輸出
量測原理:非接觸激光測度儀由專用激光器產(chǎn)生線型光束,以一定的傾角投射到待測量目標上,由于待測與基板存在高度差,此時觀測到的目標和基板上的激光束相應出現(xiàn)斷續(xù)落差,根據(jù)三角函數(shù)關系可以用觀測到的落差計算出待測目標與周圍基板存在高度差,從而實現(xiàn)非接觸式的快速測量。
軟件介紹:1.視頻觀察、圖像保存、厚度測量、數(shù)據(jù)記錄、背景光、激光亮度控制、面積(方形、不規(guī)則多邊形、圓形)/體積/間距/X軸、Y軸)/夾角測量,可記憶24條生產(chǎn)線任意數(shù)量產(chǎn)品
          2.根據(jù)的產(chǎn)品、生產(chǎn)線和日期范圍進行數(shù)據(jù)查詢、修改、刪除、導出(文本和Excel表格)、
打印,能統(tǒng)計平均值、最大值、最小值、方差、標準差、不良數(shù)、不良率、偏度、峰度、
Ca、CpCpk、PpPpk,并可繪制、預覽、打印X-BAR管制圖和R管制圖(其中的管制
參數(shù)可自行設定)
技術參數(shù):測量原理:非接觸式、激光束       測量精度:± 0.002mm       重復測量精度:0.008mm
基座尺寸:320mm×500mm       光線放大倍率: 251105檔可調              
照明系統(tǒng):環(huán)形LED光源(PC控制亮度   英簡繁Windows2000/X平臺平臺:固定的大理石平臺
    : 1.SH-110-2D主機壹臺;   2.校正規(guī)壹套3.軟件包壹個; 4.軟件光盤壹個;         5.SH-110-2D說明書壹本;    6.視頻采集卡:壹塊7.傳輸線壹條;   8.電源線壹條;
 

JT-20002D錫膏測厚儀 2D錫膏厚度測試儀

 2D錫膏測厚儀  2D錫膏厚度測試儀JT-2000 Jeatech

特征:

1.       非接觸式測量

2.       人性化操作,簡潔UI

3.       強大SPC分析功能

4.       完善品質管控

5.       高精度,高性價比

參數(shù):

型號規(guī)格:   JT-2000

測試原理:   非接觸式,激光束

測量精度:   0.001mm  

重復精度:   ±0.002mm

最大測量高度:   2mm

視野大小:   6.4mmx4.8mm

影像大。   2048x1536 (300萬數(shù)字相機)

輔助測量:    多邊形面積\線長\角度\體積

測量光源:   精密紅色激光線

照明光源:   亮度可調LED燈圈

工作平臺:   大理石(選項:可調PCB夾具)

平臺大小:    340mmX380mm

兼容系統(tǒng): Windows XP/Windows 7

外形尺寸: 560mm(L)X360mm(W)X368mm(H)

重量:   25kg

電源:   AC100-240V 50/60Hz

該公司產(chǎn)品分類: 3D掃描 溫度曲線跟蹤儀 無損測量儀 桌面式3d掃描儀3d打印 工業(yè)級3d掃描儀
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