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備有Compact eco，Compact 5，Mixx4，Mixx5PIN/RoHS等型號選擇，可測量各類金屬層、合金層厚度，附帶功能：合金成分分析，電鍍液成分分析，中文簡體、繁體、英文操作系統(tǒng)可測元素范圍： 鈦（Ti）—鈾（U）可測厚度范圍（原子序）：22-25，0.1-0.8um；26-40，0.05-35um；43-52，0.1-100um；72-82，0.05-5um自動測量功能：編程測量，自定測量修正測量功能：底材修正，已知樣品修正定性分析功能：光譜表示，光譜比較定量分析功能：合金成分分析數(shù)據(jù)統(tǒng)計功能：X管理圖，X-R管理圖，直方柱圖

備有Compact eco，Compact 5，Mixx4，Mixx5PIN/RoHS等型號選擇，可測量各類金屬層、合金層厚度，附帶功能：合金成分分析，電鍍液成分分析，中文簡體、繁體、英文操作系統(tǒng)可測元素范圍： 鈦（Ti）—鈾（U）可測厚度范圍（原子序）：22-25，0.1-0.8um；26-40，0.05-35um；43-52，0.1-100um；72-82，0.05-5um自動測量功能：編程測量，自定測量修正測量功能：底材修正，已知樣品修正定性分析功能：光譜表示，光譜比較定量分析功能：合金成分分析數(shù)據(jù)統(tǒng)計功能：X管理圖，X-R管理圖，直方柱圖

CMI900/950系列X射線熒光測厚儀 Advanced Materials Analysis Instrument CMI900/950系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領(lǐng)域，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供、快速的分析?；赪indows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版SmartLink FP應(yīng)用軟件包，實現(xiàn)了對CMI900/950主機的自動化控制，分析中不需要任何手動調(diào)整或手動參數(shù)設(shè)定。可同時測定最多5層、15種元素。數(shù)據(jù)統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求；如在分析報告中插入數(shù)據(jù)圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。統(tǒng)計功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。 CMI900/950系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀、各種尺寸的樣品；并且測量點最小可達0.025 x 0.051毫米。 CMI900系列采用開槽式樣品室，以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規(guī)格的樣品臺供用戶選用，分別為： l 標(biāo)準(zhǔn)樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。 l 擴展型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。 l 可調(diào)高度型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。 l 程控樣品臺：XYZ軸自動控制。 l 超寬程控樣品臺：XYZ軸自動控制。 CMI950系列采用開閉式樣品室，以方便測定各種形狀、各種規(guī)格的樣品。同樣，CMI950可提供四種規(guī)格的樣品臺供用戶選用，分別為： l 全程控樣品臺：XYZ三軸程序控制樣品臺，可接納的樣品最大高度為150mm，XY軸程控移動范圍為300mm x 300mm。此樣品臺可實現(xiàn)測定點自動編程控制。 l Z軸程控樣品臺：XY軸手動控制，Z軸自動控制，可接納的樣品最大高度為270mm。 l 全手動樣品臺：XYZ三軸手動控制，可接納的樣品最大高度為356mm。 l 可擴展式樣品臺用于接納超大尺寸樣品。 CMI900/950主要技術(shù)規(guī)格如下： No. 主要規(guī)格 規(guī)格描述 1 X射線激發(fā)系統(tǒng) 垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng) 空冷式微聚焦型X射線管，Be窗 標(biāo)準(zhǔn)靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等 功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標(biāo)準(zhǔn) 75W(4-50kV，0-1.5mA)－任選X射線管功率可編程控制 裝備有安全防射線光閘 2 濾光片程控交換系統(tǒng) 根據(jù)靶材，標(biāo)準(zhǔn)裝備有相應(yīng)的一次X射線濾光片系統(tǒng) 二次X射線濾光片：3個位置程控交換，Co、Ni、Fe、V等多種材質(zhì)、多種厚度的二次濾光片任選 位置傳感器保護裝置，防止樣品碰創(chuàng)探測器窗口 3 準(zhǔn)直器程控交換系統(tǒng) 最多可同時裝配6種規(guī)格的準(zhǔn)直器，程序交換控制 多種規(guī)格尺寸準(zhǔn)直器任選：－圓形，如4、6、8、12、20 mil等－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等 4 測量斑點尺寸 在12.7mm聚焦距離時，最小測量斑點尺寸為：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm準(zhǔn)直器) 在12.7mm聚焦距離時，最大測量斑點尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準(zhǔn)直器) 5 X射線探測系統(tǒng) 封氣正比計數(shù)器 裝備有峰漂移自動校正功能的高速信號處理電路 6 樣品室 CMI900 CMI950 －樣品室結(jié)構(gòu) 開槽式樣品室 開閉式樣品室 －最大樣品臺尺寸 610mm x 610mm 300mm x 300mm －XY軸程控移動范圍 標(biāo)準(zhǔn)：152.4 x 177.8mm任選：50.8mm x 152.4mm 50.4mm x 177.8mm 101.6 x 177.8mm 177.8 x 177.8mm 610mm x 610mm 300mm x 300mm －Z軸程控移動高度 43.18mm XYZ程控時，152.4mmXY軸手動時，269.2mm －XYZ三軸控制方式 多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制 －樣品觀察系統(tǒng) 高分辨、彩色、實時CCD觀察系統(tǒng)，標(biāo)準(zhǔn)放大倍數(shù)為30倍。50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選。 激光輔助光自動對焦功能 可變焦距控制功能和固定焦距控制功能 7 計算機系統(tǒng)配置 IBM計算機：1.6G奔騰IV處理器，256M內(nèi)存，1.44M軟驅(qū)，40G硬盤，CD-ROM，鼠標(biāo)，鍵盤，17寸彩顯，56K調(diào)制解調(diào)器?；萜栈驉燮丈噬珖娔蛴C。 8 分析應(yīng)用軟件 操作系統(tǒng)：Windows2000中文平臺中文分析軟件包：SmartLink FP軟件包 －測厚范圍 可測定厚度范圍：取決于您的具體應(yīng)用。請告訴牛津儀器您的具體應(yīng)用，我們將列表可測定的厚度范圍 －基本分析功能 無標(biāo)樣檢量線測厚，可采用一點或多點標(biāo)準(zhǔn)樣品自動進行基本參數(shù)方法校正。牛津儀器將根據(jù)您的應(yīng)用提供必要的校正用標(biāo)準(zhǔn)樣品。 樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量) 可檢測元素范圍：Ti22 – U92 可同時測定5層/15種元素/共存元素校正 組成分析時，可同時測定15種元素 多達4個樣品的光譜同時顯示和比較 元素光譜定性分析 －調(diào)整和校正功能 系統(tǒng)自動調(diào)整和校正功能：校正X射線管、探測器和電子線路的變化對分析結(jié)果的影響，自動消除系統(tǒng)漂移 譜峰計數(shù)時，峰漂移自動校正功能 譜峰死時間自動校正功能 譜峰脈沖堆積自動剔除功能 標(biāo)準(zhǔn)樣品和實測樣品間，密度校正功能 譜峰重疊剝離和峰形擬合計算 －測量自動化功能(要求XY程控機構(gòu)) 鼠標(biāo)激活測量模式：“Point and Shoot” 多點自動測量模式：隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復(fù)測量模式 測量位置預(yù)覽功能 激光對焦和自動對焦功能 －樣品臺程控功能(要求XY程控機構(gòu)) 設(shè)定測量點 One or Two Datumn (reference) Points on each file 測量位置預(yù)覽(圖表顯示)

CMI900系列X射線熒光測厚儀

客服熱線：深圳：0755-27195123  手機：13902929627

關(guān)鍵字：測厚儀，膜厚儀，涂層厚度，CMI 233測厚儀，電鍍測厚，CMI150測厚儀,X射線熒光測厚儀

品牌：OXFORD CMI(英國牛津)

簡介：

□適用范圍：CMI900系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等，涉及到其它儀器不能檢測的測試領(lǐng)域。

□服務(wù)優(yōu)勢：具有最多的服務(wù)網(wǎng)點和強大的技術(shù)支持

□測量精度：1%或±0.1μm依照參考標(biāo)準(zhǔn)片，分辨率：0.01mils(0.25μm)

□測量范圍：磁感應(yīng)0-120mils(0-3.05mm)；渦流0-60mils(0-1.52mm)

用途：廣泛應(yīng)用于噴涂電鍍等表層厚度的測量

  產(chǎn)品介紹  訂購編號：20709 CMI900 / 20710 CMI950

CMI900/950系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領(lǐng)域，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供、快速的分析?；赪indows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版SmartLink FP應(yīng)用軟件包，實現(xiàn)了對CMI900/950主機的自動化控制，分析中不需要任何手動調(diào)整或手動參數(shù)設(shè)定?？赏瑫r測定最多5層、15種元素。數(shù)據(jù)統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求；如在分析報告中插入數(shù)據(jù)圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。統(tǒng)計功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。

CMI900/950系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀、各種尺寸的樣品；并且測量點最小可達0.025 x 0.051毫米。

CMI900系列采用開槽式樣品室，以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規(guī)格的樣品臺供用戶選用，分別為：

● 標(biāo)準(zhǔn)樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。

● 擴展型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。

● 可調(diào)高度型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。

● 程控樣品臺：XYZ軸自動控制。

● 超寬程控樣品臺：XYZ軸自動控制。

CMI950系列采用開閉式樣品室，以方便測定各種形狀、各種規(guī)格的樣品。同樣，CMI950可提供四種規(guī)格的樣品臺供用戶選用，分別為：

● 全程控樣品臺：XYZ三軸程序控制樣品臺，可接納的樣品最大高度為150mm，XY軸程控移動范圍為300mm x 300mm。此樣品臺可實現(xiàn)測定點自動編程控制。

● Z軸程控樣品臺：XY軸手動控制，Z軸自動控制，可接納的樣品最大高度為270mm。

● 全手動樣品臺：XYZ三軸手動控制，可接納的樣品最大高度為356mm。

可擴展式樣品臺用于接納超大尺寸樣品。  ========================================天友利標(biāo)準(zhǔn)光源有限公司國際網(wǎng)站:http://www.tayole.com在線銷售:http://www.toyok.cn深圳：0755-27195123  手機：13902929627上海：021-64601150   北京：010-69291666蘇州：0512-82155192  杭州：0571-86726516

□適用范圍：CMI900系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等，涉及到其它儀器不能檢測的測試領(lǐng)域。 □服務(wù)優(yōu)勢：具有最多的服務(wù)網(wǎng)點和強大的技術(shù)支持 □測量精度：1%或±0.1μm依照參考標(biāo)準(zhǔn)片，分辨率：0.01mils(0.25μm) □測量范圍：磁感應(yīng)0-120mils(0-3.05mm)；渦流0-60mils(0-1.52mm) CMI900/950系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領(lǐng)域，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供、快速的分析。基于Windows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版SmartLink FP應(yīng)用軟件包，實現(xiàn)了對CMI900/950主機的自動化控制，分析中不需要任何手動調(diào)整或手動參數(shù)設(shè)定。可同時測定最多5層、15種元素。數(shù)據(jù)統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求；如在分析報告中插入數(shù)據(jù)圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。統(tǒng)計功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。 CMI900/950系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀、各種尺寸的樣品；并且測量點最小可達0.025 x 0.051毫米。 CMI900系列采用開槽式樣品室，以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規(guī)格的樣品臺供用戶選用，分別為： ● 標(biāo)準(zhǔn)樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。 ● 擴展型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。 ● 可調(diào)高度型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制.● 程控樣品臺：XYZ軸自動控制。 ● 超寬程控樣品臺：XYZ軸自動控制。 CMI950系列采用開閉式樣品室，以方便測定各種形狀、各種規(guī)格的樣品。同樣，CMI950可提供四種規(guī)格的樣品臺供用戶選用，分別為： ● 全程控樣品臺：XYZ三軸程序控制樣品臺，可接納的樣品最大高度為150mm，XY軸程控移動范圍為300mm x 300mm。此樣品臺可實現(xiàn)測定點自動編程控制。 ● Z軸程控樣品臺：XY軸手動控制，Z軸自動控制，可接納的樣品最大高度為270mm。 ● 全手動樣品臺：XYZ三軸手動控制，可接納的樣品最大高度為356mm。 可擴展式樣品臺用于接納超大尺寸樣品。

CMI900/950系列X射線熒光測厚儀 Advanced Materials Analysis Instrument CMI900/950系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領(lǐng)域，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供、快速的分析?；赪indows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版SmartLink FP應(yīng)用軟件包，實現(xiàn)了對CMI900/950主機的自動化控制，分析中不需要任何手動調(diào)整或手動參數(shù)設(shè)定?？赏瑫r測定最多5層、15種元素。數(shù)據(jù)統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求；如在分析報告中插入數(shù)據(jù)圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。統(tǒng)計功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。 CMI900/950系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀、各種尺寸的樣品；并且測量點最小可達0.025 x 0.051毫米。

品牌：OXFORD CMI(英國牛津) 簡介： □適用范圍：CMI900系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等，涉及到其它儀器不能檢測的測試領(lǐng)域。 □服務(wù)優(yōu)勢：具有最多的服務(wù)網(wǎng)點和強大的技術(shù)支持 □測量精度：1%或±0.1μm依照參考標(biāo)準(zhǔn)片，分辨率：0.01mils(0.25μm) □測量范圍：磁感應(yīng)0-120mils(0-3.05mm)；渦流0-60mils(0-1.52mm) 用途：廣泛應(yīng)用于噴涂電鍍等表層厚度的測量

產(chǎn) 品 介 紹

訂購編號：20709 CMI900 / 20710 CMI950 CMI900/950系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領(lǐng)域，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供、快速的分析。基于Windows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版SmartLink FP應(yīng)用軟件包，實現(xiàn)了對CMI900/950主機的自動化控制，分析中不需要任何手動調(diào)整或手動參數(shù)設(shè)定。可同時測定最多5層、15種元素。數(shù)據(jù)統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求；如在分析報告中插入數(shù)據(jù)圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。統(tǒng)計功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。 CMI900/950系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀、各種尺寸的樣品；并且測量點最小可達0.025 x 0.051毫米。 CMI900系列采用開槽式樣品室，以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規(guī)格的樣品臺供用戶選用，分別為： ● 標(biāo)準(zhǔn)樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。 ● 擴展型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。 ● 可調(diào)高度型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。 ● 程控樣品臺：XYZ軸自動控制。 ● 超寬程控樣品臺：XYZ軸自動控制。 CMI950系列采用開閉式樣品室，以方便測定各種形狀、各種規(guī)格的樣品。同樣，CMI950可提供四種規(guī)格的樣品臺供用戶選用，分別為： ● 全程控樣品臺：XYZ三軸程序控制樣品臺，可接納的樣品最大高度為150mm，XY軸程控移動范圍為300mm x 300mm。此樣品臺可實現(xiàn)測定點自動編程控制。 ● Z軸程控樣品臺：XY軸手動控制，Z軸自動控制，可接納的樣品最大高度為270mm。 ● 全手動樣品臺：XYZ三軸手動控制，可接納的樣品最大高度為356mm。 可擴展式樣品臺用于接納超大尺寸樣品。 CMI900/950主要技術(shù)規(guī)格如下： No. 主要規(guī)格 規(guī)格描述 1 X射線激發(fā)系統(tǒng) 垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng) 空冷式微聚焦型X射線管，Be窗 標(biāo)準(zhǔn)靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等 功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標(biāo)準(zhǔn)75W(4-50kV，0-1.5mA)－任選X射線管功率可編程控制 裝備有安全防射線光閘 2 濾光片程控交換系統(tǒng) 根據(jù)靶材，標(biāo)準(zhǔn)裝備有相應(yīng)的一次X射線濾光片系統(tǒng) 二次X射線濾光片：3個位置程控交換，Co、Ni、Fe、V等多種材質(zhì)、多種厚度的二次濾光片任選 位置傳感器保護裝置，防止樣品碰創(chuàng)探測器窗口 3 準(zhǔn)直器程控交換系統(tǒng) 最多可同時裝配6種規(guī)格的準(zhǔn)直器，程序交換控制 多種規(guī)格尺寸準(zhǔn)直器任選：－圓形，如4、6、8、12、20 mil等－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等 4 測量斑點尺寸 在12.7mm聚焦距離時，最小測量斑點尺寸為：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm準(zhǔn)直器) 在12.7mm聚焦距離時，最大測量斑點尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準(zhǔn)直器) 5 X射線探測系統(tǒng) 封氣正比計數(shù)器 裝備有峰漂移自動校正功能的高速信號處理電路 6 樣品室 CMI900 CMI950   －樣品室結(jié)構(gòu) 開槽式樣品室 開閉式樣品室 －最大樣品臺尺寸 610mm x 610mm 300mm x 300mm －XY軸程控移動范圍 標(biāo)準(zhǔn)：152.4 x 177.8mm任選：50.8mm x 152.4mm50.4mm x 177.8mm101.6 x 177.8mm177.8 x 177.8mm610mm x 610mm 300mm x 300mm －Z軸程控移動高度 43.18mm XYZ程控時，152.4mmXY軸手動時，269.2mm －XYZ三軸控制方式 多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制

德國ＣＯＭＰＡＣＴ品牌的測厚／元素分析儀，更配置有半導(dǎo)體電子冷卻檢測器，激光自動對焦．自動樣品臺使用．可測量各類金屬層，合金層厚度．同時可進行合金成分分析，電鍍液成分分析．可測量元素范圍：鈦（ＴＩ）－－鈾（Ｕ）可測量厚度范圍：原子序２２－２５，０.１－０.８ＵＭ．　　　　　　　　　　?。玻叮矗埃?０５－３５ＵＭ．　　　　　　　　　　　４３－５２，０.１－１００ＵＭ．　　　　　　　　　　?。罚玻福玻?０５－５ＵＭ

名稱： X-RAY熒光測厚儀 

型號： ECO (普通型）和ComPact5(經(jīng)濟型) 

廠家： 德國Roentgenanalytik公司 

特點： 無損

單、雙、三層鍍層的厚度測量 

容易對焦鍍層厚度和成分同時分析 /合金定量分析 十字叉絲帶點狀試樣指示器 

鍍液定量分析 

用能X射線轉(zhuǎn)換器使測量時間縮短 

現(xiàn)代化技術(shù)領(lǐng)先的軟件 

安全性高，使用壽命長 

用外部打印格式和數(shù)據(jù)儲存進行精密統(tǒng)計計算  

名稱： X-RAY熒光測厚儀 

型號： ECO (普通型）和ComPact5(經(jīng)濟型) 

廠家： 德國Roentgenanalytik公司 

特點： 無損

單、雙、三層鍍層的厚度測量 

容易對焦鍍層厚度和成分同時分析 /合金定量分析 十字叉絲帶點狀試樣指示器 

鍍液定量分析 

用能X射線轉(zhuǎn)換器使測量時間縮短 

現(xiàn)代化技術(shù)領(lǐng)先的軟件 

安全性高，使用壽命長 

用外部打印格式和數(shù)據(jù)儲存進行精密統(tǒng)計計算 

多層鍍層系統(tǒng)的厚度和成分分析 

軟件 

μ-MasteR 厚度測量值的評估軟件 

Fun-MasteR 非標(biāo)基本元素校準(zhǔn)軟件 

Element-MasteR 快速、簡便的定性分析軟件 

%-MasteR 可達8種元素的量化軟件 

LiQuiD-MasteR 電鍍液分析軟件 

Data-MasteR 數(shù)據(jù)處理軟件 

Report-MasteR 客戶化的報告軟件 

技術(shù)數(shù)據(jù) 

電源： 110伏或230伏 60赫茲或50赫茲 

樣件臺： 100mm（長)×85mm（高）×60mm（深） 

儀器尺寸： 450mm（長)×400mm（高）×650mm（深） 

式樣室： 60mm(長）×350mm（高）×380mm（深） 

X-射線管: 帶鎢陽極的高功率管(空冷) 

X-射線源: 40千伏，電流1毫安 

輻射安全: 配合測試標(biāo)準(zhǔn)AnlageII，Abs.3 經(jīng)PTB試驗

CMI900/950系列X射線熒光測厚儀

Advanced Materials Analysis Instrument

 

系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領(lǐng)域，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供、快速的分析。基于Windows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版SmartLink FP應(yīng)用軟件包，實現(xiàn)了對CMI900/950主機的自動化控制，分析中不需要任何手動調(diào)整或手動參數(shù)設(shè)定?？赏瑫r測定最多5層、15種元素。數(shù)據(jù)統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求；如在分析報告中插入數(shù)據(jù)圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。統(tǒng)計功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。

CMI900/950系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀、各種尺寸的樣品；并且測量點最小可達0.025 x 0.051毫米。

CMI900系列X射線熒光測厚儀采用開槽式樣品室，如左圖示，以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規(guī)格的樣品臺供用戶選用，分別為：

l標(biāo)準(zhǔn)樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。

l擴展型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。

l可調(diào)高度型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。

l程控樣品臺：XYZ軸自動控制。

l超寬程控樣品臺：XYZ軸自動控制。

CMI950系列X射線熒光測厚儀采用開閉式樣品室，以方便測定各種形狀、各種規(guī)格的樣品。如右下圖所示。同樣，CMI950可提供四種規(guī)格的樣品臺供用戶選用，分別為：

l全程控樣品臺：XYZ三軸程序控制樣品臺，可接納的樣品最大高度為150mm，XY軸程控移動范圍為300mm x 300mm。此樣品臺可實現(xiàn)測定點自動編程控制。

lZ軸程控樣品臺：XY軸手動控制，Z軸自動控制，可接納的樣品最大高度為270mm。

l全手動樣品臺：XYZ三軸手動控制，可接納的樣品最大高度為356mm。

l可擴展式樣品臺用于接納超大尺寸樣品。

品牌：OXFORD CMI（英國牛津） 簡介：CMI900X射線熒光測厚儀,歡迎您來電咨詢CMI900X射線熒光測厚儀的詳細信息!天津天巴儀器儀表銷售有限公司提供的CMI900X射線熒光測厚儀不僅具有國內(nèi)外領(lǐng)先的技術(shù)水平,更有良好的售后服務(wù)和的解決方案 □適用范圍：CMI900系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等，涉及到其它儀器不能檢測的測試領(lǐng)域。 □服務(wù)優(yōu)勢：具有最多的服務(wù)網(wǎng)點和強大的技術(shù)支持 □測量精度：1%或±0.1μm依照參考標(biāo)準(zhǔn)片，分辨率：0.01mils（0.25μm） □測量范圍：磁感應(yīng)0-120mils（0-3.05mm）；渦流0-60mils（0-1.52mm） 用途：廣泛應(yīng)用于噴涂電鍍等表層厚度的測量 品牌：OXFORD CMI（英國牛津） 簡介： □適用范圍：CMI900系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等，涉及到其它儀器不能檢測的測試領(lǐng)域。 □服務(wù)優(yōu)勢：具有最多的服務(wù)網(wǎng)點和強大的技術(shù)支持 □測量精度：1%或±0.1μm依照參考標(biāo)準(zhǔn)片，分辨率：0.01mils（0.25μm） □測量范圍：磁感應(yīng)0-120mils（0-3.05mm）；渦流0-60mils（0-1.52mm） 用途：廣泛應(yīng)用于噴涂電鍍等表層厚度的測量   產(chǎn) 品 介 紹   訂購編號：20709 CMI900 / 20710 CMI950 CMI900/950系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領(lǐng)域，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供、快速的分析?；赪indows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版SmartLink FP應(yīng)用軟件包，實現(xiàn)了對CMI900/950主機的自動化控制，分析中不需要任何手動調(diào)整或手動參數(shù)設(shè)定。可同時測定最多5層、15種元素。數(shù)據(jù)統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求；如在分析報告中插入數(shù)據(jù)圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。統(tǒng)計功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動范圍、相對偏差、UCL（控制上限）、LCL（控制下限）、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。   CMI900/950系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀、各種尺寸的樣品；并且測量點最小可達0.025 x 0.051毫米。   CMI900系列采用開槽式樣品室，以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規(guī)格的樣品臺供用戶選用，分別為：   ● 標(biāo)準(zhǔn)樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。 ● 擴展型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。 ● 可調(diào)高度型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。 ● 程控樣品臺：XYZ軸自動控制。 ● 超寬程控樣品臺：XYZ軸自動控制。   CMI950系列采用開閉式樣品室，以方便測定各種形狀、各種規(guī)格的樣品。同樣，CMI950可提供四種規(guī)格的樣品臺供用戶選用，分別為：   ● 全程控樣品臺：XYZ三軸程序控制樣品臺，可接納的樣品最大高度為150mm，XY軸程控移動范圍為300mm x 300mm。此樣品臺可實現(xiàn)測定點自動編程控制。 ● Z軸程控樣品臺：XY軸手動控制，Z軸自動控制，可接納的樣品最大高度為270mm。 ● 全手動樣品臺：XYZ三軸手動控制，可接納的樣品最大高度為356mm。 可擴展式樣品臺用于接納超大尺寸樣品 廣東正業(yè)科技有限公司http://www.zhengyee.com 聯(lián)系人：黎前華 電話：13712542526 http://www.hua.cpooo.com/product/2192094.html 廣東正業(yè)儀器儀表銷售有限公司專業(yè)供應(yīng)銷售CMI900X射線熒光測厚儀，歡迎您來電咨詢CMI900X射線熒光測厚儀的詳細信息！天津天巴儀器儀表銷售有限公司提供的CMI900X射線熒光測厚儀不僅具有國內(nèi)外領(lǐng)先的技術(shù)水平，更有良好的售后服務(wù)和的解決方案。供應(yīng)CMI900X射線熒光測厚儀，CMI900X射線熒光鍍層測厚儀，廣東CMI900X射線熒光測厚儀，