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Compact eco德國(guó)宏德X射線熒光測(cè)厚儀

備有Compact eco,Compact 5,Mixx4,Mixx5PIN/RoHS等型號(hào)選擇,可測(cè)量各類金屬層、合金層厚度,附帶功能:合金成分分析,電鍍液成分分析,中文簡(jiǎn)體、繁體、英文操作系統(tǒng)可測(cè)元素范圍: 鈦(Ti)—鈾(U)可測(cè)厚度范圍(原子序):22-25,0.1-0.8um;26-40,0.05-35um;43-52,0.1-100um;72-82,0.05-5um自動(dòng)測(cè)量功能:編程測(cè)量,自定測(cè)量修正測(cè)量功能:底材修正,已知樣品修正定性分析功能:光譜表示,光譜比較定量分析功能:合金成分分析數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)功能:X管理圖,X-R管理圖,直方柱圖

Compact eco德國(guó)宏德X射線熒光測(cè)厚儀

備有Compact eco,Compact 5,Mixx4,Mixx5PIN/RoHS等型號(hào)選擇,可測(cè)量各類金屬層、合金層厚度,附帶功能:合金成分分析,電鍍液成分分析,中文簡(jiǎn)體、繁體、英文操作系統(tǒng)可測(cè)元素范圍: 鈦(Ti)—鈾(U)可測(cè)厚度范圍(原子序):22-25,0.1-0.8um;26-40,0.05-35um;43-52,0.1-100um;72-82,0.05-5um自動(dòng)測(cè)量功能:編程測(cè)量,自定測(cè)量修正測(cè)量功能:底材修正,已知樣品修正定性分析功能:光譜表示,光譜比較定量分析功能:合金成分分析數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)功能:X管理圖,X-R管理圖,直方柱圖

CMI900/960X射線熒光測(cè)厚儀

CMI900/950系列X射線熒光測(cè)厚儀 Advanced Materials Analysis Instrument CMI900/950系列X射線熒光測(cè)厚儀是一種功能強(qiáng)大的材料涂/鍍層測(cè)量?jī)x器,可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測(cè)等領(lǐng)域,為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供、快速的分析。基于Windows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版SmartLink FP應(yīng)用軟件包,實(shí)現(xiàn)了對(duì)CMI900/950主機(jī)的自動(dòng)化控制,分析中不需要任何手動(dòng)調(diào)整或手動(dòng)參數(shù)設(shè)定?赏瑫r(shí)測(cè)定最多5層、15種元素。數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)報(bào)告功能允許用戶自定義多媒體分析報(bào)告格式,以滿足您特定的分析報(bào)告格式要求;如在分析報(bào)告中插入數(shù)據(jù)圖表、測(cè)定位置的圖象、CAD文件等。統(tǒng)計(jì)功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、相對(duì)偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。 CMI900/950系列X射線熒光測(cè)厚儀能夠測(cè)量多種幾何形狀、各種尺寸的樣品;并且測(cè)量點(diǎn)最小可達(dá)0.025 x 0.051毫米。 CMI900系列采用開槽式樣品室,以方便對(duì)大面積線路板樣品的測(cè)量。它可提供五種規(guī)格的樣品臺(tái)供用戶選用,分別為: l 標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái):XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制。 l 擴(kuò)展型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái):XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制。 l 可調(diào)高度型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái):XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制。 l 程控樣品臺(tái):XYZ軸自動(dòng)控制。 l 超寬程控樣品臺(tái):XYZ軸自動(dòng)控制。 CMI950系列采用開閉式樣品室,以方便測(cè)定各種形狀、各種規(guī)格的樣品。同樣,CMI950可提供四種規(guī)格的樣品臺(tái)供用戶選用,分別為: l 全程控樣品臺(tái):XYZ三軸程序控制樣品臺(tái),可接納的樣品最大高度為150mm,XY軸程控移動(dòng)范圍為300mm x 300mm。此樣品臺(tái)可實(shí)現(xiàn)測(cè)定點(diǎn)自動(dòng)編程控制。 l Z軸程控樣品臺(tái):XY軸手動(dòng)控制,Z軸自動(dòng)控制,可接納的樣品最大高度為270mm。 l 全手動(dòng)樣品臺(tái):XYZ三軸手動(dòng)控制,可接納的樣品最大高度為356mm。 l 可擴(kuò)展式樣品臺(tái)用于接納超大尺寸樣品。 CMI900/950主要技術(shù)規(guī)格如下: No. 主要規(guī)格 規(guī)格描述 1 X射線激發(fā)系統(tǒng) 垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng) 空冷式微聚焦型X射線管,Be窗 標(biāo)準(zhǔn)靶材:Rh靶;任選靶材:W、Mo、Ag等 功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-標(biāo)準(zhǔn) 75W(4-50kV,0-1.5mA)-任選X射線管功率可編程控制 裝備有安全防射線光閘 2 濾光片程控交換系統(tǒng) 根據(jù)靶材,標(biāo)準(zhǔn)裝備有相應(yīng)的一次X射線濾光片系統(tǒng) 二次X射線濾光片:3個(gè)位置程控交換,Co、Ni、Fe、V等多種材質(zhì)、多種厚度的二次濾光片任選 位置傳感器保護(hù)裝置,防止樣品碰創(chuàng)探測(cè)器窗口 3 準(zhǔn)直器程控交換系統(tǒng) 最多可同時(shí)裝配6種規(guī)格的準(zhǔn)直器,程序交換控制 多種規(guī)格尺寸準(zhǔn)直器任選:-圓形,如4、6、8、12、20 mil等-矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等 4 測(cè)量斑點(diǎn)尺寸 在12.7mm聚焦距離時(shí),最小測(cè)量斑點(diǎn)尺寸為:0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm準(zhǔn)直器) 在12.7mm聚焦距離時(shí),最大測(cè)量斑點(diǎn)尺寸為:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準(zhǔn)直器) 5 X射線探測(cè)系統(tǒng) 封氣正比計(jì)數(shù)器 裝備有峰漂移自動(dòng)校正功能的高速信號(hào)處理電路 6 樣品室 CMI900 CMI950 -樣品室結(jié)構(gòu) 開槽式樣品室 開閉式樣品室 -最大樣品臺(tái)尺寸 610mm x 610mm 300mm x 300mm -XY軸程控移動(dòng)范圍 標(biāo)準(zhǔn):152.4 x 177.8mm任選:50.8mm x 152.4mm 50.4mm x 177.8mm 101.6 x 177.8mm 177.8 x 177.8mm 610mm x 610mm 300mm x 300mm -Z軸程控移動(dòng)高度 43.18mm XYZ程控時(shí),152.4mmXY軸手動(dòng)時(shí),269.2mm -XYZ三軸控制方式 多種控制方式任選:XYZ三軸程序控制、XY軸手動(dòng)控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動(dòng)控制 -樣品觀察系統(tǒng) 高分辨、彩色、實(shí)時(shí)CCD觀察系統(tǒng),標(biāo)準(zhǔn)放大倍數(shù)為30倍。50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選。 激光輔助光自動(dòng)對(duì)焦功能 可變焦距控制功能和固定焦距控制功能 7 計(jì)算機(jī)系統(tǒng)配置 IBM計(jì)算機(jī):1.6G奔騰IV處理器,256M內(nèi)存,1.44M軟驅(qū),40G硬盤,CD-ROM,鼠標(biāo),鍵盤,17寸彩顯,56K調(diào)制解調(diào)器。惠普或愛普生彩色噴墨打印機(jī)。 8 分析應(yīng)用軟件 操作系統(tǒng):Windows2000中文平臺(tái)中文分析軟件包:SmartLink FP軟件包 -測(cè)厚范圍 可測(cè)定厚度范圍:取決于您的具體應(yīng)用。請(qǐng)告訴牛津儀器您的具體應(yīng)用,我們將列表可測(cè)定的厚度范圍 -基本分析功能 無標(biāo)樣檢量線測(cè)厚,可采用一點(diǎn)或多點(diǎn)標(biāo)準(zhǔn)樣品自動(dòng)進(jìn)行基本參數(shù)方法校正。牛津儀器將根據(jù)您的應(yīng)用提供必要的校正用標(biāo)準(zhǔn)樣品。 樣品種類:鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量) 可檢測(cè)元素范圍:Ti22 – U92 可同時(shí)測(cè)定5層/15種元素/共存元素校正 組成分析時(shí),可同時(shí)測(cè)定15種元素 多達(dá)4個(gè)樣品的光譜同時(shí)顯示和比較 元素光譜定性分析 -調(diào)整和校正功能 系統(tǒng)自動(dòng)調(diào)整和校正功能:校正X射線管、探測(cè)器和電子線路的變化對(duì)分析結(jié)果的影響,自動(dòng)消除系統(tǒng)漂移 譜峰計(jì)數(shù)時(shí),峰漂移自動(dòng)校正功能 譜峰死時(shí)間自動(dòng)校正功能 譜峰脈沖堆積自動(dòng)剔除功能 標(biāo)準(zhǔn)樣品和實(shí)測(cè)樣品間,密度校正功能 譜峰重疊剝離和峰形擬合計(jì)算 -測(cè)量自動(dòng)化功能(要求XY程控機(jī)構(gòu)) 鼠標(biāo)激活測(cè)量模式:“Point and Shoot” 多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)量模式:隨機(jī)模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復(fù)測(cè)量模式 測(cè)量位置預(yù)覽功能 激光對(duì)焦和自動(dòng)對(duì)焦功能 -樣品臺(tái)程控功能(要求XY程控機(jī)構(gòu)) 設(shè)定測(cè)量點(diǎn) One or Two Datumn (reference) Points on each file 測(cè)量位置預(yù)覽(圖表顯示)

CMI900系列X射線熒光測(cè)厚儀

CMI900系列X射線熒光測(cè)厚儀

客服熱線:深圳:0755-27195123  手機(jī):13902929627

關(guān)鍵字:測(cè)厚儀,膜厚儀,涂層厚度,CMI 233測(cè)厚儀,電鍍測(cè)厚,CMI150測(cè)厚儀,X射線熒光測(cè)厚儀

品牌:OXFORD CMI(英國(guó)牛津)

簡(jiǎn)介:

□適用范圍:CMI900系列X射線熒光測(cè)厚儀是一種功能強(qiáng)大的材料涂/鍍層測(cè)量?jī)x器,可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測(cè)等,涉及到其它儀器不能檢測(cè)的測(cè)試領(lǐng)域。

□服務(wù)優(yōu)勢(shì):具有最多的服務(wù)網(wǎng)點(diǎn)和強(qiáng)大的技術(shù)支持

□測(cè)量精度:1%或±0.1μm依照參考標(biāo)準(zhǔn)片,分辨率:0.01mils(0.25μm)

□測(cè)量范圍:磁感應(yīng)0-120mils(0-3.05mm);渦流0-60mils(0-1.52mm)

用途:廣泛應(yīng)用于噴涂電鍍等表層厚度的測(cè)量

  產(chǎn)品介紹  訂購(gòu)編號(hào):20709 CMI900 / 20710 CMI950

CMI900/950系列X射線熒光測(cè)厚儀是一種功能強(qiáng)大的材料涂/鍍層測(cè)量?jī)x器,可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測(cè)等領(lǐng)域,為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供、快速的分析;赪indows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版SmartLink FP應(yīng)用軟件包,實(shí)現(xiàn)了對(duì)CMI900/950主機(jī)的自動(dòng)化控制,分析中不需要任何手動(dòng)調(diào)整或手動(dòng)參數(shù)設(shè)定?赏瑫r(shí)測(cè)定最多5層、15種元素。數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)報(bào)告功能允許用戶自定義多媒體分析報(bào)告格式,以滿足您特定的分析報(bào)告格式要求;如在分析報(bào)告中插入數(shù)據(jù)圖表、測(cè)定位置的圖象、CAD文件等。統(tǒng)計(jì)功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、相對(duì)偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。

CMI900/950系列X射線熒光測(cè)厚儀能夠測(cè)量多種幾何形狀、各種尺寸的樣品;并且測(cè)量點(diǎn)最小可達(dá)0.025 x 0.051毫米。

CMI900系列采用開槽式樣品室,以方便對(duì)大面積線路板樣品的測(cè)量。它可提供五種規(guī)格的樣品臺(tái)供用戶選用,分別為:

● 標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái):XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制。

● 擴(kuò)展型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái):XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制。

● 可調(diào)高度型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái):XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制。

● 程控樣品臺(tái):XYZ軸自動(dòng)控制。

● 超寬程控樣品臺(tái):XYZ軸自動(dòng)控制。

CMI950系列采用開閉式樣品室,以方便測(cè)定各種形狀、各種規(guī)格的樣品。同樣,CMI950可提供四種規(guī)格的樣品臺(tái)供用戶選用,分別為:

● 全程控樣品臺(tái):XYZ三軸程序控制樣品臺(tái),可接納的樣品最大高度為150mm,XY軸程控移動(dòng)范圍為300mm x 300mm。此樣品臺(tái)可實(shí)現(xiàn)測(cè)定點(diǎn)自動(dòng)編程控制。

● Z軸程控樣品臺(tái):XY軸手動(dòng)控制,Z軸自動(dòng)控制,可接納的樣品最大高度為270mm。

● 全手動(dòng)樣品臺(tái):XYZ三軸手動(dòng)控制,可接納的樣品最大高度為356mm。

可擴(kuò)展式樣品臺(tái)用于接納超大尺寸樣品。  ========================================天友利標(biāo)準(zhǔn)光源有限公司國(guó)際網(wǎng)站:http://www.tayole.com在線銷售:http://www.toyok.cn深圳:0755-27195123  手機(jī):13902929627上海:021-64601150   北京:010-69291666蘇州:0512-82155192  杭州:0571-86726516

CMI900英國(guó)牛津X射線熒光測(cè)厚儀

□適用范圍:CMI900系列X射線熒光測(cè)厚儀是一種功能強(qiáng)大的材料涂/鍍層測(cè)量?jī)x器,可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測(cè)等,涉及到其它儀器不能檢測(cè)的測(cè)試領(lǐng)域。 □服務(wù)優(yōu)勢(shì):具有最多的服務(wù)網(wǎng)點(diǎn)和強(qiáng)大的技術(shù)支持 □測(cè)量精度:1%或±0.1μm依照參考標(biāo)準(zhǔn)片,分辨率:0.01mils(0.25μm) □測(cè)量范圍:磁感應(yīng)0-120mils(0-3.05mm);渦流0-60mils(0-1.52mm) CMI900/950系列X射線熒光測(cè)厚儀是一種功能強(qiáng)大的材料涂/鍍層測(cè)量?jī)x器,可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測(cè)等領(lǐng)域,為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供、快速的分析;赪indows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版SmartLink FP應(yīng)用軟件包,實(shí)現(xiàn)了對(duì)CMI900/950主機(jī)的自動(dòng)化控制,分析中不需要任何手動(dòng)調(diào)整或手動(dòng)參數(shù)設(shè)定。可同時(shí)測(cè)定最多5層、15種元素。數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)報(bào)告功能允許用戶自定義多媒體分析報(bào)告格式,以滿足您特定的分析報(bào)告格式要求;如在分析報(bào)告中插入數(shù)據(jù)圖表、測(cè)定位置的圖象、CAD文件等。統(tǒng)計(jì)功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、相對(duì)偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。 CMI900/950系列X射線熒光測(cè)厚儀能夠測(cè)量多種幾何形狀、各種尺寸的樣品;并且測(cè)量點(diǎn)最小可達(dá)0.025 x 0.051毫米。 CMI900系列采用開槽式樣品室,以方便對(duì)大面積線路板樣品的測(cè)量。它可提供五種規(guī)格的樣品臺(tái)供用戶選用,分別為: ● 標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái):XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制。 ● 擴(kuò)展型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái):XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制。 ● 可調(diào)高度型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái):XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制.● 程控樣品臺(tái):XYZ軸自動(dòng)控制。 ● 超寬程控樣品臺(tái):XYZ軸自動(dòng)控制。 CMI950系列采用開閉式樣品室,以方便測(cè)定各種形狀、各種規(guī)格的樣品。同樣,CMI950可提供四種規(guī)格的樣品臺(tái)供用戶選用,分別為: ● 全程控樣品臺(tái):XYZ三軸程序控制樣品臺(tái),可接納的樣品最大高度為150mm,XY軸程控移動(dòng)范圍為300mm x 300mm。此樣品臺(tái)可實(shí)現(xiàn)測(cè)定點(diǎn)自動(dòng)編程控制。 ● Z軸程控樣品臺(tái):XY軸手動(dòng)控制,Z軸自動(dòng)控制,可接納的樣品最大高度為270mm。 ● 全手動(dòng)樣品臺(tái):XYZ三軸手動(dòng)控制,可接納的樣品最大高度為356mm。 可擴(kuò)展式樣品臺(tái)用于接納超大尺寸樣品。

CMI900/950X射線熒光測(cè)厚儀

CMI900/950系列X射線熒光測(cè)厚儀 Advanced Materials Analysis Instrument CMI900/950系列X射線熒光測(cè)厚儀是一種功能強(qiáng)大的材料涂/鍍層測(cè)量?jī)x器,可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測(cè)等領(lǐng)域,為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供、快速的分析;赪indows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版SmartLink FP應(yīng)用軟件包,實(shí)現(xiàn)了對(duì)CMI900/950主機(jī)的自動(dòng)化控制,分析中不需要任何手動(dòng)調(diào)整或手動(dòng)參數(shù)設(shè)定?赏瑫r(shí)測(cè)定最多5層、15種元素。數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)報(bào)告功能允許用戶自定義多媒體分析報(bào)告格式,以滿足您特定的分析報(bào)告格式要求;如在分析報(bào)告中插入數(shù)據(jù)圖表、測(cè)定位置的圖象、CAD文件等。統(tǒng)計(jì)功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、相對(duì)偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。 CMI900/950系列X射線熒光測(cè)厚儀能夠測(cè)量多種幾何形狀、各種尺寸的樣品;并且測(cè)量點(diǎn)最小可達(dá)0.025 x 0.051毫米。

CMI900X射線熒光測(cè)厚儀

品牌:OXFORD CMI(英國(guó)牛津)

簡(jiǎn)介:

□適用范圍:CMI900系列X射線熒光測(cè)厚儀是一種功能強(qiáng)大的材料涂/鍍層測(cè)量?jī)x器,可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測(cè)等,涉及到其它儀器不能檢測(cè)的測(cè)試領(lǐng)域。

□服務(wù)優(yōu)勢(shì):具有最多的服務(wù)網(wǎng)點(diǎn)和強(qiáng)大的技術(shù)支持

□測(cè)量精度:1%或±0.1μm依照參考標(biāo)準(zhǔn)片,分辨率:0.01mils(0.25μm)

□測(cè)量范圍:磁感應(yīng)0-120mils(0-3.05mm);渦流0-60mils(0-1.52mm)

用途:廣泛應(yīng)用于噴涂電鍍等表層厚度的測(cè)量

產(chǎn) 品 介 紹 

訂購(gòu)編號(hào):20709 CMI900 / 20710 CMI950

CMI900/950系列X射線熒光測(cè)厚儀是一種功能強(qiáng)大的材料涂/鍍層測(cè)量?jī)x器,可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測(cè)等領(lǐng)域,為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供、快速的分析。基于Windows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版SmartLink FP應(yīng)用軟件包,實(shí)現(xiàn)了對(duì)CMI900/950主機(jī)的自動(dòng)化控制,分析中不需要任何手動(dòng)調(diào)整或手動(dòng)參數(shù)設(shè)定?赏瑫r(shí)測(cè)定最多5層、15種元素。數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)報(bào)告功能允許用戶自定義多媒體分析報(bào)告格式,以滿足您特定的分析報(bào)告格式要求;如在分析報(bào)告中插入數(shù)據(jù)圖表、測(cè)定位置的圖象、CAD文件等。統(tǒng)計(jì)功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、相對(duì)偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。

CMI900/950系列X射線熒光測(cè)厚儀能夠測(cè)量多種幾何形狀、各種尺寸的樣品;并且測(cè)量點(diǎn)最小可達(dá)0.025 x 0.051毫米。

CMI900系列采用開槽式樣品室,以方便對(duì)大面積線路板樣品的測(cè)量。它可提供五種規(guī)格的樣品臺(tái)供用戶選用,分別為:

● 標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái):XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制。

● 擴(kuò)展型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái):XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制。

● 可調(diào)高度型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái):XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制。

● 程控樣品臺(tái):XYZ軸自動(dòng)控制。

● 超寬程控樣品臺(tái):XYZ軸自動(dòng)控制。

CMI950系列采用開閉式樣品室,以方便測(cè)定各種形狀、各種規(guī)格的樣品。同樣,CMI950可提供四種規(guī)格的樣品臺(tái)供用戶選用,分別為:

● 全程控樣品臺(tái):XYZ三軸程序控制樣品臺(tái),可接納的樣品最大高度為150mm,XY軸程控移動(dòng)范圍為300mm x 300mm。此樣品臺(tái)可實(shí)現(xiàn)測(cè)定點(diǎn)自動(dòng)編程控制。

● Z軸程控樣品臺(tái):XY軸手動(dòng)控制,Z軸自動(dòng)控制,可接納的樣品最大高度為270mm。

● 全手動(dòng)樣品臺(tái):XYZ三軸手動(dòng)控制,可接納的樣品最大高度為356mm。

可擴(kuò)展式樣品臺(tái)用于接納超大尺寸樣品。

CMI900/950主要技術(shù)規(guī)格如下:

No.

主要規(guī)格

規(guī)格描述

1

X射線激發(fā)系統(tǒng)

垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng)

空冷式微聚焦型X射線管,Be窗

標(biāo)準(zhǔn)靶材:Rh靶;任選靶材:W、Mo、Ag等

功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-標(biāo)準(zhǔn)75W(4-50kV,0-1.5mA)-任選X射線管功率可編程控制

裝備有安全防射線光閘

2

濾光片程控交換系統(tǒng)

根據(jù)靶材,標(biāo)準(zhǔn)裝備有相應(yīng)的一次X射線濾光片系統(tǒng)

二次X射線濾光片:3個(gè)位置程控交換,Co、Ni、Fe、V等多種材質(zhì)、多種厚度的二次濾光片任選

位置傳感器保護(hù)裝置,防止樣品碰創(chuàng)探測(cè)器窗口

3

準(zhǔn)直器程控交換系統(tǒng)

最多可同時(shí)裝配6種規(guī)格的準(zhǔn)直器,程序交換控制

多種規(guī)格尺寸準(zhǔn)直器任選:-圓形,如4、6、8、12、20 mil等-矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等

4

測(cè)量斑點(diǎn)尺寸

在12.7mm聚焦距離時(shí),最小測(cè)量斑點(diǎn)尺寸為:0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm準(zhǔn)直器)

在12.7mm聚焦距離時(shí),最大測(cè)量斑點(diǎn)尺寸為:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準(zhǔn)直器)

5

X射線探測(cè)系統(tǒng)

封氣正比計(jì)數(shù)器

裝備有峰漂移自動(dòng)校正功能的高速信號(hào)處理電路

6

樣品室

CMI900

CMI950

 

-樣品室結(jié)構(gòu)

開槽式樣品室

開閉式樣品室

-最大樣品臺(tái)尺寸

610mm x 610mm

300mm x 300mm

-XY軸程控移動(dòng)范圍

標(biāo)準(zhǔn):152.4 x 177.8mm任選:50.8mm x 152.4mm50.4mm x 177.8mm101.6 x 177.8mm177.8 x 177.8mm610mm x 610mm

300mm x 300mm

-Z軸程控移動(dòng)高度

43.18mm

XYZ程控時(shí),152.4mmXY軸手動(dòng)時(shí),269.2mm

-XYZ三軸控制方式

多種控制方式任選:XYZ三軸程序控制、XY軸手動(dòng)控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動(dòng)控制

COMPACT5X射線熒光測(cè)厚儀/元素分析儀

德國(guó)COMPACT品牌的測(cè)厚/元素分析儀,更配置有半導(dǎo)體電子冷卻檢測(cè)器,激光自動(dòng)對(duì)焦.自動(dòng)樣品臺(tái)使用.可測(cè)量各類金屬層,合金層厚度.同時(shí)可進(jìn)行合金成分分析,電鍍液成分分析.可測(cè)量元素范圍:鈦(TI)--鈾(U)可測(cè)量厚度范圍:原子序22-25,0.1-0.8UM.           26-40,0.05-35UM.          。矗常担,0.1-100UM.          。罚玻福,0.05-5UM

名稱: X-RAY熒光測(cè)厚儀 

型號(hào): ECO (普通型)和ComPact5(經(jīng)濟(jì)型) 

廠家: 德國(guó)Roentgenanalytik公司 

特點(diǎn): 無損

單、雙、三層鍍層的厚度測(cè)量 

容易對(duì)焦鍍層厚度和成分同時(shí)分析 /合金定量分析 十字叉絲帶點(diǎn)狀試樣指示器 

鍍液定量分析 

用能X射線轉(zhuǎn)換器使測(cè)量時(shí)間縮短 

現(xiàn)代化技術(shù)領(lǐng)先的軟件 

安全性高,使用壽命長(zhǎng) 

用外部打印格式和數(shù)據(jù)儲(chǔ)存進(jìn)行精密統(tǒng)計(jì)計(jì)算  

名稱: X-RAY熒光測(cè)厚儀 

型號(hào): ECO (普通型)和ComPact5(經(jīng)濟(jì)型) 

廠家: 德國(guó)Roentgenanalytik公司 

特點(diǎn): 無損

單、雙、三層鍍層的厚度測(cè)量 

容易對(duì)焦鍍層厚度和成分同時(shí)分析 /合金定量分析 十字叉絲帶點(diǎn)狀試樣指示器 

鍍液定量分析 

用能X射線轉(zhuǎn)換器使測(cè)量時(shí)間縮短 

現(xiàn)代化技術(shù)領(lǐng)先的軟件 

安全性高,使用壽命長(zhǎng) 

用外部打印格式和數(shù)據(jù)儲(chǔ)存進(jìn)行精密統(tǒng)計(jì)計(jì)算 

多層鍍層系統(tǒng)的厚度和成分分析 

軟件 

μ-MasteR 厚度測(cè)量值的評(píng)估軟件 

Fun-MasteR 非標(biāo)基本元素校準(zhǔn)軟件 

Element-MasteR 快速、簡(jiǎn)便的定性分析軟件 

%-MasteR 可達(dá)8種元素的量化軟件 

LiQuiD-MasteR 電鍍液分析軟件 

Data-MasteR 數(shù)據(jù)處理軟件 

Report-MasteR 客戶化的報(bào)告軟件 

技術(shù)數(shù)據(jù) 

電源: 110伏或230伏 60赫茲或50赫茲 

樣件臺(tái): 100mm(長(zhǎng))×85mm(高)×60mm(深) 

儀器尺寸: 450mm(長(zhǎng))×400mm(高)×650mm(深) 

式樣室: 60mm(長(zhǎng))×350mm(高)×380mm(深) 

X-射線管: 帶鎢陽(yáng)極的高功率管(空冷) 

X-射線源: 40千伏,電流1毫安 

輻射安全: 配合測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)AnlageII,Abs.3 經(jīng)PTB試驗(yàn)

CMI900/950系列X射線熒光測(cè)厚儀

CMI900/950系列X射線熒光測(cè)厚儀

Advanced Materials Analysis Instrument

 

系列X射線熒光測(cè)厚儀是一種功能強(qiáng)大的材料涂/鍍層測(cè)量?jī)x器,可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測(cè)等領(lǐng)域,為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供、快速的分析;Windows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版SmartLink FP應(yīng)用軟件包,實(shí)現(xiàn)了對(duì)CMI900/950主機(jī)的自動(dòng)化控制,分析中不需要任何手動(dòng)調(diào)整或手動(dòng)參數(shù)設(shè)定?赏瑫r(shí)測(cè)定最多5層、15種元素。數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)報(bào)告功能允許用戶自定義多媒體分析報(bào)告格式,以滿足您特定的分析報(bào)告格式要求;如在分析報(bào)告中插入數(shù)據(jù)圖表、測(cè)定位置的圖象、CAD文件等。統(tǒng)計(jì)功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、相對(duì)偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。

CMI900/950系列X射線熒光測(cè)厚儀能夠測(cè)量多種幾何形狀、各種尺寸的樣品;并且測(cè)量點(diǎn)最小可達(dá)0.025 x 0.051毫米。

CMI900系列X射線熒光測(cè)厚儀采用開槽式樣品室,如左圖示,以方便對(duì)大面積線路板樣品的測(cè)量。它可提供五種規(guī)格的樣品臺(tái)供用戶選用,分別為:

l標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái):XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制。

l擴(kuò)展型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái):XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制。

l可調(diào)高度型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái):XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制。

l程控樣品臺(tái):XYZ軸自動(dòng)控制。

l超寬程控樣品臺(tái):XYZ軸自動(dòng)控制。

CMI950系列X射線熒光測(cè)厚儀采用開閉式樣品室,以方便測(cè)定各種形狀、各種規(guī)格的樣品。如右下圖所示。同樣,CMI950可提供四種規(guī)格的樣品臺(tái)供用戶選用,分別為:

l全程控樣品臺(tái):XYZ三軸程序控制樣品臺(tái),可接納的樣品最大高度為150mm,XY軸程控移動(dòng)范圍為300mm x 300mm。此樣品臺(tái)可實(shí)現(xiàn)測(cè)定點(diǎn)自動(dòng)編程控制。

lZ軸程控樣品臺(tái):XY軸手動(dòng)控制,Z軸自動(dòng)控制,可接納的樣品最大高度為270mm。

l全手動(dòng)樣品臺(tái):XYZ三軸手動(dòng)控制,可接納的樣品最大高度為356mm。

l可擴(kuò)展式樣品臺(tái)用于接納超大尺寸樣品。

cmi900CMI900X射線熒光測(cè)厚儀cmi900

 

品牌:OXFORD CMI(英國(guó)牛津)

簡(jiǎn)介:CMI900X射線熒光測(cè)厚儀,歡迎您來電咨詢CMI900X射線熒光測(cè)厚儀的詳細(xì)信息!天津天巴儀器儀表銷售有限公司提供的CMI900X射線熒光測(cè)厚儀不僅具有國(guó)內(nèi)外領(lǐng)先的技術(shù)水平,更有良好的售后服務(wù)和的解決方案

□適用范圍:CMI900系列X射線熒光測(cè)厚儀是一種功能強(qiáng)大的材料涂/鍍層測(cè)量?jī)x器,可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測(cè)等,涉及到其它儀器不能檢測(cè)的測(cè)試領(lǐng)域。

□服務(wù)優(yōu)勢(shì):具有最多的服務(wù)網(wǎng)點(diǎn)和強(qiáng)大的技術(shù)支持

□測(cè)量精度:1%或±0.1μm依照參考標(biāo)準(zhǔn)片,分辨率:0.01mils(0.25μm)

□測(cè)量范圍:磁感應(yīng)0-120mils(0-3.05mm);渦流0-60mils(0-1.52mm)

用途:廣泛應(yīng)用于噴涂電鍍等表層厚度的測(cè)量

 

品牌:OXFORD CMI(英國(guó)牛津)

簡(jiǎn)介:

□適用范圍:CMI900系列X射線熒光測(cè)厚儀是一種功能強(qiáng)大的材料涂/鍍層測(cè)量?jī)x器,可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測(cè)等,涉及到其它儀器不能檢測(cè)的測(cè)試領(lǐng)域。

□服務(wù)優(yōu)勢(shì):具有最多的服務(wù)網(wǎng)點(diǎn)和強(qiáng)大的技術(shù)支持

□測(cè)量精度:1%或±0.1μm依照參考標(biāo)準(zhǔn)片,分辨率:0.01mils(0.25μm)

□測(cè)量范圍:磁感應(yīng)0-120mils(0-3.05mm);渦流0-60mils(0-1.52mm)

用途:廣泛應(yīng)用于噴涂電鍍等表層厚度的測(cè)量

 

產(chǎn) 品 介 紹  

訂購(gòu)編號(hào):20709 CMI900 / 20710 CMI950

CMI900/950系列X射線熒光測(cè)厚儀是一種功能強(qiáng)大的材料涂/鍍層測(cè)量?jī)x器,可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測(cè)等領(lǐng)域,為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供、快速的分析;赪indows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版SmartLink FP應(yīng)用軟件包,實(shí)現(xiàn)了對(duì)CMI900/950主機(jī)的自動(dòng)化控制,分析中不需要任何手動(dòng)調(diào)整或手動(dòng)參數(shù)設(shè)定。可同時(shí)測(cè)定最多5層、15種元素。數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)報(bào)告功能允許用戶自定義多媒體分析報(bào)告格式,以滿足您特定的分析報(bào)告格式要求;如在分析報(bào)告中插入數(shù)據(jù)圖表、測(cè)定位置的圖象、CAD文件等。統(tǒng)計(jì)功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、相對(duì)偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。

 

CMI900/950系列X射線熒光測(cè)厚儀能夠測(cè)量多種幾何形狀、各種尺寸的樣品;并且測(cè)量點(diǎn)最小可達(dá)0.025 x 0.051毫米。

 

CMI900系列采用開槽式樣品室,以方便對(duì)大面積線路板樣品的測(cè)量。它可提供五種規(guī)格的樣品臺(tái)供用戶選用,分別為:

 

● 標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái):XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制。

● 擴(kuò)展型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái):XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制。

● 可調(diào)高度型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái):XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制。

● 程控樣品臺(tái):XYZ軸自動(dòng)控制。

● 超寬程控樣品臺(tái):XYZ軸自動(dòng)控制。

 

CMI950系列采用開閉式樣品室,以方便測(cè)定各種形狀、各種規(guī)格的樣品。同樣,CMI950可提供四種規(guī)格的樣品臺(tái)供用戶選用,分別為:

 

● 全程控樣品臺(tái):XYZ三軸程序控制樣品臺(tái),可接納的樣品最大高度為150mm,XY軸程控移動(dòng)范圍為300mm x 300mm。此樣品臺(tái)可實(shí)現(xiàn)測(cè)定點(diǎn)自動(dòng)編程控制。

● Z軸程控樣品臺(tái):XY軸手動(dòng)控制,Z軸自動(dòng)控制,可接納的樣品最大高度為270mm。

● 全手動(dòng)樣品臺(tái):XYZ三軸手動(dòng)控制,可接納的樣品最大高度為356mm。

可擴(kuò)展式樣品臺(tái)用于接納超大尺寸樣品

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廣東正業(yè)儀器儀表銷售有限公司專業(yè)供應(yīng)銷售CMI900X射線熒光測(cè)厚儀,歡迎您來電咨詢CMI900X射線熒光測(cè)厚儀的詳細(xì)信息!天津天巴儀器儀表銷售有限公司提供的CMI900X射線熒光測(cè)厚儀不僅具有國(guó)內(nèi)外領(lǐng)先的技術(shù)水平,更有良好的售后服務(wù)和的解決方案。供應(yīng)CMI900X射線熒光測(cè)厚儀,CMI900X射線熒光鍍層測(cè)厚儀,廣東CMI900X射線熒光測(cè)厚儀,

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