塑料薄膜和薄片測(cè)厚儀 TSY-35
一、塑料薄膜和薄片測(cè)厚儀簡(jiǎn)介
薄膜測(cè)厚儀適用于塑料薄膜、薄片的厚度測(cè)試，還可適用于紙張、紙板的厚度測(cè)試、箔片、硅片、金屬片的厚度測(cè)試、紡織材料的厚度測(cè)試、固體電絕緣體的厚度測(cè)試。
二、塑料薄膜和薄片測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)
1、分度值0.001mm量程0-1mm
2、上下測(cè)量面為平面時(shí)，測(cè)量面對(duì)試樣施加的負(fù)荷為0.5N到1.0N之間。
3、上下測(cè)量面為凸/平面時(shí)，上測(cè)量面的曲率半徑在15-50(mm)時(shí)，其測(cè)量面對(duì)試樣施加的負(fù)荷為0.1N-0.5N之間。
4、測(cè)量度
100μm以內(nèi) 度1μm
100μm到250μm度2μm
250μm以上 度3μm
三．塑料薄膜和薄片測(cè)厚儀使用方法：
1.測(cè)試先把千分表清零，并撥動(dòng)操縱桿試幾次回零后，再進(jìn)行測(cè)試。操作時(shí)輕抬輕放以免損壞測(cè)足及儀表。
2．用手指按下操縱桿使測(cè)足上抬，將被測(cè)物置于工作臺(tái)、測(cè)足之間。輕放操縱桿，此時(shí)表的讀數(shù)即被測(cè)物的厚度，
3.使用完畢后將儀器裝入盒內(nèi)并置于干燥處防止受潮。
一、塑料薄膜和薄片測(cè)厚儀簡(jiǎn)介
薄膜測(cè)厚儀適用于塑料薄膜、薄片的厚度測(cè)試，還可適用于紙張、紙板的厚度測(cè)試、箔片、硅片、金屬片的厚度測(cè)試、紡織材料的厚度測(cè)試、固體電絕緣體的厚度測(cè)試。
二、塑料薄膜和薄片測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)
1、分度值0.001mm量程0-1mm
2、上下測(cè)量面為平面時(shí)，測(cè)量面對(duì)試樣施加的負(fù)荷為0.5N到1.0N之間。
3、上下測(cè)量面為凸/平面時(shí)，上測(cè)量面的曲率半徑在15-50(mm)時(shí)，其測(cè)量面對(duì)試樣施加的負(fù)荷為0.1N-0.5N之間。
4、測(cè)量度
100μm以內(nèi) 度1μm
100μm到250μm度2μm
250μm以上 度3μm
三．塑料薄膜和薄片測(cè)厚儀使用方法：
1.測(cè)試先把千分表清零，并撥動(dòng)操縱桿試幾次回零后，再進(jìn)行測(cè)試。操作時(shí)輕抬輕放以免損壞測(cè)足及儀表。
2．用手指按下操縱桿使測(cè)足上抬，將被測(cè)物置于工作臺(tái)、測(cè)足之間。輕放操縱桿，此時(shí)表的讀數(shù)即被測(cè)物的厚度，
3.使用完畢后將儀器裝入盒內(nèi)并置于干燥處防止受潮。
一、塑料薄膜和薄片測(cè)厚儀簡(jiǎn)介
薄膜測(cè)厚儀適用于塑料薄膜、薄片的厚度測(cè)試，還可適用于紙張、紙板的厚度測(cè)試、箔片、硅片、金屬片的厚度測(cè)試、紡織材料的厚度測(cè)試、固體電絕緣體的厚度測(cè)試。
二、塑料薄膜和薄片測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)
1、分度值0.001mm量程0-1mm
2、上下測(cè)量面為平面時(shí)，測(cè)量面對(duì)試樣施加的負(fù)荷為0.5N到1.0N之間。
3、上下測(cè)量面為凸/平面時(shí)，上測(cè)量面的曲率半徑在15-50(mm)時(shí)，其測(cè)量面對(duì)試樣施加的負(fù)荷為0.1N-0.5N之間。
4、測(cè)量度
100μm以內(nèi) 度1μm
100μm到250μm度2μm
250μm以上 度3μm
三．塑料薄膜和薄片測(cè)厚儀使用方法：
1.測(cè)試先把千分表清零，并撥動(dòng)操縱桿試幾次回零后，再進(jìn)行測(cè)試。操作時(shí)輕抬輕放以免損壞測(cè)足及儀表。
2．用手指按下操縱桿使測(cè)足上抬，將被測(cè)物置于工作臺(tái)、測(cè)足之間。輕放操縱桿，此時(shí)表的讀數(shù)即被測(cè)物的厚度，
3.使用完畢后將儀器裝入盒內(nèi)并置于干燥處防止受潮。