－－ 可測(cè)試高溫的PCB銅箔
－－ 顯示單位可為mils，μm或oz
－－ 可用于銅箔的來(lái)料檢驗(yàn)
－－ 可用于蝕刻或整平后的銅厚定量測(cè)試
－－ 可用于電鍍銅后的面銅厚度測(cè)試
－－ 配有SRP-T1，帶有溫度補(bǔ)償功能的面銅測(cè)試頭
－－ 可用于蝕刻后線路上的面銅厚度測(cè)試
－－帶溫度補(bǔ)償功能
參數(shù)規(guī)格－－厚度測(cè)量范圍：化學(xué)銅：(0.25-12.7)μm,(0.01-0.5) mils－－電鍍銅：(2.0-254)μm, (0.1-10) mils
－－儀器再現(xiàn)性: 0.08 μm at 20 μm (0.003 mils at 0.79 mils)
CMI165面銅測(cè)厚儀可測(cè)試高溫的PCB銅箔- 顯示單位可為mils，μm或oz- 可用于銅箔的來(lái)料檢驗(yàn)- 可用于蝕刻或整平后的銅厚定量測(cè)試- 可用于電鍍銅后的面銅厚度測(cè)試- 配有SRP-T1，帶有溫度補(bǔ)償功能的面銅測(cè)試頭- 可用于蝕刻后線路上的面銅厚度測(cè)試 SRP-T1：CMI165專(zhuān)用可更換探針 CMI165面銅測(cè)厚儀探頭采用由牛津儀器工業(yè)分析部研發(fā)的SRP-T1探頭，綜合運(yùn)用微電阻原理及溫度補(bǔ)償技術(shù)，使其成為世界上推出帶溫度補(bǔ)償功能的銅箔測(cè)厚儀的制造商。
OXFORD牛津CMI165面銅測(cè)厚儀/銅厚測(cè)量?jī)x
CMI165是一款人性化設(shè)計(jì)、堅(jiān)固耐用的世界首款帶溫度補(bǔ)償功能的手持式銅箔測(cè)厚儀。一直以來(lái)，面銅測(cè)量的結(jié)果往往受到樣品溫度的影響。
CMI165的溫度補(bǔ)償功能解決了這個(gè)問(wèn)題，確保測(cè)量結(jié)果精確而不受銅箔溫度的影響。這款多用途的手持式測(cè)厚儀配有探針?lè)雷o(hù)罩，確保探針的耐用性，即使在惡劣的使用條件下也可以照常進(jìn)行檢測(cè)。
產(chǎn)品特色：
－－ 可測(cè)試高溫的PCB銅箔
－－ 顯示單位可為mils，μm或oz
－－ 可用于銅箔的來(lái)料檢驗(yàn)
－－ 可用于蝕刻或整平后的銅厚定量測(cè)試
－－ 可用于電鍍銅后的面銅厚度測(cè)試
－－ 配有SRP-T1，帶有溫度補(bǔ)償功能的面銅測(cè)試頭
－－ 可用于蝕刻后線路上的面銅厚度測(cè)試
產(chǎn)品規(guī)格：
－－利用微電阻原理通過(guò)四針式探頭進(jìn)行銅厚測(cè)量，符合EN 14571測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
－－厚度測(cè)量范圍：化學(xué)銅：（0.25-12.7）μm,（0.01-0.5） mils電鍍銅：（2.0-254）μm, （0.1-10） mils
－－儀器再現(xiàn)性: 0.08 μm at 20 μm （0.003 mils at 0.79 mils）
－－強(qiáng)大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析功能，包括數(shù)據(jù)記錄平均數(shù)、標(biāo)準(zhǔn)差和上下限提醒功能。
－－數(shù)據(jù)顯示單位可選擇mils、μm或oz
－－儀器的操作界面有英文和簡(jiǎn)體中文兩種語(yǔ)言供選擇
－－儀器無(wú)需特殊規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)片，同樣可實(shí)現(xiàn)蝕刻后的線型銅箔的厚度測(cè)量，可測(cè)線寬范圍低至0.2 mm
－－儀器可以?xún)?chǔ)存9690條檢測(cè)結(jié)果（測(cè)試日期時(shí)間可自行設(shè)定）
－－測(cè)試數(shù)據(jù)通過(guò)USB2.0實(shí)現(xiàn)高速傳輸，也可保存為Excel格式文件
－－儀器為工廠預(yù)校準(zhǔn)
－－客戶(hù)可根據(jù)不同應(yīng)用靈活設(shè)置儀器
－－用戶(hù)可選擇固定或連續(xù)測(cè)量模式
－－儀器使用普通AA電池供電
SRP-T1：CMI165專(zhuān)用可更換探針
牛津儀器工業(yè)分析部研發(fā)的SRP-T1探頭，綜合運(yùn)用微電阻原理及溫度補(bǔ)償技術(shù)，使其成為世界上首家推出帶溫度補(bǔ)償功能的銅箔測(cè)厚儀的制造商。