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CS-4030H廣東萬濠自動影像測量機，蘇州成像測量系統(tǒng)，有效行程400*300mm

CS-4030H廣東萬濠自動影像測量機，蘇州成像測量系統(tǒng)，有效行程400*300mm  

CS-4030H廣東萬濠自動影像測量機-用途：      CS-4030H廣東萬濠自動影像測量機適用于以二維為主的應用域，也能做三維輔助測量；在機械、模具、電子、儀表、五金、塑料，PCB板、手機配件、連接器、機械配件的大批量快速檢測。被廣泛應用。 自動影像測量儀屬于光學非接觸測量，與接觸式測量的坐標測量機相比，自動影像測量儀應用范圍的擴大，在某些范圍內(nèi)開始取代接觸式坐標測量機對電子零配件、精密模具、沖壓件、PCB板、螺紋、齒輪、成形刀具等工件進行精密測量，逐漸進入電子、機械、儀表、鐘表、輕工、軍工、航天航空等行業(yè)，以及高等院校、研究所、計量檢定部門的實驗室、計量室和生產(chǎn)車間，也可以對各種形狀復雜的平面工件進行輪廓和表面形狀的精密測量。

CS-4030H廣東萬濠自動影像測量機-特點：1. 整機體化設計2. X、Y軸伺服控制，定位精度高、速度快3. 主體材料結構采用花崗巖，儀器穩(wěn)定性更好4. 具有快速自動對焦、自動尋邊、自動測量功能5. 自主開發(fā)QMS3D軟件，功能強大，可滿足客戶不同測量需求6. SPC數(shù)據(jù)處理分析，大批量治具測量7. 程控恒流驅動式五環(huán)八區(qū)表面冷光光源，可適應復雜的工件測量

CS-4030H廣東萬濠自動影像測量機-規(guī)格參數(shù)：

參數(shù)/機型

CS-3020H

 CS-4030H
金屬臺尺寸（mm） 556*406 656*556
玻璃臺尺寸（mm）

350*250

 450*350
運動行程（mm） 300*200 400*300
儀器外形尺寸（mm） 910*1265*1820 1200*1700*1800
儀器重量（kg） 500 600

X、Y、Z軸數(shù)顯分辨力

0.5μm

X、Y示值誤差

E1XY=(3.5＋L/200)μm (其中L為被測長度）

Z軸升降行程（mm） 200
傳動形式 X、Y、Z軸均采用滾珠線桿傳動軸的形式
攝像機 1/2"CCD攝像機
變倍鏡頭 0.7—4.5X
視頻總倍率 23.5—148X
物方視場 11.1—1.7mm
電源 AC 100-240V 50/60Hz
功率 500W（不含計算機）

計算機

計算機（標配）
CS-4030H廣東萬濠自動影像測量機－－日常保養(yǎng)維護
測量注意事項
自動影像測量儀作為種精密測量儀器，如果維護及保養(yǎng)做得及時，就能延長機器的使用1命，并使精度得到保障、故障率降低。
使用環(huán)境
l 避振
如果影像測量儀受到額外的圍振動，測量精度將會降低。當頻率小于10Hz時，圍振動的振幅不應該超過2μm（峰-峰差值）；當頻率在10Hz到50Hz之間時，則加速度不應超過0.4Gal。如果振動超過這些限制，應該采用防振措施（例如安裝振動阻尼器）。
l 無塵
影像測量儀構成組件必須保證無灰塵。雖然防塵罩對影像測量儀有定的防護作用，但測量儀仍應定期清潔。
l 光照
影像測量儀不能放置在強光、或太陽直射的光照環(huán)境下，否則將會大影響測量儀的測量精度。
部件的保養(yǎng)
l 測量平臺
在裝卸工件時請?zhí)貏e小心玻璃平臺，有時測量平臺會附著水氣及油霧層，請使用清潔劑清除污垢。
l 機身外殼
不工作時，請以防塵罩覆蓋。旦機身外殼遭污染時，請以軟布擦拭。因為機身外殼遭污染時，雖然并不會直接影響測量精度，但污染仍可能擴散至線性滑軌或平臺等對測量精度有影響的機身其它部份。
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該公司產(chǎn)品分類： 干燥機 靜點測試儀 張力計 瑪芝哈克 韓國DONG-DO 亮度計 光澤度儀 大理石 扭力起子 插規(guī)，深度規(guī) 蔚儀試驗儀器 寶禾密儀器系列 意大利GIVIMISURE 顯微鏡 瑞士杰恩爾 常州首豐影像儀 各式千/百分表測頭 其他儀器儀表 污點規(guī)，點卡，對比測量 推拉力測試儀器

TESA VISIO 300 / 300 DCC手動/數(shù)控版成像測量系統(tǒng)

TESA VISIO 300 以及300 DCC手動/數(shù)控版成像測量系統(tǒng) 為擴充和增強現(xiàn)有光學測量系統(tǒng)產(chǎn)品線，瑞士TESA 推出的高精度產(chǎn)品線，包括采用創(chuàng)新技術的TESAVISIO300，具備三個型號，并配有300 x 200mm 的工作臺。 ★  手動光學測量系統(tǒng)配備TESA-VISTA 軟件，能夠完成各種不    同應用，并為不同水平的用戶使用。 ★  手動光學測量系統(tǒng)配備PC-DIMS 企業(yè)級計量軟件，使用該    軟件的光學測量功能，為用戶在兩維、三維領域提供了強    有力的非接觸測量工具。 ★  自動數(shù)控光學測量系統(tǒng)配備直流伺服電機。利用PC-DIMS     Vision 軟件，使得該機成為目前市場上性價比的光學    測量系統(tǒng)。 PC-DMIS Vision成像測量系統(tǒng)的新境界 PC-DMIS Vision 是Hexagon 計量產(chǎn)業(yè)集團的企業(yè)計量解決方案(EMS) 的重要組成部分，是一個具備強大視頻測量功能的計量軟件，便于使用和操作，并可利用CAD 模型在線和脫機完成零件檢測程序的編制。配合使用TESA VISIO 成像測量系統(tǒng)，PC-DMIS 將萬能工具顯微鏡和輪廓投影儀的功能合二為一。PC-DMIS 能夠實現(xiàn)對光強以及變焦實現(xiàn)自動控制，從而提高了工效，并具備了與其他高價位產(chǎn)品同等的精度。使用"自動識別特征"工具條，只需簡單的選取你所希望測量的特征并點擊實現(xiàn)程序的編制。具備高度智能化的PCDMIS軟件能夠實現(xiàn)對于所有圖像參數(shù)的設置，并根據(jù)不同的工件的差異進行偏差的搜索。其測量特征包括： ★  點-邊緣特征 ★  點-面特征 ★  線 -或圓弧 ★  槽-圓槽或方槽 ★  輪廓-開線或閉線 PC-DMIS 還可實現(xiàn)對一些特征的構造，包括那些三維特征的測量，如： ★  平面 ★  圓柱 ★  橢圓 ★  圓錐 ★  球體 PC-DMIS 的視頻測量技術通過一個簡單直觀的工具條實現(xiàn)控制。為使用者提供了各種測量時用到的過濾和邊緣強度控制的選擇，從而為整個測量過程提供了通用性。利用PCDMIS視頻檢測模塊，使用者不僅可以產(chǎn)生數(shù)控檢測程序，同時還可以實現(xiàn)多種CAD 格式的編程，或者是利用獨特的CAD 照相功能進行脫機編程。這樣，使得機器操作、使用效率以及投資回報率達到最大化。 主要特點： ★  完善的校準功能 ★  光學系統(tǒng)-變焦范圍 ★  照明系統(tǒng)-適用于任何類型(頂部/底部等等) ★  機械結構-對每個軸的偏斜補償 ★  計算機控制 ★  參數(shù)設置 ★  變焦 ★  光強弱 ★  對任何特征的隨時的快速編輯 ★  特征獨立于變焦 ★  完善的CAD 操作功能 ★  各種CAD 格式的輸出 ★  圖像可捕捉到文件-剪貼板和報告 ★  脫機編程，包括利用獨特的CAD 照相功能實現(xiàn)光強弱和變    焦操作 PC-DMIS Vision 使得用戶通過最小的投入獲得最    多的功能，并為成像測量系統(tǒng)增加新的境界。

TESA VISIO三坐標成像測量系統(tǒng)、三坐標測量機

TESA VISIO三坐標成像測量系統(tǒng)、三坐標測量機

簡單說明：TESA VISIO瑞士TESA三坐標成像測量系統(tǒng),三維影像測量儀，通過視頻成像系統(tǒng)完成非接觸測量，特別適合于彩色塑料件，注塑模具和絲膜,印刷等行業(yè)許多零件的測量要求，配有帶邊緣識別功能的TESA-TOUCH或PC-DMIS VISION測量軟件，具有微小尺寸及其位置的成像測量, 三坐標, 非接觸, RAD功能。  
 詳細說明
三坐標成像測量系統(tǒng)
TESA VISIO三坐標成像測量系統(tǒng)，通過視頻成像系統(tǒng)完成非接觸測量，特別適合于彩色塑料件，注塑模具和絲膜 印刷等行業(yè)許多零件的測量要求，配有帶邊緣識別功能的TESA-TOUCH或PC-DMIS VISION測量軟件，具有微小尺寸及其位置的成像測量, 三坐標, 非接觸, RAD功能。
三坐標成像測量系統(tǒng)主機 Machine     （訂貨號/ORAer No.: 06830200）
l         TESA Visio 300瑞士TESA三坐標成像測量系統(tǒng),三維影像測量儀一臺;
l         變焦鏡頭（0.7X~4.5X）一個;（貨號）06860048
l         測量軟件（TESAVISTA）一套;
l         表面環(huán)形光（48白色LEDS）貨號06860053

l         個人PC電腦一套

 

東莞三坐標測量機、國產(chǎn)三坐標測量機

該公司產(chǎn)品分類： 測量顯微鏡 讀數(shù)顯微鏡 熒光顯微鏡 偏光顯微鏡 體視顯微鏡 生物顯微鏡 金相顯微鏡 顯微鏡 測量投影儀 對刀儀 二次元測量儀 影像測量儀 齒輪測量儀 三維激光掃描儀 三次元測量機 三坐標測量機 三坐標測量儀 凸輪軸測量儀 圓柱度儀 輪廓儀

PMEye-3000光致發(fā)光光譜成像測量系統(tǒng)

PMEye-3000光致發(fā)光光譜成像（PL-Mapping）測量系統(tǒng)是卓立漢光研制的，用于LED外延片、半導體晶片、太陽能電池材料等，在生產(chǎn)線上的質量控制和實驗室中的產(chǎn)品研發(fā)檢測。該系統(tǒng)對樣品的PL譜進行Mapping二維掃描成像，掃描結果以3D方式進行顯示，使檢測結果更易于分析和比較。該系統(tǒng)的軟件窗口界面友好，操作簡單，只需簡單培訓就能使用。測試原理：PL（光致發(fā)光）是一種輻射復合效應。在一定波長光源的激發(fā)下，電子吸收激發(fā)光子的能量，向高能級躍遷而處于激發(fā)態(tài)。激發(fā)態(tài)是不穩(wěn)定的狀態(tài)，會以輻射復合的形式發(fā)射光子向低能級躍遷，這種被發(fā)射的光稱為熒光。熒光光譜代表了半導體材料內(nèi)部，一定的電子能級躍遷的機制，也反映了材料的性能及其缺陷。PL是一種用于提供半導體材料的電學、光學特性信息的光譜技術，可以研究帶隙、發(fā)光波長、結晶度和晶體結構以及缺陷信息等等。應用領域舉例：LED外延片，太陽能電池材料，半導體晶片，半導體薄膜材料等檢測與研究。
主要特點： ◆ PLMapping測量 ◆ 多種激光器可選 ◆ Mapping掃描速度：180點/秒 ◆ 空間分辨率：50um ◆ 光譜分辨率：0.1nm@1200g/mm ◆ Mapping結果以3D方式顯示 ◆ 最大8吋的樣品測量 ◆ 樣品精確定位 ◆ 樣品真空吸附 ◆ 可做低溫測量 ◆ 膜厚測量  
 
一體化設計，操作符合人體工學    PMEye3000 PL Mapping測量系統(tǒng)采用立式一體化設計，關鍵尺寸根據(jù)人體工學理論設計，不管是樣品的操作高度和電腦使用高度，都特別適合于人員操作。主機與操作平臺高度集成，方便于在實驗室和檢測車間里擺放。儀器側面設計有可收放平臺，可擺放液晶顯示器和鼠標鍵盤。儀器底部裝有滾輪，方便于儀器在不同場地之間的搬動。模塊化設計    PMEye-3000 PL Mapping測量系統(tǒng)采用模塊化設計思想，可根據(jù)用戶的樣品特點來選擇規(guī)格配置，讓用戶有更多的選擇余地。激發(fā)光源、樣品臺、光譜儀、探測器、數(shù)據(jù)采集設備都實現(xiàn)了模塊化設計。操作簡便、全電腦控制    PMEye-3000 PL Mapping測量系統(tǒng)，采用整機設計，用戶只需要根據(jù)需要放置檢測樣品，無需進行復雜的光路調(diào)整，操作簡便；所有控制操作均通過計算機來控制實現(xiàn)。    的樣品臺設計，采用真空吸附方式對樣品進行固定，避免了用傳統(tǒng)方式固定樣品而造成的損壞；可對常規(guī)尺寸的LED外延片樣品進行精確定位，提高測量重復精度。兩種測量方式,用途更廣泛    系統(tǒng)采用直流和交流兩種測量模式，直流模式用于常規(guī)檢測，交流模式用于微弱熒光檢測。監(jiān)控激發(fā)光源,校正測量結果    一般的PL測量系統(tǒng)只是測量熒光的波長和強度，而沒有對激發(fā)光源進行監(jiān)控，而激發(fā)光源的不穩(wěn)定性將會對PL測量結果造成影響。PMEye-3000 PL Mapping測量系統(tǒng)增加對激光強度的監(jiān)控，并根據(jù)監(jiān)控結果來對PL測量進行校正。這樣就可以消除激發(fā)光源的不穩(wěn)定帶來的測量誤差。激光器選配靈活    PMEye-3000 PL Mapping測量系統(tǒng)有多種高穩(wěn)定性的激光器可選，系統(tǒng)最多可內(nèi)置2個激光器和一個外接激光器，標配為1個405nm波長高穩(wěn)定激光器。用戶可以根據(jù)測量對象選配不同的激光器，使PL檢測更加。    可選配的激光器波長有： 405nm，442nm，532nm、785nm、808nm等，外置選配激光器波長為：325nm。自動Mapping功能    PMEye-3000 PL Mapping測量系統(tǒng)配置200×200mm的二維電控位移臺，最大可測量8英寸的樣品。用戶可以根據(jù)不同的樣品規(guī)格來設置掃描區(qū)域、掃描步長、掃描速度等，掃描速度可高達每秒180個點，空間分辨率可達50um。掃描結果以3D方式顯示，以不同的顏色來表示不同的熒光強度。
   
 
軟件功能豐富,操作簡便 我們具有多年的測量系統(tǒng)操作軟件開發(fā)經(jīng)驗，,熟悉試驗測量需求和用戶的操作習慣，從而使開發(fā)的這套PMEye-3000操作軟件功能強大且操作簡便。 MEye-3000操作軟件提供單點PL光譜測量及顯示，單波長的X-Y Mapping測量，給定光譜范圍的X-Y Mapping測量及根據(jù)測量數(shù)據(jù)進行峰值波長、峰值強度、半高寬、給定波長范圍的熒光強度計算并以Mapping顯示，Mapping結果以3D方式顯示。同時具有多種數(shù)據(jù)處理方式來對所測量的數(shù)據(jù)進行處理。  
低溫樣品室附件    該附件可實現(xiàn)樣品在低溫狀態(tài)下的熒光檢測。    有些樣品在不同的溫度條件下，將呈現(xiàn)不同的熒光效果，這時就需要對樣品進行低溫制冷。    如圖所示，從圖中我們可以發(fā)現(xiàn)在室溫時，GaN薄膜的發(fā)光波長幾乎涵蓋整個可見光范圍，且強度的峰出現(xiàn)在580nm附近，但整體而言其強度并不強；隨著溫度的降低，發(fā)光強度開始慢慢的增加，直到110K時，我們可以發(fā)現(xiàn)在350nm附近似乎有一個小峰開始出現(xiàn)，且當溫度越降越低，這個小峰強度的增加也越顯著，一直到溫25K時，基本上就只有一個熒光峰。GaN薄膜的禁帶寬度在室溫時為3.40Ev,換算成波長為365nm，而我們利用PL系統(tǒng)所測的GaN薄膜在25K時在356.6nm附近有一個峰值，因此如果我們將GaN薄膜的禁帶寬度隨溫度變化情況也考慮進去，則可以發(fā)現(xiàn)在理論上25K時GaN的禁帶寬度為3.48eV，即特征波長為357.1nm，非？拷鼘嶒炈玫356.6nm，因此我們可以推斷這個發(fā)光現(xiàn)象應該就是GaN薄膜的自發(fā)輻射。

 

        

     不同制冷溫度下GaN材料的PL譜圖
 
主要功能和技術參數(shù)
掃描模式 單點光譜掃描；單波長Mapping
攝譜模式 峰值波長Mapping；峰值強度Mapping；半高寬Mapping；給定波長范圍的熒光強度Mapping
膜厚測量 單點膜厚測量
光源 405nm激光（標配）；150W溴鎢燈
光譜儀 三光柵DSP掃描光譜儀
光譜儀焦距 300mm（標配） 500mm
光譜分辨率 0.1nm（1200g/mm光柵） 0.05nm（1200g/mm光柵）
倒線色散（nm/mm） 2.7（1200g/mm光柵） 5.4（600g/mm光柵） 10.8（300g/mm光柵） 1.7（1200g/mm光柵） 3.4（600g/mm光柵） 6.8（300g/mm光柵）
探測器 Si探測器，光譜響應范圍：200～1100nm （標配）
數(shù)據(jù)采集設備 帶前置放大器的數(shù)字采集器DCS300PA（標配）鎖相放大器SR830（選配）
二維位移平臺 行程200*200mm，重復定位精度<3μm
樣品臺 具有真空吸附功能對主流的2’’,3’’,4’’,5’’,6’’,8’’的晶片可進行精確定位
Mapping掃描速度 高達180點/秒
Mapping位移步長 最小可到1um
空間分辨率 50um
重復定位精度 <3um
 
可選擇探測器
探測器類型 光譜響應范圍
R1527光電倍增管 200～680nm
CR131光電倍增管 200～900nm
DSi300硅光電探測器 200～1100nm
DInGaAs1700常溫型銦鎵砷探測器 800～1700nm
DInGaAs1900制冷型銦鎵砷探測器 800～1900nm
DinGaAs2200制冷型銦鎵砷探測器 800～2200nm
DinGaAs2600制冷型銦鎵砷探測器 800～2600nm
  可選擇的內(nèi)置激光器：
波長 穩(wěn)定性 功率
355nm <10% 1～20mW
405nm <1% 1～300mW
442nm <1% 1～50mW
532nm <1% 1～450mW
561nm <1% 1～200mW
635nm <1% 1～500mW
785nm <1% 1～300mW
808nm <1% 1～500mW
可選擇的外置激光器：325nm HeCd激光器，功率有：10、15、20、、25、30、40、45、50、55、80、100mW等。
該公司產(chǎn)品分類： 門控相機/分幅相機 光電模組 半導體光學參數(shù)檢測 工業(yè)分析 電動直線滑臺 微弱信號處理器 光譜測量用探測器 光譜測量應用系統(tǒng) 光學元件系列產(chǎn)品 光學平臺系列產(chǎn)品 光學調(diào)整架系列產(chǎn)品 手動位移臺系列產(chǎn)品 電移臺系列產(chǎn)品 專用光源 光譜儀、光柵光譜儀、單色儀 高光譜成像儀/高光譜分析系統(tǒng) 拉曼光譜分析儀 熒光光譜分析儀（系統(tǒng)） 太陽能電池檢測儀器(系統(tǒng)） LED Tester, LED 分光機

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