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Compact eco德國宏德X射線熒光測厚儀

備有Compact eco,Compact 5,Mixx4,Mixx5PIN/RoHS等型號選擇,可測量各類金屬層、合金層厚度,附帶功能:合金成分分析,電鍍液成分分析,中文簡體、繁體、英文操作系統(tǒng)可測元素范圍: 鈦(Ti)—鈾(U)可測厚度范圍(原子序):22-25,0.1-0.8um;26-40,0.05-35um;43-52,0.1-100um;72-82,0.05-5um自動測量功能:編程測量,自定測量修正測量功能:底材修正,已知樣品修正定性分析功能:光譜表示,光譜比較定量分析功能:合金成分分析數(shù)據統(tǒng)計功能:X管理圖,X-R管理圖,直方柱圖

Compact eco德國宏德X射線熒光測厚儀

備有Compact eco,Compact 5,Mixx4,Mixx5PIN/RoHS等型號選擇,可測量各類金屬層、合金層厚度,附帶功能:合金成分分析,電鍍液成分分析,中文簡體、繁體、英文操作系統(tǒng)可測元素范圍: 鈦(Ti)—鈾(U)可測厚度范圍(原子序):22-25,0.1-0.8um;26-40,0.05-35um;43-52,0.1-100um;72-82,0.05-5um自動測量功能:編程測量,自定測量修正測量功能:底材修正,已知樣品修正定性分析功能:光譜表示,光譜比較定量分析功能:合金成分分析數(shù)據統(tǒng)計功能:X管理圖,X-R管理圖,直方柱圖

CMI900/960X射線熒光測厚儀

CMI900/950系列X射線熒光測厚儀 Advanced Materials Analysis Instrument CMI900/950系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器,可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域,為產品質量控制提供、快速的分析;赪indows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版SmartLink FP應用軟件包,實現(xiàn)了對CMI900/950主機的自動化控制,分析中不需要任何手動調整或手動參數(shù)設定?赏瑫r測定最多5層、15種元素。數(shù)據統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式,以滿足您特定的分析報告格式要求;如在分析報告中插入數(shù)據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。統(tǒng)計功能提供數(shù)據平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據分析模式。 CMI900/950系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀、各種尺寸的樣品;并且測量點最小可達0.025 x 0.051毫米。 CMI900系列采用開槽式樣品室,以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規(guī)格的樣品臺供用戶選用,分別為: l 標準樣品臺:XY軸手動控制、Z軸自動控制。 l 擴展型標準樣品臺:XY軸手動控制、Z軸自動控制。 l 可調高度型標準樣品臺:XY軸手動控制、Z軸自動控制。 l 程控樣品臺:XYZ軸自動控制。 l 超寬程控樣品臺:XYZ軸自動控制。 CMI950系列采用開閉式樣品室,以方便測定各種形狀、各種規(guī)格的樣品。同樣,CMI950可提供四種規(guī)格的樣品臺供用戶選用,分別為: l 全程控樣品臺:XYZ三軸程序控制樣品臺,可接納的樣品最大高度為150mm,XY軸程控移動范圍為300mm x 300mm。此樣品臺可實現(xiàn)測定點自動編程控制。 l Z軸程控樣品臺:XY軸手動控制,Z軸自動控制,可接納的樣品最大高度為270mm。 l 全手動樣品臺:XYZ三軸手動控制,可接納的樣品最大高度為356mm。 l 可擴展式樣品臺用于接納超大尺寸樣品。 CMI900/950主要技術規(guī)格如下: No. 主要規(guī)格 規(guī)格描述 1 X射線激發(fā)系統(tǒng) 垂直上照式X射線光學系統(tǒng) 空冷式微聚焦型X射線管,Be窗 標準靶材:Rh靶;任選靶材:W、Mo、Ag等 功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-標準 75W(4-50kV,0-1.5mA)-任選X射線管功率可編程控制 裝備有安全防射線光閘 2 濾光片程控交換系統(tǒng) 根據靶材,標準裝備有相應的一次X射線濾光片系統(tǒng) 二次X射線濾光片:3個位置程控交換,Co、Ni、Fe、V等多種材質、多種厚度的二次濾光片任選 位置傳感器保護裝置,防止樣品碰創(chuàng)探測器窗口 3 準直器程控交換系統(tǒng) 最多可同時裝配6種規(guī)格的準直器,程序交換控制 多種規(guī)格尺寸準直器任選:-圓形,如4、6、8、12、20 mil等-矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等 4 測量斑點尺寸 在12.7mm聚焦距離時,最小測量斑點尺寸為:0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm準直器) 在12.7mm聚焦距離時,最大測量斑點尺寸為:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準直器) 5 X射線探測系統(tǒng) 封氣正比計數(shù)器 裝備有峰漂移自動校正功能的高速信號處理電路 6 樣品室 CMI900 CMI950 -樣品室結構 開槽式樣品室 開閉式樣品室 -最大樣品臺尺寸 610mm x 610mm 300mm x 300mm -XY軸程控移動范圍 標準:152.4 x 177.8mm任選:50.8mm x 152.4mm 50.4mm x 177.8mm 101.6 x 177.8mm 177.8 x 177.8mm 610mm x 610mm 300mm x 300mm -Z軸程控移動高度 43.18mm XYZ程控時,152.4mmXY軸手動時,269.2mm -XYZ三軸控制方式 多種控制方式任選:XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制 -樣品觀察系統(tǒng) 高分辨、彩色、實時CCD觀察系統(tǒng),標準放大倍數(shù)為30倍。50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選。 激光輔助光自動對焦功能 可變焦距控制功能和固定焦距控制功能 7 計算機系統(tǒng)配置 IBM計算機:1.6G奔騰IV處理器,256M內存,1.44M軟驅,40G硬盤,CD-ROM,鼠標,鍵盤,17寸彩顯,56K調制解調器;萜栈驉燮丈噬珖娔蛴C。 8 分析應用軟件 操作系統(tǒng):Windows2000中文平臺中文分析軟件包:SmartLink FP軟件包 -測厚范圍 可測定厚度范圍:取決于您的具體應用。請告訴牛津儀器您的具體應用,我們將列表可測定的厚度范圍 -基本分析功能 無標樣檢量線測厚,可采用一點或多點標準樣品自動進行基本參數(shù)方法校正。牛津儀器將根據您的應用提供必要的校正用標準樣品。 樣品種類:鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量) 可檢測元素范圍:Ti22 – U92 可同時測定5層/15種元素/共存元素校正 組成分析時,可同時測定15種元素 多達4個樣品的光譜同時顯示和比較 元素光譜定性分析 -調整和校正功能 系統(tǒng)自動調整和校正功能:校正X射線管、探測器和電子線路的變化對分析結果的影響,自動消除系統(tǒng)漂移 譜峰計數(shù)時,峰漂移自動校正功能 譜峰死時間自動校正功能 譜峰脈沖堆積自動剔除功能 標準樣品和實測樣品間,密度校正功能 譜峰重疊剝離和峰形擬合計算 -測量自動化功能(要求XY程控機構) 鼠標激活測量模式:“Point and Shoot” 多點自動測量模式:隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復測量模式 測量位置預覽功能 激光對焦和自動對焦功能 -樣品臺程控功能(要求XY程控機構) 設定測量點 One or Two Datumn (reference) Points on each file 測量位置預覽(圖表顯示)

CMI900系列X射線熒光測厚儀

CMI900系列X射線熒光測厚儀

客服熱線:深圳:0755-27195123  手機:13902929627

關鍵字:測厚儀,膜厚儀,涂層厚度,CMI 233測厚儀,電鍍測厚,CMI150測厚儀,X射線熒光測厚儀

品牌:OXFORD CMI(英國牛津)

簡介:

□適用范圍:CMI900系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器,可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等,涉及到其它儀器不能檢測的測試領域。

□服務優(yōu)勢:具有最多的服務網點和強大的技術支持

□測量精度:1%或±0.1μm依照參考標準片,分辨率:0.01mils(0.25μm)

□測量范圍:磁感應0-120mils(0-3.05mm);渦流0-60mils(0-1.52mm)

用途:廣泛應用于噴涂電鍍等表層厚度的測量

  產品介紹  訂購編號:20709 CMI900 / 20710 CMI950

CMI900/950系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器,可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域,為產品質量控制提供、快速的分析;赪indows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版SmartLink FP應用軟件包,實現(xiàn)了對CMI900/950主機的自動化控制,分析中不需要任何手動調整或手動參數(shù)設定。可同時測定最多5層、15種元素。數(shù)據統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式,以滿足您特定的分析報告格式要求;如在分析報告中插入數(shù)據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。統(tǒng)計功能提供數(shù)據平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據分析模式。

CMI900/950系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀、各種尺寸的樣品;并且測量點最小可達0.025 x 0.051毫米。

CMI900系列采用開槽式樣品室,以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規(guī)格的樣品臺供用戶選用,分別為:

● 標準樣品臺:XY軸手動控制、Z軸自動控制。

● 擴展型標準樣品臺:XY軸手動控制、Z軸自動控制。

● 可調高度型標準樣品臺:XY軸手動控制、Z軸自動控制。

● 程控樣品臺:XYZ軸自動控制。

● 超寬程控樣品臺:XYZ軸自動控制。

CMI950系列采用開閉式樣品室,以方便測定各種形狀、各種規(guī)格的樣品。同樣,CMI950可提供四種規(guī)格的樣品臺供用戶選用,分別為:

● 全程控樣品臺:XYZ三軸程序控制樣品臺,可接納的樣品最大高度為150mm,XY軸程控移動范圍為300mm x 300mm。此樣品臺可實現(xiàn)測定點自動編程控制。

● Z軸程控樣品臺:XY軸手動控制,Z軸自動控制,可接納的樣品最大高度為270mm。

● 全手動樣品臺:XYZ三軸手動控制,可接納的樣品最大高度為356mm。

可擴展式樣品臺用于接納超大尺寸樣品。  ========================================天友利標準光源有限公司國際網站:http://www.tayole.com在線銷售:http://www.toyok.cn深圳:0755-27195123  手機:13902929627上海:021-64601150   北京:010-69291666蘇州:0512-82155192  杭州:0571-86726516

CMI900英國牛津X射線熒光測厚儀

□適用范圍:CMI900系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器,可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等,涉及到其它儀器不能檢測的測試領域。 □服務優(yōu)勢:具有最多的服務網點和強大的技術支持 □測量精度:1%或±0.1μm依照參考標準片,分辨率:0.01mils(0.25μm) □測量范圍:磁感應0-120mils(0-3.05mm);渦流0-60mils(0-1.52mm) CMI900/950系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器,可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域,為產品質量控制提供、快速的分析;赪indows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版SmartLink FP應用軟件包,實現(xiàn)了對CMI900/950主機的自動化控制,分析中不需要任何手動調整或手動參數(shù)設定?赏瑫r測定最多5層、15種元素。數(shù)據統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式,以滿足您特定的分析報告格式要求;如在分析報告中插入數(shù)據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。統(tǒng)計功能提供數(shù)據平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據分析模式。 CMI900/950系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀、各種尺寸的樣品;并且測量點最小可達0.025 x 0.051毫米。 CMI900系列采用開槽式樣品室,以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規(guī)格的樣品臺供用戶選用,分別為: ● 標準樣品臺:XY軸手動控制、Z軸自動控制。 ● 擴展型標準樣品臺:XY軸手動控制、Z軸自動控制。 ● 可調高度型標準樣品臺:XY軸手動控制、Z軸自動控制.● 程控樣品臺:XYZ軸自動控制。 ● 超寬程控樣品臺:XYZ軸自動控制。 CMI950系列采用開閉式樣品室,以方便測定各種形狀、各種規(guī)格的樣品。同樣,CMI950可提供四種規(guī)格的樣品臺供用戶選用,分別為: ● 全程控樣品臺:XYZ三軸程序控制樣品臺,可接納的樣品最大高度為150mm,XY軸程控移動范圍為300mm x 300mm。此樣品臺可實現(xiàn)測定點自動編程控制。 ● Z軸程控樣品臺:XY軸手動控制,Z軸自動控制,可接納的樣品最大高度為270mm。 ● 全手動樣品臺:XYZ三軸手動控制,可接納的樣品最大高度為356mm。 可擴展式樣品臺用于接納超大尺寸樣品。

CMI900/950X射線熒光測厚儀

CMI900/950系列X射線熒光測厚儀 Advanced Materials Analysis Instrument CMI900/950系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器,可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域,為產品質量控制提供、快速的分析;赪indows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版SmartLink FP應用軟件包,實現(xiàn)了對CMI900/950主機的自動化控制,分析中不需要任何手動調整或手動參數(shù)設定?赏瑫r測定最多5層、15種元素。數(shù)據統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式,以滿足您特定的分析報告格式要求;如在分析報告中插入數(shù)據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。統(tǒng)計功能提供數(shù)據平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據分析模式。 CMI900/950系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀、各種尺寸的樣品;并且測量點最小可達0.025 x 0.051毫米。

CMI900X射線熒光測厚儀

品牌:OXFORD CMI(英國牛津)

簡介:

□適用范圍:CMI900系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器,可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等,涉及到其它儀器不能檢測的測試領域。

□服務優(yōu)勢:具有最多的服務網點和強大的技術支持

□測量精度:1%或±0.1μm依照參考標準片,分辨率:0.01mils(0.25μm)

□測量范圍:磁感應0-120mils(0-3.05mm);渦流0-60mils(0-1.52mm)

用途:廣泛應用于噴涂電鍍等表層厚度的測量

產 品 介 紹 

訂購編號:20709 CMI900 / 20710 CMI950

CMI900/950系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器,可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域,為產品質量控制提供、快速的分析;赪indows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版SmartLink FP應用軟件包,實現(xiàn)了對CMI900/950主機的自動化控制,分析中不需要任何手動調整或手動參數(shù)設定。可同時測定最多5層、15種元素。數(shù)據統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式,以滿足您特定的分析報告格式要求;如在分析報告中插入數(shù)據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。統(tǒng)計功能提供數(shù)據平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據分析模式。

CMI900/950系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀、各種尺寸的樣品;并且測量點最小可達0.025 x 0.051毫米。

CMI900系列采用開槽式樣品室,以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規(guī)格的樣品臺供用戶選用,分別為:

● 標準樣品臺:XY軸手動控制、Z軸自動控制。

● 擴展型標準樣品臺:XY軸手動控制、Z軸自動控制。

● 可調高度型標準樣品臺:XY軸手動控制、Z軸自動控制。

● 程控樣品臺:XYZ軸自動控制。

● 超寬程控樣品臺:XYZ軸自動控制。

CMI950系列采用開閉式樣品室,以方便測定各種形狀、各種規(guī)格的樣品。同樣,CMI950可提供四種規(guī)格的樣品臺供用戶選用,分別為:

● 全程控樣品臺:XYZ三軸程序控制樣品臺,可接納的樣品最大高度為150mm,XY軸程控移動范圍為300mm x 300mm。此樣品臺可實現(xiàn)測定點自動編程控制。

● Z軸程控樣品臺:XY軸手動控制,Z軸自動控制,可接納的樣品最大高度為270mm。

● 全手動樣品臺:XYZ三軸手動控制,可接納的樣品最大高度為356mm。

可擴展式樣品臺用于接納超大尺寸樣品。

CMI900/950主要技術規(guī)格如下:

No.

主要規(guī)格

規(guī)格描述

1

X射線激發(fā)系統(tǒng)

垂直上照式X射線光學系統(tǒng)

空冷式微聚焦型X射線管,Be窗

標準靶材:Rh靶;任選靶材:W、Mo、Ag等

功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-標準75W(4-50kV,0-1.5mA)-任選X射線管功率可編程控制

裝備有安全防射線光閘

2

濾光片程控交換系統(tǒng)

根據靶材,標準裝備有相應的一次X射線濾光片系統(tǒng)

二次X射線濾光片:3個位置程控交換,Co、Ni、Fe、V等多種材質、多種厚度的二次濾光片任選

位置傳感器保護裝置,防止樣品碰創(chuàng)探測器窗口

3

準直器程控交換系統(tǒng)

最多可同時裝配6種規(guī)格的準直器,程序交換控制

多種規(guī)格尺寸準直器任選:-圓形,如4、6、8、12、20 mil等-矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等

4

測量斑點尺寸

在12.7mm聚焦距離時,最小測量斑點尺寸為:0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm準直器)

在12.7mm聚焦距離時,最大測量斑點尺寸為:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準直器)

5

X射線探測系統(tǒng)

封氣正比計數(shù)器

裝備有峰漂移自動校正功能的高速信號處理電路

6

樣品室

CMI900

CMI950

 

-樣品室結構

開槽式樣品室

開閉式樣品室

-最大樣品臺尺寸

610mm x 610mm

300mm x 300mm

-XY軸程控移動范圍

標準:152.4 x 177.8mm任選:50.8mm x 152.4mm50.4mm x 177.8mm101.6 x 177.8mm177.8 x 177.8mm610mm x 610mm

300mm x 300mm

-Z軸程控移動高度

43.18mm

XYZ程控時,152.4mmXY軸手動時,269.2mm

-XYZ三軸控制方式

多種控制方式任選:XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制

COMPACT5X射線熒光測厚儀/元素分析儀

德國COMPACT品牌的測厚/元素分析儀,更配置有半導體電子冷卻檢測器,激光自動對焦.自動樣品臺使用.可測量各類金屬層,合金層厚度.同時可進行合金成分分析,電鍍液成分分析.可測量元素范圍:鈦(TI)--鈾(U)可測量厚度范圍:原子序22-25,0.1-0.8UM.          。玻叮矗,0.05-35UM.           43-52,0.1-100UM.           72-82,0.05-5UM

名稱: X-RAY熒光測厚儀 

型號: ECO (普通型)和ComPact5(經濟型) 

廠家: 德國Roentgenanalytik公司 

特點: 無損

單、雙、三層鍍層的厚度測量 

容易對焦鍍層厚度和成分同時分析 /合金定量分析 十字叉絲帶點狀試樣指示器 

鍍液定量分析 

用能X射線轉換器使測量時間縮短 

現(xiàn)代化技術領先的軟件 

安全性高,使用壽命長 

用外部打印格式和數(shù)據儲存進行精密統(tǒng)計計算  

名稱: X-RAY熒光測厚儀 

型號: ECO (普通型)和ComPact5(經濟型) 

廠家: 德國Roentgenanalytik公司 

特點: 無損

單、雙、三層鍍層的厚度測量 

容易對焦鍍層厚度和成分同時分析 /合金定量分析 十字叉絲帶點狀試樣指示器 

鍍液定量分析 

用能X射線轉換器使測量時間縮短 

現(xiàn)代化技術領先的軟件 

安全性高,使用壽命長 

用外部打印格式和數(shù)據儲存進行精密統(tǒng)計計算 

多層鍍層系統(tǒng)的厚度和成分分析 

軟件 

μ-MasteR 厚度測量值的評估軟件 

Fun-MasteR 非標基本元素校準軟件 

Element-MasteR 快速、簡便的定性分析軟件 

%-MasteR 可達8種元素的量化軟件 

LiQuiD-MasteR 電鍍液分析軟件 

Data-MasteR 數(shù)據處理軟件 

Report-MasteR 客戶化的報告軟件 

技術數(shù)據 

電源: 110伏或230伏 60赫茲或50赫茲 

樣件臺: 100mm(長)×85mm(高)×60mm(深) 

儀器尺寸: 450mm(長)×400mm(高)×650mm(深) 

式樣室: 60mm(長)×350mm(高)×380mm(深) 

X-射線管: 帶鎢陽極的高功率管(空冷) 

X-射線源: 40千伏,電流1毫安 

輻射安全: 配合測試標準AnlageII,Abs.3 經PTB試驗

CMI900/950系列X射線熒光測厚儀

CMI900/950系列X射線熒光測厚儀

Advanced Materials Analysis Instrument

 

系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器,可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域,為產品質量控制提供、快速的分析;Windows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版SmartLink FP應用軟件包,實現(xiàn)了對CMI900/950主機的自動化控制,分析中不需要任何手動調整或手動參數(shù)設定?赏瑫r測定最多5層、15種元素。數(shù)據統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式,以滿足您特定的分析報告格式要求;如在分析報告中插入數(shù)據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。統(tǒng)計功能提供數(shù)據平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據分析模式。

CMI900/950系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀、各種尺寸的樣品;并且測量點最小可達0.025 x 0.051毫米。

CMI900系列X射線熒光測厚儀采用開槽式樣品室,如左圖示,以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規(guī)格的樣品臺供用戶選用,分別為:

l標準樣品臺:XY軸手動控制、Z軸自動控制。

l擴展型標準樣品臺:XY軸手動控制、Z軸自動控制。

l可調高度型標準樣品臺:XY軸手動控制、Z軸自動控制。

l程控樣品臺:XYZ軸自動控制。

l超寬程控樣品臺:XYZ軸自動控制。

CMI950系列X射線熒光測厚儀采用開閉式樣品室,以方便測定各種形狀、各種規(guī)格的樣品。如右下圖所示。同樣,CMI950可提供四種規(guī)格的樣品臺供用戶選用,分別為:

l全程控樣品臺:XYZ三軸程序控制樣品臺,可接納的樣品最大高度為150mm,XY軸程控移動范圍為300mm x 300mm。此樣品臺可實現(xiàn)測定點自動編程控制。

lZ軸程控樣品臺:XY軸手動控制,Z軸自動控制,可接納的樣品最大高度為270mm。

l全手動樣品臺:XYZ三軸手動控制,可接納的樣品最大高度為356mm。

l可擴展式樣品臺用于接納超大尺寸樣品。

cmi900CMI900X射線熒光測厚儀cmi900

 

品牌:OXFORD CMI(英國牛津)

簡介:CMI900X射線熒光測厚儀,歡迎您來電咨詢CMI900X射線熒光測厚儀的詳細信息!天津天巴儀器儀表銷售有限公司提供的CMI900X射線熒光測厚儀不僅具有國內外領先的技術水平,更有良好的售后服務和的解決方案

□適用范圍:CMI900系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器,可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等,涉及到其它儀器不能檢測的測試領域。

□服務優(yōu)勢:具有最多的服務網點和強大的技術支持

□測量精度:1%或±0.1μm依照參考標準片,分辨率:0.01mils(0.25μm)

□測量范圍:磁感應0-120mils(0-3.05mm);渦流0-60mils(0-1.52mm)

用途:廣泛應用于噴涂電鍍等表層厚度的測量

 

品牌:OXFORD CMI(英國牛津)

簡介:

□適用范圍:CMI900系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器,可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等,涉及到其它儀器不能檢測的測試領域。

□服務優(yōu)勢:具有最多的服務網點和強大的技術支持

□測量精度:1%或±0.1μm依照參考標準片,分辨率:0.01mils(0.25μm)

□測量范圍:磁感應0-120mils(0-3.05mm);渦流0-60mils(0-1.52mm)

用途:廣泛應用于噴涂電鍍等表層厚度的測量

 

產 品 介 紹  

訂購編號:20709 CMI900 / 20710 CMI950

CMI900/950系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器,可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域,為產品質量控制提供、快速的分析;赪indows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版SmartLink FP應用軟件包,實現(xiàn)了對CMI900/950主機的自動化控制,分析中不需要任何手動調整或手動參數(shù)設定。可同時測定最多5層、15種元素。數(shù)據統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式,以滿足您特定的分析報告格式要求;如在分析報告中插入數(shù)據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。統(tǒng)計功能提供數(shù)據平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據分析模式。

 

CMI900/950系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀、各種尺寸的樣品;并且測量點最小可達0.025 x 0.051毫米。

 

CMI900系列采用開槽式樣品室,以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規(guī)格的樣品臺供用戶選用,分別為:

 

● 標準樣品臺:XY軸手動控制、Z軸自動控制。

● 擴展型標準樣品臺:XY軸手動控制、Z軸自動控制。

● 可調高度型標準樣品臺:XY軸手動控制、Z軸自動控制。

● 程控樣品臺:XYZ軸自動控制。

● 超寬程控樣品臺:XYZ軸自動控制。

 

CMI950系列采用開閉式樣品室,以方便測定各種形狀、各種規(guī)格的樣品。同樣,CMI950可提供四種規(guī)格的樣品臺供用戶選用,分別為:

 

● 全程控樣品臺:XYZ三軸程序控制樣品臺,可接納的樣品最大高度為150mm,XY軸程控移動范圍為300mm x 300mm。此樣品臺可實現(xiàn)測定點自動編程控制。

● Z軸程控樣品臺:XY軸手動控制,Z軸自動控制,可接納的樣品最大高度為270mm。

● 全手動樣品臺:XYZ三軸手動控制,可接納的樣品最大高度為356mm。

可擴展式樣品臺用于接納超大尺寸樣品

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聯(lián)系人:黎前華

電話:13712542526

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