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Compact ecoX-射線熒光測厚儀

Compact eco X-射線熒光分析測厚儀

Compact eco X-射線熒光分析測厚儀能提供一般鍍層厚度和元素分析功能,不單性能,而且價錢超值.,分析鍍層厚度和元素成色同時進行,只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到的測量結果,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任. 輕巧的樣品室,適合不同大小的樣品,功能實用,性高,是五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的. 備有Compact eco , Compact 5 , Mixx4 , Mixx5等型號選擇，可測量各類金屬層、合金層厚度，附帶功能：合金成份分析，電鍍液成份分析，中文簡體、繁體、英文操作系統(tǒng)。Compact eco X-射線熒光分析測厚儀可測元素范圍：鈦(Ti) – 鈾(U)Compact eco X-射線熒光分析測厚儀可測量厚度范圍：原子序22-25，0.1-0.8μm26-40，0.05-35μm43-52，0.1-100μm72-82，0.05-5μm

Compact eco X-射線熒光分析測厚儀

自動測量功能：編程測量，自定測量修正測量功能：底材修正，已知樣品修正定性分析功能：光譜表示，光譜比較定量分析功能：合金成份分析數(shù)據(jù)統(tǒng)計功能：x管理圖，x-R管理圖，直方柱圖。Compact eco X-射線熒光分析測厚儀綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析鍍層分析:可分析三層厚度,獨有的FP分析軟件,真正做到無厚度標準片亦能進行測量(需要配合純材料),為您大大節(jié)省購買標準片的成本.超越其他品牌的所謂FP軟件.鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對方式,無需購買標準藥液.定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.光譜對比功能:可將樣品的光譜和標準件的光譜進行對比,可確定樣品與標準件的差別,從而控制來料的純度.統(tǒng)計功能:能夠將測量結果進行系統(tǒng)分析統(tǒng)計,方便的控制品質.多年來，我們一直于為PCB 廠商，電鍍行業(yè)，科研機構，半導體生產(chǎn)等電子行業(yè)提供高性能的儀器和的售后服務。讓客戶滿意，為客戶創(chuàng)造最大的價值是我們始終追求的目標，因為我們堅信，客戶的需要就是我們前進的動力。愿我們成為真誠的合作伙伴、共同描繪雙方的發(fā)展藍圖！

CMI900CMI900鍍層測厚儀及X射線熒光測厚儀

X射線熒光測厚儀CMI900

CMI900鍍層測厚儀及X射線熒光測厚儀CMI900介紹

CMI900X射線熒光鍍層測厚儀，有著非破壞，非接觸，多層合金測量，高生產(chǎn)力，高再現(xiàn)性等優(yōu)點，在質量管理到不良品分析有著廣泛的應用。用于電子元器件，半導體，PCB，汽車零部件，功能性電鍍，裝飾件，連接器等多個行業(yè)。

CMI900鍍層測厚儀及X射線熒光測厚儀CMI900主要特點

樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量) 可檢測元素范圍：Ti22 – U92 可同時測定5層/15種元素 精度高、穩(wěn)定性好 強大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計、處理功能 測量范圍寬 NIST認證的標準片 全球服務及支持

CMI900鍍層測厚儀及X射線熒光測厚儀CMI900技術參數(shù)

主要規(guī)格 規(guī)格描述 X射線激發(fā)系統(tǒng) 垂直上照式X射線光學系統(tǒng) 空冷式微聚焦型X射線管，Be窗 標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等 功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標準 75W(4-50kV，0-1.5mA)－任選 裝備有安全防射線光閘 二次X射線濾光片：3個位置程控交換，多種材質、多種厚度的二次濾光片任選 準直器程控交換系統(tǒng) 最多可同時裝配6種規(guī)格的準直器 多種規(guī)格尺寸準直器任選： －圓形，如4、6、8、12、20 mil等 －矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等 測量斑點尺寸 在12.7mm聚焦距離時，最小測量斑點尺寸為：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm準直器) 在12.7mm聚焦距離時，最大測量斑點尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準直器) 樣品室 CMI900 CMI950 －樣品室結構 開槽式樣品室 開閉式樣品室 －最大樣品臺尺寸 610mm x 610mm 300mm x 300mm －XY軸程控移動范圍 標準：152.4 x 177.8mm 還有5種規(guī)格任選 300mm x 300mm －Z軸程控移動高度 43.18mm XYZ程控時，152.4mm XY軸手動時，269.2mm －XYZ三軸控制方式 多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制 －樣品觀察系統(tǒng) 高分辨彩色CCD觀察系統(tǒng)，標準放大倍數(shù)為30倍。50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選。 激光自動對焦功能 可變焦距控制功能和固定焦距控制功能 計算機系統(tǒng)配置 IBM計算機 惠普或愛普生彩色噴墨打印機 分析應用軟件 操作系統(tǒng)：Windows2000中文平臺 分析軟件包：SmartLink FP軟件包 －測厚范圍 可測定厚度范圍：取決于您的具體應用。 －基本分析功能 采用基本參數(shù)法校正。牛津儀器將根據(jù)您的應用提供必要的校正用標準樣品。 樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量) 可檢測元素范圍：Ti22 – U92 可同時測定5層/15種元素/共存元素校正 貴金屬檢測，如Au karat評價 材料和合金元素分析， 材料鑒別和分類檢測 液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量 多達4個樣品的光譜同時顯示和比較 元素光譜定性分析 －調整和校正功能 系統(tǒng)自動調整和校正功能，自動消除系統(tǒng)漂移 －測量自動化功能 鼠標激活測量模式：“PointShoot” 多點自動測量模式：隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復測量模式 測量位置預覽功能 激光對焦和自動對焦功能 －樣品臺程控功能 設定測量點 連續(xù)多點測量 測量位置預覽(圖表顯示) －統(tǒng)計計算功能 平均值、標準偏差、相對標準偏差、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動范圍、數(shù)據(jù)編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖 數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表、直方圖 數(shù)據(jù)庫存儲功能 任選軟件：統(tǒng)計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書 －系統(tǒng)安全監(jiān)測功能 Z軸保護傳感器 樣品室門開閉傳感器 操作系統(tǒng)多級密碼操作系統(tǒng)：操作員、分析員、工程師

 

CMI960x射線熒光測厚儀

CMI960x射線熒光測厚儀

CMI做為品牌在PCB及電鍍行業(yè)已形成一個行業(yè)標準，90%以上的大型企業(yè)在使用CMI系X-RAY機做為測量鍍層厚度的行業(yè)工具，而今上市一款X-starata960在測量貴金屬方面達到同行業(yè)前所未有的高度

X-starata960說明及與CMI900的對比

基于25年涂鍍層測量經(jīng)驗，在CMI900系列測厚儀的堅實基礎上，引進的設計：

  • 新100瓦X射線管 - 市場上所能提供的的X射線管。提高30%測量精度，同時減少50%測量時間
  • 更小的X射線光斑尺寸 - 新增15mil直徑準直器，可測量電子器件上更小的部位。提供改進的CCD攝像頭及縮放裝置，同時提供更高精度的Y軸控制。
  • 距離獨立測量（DIM） - 更靈活地特殊形狀樣品，可在DIM范圍內(nèi)12.5-90mm（0.5-3.5inch）對樣品表面進行測量，Z軸可控制范圍為230mm（9inch）？赏ㄟ^手動調整也可以通過自動鐳射聚焦來實現(xiàn)對樣品的精確對準。
  • 自動鐳射聚焦 - 自動尋找振決的聚焦距離，改善DIM的聚焦過程并提高系統(tǒng)測量再現(xiàn)性。也可選擇標準的鐳射聚焦模式。
  • 的大型樣品室 - 更大的開槽式樣品室（580x510x230mm : 23x20x9inch）,開槽式設計可容納超大尺寸的樣品？蓮母鱾方向簡便的裝載和觀察樣品。
  • 3種樣品臺選項 - XY程控控制(200x200mm或8x8inch移動范圍)/XY手動控制（250x250mm或10x10英寸）/固定樣品臺；標準配置Z軸程控控制(230mm或9inch移動范圍)。
  • PC用戶界面　

新型X-STRATA 960即時分析儀代表了牛津儀器（OXFORD INSTRUMENTS）鍍層厚度測量和材料成份分析技術的一次重大飛躍。軟件和硬件領域的新提高了我們X線系列產(chǎn)品的性能。X-STRATA 960能夠測量極薄的浸液鍍層（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。區(qū)別材料并測量氮化鈦鍍層。X-STRATA 960分析儀能夠即時分析黃金和其它貴重金屬。印刷電路板和電子元件制造商以及金屬表面處理專業(yè)廠家也可以從我們測量鍍層厚度和成份的技術中獲益。像我們所有的儀器一樣，這個系列的儀器也由牛津儀器集團提供技術支持。我們在售前和售后都提供的服務。測量和材料分析系統(tǒng)軟件所有Oxford X線熒光系統(tǒng)都配備有Oxford Smartlink FP系統(tǒng)操作軟件包。這是一種基于windows的綜合性基本參數(shù)軟件程式。規(guī)格簡介無標準效準：Oxford支持使用標準以解決順應性和系統(tǒng)優(yōu)化問題包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體l 5層/15種元素/普通元素效正同時為多達15種元素進行成份分析貴重金屬分析和金純度檢查材料與合金元素分析材料鑒定與區(qū)別吸收測量方式液體分析：分析液體中的金屬，如電鍍液系統(tǒng)自動調整和效正：效正X線導管、探測器和電子設備的變化光譜計數(shù)速率峰值位移效正重疊熒光峰值數(shù)字峰值反卷定性光譜分析元素ID。同時輕松自如地查看和比較多達四個光譜Oxford統(tǒng)計數(shù)字和報告產(chǎn)生器LE（輕型）Oxford SmartLink 補充軟件系列Oxford統(tǒng)計數(shù)字和報告產(chǎn)生器配備數(shù)據(jù)庫的Oxford統(tǒng)計數(shù)字和報告產(chǎn)生器Oxford即時分析Oxford材料區(qū)別Oxford Percent P有了Oxford SmartLink補充軟件系列，您就能夠將原始數(shù)據(jù)轉變成強有力的資訊。所有的Oxford統(tǒng)計數(shù)字和報告產(chǎn)生器都讓您根據(jù)自己的需要選擇定制報告。統(tǒng)計數(shù)字軟件提供：平均值，S.D.，最小值，最大值，范圍，偏差百分比，控制上限，控制下限，Cpk，組織圖，X-bar/R。所有的性質都可以用多媒體形式做圖表演示。用戶可以輸入測量元件的數(shù)字圖像或CAD文件，并把它們直接放在品質報告上。配備數(shù)據(jù)庫的Oxford統(tǒng)計數(shù)字和報告產(chǎn)生器：與上面相同，但包含一個完整的數(shù)據(jù)庫。數(shù)據(jù)庫總共包含十個可追蹤域，其中八個為用戶定義域。元件號和日期/時間域為標準域。通過用戶選擇索引對數(shù)據(jù)進行存檔、索引和分類處理。Oxford即時分析、材料區(qū)別和Percent P等選項，能夠為您的具體應用優(yōu)化X-STRATA 960儀器的功能。這些選項可能包含附加軟件、定制功能和附加硬件，以提高系統(tǒng)性能。激勵下視X線。X線射束90度采樣100W風冷微聚焦X導管，提供鎢、鉬和其它陽極。電力：最大瓦特，4-50kv可編程，0-1.5mA準直管：多個（最多4個），可編程，圓形，矩形（我們將幫助您選擇適合于您應用的準直管）主要過濾器：提供各種厚度及材料X線探測器和信號處理X線探測器：密封氙氣正比計數(shù)器；提供其它填充氣體探測器過濾器：最多3個，5個位置，可編程-馬達驅動；提供釩、鐵、錫、和其他元素高速探測器信號處理電子設備，具有峰值位移校正功能樣品處理樣品室：開槽在X、Y、Z軸上可編程馬達驅動控制高清晰度、實時、彩色樣品示圖，15〞（38.10cm）（標準）彩色樣品圖像捕獲和打印激光樣品聚焦電腦產(chǎn)生十字線，準直管尺寸指示器，用于樣品準定位可變聚焦距離控制，以適應變化的樣品外型樣品變大：選擇30、50、或100放大。提供固點聚焦距離或可變聚焦距離選項測量鼠標器啟動“點擊”測量自動測量重復功能安全：多用戶多級密碼保護電腦/處理器oxford是IBM的授權PC附加值銷售商。請致電oxford了解的IBMPC規(guī)格。

印機：Epson或惠普噴墨打印機。請致電oxford查詢的型號和規(guī)格？陕(lián)網(wǎng)榮譽由oxford擁有/管理的國際現(xiàn)場服務團隊符合ISOGuide25號的要求CE標志

測厚儀 手提式X射線熒光測厚儀

技術參數(shù)

重 量： 基體配置1.2kg；1.6kg帶電池 尺 寸： 長度：30cm；高度：23cm；寬度：7.5cm X射線發(fā)生器：銀或鎢靶微型X射線管；10-40kV，10-50µA 主要過濾器：5個過濾器 測量尺寸：接觸樣品表面測量時，7.75 mm X射線探測管：Si-PIN高分辨率探測系統(tǒng) 溫度范圍：-10℃—50℃ 電源： 可充電鋰離子電池；含2塊電池及充電器；AC轉換器及多電池電源可選購。 參數(shù)調整：不銹鋼316作為參考標準

主要特點

HMX系統(tǒng)主要特點 無論體積多大的電鍍件，HMX系統(tǒng)是理想的解決辦法 對于QC、電鍍線以及實驗室分析等應用的現(xiàn)場測量 現(xiàn)場的樣品分析 基材管理的合金分類以及合金確認 獨特的“分組測量”模式，允許計算一組部件的平均厚度

美國THEMOR熒光測厚儀美國THEMOR熒光測厚儀

 

美國THEMOR熒光測厚儀:

-射線金屬鍍層測厚儀 世界首創(chuàng)光學準直器，光束最少可達0。025mm 集中X-射線光束，強度加強5-8倍適合較薄鍍層測量，測量時間為正常的1/5 配有ZOOM功能，圖像可放大到200倍更新FP方法，適合多層厚度測量

 

ＥＤＸ３６００X熒光測厚儀

技 術 指 標                                  配 置

分析精度：0.05%                                    多樣自動進樣系統(tǒng)

分析范圍：1PPM-99.99%                              計算機，噴墨打印機

同時分析：幾十種元素同時分析                       真空泵（可選）

測量鍍層：鍍層厚度測量精確至0.01微米           壓片機（可選）

測量元素：Na-U                                     硅針半導體探測器

測量對象：粉末，固體，液體                         放大電路

測量時間：60-300秒                                 高低壓電源

工作溫度：15-30℃                                  X光管

相對濕度：≤70%

重 量：80KG

工 耗：200W

CMI900/950系列X射線熒光測厚儀

產(chǎn)品名稱CMI900/950系列X射線熒光測厚儀
產(chǎn)品功能CMI900/950系列采用開閉式樣品室，以方便測定各種形狀、各種規(guī)格的樣品。CMI900/950系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀、各種尺寸的樣品；幷且測量點最小可達0.025 x 0.051毫米。
產(chǎn)品特點
產(chǎn)品圖片

電鍍表層測厚儀,熒光測厚儀，X光線測厚儀

電鍍測厚儀,電鍍層測厚儀，電鍍膜厚儀,電鍍表層測厚儀,熒光測厚儀，X光線測厚儀,二手測厚儀,二手膜

厚儀

Micro Pioneer XRF-2000 系列熒光金屬鍍層測厚儀能提供金屬鍍層厚度的測量,同時可對電鍍液進行分析

,不單性能,而且價錢超值.只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到的測量結果,甚至是多層鍍層的樣品

也一樣能勝任.全自動XYZ樣品臺,鐳射自動對焦系統(tǒng),十字線自動調整.超大/開放式的樣品臺,可測量較大

的產(chǎn)品.是線路板,五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的.可測量各類金屬層、合金層厚度.可測元素范圍：鈦（Ti） – 鈾（U）可測量厚度范圍：原子序22-25，0.1-0.8μm26-40，0.05-35μm43-52，0.1-100μm72-82，0.05-5μmX-射線管：油冷,超微細對焦高壓：0-50KV（程控）準直器：固定種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm自動種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm電腦系統(tǒng)：IBM相容,17”顯示器

綜合性能:鍍層分析  定性分析  定量分析  鍍液分析鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度（如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等）,簡單的核對方

式,無需購買標準藥液.定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.光譜對比功能:可將樣品的光譜和標準件的光譜進行對比,可確定樣品與標準件的差別,從而控制來料的純

度.統(tǒng)計功能:能夠將測量結果進行系統(tǒng)分析統(tǒng)計,方便的控制品質.

 TEL：13798524697

該公司產(chǎn)品分類： 日本笠原 微生物菌類測試管 水質快速檢測試紙 水質中離子含量測試紙 共立WAK水質試劑盒 鍍層測厚儀 MICROPioneer測厚儀 MicopXRF-2020測厚儀 德國羅威邦水質分析儀 共立理化學研究所 水質重金屬離子檢測 RO-103微量氧氣分析儀 韓國微先鋒XRF-2020測厚儀 XRF-2000測厚儀標準片 X-RAY膜厚儀 X射線鍍層測厚儀 水質分析儀/多參數(shù)水質分析儀

X射線熒光測厚儀

產(chǎn) 品 說 明
設備圖片
設備介紹
CMI900/950系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域，為產(chǎn)品質量控制提供、快速的分析。基于Windows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版SmartLink FP應用軟件包，實現(xiàn)了對CMI900/950主機的自動化控制，分析中不需要任何手動調整或手動參數(shù)設定？赏瑫r測定最多5層、15種元素。數(shù)據(jù)統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求；如在分析報告中插入數(shù)據(jù)圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。統(tǒng)計功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動范圍、相對偏差、UCL控制上限、LCL控制下限、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。
CMI900/950系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀、各種尺寸的樣品；并且測量點最小可達0.025 x 0.051毫米。
CMI900系列采用開槽式樣品室，以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規(guī)格的樣品臺供用戶選用，分別為：
●標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
●擴展型標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
●可調高度型標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
●程控樣品臺：XYZ軸自動控制。
●超寬程控樣品臺：XYZ軸自動控制。
      CMI950系列采用開閉式樣品室，以方便測定各種形狀、各種規(guī)格的樣品。同樣，CMI950可提供四種規(guī)格的樣品臺供用戶選用，分別為：
●全程控樣品臺：XYZ三軸程序控制樣品臺，可接納的樣品最大高度為150mm，XY軸程控移動范圍為●300mm x 300mm。此樣品臺可實現(xiàn)測定點自動編程控制。
●Z軸程控樣品臺：XY軸手動控制，Z軸自動控制，可接納的樣品最大高度為270mm。
●全手動樣品臺：XYZ三軸手動控制，可接納的樣品最大高度為356mm。
●可擴展式樣品臺用于接納超大尺寸樣品。
 
技術規(guī)格

主要規(guī)格

規(guī)格描述

X射線激發(fā)系統(tǒng)

 

 

 

 

 

 

垂直上照式X射線光學系統(tǒng)

空冷式微聚焦型X射線管，Be窗

標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等

功率：50W4-50kV，0-1.0mA－標準

         75W4-50kV，0-1.5mA－任選

X射線管功率可編程控制

裝備有安全防射線光閘

濾光片程控交換系統(tǒng)

根據(jù)靶材，標準裝備有相應的一次X射線濾光片系統(tǒng)

二次X射線濾光片：3個位置程控交換，Co、Ni、Fe、V等多種材質、多種厚度的二次濾光片任選

位置傳感器保護裝置，防止樣品碰創(chuàng)探測器窗口

準直器程控交換系統(tǒng)

 

最多可同時裝配6種規(guī)格的準直器，程序交換控制

多種規(guī)格尺寸準直器任選：

－圓形，如4、6、8、12、20 mil等

－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等

 

測量斑點尺寸

在12.7mm聚焦距離時，最小測量斑點尺寸為：0.078 x 0.055 mm

使用0.025 x 0.05 mm準直器

在12.7mm聚焦距離時，最大測量斑點尺寸為：0.38 x 0.42 mm

使用0.3mm準直器

X射線探測系統(tǒng)

封氣正比計數(shù)器

裝備有峰漂移自動校正功能的高速信號處理電路

樣品室

CMI900

CMI950

－樣品室結構

開槽式樣品室

開閉式樣品室

－最大樣品臺尺寸

610mm x 610mm

300mm x 300mm

－XY軸程控移動范圍

標準：152.4 x 177.8mm

任選：50.8mm x 152.4mm

50.4mm x 177.8mm

101.6 x 177.8mm

177.8 x 177.8mm

610mm x 610mm

300mm x 300mm

－Z軸程控移動高度

43.18mm

XYZ程控時，150mm

－XYZ三軸控制方式

多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制

－樣品觀察系統(tǒng)

高分辨彩色CCD觀察系統(tǒng)，標準放大倍數(shù)為30倍。

50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選。

激光輔助光自動對焦功能

可變焦距控制功能和固定焦距控制功能

計算機系統(tǒng)配置

IBM計算機：2.8G奔騰IV處理器，256M內(nèi)存，1.44M軟驅，40G硬盤，CD-ROM，鼠標，鍵盤，15寸液晶，56K調制解調器；萜栈驉燮丈噬珖娔蛴C

分析應用軟件

操作系統(tǒng)：Windows2000中文平臺

分析軟件包：SmartLink FP軟件包

－測厚范圍

可測定厚度范圍：取決于您的具體應用。

－基本分析功能

 

無標樣檢量線測厚，可采用一點或多點標準樣品自動進行基本參數(shù)方法校正。牛津儀器將根據(jù)您的應用提供必要的校正用標準樣品。

樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體鍍液中的元素含量

可檢測元素范圍：Ti22 – U92

可同時測定5層/15種元素/共存元素校正

組成分析時，可同時測定15種元素

多達4個樣品的光譜同時顯示和比較

元素光譜定性分析

－調整和校正功能

系統(tǒng)自動調整和校正功能：校正X射線管、探測器和電子線路的變化對分析結果的影響，自動消除系統(tǒng)漂移

譜峰計數(shù)時，峰漂移自動校正功能

譜峰死時間自動校正功能

譜峰脈沖堆積自動剔除功能

標準樣品和實測樣品間，密度校正功能

譜峰重疊剝離和峰形擬合計算

－測量自動化功能

要求XY程控機構

 

鼠標激活測量模式：“PointShoot”

多點自動測量模式：隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復測量模式

測量位置預覽功能

激光對焦和自動對焦功能

－樣品臺程控功能

設定測量點

One or Two Datumn reference Points on each file

測量位置預覽圖表顯示

－統(tǒng)計計算功能
平均值、標準偏差、相對標準偏差、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動范圍、數(shù)據(jù)編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖
數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表、直方圖
數(shù)據(jù)庫存儲功能
－系統(tǒng)安全監(jiān)測功能
Z軸保護傳感器
樣品室門開閉傳感器
操作系統(tǒng)多級密碼操作系統(tǒng)：操作員、分析員、工程師
－任選軟件
 
統(tǒng)計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書
液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量
材料鑒別和分類檢測
材料和合金元素分析
貴金屬檢測，如Au karat評價

DX-320 1800.1800BRoHS檢測儀、RoHS儀器、鹵素檢測儀、X熒光測厚儀

我公司為客戶提供下列服務：1、RoHS儀器維修/部件更換/鹵素升級   天瑞：EDX3000/EDX3000B/EDX2800/EDX1800/EDX1800B/EDX600/EDX3600/Thick800A/Thick600   華唯：Ux-210/Ux-220/Ux-230/Ux-310   3V：EDX8600/EDX8300/EDX8800   島津：EDX700/EDX720/EDX-GP   精工：SEA-1000A/SEA-1000S/SEA-1200VX   斯派克、熱電等2、維修X射線鍍層測厚儀   菲希爾：XUL/XDL/XAN/XDV/XUV等系列   精工：SFT-110/SFT-157/SFT9100M/SFT9200/SFT9300/SFT9400   牛津：CMI-900   MicroPoineer、宏德等3、RoHS儀器出租   可靈活選擇日租、月租、年租，價格優(yōu)惠、服務周到。  

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