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Compact eco X-射線熒光分析測厚儀能提供一般鍍層厚度和元素分析功能,不單性能,而且價錢超值.,分析鍍層厚度和元素成色同時進行,只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到的測量結果,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任. 輕巧的樣品室,適合不同大小的樣品,功能實用,性高,是五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的. 備有Compact eco , Compact 5 , Mixx4 , Mixx5等型號選擇，可測量各類金屬層、合金層厚度，附帶功能：合金成份分析，電鍍液成份分析，中文簡體、繁體、英文操作系統(tǒng)。Compact eco X-射線熒光分析測厚儀可測元素范圍：鈦(Ti) – 鈾(U)Compact eco X-射線熒光分析測厚儀可測量厚度范圍：原子序22-25，0.1-0.8μm26-40，0.05-35μm43-52，0.1-100μm72-82，0.05-5μm

Compact eco X-射線熒光分析測厚儀

自動測量功能：編程測量，自定測量修正測量功能：底材修正，已知樣品修正定性分析功能：光譜表示，光譜比較定量分析功能：合金成份分析數(shù)據(jù)統(tǒng)計功能：x管理圖，x-R管理圖，直方柱圖。Compact eco X-射線熒光分析測厚儀綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析鍍層分析:可分析三層厚度,獨有的FP分析軟件,真正做到無厚度標準片亦能進行測量(需要配合純材料),為您大大節(jié)省購買標準片的成本.超越其他品牌的所謂FP軟件.鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對方式,無需購買標準藥液.定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.光譜對比功能:可將樣品的光譜和標準件的光譜進行對比,可確定樣品與標準件的差別,從而控制來料的純度.統(tǒng)計功能:能夠將測量結果進行系統(tǒng)分析統(tǒng)計,方便的控制品質.多年來，我們一直于為PCB 廠商，電鍍行業(yè)，科研機構，半導體生產(chǎn)等電子行業(yè)提供高性能的儀器和的售后服務。讓客戶滿意，為客戶創(chuàng)造最大的價值是我們始終追求的目標，因為我們堅信，客戶的需要就是我們前進的動力。愿我們成為真誠的合作伙伴、共同描繪雙方的發(fā)展藍圖！

X射線熒光測厚儀CMI900

CMI900鍍層測厚儀及X射線熒光測厚儀CMI900介紹

CMI900X射線熒光鍍層測厚儀，有著非破壞，非接觸，多層合金測量，高生產(chǎn)力，高再現(xiàn)性等優(yōu)點，在質量管理到不良品分析有著廣泛的應用。用于電子元器件，半導體，PCB，汽車零部件，功能性電鍍，裝飾件，連接器等多個行業(yè)。

CMI900鍍層測厚儀及X射線熒光測厚儀CMI900主要特點

CMI做為品牌在PCB及電鍍行業(yè)已形成一個行業(yè)標準，90%以上的大型企業(yè)在使用CMI系X-RAY機做為測量鍍層厚度的行業(yè)工具，而今上市一款X-starata960在測量貴金屬方面達到同行業(yè)前所未有的高度

X-starata960說明及與CMI900的對比

基于25年涂鍍層測量經(jīng)驗，在CMI900系列測厚儀的堅實基礎上，引進的設計：

• 新100瓦X射線管 - 市場上所能提供的的X射線管。提高30%測量精度，同時減少50%測量時間
• 更小的X射線光斑尺寸 - 新增15mil直徑準直器，可測量電子器件上更小的部位。提供改進的CCD攝像頭及縮放裝置，同時提供更高精度的Y軸控制。
• 距離獨立測量（DIM） - 更靈活地特殊形狀樣品，可在DIM范圍內(nèi)12.5-90mm（0.5-3.5inch）對樣品表面進行測量，Z軸可控制范圍為230mm（9inch）?？赏ㄟ^手動調整也可以通過自動鐳射聚焦來實現(xiàn)對樣品的精確對準。
• 自動鐳射聚焦 - 自動尋找振決的聚焦距離，改善DIM的聚焦過程并提高系統(tǒng)測量再現(xiàn)性。也可選擇標準的鐳射聚焦模式。
• 的大型樣品室 - 更大的開槽式樣品室（580x510x230mm : 23x20x9inch）,開槽式設計可容納超大尺寸的樣品?？蓮母鱾€方向簡便的裝載和觀察樣品。
• 3種樣品臺選項 - XY程控控制(200x200mm或8x8inch移動范圍)/XY手動控制（250x250mm或10x10英寸）/固定樣品臺；標準配置Z軸程控控制(230mm或9inch移動范圍)。
• PC用戶界面　

新型X-STRATA 960即時分析儀代表了牛津儀器（OXFORD INSTRUMENTS）鍍層厚度測量和材料成份分析技術的一次重大飛躍。軟件和硬件領域的新提高了我們X線系列產(chǎn)品的性能。X-STRATA 960能夠測量極薄的浸液鍍層（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。區(qū)別材料并測量氮化鈦鍍層。X-STRATA 960分析儀能夠即時分析黃金和其它貴重金屬。印刷電路板和電子元件制造商以及金屬表面處理專業(yè)廠家也可以從我們測量鍍層厚度和成份的技術中獲益。像我們所有的儀器一樣，這個系列的儀器也由牛津儀器集團提供技術支持。我們在售前和售后都提供的服務。測量和材料分析系統(tǒng)軟件所有Oxford X線熒光系統(tǒng)都配備有Oxford Smartlink FP系統(tǒng)操作軟件包。這是一種基于windows的綜合性基本參數(shù)軟件程式。規(guī)格簡介無標準效準：Oxford支持使用標準以解決順應性和系統(tǒng)優(yōu)化問題包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體l 5層/15種元素/普通元素效正同時為多達15種元素進行成份分析貴重金屬分析和金純度檢查材料與合金元素分析材料鑒定與區(qū)別吸收測量方式液體分析：分析液體中的金屬，如電鍍液系統(tǒng)自動調整和效正：效正X線導管、探測器和電子設備的變化光譜計數(shù)速率峰值位移效正重疊熒光峰值數(shù)字峰值反卷定性光譜分析元素ID。同時輕松自如地查看和比較多達四個光譜Oxford統(tǒng)計數(shù)字和報告產(chǎn)生器LE（輕型）Oxford SmartLink 補充軟件系列Oxford統(tǒng)計數(shù)字和報告產(chǎn)生器配備數(shù)據(jù)庫的Oxford統(tǒng)計數(shù)字和報告產(chǎn)生器Oxford即時分析Oxford材料區(qū)別Oxford Percent P有了Oxford SmartLink補充軟件系列，您就能夠將原始數(shù)據(jù)轉變成強有力的資訊。所有的Oxford統(tǒng)計數(shù)字和報告產(chǎn)生器都讓您根據(jù)自己的需要選擇定制報告。統(tǒng)計數(shù)字軟件提供：平均值，S.D.，最小值，最大值，范圍，偏差百分比，控制上限，控制下限，Cpk，組織圖，X-bar/R。所有的性質都可以用多媒體形式做圖表演示。用戶可以輸入測量元件的數(shù)字圖像或CAD文件，并把它們直接放在品質報告上。配備數(shù)據(jù)庫的Oxford統(tǒng)計數(shù)字和報告產(chǎn)生器：與上面相同，但包含一個完整的數(shù)據(jù)庫。數(shù)據(jù)庫總共包含十個可追蹤域，其中八個為用戶定義域。元件號和日期/時間域為標準域。通過用戶選擇索引對數(shù)據(jù)進行存檔、索引和分類處理。Oxford即時分析、材料區(qū)別和Percent P等選項，能夠為您的具體應用優(yōu)化X-STRATA 960儀器的功能。這些選項可能包含附加軟件、定制功能和附加硬件，以提高系統(tǒng)性能。激勵下視X線。X線射束90度采樣100W風冷微聚焦X導管，提供鎢、鉬和其它陽極。電力：最大瓦特，4-50kv可編程，0-1.5mA準直管：多個（最多4個），可編程，圓形，矩形（我們將幫助您選擇適合于您應用的準直管）主要過濾器：提供各種厚度及材料X線探測器和信號處理X線探測器：密封氙氣正比計數(shù)器；提供其它填充氣體探測器過濾器：最多3個，5個位置，可編程-馬達驅動；提供釩、鐵、錫、和其他元素高速探測器信號處理電子設備，具有峰值位移校正功能樣品處理樣品室：開槽在X、Y、Z軸上可編程馬達驅動控制高清晰度、實時、彩色樣品示圖，15〞（38.10cm）（標準）彩色樣品圖像捕獲和打印激光樣品聚焦電腦產(chǎn)生十字線，準直管尺寸指示器，用于樣品準定位可變聚焦距離控制，以適應變化的樣品外型樣品變大：選擇30、50、或100放大。提供固點聚焦距離或可變聚焦距離選項測量鼠標器啟動“點擊”測量自動測量重復功能安全：多用戶多級密碼保護電腦/處理器oxford是IBM的授權PC附加值銷售商。請致電oxford了解的IBMPC規(guī)格。

印機：Epson或惠普噴墨打印機。請致電oxford查詢的型號和規(guī)格?？陕?lián)網(wǎng)榮譽由oxford擁有/管理的國際現(xiàn)場服務團隊符合ISOGuide25號的要求CE標志

美國THEMOR熒光測厚儀:

技 術 指 標                                  配 置

分析精度：0.05%                                    多樣自動進樣系統(tǒng)

分析范圍：1PPM-99.99%                              計算機，噴墨打印機

同時分析：幾十種元素同時分析                       真空泵（可選）

測量鍍層：鍍層厚度測量精確至0.01微米           壓片機（可選）

測量元素：Na-U                                     硅針半導體探測器

測量對象：粉末，固體，液體                         放大電路

測量時間：60-300秒                                 高低壓電源

工作溫度：15-30℃                                  X光管

相對濕度：≤70%

重 量：80KG

工 耗：200W

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厚儀

Micro Pioneer XRF-2000 系列熒光金屬鍍層測厚儀能提供金屬鍍層厚度的測量,同時可對電鍍液進行分析

,不單性能,而且價錢超值.只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到的測量結果,甚至是多層鍍層的樣品

也一樣能勝任.全自動XYZ樣品臺,鐳射自動對焦系統(tǒng),十字線自動調整.超大/開放式的樣品臺,可測量較大

的產(chǎn)品.是線路板,五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的.可測量各類金屬層、合金層厚度.可測元素范圍：鈦（Ti） – 鈾（U）可測量厚度范圍：原子序22-25，0.1-0.8μm26-40，0.05-35μm43-52，0.1-100μm72-82，0.05-5μmX-射線管：油冷,超微細對焦高壓：0-50KV（程控）準直器：固定種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm自動種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm電腦系統(tǒng)：IBM相容,17”顯示器

綜合性能:鍍層分析  定性分析  定量分析  鍍液分析鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度（如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等）,簡單的核對方

式,無需購買標準藥液.定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.光譜對比功能:可將樣品的光譜和標準件的光譜進行對比,可確定樣品與標準件的差別,從而控制來料的純

度.統(tǒng)計功能:能夠將測量結果進行系統(tǒng)分析統(tǒng)計,方便的控制品質.

 TEL：13798524697

我公司為客戶提供下列服務：1、RoHS儀器維修/部件更換/鹵素升級   天瑞：EDX3000/EDX3000B/EDX2800/EDX1800/EDX1800B/EDX600/EDX3600/Thick800A/Thick600   華唯：Ux-210/Ux-220/Ux-230/Ux-310   3V：EDX8600/EDX8300/EDX8800   島津：EDX700/EDX720/EDX-GP   精工：SEA-1000A/SEA-1000S/SEA-1200VX   斯派克、熱電等2、維修X射線鍍層測厚儀   菲希爾：XUL/XDL/XAN/XDV/XUV等系列   精工：SFT-110/SFT-157/SFT9100M/SFT9200/SFT9300/SFT9400   牛津：CMI-900   MicroPoineer、宏德等3、RoHS儀器出租   可靈活選擇日租、月租、年租，價格優(yōu)惠、服務周到。