CMI900 是一款性價比極高的臺式 X 射線熒光光譜儀，應(yīng)用于涂鍍層厚度測量及材料成分分析。 高性能X射線熒光光譜儀 快速精確的分析：正比計數(shù)探測器和50瓦微焦X射線管，大大提高了靈敏度 簡單的元素區(qū)分：二次光束過濾器可以分離重疊元素 性能優(yōu)化，測量元素范圍廣： 可預設(shè)參數(shù) CMI900 提供800多種預設(shè)應(yīng)用參數(shù)/方法 杰出的長期穩(wěn)定性： 自動熱補償測量儀器溫度，糾正變化，提供穩(wěn)定的結(jié)果 簡單快速的光譜校準，定期檢查儀器性能（如靈敏度），并提供必要的糾正 堅固耐用的設(shè)計 可以在實驗室或生產(chǎn)線上操作 堅固的工業(yè)設(shè)計 經(jīng)行業(yè)驗證的技術(shù)，在全球銷售量超過3000臺
| 品牌：OXFORD CMI（英國牛津） 簡介：CMI900X射線熒光測厚儀,歡迎您來電咨詢CMI900X射線熒光測厚儀的詳細信息!天津天巴儀器儀表銷售有限公司提供的CMI900X射線熒光測厚儀不僅具有國內(nèi)外領(lǐng)先的技術(shù)水平,更有良好的售后服務(wù)和的解決方案 □適用范圍：CMI900系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等，涉及到其它儀器不能檢測的測試領(lǐng)域。 □服務(wù)優(yōu)勢：具有最多的服務(wù)網(wǎng)點和強大的技術(shù)支持 □測量精度：1%或±0.1μm依照參考標準片，分辨率：0.01mils（0.25μm） □測量范圍：磁感應(yīng)0-120mils（0-3.05mm）；渦流0-60mils（0-1.52mm） 用途：廣泛應(yīng)用于噴涂電鍍等表層厚度的測量
廣東正業(yè)科技有限公司http://www.zhengyee.com 聯(lián)系人：黎前華 電話：13712542526 http://www.hua.cpooo.com/product/2192094.html 廣東正業(yè)儀器儀表銷售有限公司專業(yè)供應(yīng)銷售CMI900X射線熒光測厚儀，歡迎您來電咨詢CMI900X射線熒光測厚儀的詳細信息！天津天巴儀器儀表銷售有限公司提供的CMI900X射線熒光測厚儀不僅具有國內(nèi)外領(lǐng)先的技術(shù)水平，更有良好的售后服務(wù)和的解決方案。供應(yīng)CMI900X射線熒光測厚儀，CMI900X射線熒光鍍層測厚儀，廣東CMI900X射線熒光測厚儀， |
主要規(guī)格 規(guī)格描述 X射線激發(fā)系統(tǒng) 垂直上照式X射線光學系統(tǒng) 空冷式微聚焦型X射線管，Be窗 標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等 功率：50W（4-50kV，0-1.0mA）－標準 75W（4-50kV，0-1.5mA）－任選 裝備有安全防射線光閘 二次X射線濾光片：3個位置程控交換，多種材質(zhì)、多種厚度的二次濾光片任選 準直器程控交換系統(tǒng) 最多可同時裝配6種規(guī)格的準直器 多種規(guī)格尺寸準直器任選： －圓形，如4、6、8、12、20 mil等 －矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等 測量斑點尺寸 在12.7mm聚焦距離時，最小測量斑點尺寸為：0.078 x 0.055 mm（使用0.025 x 0.05 mm準直器） 在12.7mm聚焦距離時，最大測量斑點尺寸為：0.38 x 0.42 mm（使用0.3mm準直器） 樣品室 CMI900 CMI950 －樣品室結(jié)構(gòu) 開槽式樣品室 開閉式樣品室 －最大樣品臺尺寸 610mm x 610mm 300mm x 300mm －XY軸程控移動范圍 標準：152.4 x 177.8mm 還有5種規(guī)格任選 300mm x 300mm －Z軸程控移動高度 43.18mm XYZ程控時，152.4mm XY軸手動時，269.2mm －XYZ三軸控制方式 多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制 －樣品觀察系統(tǒng) 高分辨彩色CCD觀察系統(tǒng)，標準放大倍數(shù)為30倍。50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選。 激光自動對焦功能 可變焦距控制功能和固定焦距控制功能 計算機系統(tǒng)配置 IBM計算機 惠普或愛普生彩色噴墨打印機 分析應(yīng)用軟件 操作系統(tǒng)：Windows2000中文平臺 分析軟件包：SmartLink FP軟件包 －測厚范圍 可測定厚度范圍：取決于您的具體應(yīng)用。 －基本分析功能 采用基本參數(shù)法校正。牛津儀器將根據(jù)您的應(yīng)用提供必要的校正用標準樣品。 樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體（鍍液中的元素含量） 可檢測元素范圍：Ti22 – U92 可同時測定5層/15種元素/共存元素校正 貴金屬檢測，如Au karat評價 材料和合金元素分析， 材料鑒別和分類檢測 液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量 多達4個樣品的光譜同時顯示和比較 元素光譜定性分析 －調(diào)整和校正功能 系統(tǒng)自動調(diào)整和校正功能，自動消除系統(tǒng)漂移 －測量自動化功能 鼠標激活測量模式：“Point ａnd Shoot” 多點自動測量模式：隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復測量模式 測量位置預覽功能 激光對焦和自動對焦功能 －樣品臺程控功能 設(shè)定測量點 連續(xù)多點測量 測量位置預覽（圖表顯示） －統(tǒng)計計算功能 平均值、標準偏差、相對標準偏差、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動范圍、數(shù)據(jù)編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖 數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表、直方圖 數(shù)據(jù)庫存儲功能 任選軟件：統(tǒng)計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書 －系統(tǒng)安全監(jiān)測功能 Z軸保護傳感器 樣品室門開閉傳感器 操作系統(tǒng)多級密碼操作系統(tǒng)：操作員、分析員、工程師
廣東正業(yè)科技有限公司http://www.zhegnyee.com
聯(lián)系人：黎前華
電話：13712542526
STRATA960,980,CMI900,CMI700,CMI500,CMI900CMI900CMI165等各種型號鍍層測厚儀,并為客戶提供及時,的售前/售后服務(wù)和技術(shù)支持13712542526CMI900X射線熒光測厚儀CMI900X射線熒光測厚儀CMI900X射線熒光測厚儀CMI900X射線熒光測厚儀CMI900X射線熒光測厚儀CMI900X射線熒光測厚儀CMI900X射線熒光測厚儀CMI900X射線熒光測厚儀CMI900X射線熒光測厚儀CMI900X射線熒光測厚儀CMI900X射線熒光測厚儀CMI900X射線熒光測厚儀CMI900X射線熒光測厚儀
| ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
利用X射線熒光（XRF）進行鍍層厚度測量和材料分析，提高過程和質(zhì)量控制。
X-Strata鍍層測厚儀是結(jié)構(gòu)緊湊、堅固耐用、用于質(zhì)量控制的可靠的臺式X射線熒光分析設(shè)備，提供簡單、快速、無損的鍍層厚度測量和材料分析。
它在工業(yè)領(lǐng)域如電子行業(yè)、五金電鍍行業(yè)、金屬合金行業(yè)及貴金屬分析行業(yè)表現(xiàn)出卓越的分析能力，可進行多鍍層厚度的測量。
鍍層測厚儀X-Strata系列提供：
無損分析：無需樣品制備
經(jīng)行業(yè)認證的技術(shù)和可靠性
操作簡單，只需要簡單的培訓
分析只需三步驟
杰出的分析準確性和精確性
在鍍層測厚領(lǐng)域擁有超過20年的豐富經(jīng)驗
鍍層測厚儀X-Strata系列使用功能強大、操作簡單的X射線熒光光譜儀進行鍍層厚度測量，保證質(zhì)量的同時降低成本。
X-Strata系列基于Windows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版 SmartLink FP 應(yīng)用軟件包，實現(xiàn)了對CMI900/920主機的全面自動化控制，
技術(shù)參數(shù)：
CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測量儀,在技術(shù)上一直以來都領(lǐng)先于測厚行業(yè)
A CMI 900 能夠測量包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層
（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。區(qū)別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時測定最多5層、15 種元素。
B ：精確度領(lǐng)先于世界C ：數(shù)據(jù)統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求 ；
如在分析報告中插入數(shù)據(jù)圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。
D ：統(tǒng)計功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。CMI900/920系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品；
E ：可測量任一測量點，最小可達0.025 x 0.051毫米樣品臺選擇：CMI900系列采用開槽式樣品室，以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規(guī)格的樣品臺供用戶選用，分別為： 一：手動樣品臺1 標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。 2 擴展型標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。 3 可調(diào)高度型標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
二：自動樣品臺
1 程控樣品臺：XYZ軸自動控制。 2 超寬程控樣品臺：XYZ軸自動控制。
CMI920系列采用開閉式樣品室，以方便測定各種形狀、各種規(guī)格的樣品。如右下圖所示。同樣，CMI920可提供四種規(guī)格的樣品臺供用戶選用，分別為：1 全程控樣品臺：XYZ 三軸程序控制樣品臺，可接納的樣品最大高度為150mm，XY 軸程控移動范圍為 300mm x 300mm。 此樣品臺可實現(xiàn)測定點自動編程控制。 2 Z軸程控樣品臺：XY軸手動控制，Z軸自動控制，可接納的樣品最大高度為270mm。
3 全手動樣品臺：XYZ三軸手動控制，可接納的樣品最大高度為356mm。 可擴展式樣品臺用于接納超大尺寸樣品。