電路板測(cè)試儀|電路板維修測(cè)試儀|電路板在線測(cè)試儀|電路板故障測(cè)試儀－－－－－－－－－－通用的電路板故障檢測(cè)儀器
電路板維修測(cè)試儀|電路在線測(cè)試儀|電路維修測(cè)試儀|電路板故障測(cè)試儀|集成電路測(cè)試儀|電路板維修檢測(cè)儀|電路板故障檢測(cè)儀|線路板維修儀電路測(cè)試儀|電路板測(cè)試儀|在線測(cè)試儀|在線維修測(cè)試儀|IC測(cè)試儀|元器件測(cè)試儀|電子測(cè)試儀|維修儀|檢修儀|VI測(cè)試儀|維修測(cè)試儀PCB故障測(cè)試儀|PCB在線測(cè)試儀|PCB檢測(cè)儀|IC檢測(cè)儀|PCB維修測(cè)試儀|網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀|故障測(cè)試儀|線路板測(cè)試儀|線路板維修測(cè)試儀|器件測(cè)試儀|元件測(cè)試儀|半導(dǎo)體測(cè)試儀|電容測(cè)試儀|漏電測(cè)試儀|電感測(cè)試儀|電阻測(cè)試儀|三極管測(cè)試儀|晶體管測(cè)試儀|運(yùn)放測(cè)試儀|光藕測(cè)試儀|數(shù)字電路測(cè)試儀|模擬電路測(cè)試儀|比較器測(cè)試儀|模擬開關(guān)測(cè)試儀|AD測(cè)試儀|DA測(cè)試儀|AD/DA測(cè)試儀|可控硅測(cè)試儀|場(chǎng)效應(yīng)管測(cè)試儀|穩(wěn)壓塊測(cè)試儀繼電器測(cè)試儀|綜合測(cè)試儀|混合電路測(cè)試儀|線行電路測(cè)試儀|非線型電路測(cè)試儀|分立元件測(cè)試儀|網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀|轉(zhuǎn)換器測(cè)試儀|貼片元件測(cè)試儀|
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電路板維修測(cè)試儀 產(chǎn)品特點(diǎn)：
● 無需電路原理圖、 無需拆焊元器件
● 直接“在線/在路”檢測(cè)元器件的好壞
● 適用于各種電路板維修，器件級(jí)維修
電路維修測(cè)試儀 技術(shù)特點(diǎn)：
● 標(biāo)準(zhǔn)USB接口，與筆記本電腦直接通訊
● 兼容Win Vista XP操作系統(tǒng)，與計(jì)算機(jī)技術(shù)同步延伸
● 擁有獨(dú)立的CPU控制系統(tǒng)，不受Windows系統(tǒng)分時(shí)影響
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| 電路在線維修測(cè)試儀：TH4040-II 產(chǎn)品介紹 |
| 內(nèi)容關(guān)鍵詞： |
| 電路板維修在線測(cè)試儀TH4040-II，電路板故障檢測(cè)，在線維修，雙CPU處理技術(shù)，Vista系統(tǒng)運(yùn)行，標(biāo)準(zhǔn)USB2.0接口，后驅(qū)動(dòng)技術(shù)； |
| 閾值門檻電平可調(diào)，ASA模擬特征分析，三端器件，脈沖信號(hào)，CRL定量測(cè)試，邏輯功能測(cè)試，VI端口測(cè)試，在線測(cè)試，型號(hào)識(shí)別。 |
| 產(chǎn)品名稱：匯能電路在線維修測(cè)試儀（匯能電路板故障在線檢測(cè)儀器） |
| 產(chǎn)品型號(hào)：TH4040-II |
| 外型尺寸：長X寬X高：40cm X36cm X10cm |
| 標(biāo)準(zhǔn)配置：TH4040-II主機(jī)壹臺(tái)，安裝軟件壹套，標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試配件壹套。 |
| 產(chǎn)品特點(diǎn)：匯能電路在線維修測(cè)試儀 TH4040-II， |
| 1、雙處理器技術(shù)，集成16位的下位機(jī)，擁有獨(dú)立的CPU系統(tǒng)，不受計(jì)算機(jī)Windows分時(shí)特性的影響，獨(dú)立運(yùn)行； |
| 2、標(biāo)準(zhǔn)的USB2.0通訊接口，與計(jì)算機(jī)通訊安全、快速、便捷，支持熱插拔；有并口機(jī)型可供選擇； |
| 3、安全穩(wěn)定運(yùn)行于的Windows Viste/XP/NT系統(tǒng)內(nèi)， 測(cè)試儀軟、硬件與計(jì)算機(jī)技術(shù)同步發(fā)展延伸； |
| 4、雙探棒/雙板直接對(duì)比測(cè)試，適用于相同電路板診斷測(cè)試； |
| 產(chǎn)品技術(shù)：匯能電路板故障在線檢測(cè)儀器 TH4040-II， |
| 1、后驅(qū)動(dòng)（Backdoor）技術(shù)：引進(jìn)美國后驅(qū)動(dòng)隔離技術(shù)，用來實(shí)現(xiàn)數(shù)字器件之間在線（In-circuit）的隔離； |
| 2、自適應(yīng)測(cè)試技術(shù)：自動(dòng)識(shí)別被測(cè)試電路的自身連接情況并自動(dòng)修改相應(yīng)的測(cè)試代碼，確立測(cè)試條件，測(cè)試的性； |
| 3、數(shù)字器件的閾值電平可調(diào)：在工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)值下可以通過測(cè)試，逐步提高門檻到極限值，可發(fā)現(xiàn)器件參數(shù)型故障（軟故障）； |
| 4、ASA（Analog Signature Analysis）模擬特征分析技術(shù)：引入ASA技術(shù)用來解決端口模擬特征曲線故障診斷分析測(cè)試； |
| 5、三端器件（三極管、穩(wěn)壓管、可控硅、場(chǎng)效應(yīng)管等）的測(cè)試：引入八種觸發(fā)脈沖與掃描信號(hào)同步測(cè)試三端器件； |
| 6、電容C、電阻R、電感L定性定量的測(cè)試：在一定的掃描電壓、電流、頻率下可測(cè)試電容量（阻抗、電感量）及漏電阻值； |
| 7、對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)圖形化顯示、開啟計(jì)算機(jī)聲音提示功能：當(dāng)測(cè)試在允許的誤差范圍內(nèi)，系統(tǒng)將聲音提示以降低工作強(qiáng)度； |
| 8、自動(dòng)識(shí)別靈敏度調(diào)整（自動(dòng)選檔功能）：自動(dòng)識(shí)別調(diào)整測(cè)試輸入阻抗，匹配的測(cè)試參數(shù)，以降低操作難度。 |
| 參數(shù)指標(biāo)：匯能電路板故障在線檢測(cè)儀 TH4040-II， |
| 1、數(shù)字通道：40+8路（其中8路數(shù)字通道是總線隔離通道，是用來隔離數(shù)字電路里總線競(jìng)爭(zhēng)情況的專用通道）； |
| 2、模擬通道：40路（40路模擬單通道屬性，可支持雙探棒直接對(duì)比測(cè)試，網(wǎng)絡(luò)提取可同時(shí)提取2個(gè)20腳的器件）； |
| 3、其它通道：2路探棒掃描通道、2路脈沖觸發(fā)通道（用來測(cè)試分立元件、端口、結(jié)點(diǎn)、集成塊、三端、兩端器件等）； |
| 4、測(cè)試范圍：TTL、COMS、DRIVER、SIEMENS、RUSSIA常用5V邏輯器件、存儲(chǔ)器EPROM、RAM、LSI（測(cè)試器件功能故障）； |
| 任何的電路結(jié)點(diǎn)、端口、金手指；任何功能已知未知LSI、貼片SOIC、方形PLCC器件的管腳（測(cè)試器件端口故障）； |
| 5、數(shù)字信號(hào)： 驅(qū)動(dòng)電平幅度：5V系列邏輯電平（高電平>3.5V、低電平< 0.8V ）； 后驅(qū)動(dòng)電流>200mA； |
| 測(cè)試速度：分1Ktv/S、5Ktv/S、20Ktv/S、45Ktv/S四檔可選； 在線環(huán)境識(shí)別11種狀態(tài)； |
| 閾值電平：TTL（緊、松），COMS（緊、松）、自定義閾值電平可選可調(diào)；加電延遲時(shí)間7檔可選； |
| 手動(dòng)加電/程控電源可選； 程控外供輸出電源：5V/4A； |
| 6、模擬信號(hào)： 波形：正弦波/三角波/鋸齒波； 波形失真度：<2%； |
| 掃描電壓：±1V～±28V內(nèi) 以0.5V 的增量可調(diào)； 頻率：1Hz～16KHz內(nèi)，30檔可選； |
| 輸出阻抗：100Ω/1KΩ/10KΩ/100KΩ四檔可選； 最大電流：150mA； |
| 觸發(fā)脈沖：8種觸發(fā)方式（6種與掃描信號(hào)同步）； 脈沖幅度：±1V～±28V內(nèi) 以0.5V 的增量可調(diào) |
| 測(cè)試功能：匯能電路板故障在線檢測(cè)儀 TH4040-II， |
| 主要測(cè)試功能： |
| 1、數(shù)字邏輯器件在線（離線）功能測(cè)試： |
| 2、數(shù)字邏輯器件在線（離線）型號(hào)識(shí)別： |
| 3、數(shù)字邏輯器件在線（離線）循環(huán)老化測(cè)試： |
| 4、存儲(chǔ)器PROM、RAM在線（離線）測(cè)試： |
| 5、數(shù)字邏輯器件在線 狀態(tài)比較測(cè)試： |
| 6、數(shù)字集成電路LSI 在線（離線）分析測(cè)試： |
| 7、ASA端口模擬特征曲線測(cè)試： |
| 8、分立元件、三端器件測(cè)試： |
| 9、雙板/雙測(cè)試夾/雙探棒直接對(duì)比測(cè)試： |
| 10、網(wǎng)絡(luò)提取測(cè)試： |
| 輔助功能： |
| 13、系統(tǒng)自檢與設(shè)置： |
| 14、測(cè)試器件檢索： |
| 15、元器件速查手冊(cè)： |
| 16、數(shù)字邏輯器件擴(kuò)充庫平臺(tái)： |
| 17、維修日記以： |
| 18、后臺(tái)自動(dòng)生成記錄： |
| 產(chǎn)品詳細(xì)介紹：匯能電路板維修在線測(cè)試儀TH4040-II |
| 一、系統(tǒng)基本配置： 1、測(cè)試儀主機(jī) 一臺(tái) 2、測(cè)試系統(tǒng)軟件光盤： 一張 3、隨機(jī)配備附件（出廠標(biāo)準(zhǔn)配置）： 一套 二、環(huán)境要求：
三、主要技術(shù)指標(biāo)： 1、計(jì)算機(jī)操作系統(tǒng)： 支持WIN98/WIN2000/WINXP/vista； 2、數(shù)字測(cè)試通道：40通道，支持驅(qū)動(dòng)閾值電平 +5V； 3、總線隔離專用數(shù)字通道：8通道，用來隔離掛在總線上的其它三態(tài)器件，避免由于總線競(jìng)爭(zhēng)干擾測(cè)試的性； 4、后驅(qū)動(dòng)電流：≥200 mA； 5、測(cè)試速度：（1～45Ktv/S），4檔可選； 6、在線測(cè)試提取數(shù)字器件管腳狀態(tài): 11種; 7、數(shù)字器件功能施加測(cè)試時(shí)間： <26 mS； 8、數(shù)字器件的閾值電平； TTL（緊、松）、CMOS（緊、松）、自定義閾值電平； 9、 測(cè)試器件庫:TTL54/74、CMOS40/45、8000、9000、驅(qū)動(dòng)器、接口器件、RAM、EPROM、模擬開關(guān)、電壓比較器、俄羅斯庫、西門子庫（國內(nèi)）； 10、程控外供電源（自動(dòng)控制、自保護(hù)功能）： 5V/4A 11、電源加電延遲時(shí)間：（0.5～10）秒 7檔可選; 13、模擬測(cè)試通道： 40路； 14、測(cè)試探棒:2組 15、模擬信號(hào)掃描電壓幅度：±1V～±28V, 步距0.5V可調(diào); 16、VI分辨率：8～128點(diǎn)/周期用示波器可測(cè)； 17、輸出阻抗匹配：0.1KΩ / 1KΩ／10KΩ／100KΩ可選; 18、ASA模擬特征分析測(cè)試顯示坐標(biāo):3種可選VI /VT /VR; 19、模擬通道最大測(cè)試頻率:16KHZ; 20、ASAVI測(cè)試頻率匹配:1HZ～16KHZ,共30檔可選; 21、ASA雙板比較測(cè)試。 四、 主要測(cè)試功能： 1、程控電源輸出功能： 提供+5V測(cè)試電源，程控加電，擁有自動(dòng)保護(hù)功能，安全，不用外接測(cè)試電源，使用方便； ２.電源機(jī)電式繼電器輸出控制：采用安全的機(jī)電式繼電器，與光電式比較，接觸電阻更小，約0.01～0.02Ω，其百萬次量級(jí)的使用壽命，幾百毫秒的動(dòng)作時(shí)間足以滿足實(shí)際應(yīng)用要求。 3數(shù)字邏輯器件在線功能測(cè)試： 測(cè)試器件庫龐大；測(cè)試范圍廣：TTL54/74、8000系列、9000系列、CMOS40/45、俄羅斯器件庫、西門子器件庫（國內(nèi)）。 4．?dāng)?shù)字邏輯器件在線狀態(tài)測(cè)試： 采用學(xué)習(xí)、比較的測(cè)試方式，能夠提取11種復(fù)雜的電路在線狀態(tài)，如開路、邏輯翻轉(zhuǎn)信號(hào)、非法電平、總線競(jìng)爭(zhēng)等等狀態(tài)，所以，對(duì)測(cè)試器件外電路的識(shí)別能力強(qiáng)，低檔測(cè)試儀一般只能識(shí)別2-3種 。 5． 動(dòng)態(tài)總線競(jìng)爭(zhēng)信號(hào)隔離功能： 用于解除總線競(jìng)爭(zhēng)，保正測(cè)試掛在總線上的三態(tài)器件（如74LS373、74LS245、等）的率，可提供8路總線競(jìng)爭(zhēng)隔離信號(hào)； 6． IC型號(hào)識(shí)別： 針對(duì)標(biāo)識(shí)不清或被擦除型號(hào)的器件，可“在線”或“離線”進(jìn)行型號(hào)識(shí)別測(cè)試，測(cè)試結(jié)果顯示出器件型號(hào)；對(duì)識(shí)別后的器件可直接進(jìn)行功能測(cè)試加以驗(yàn)證； 7． 器件“離線”功能測(cè)試: 所有庫器件都可進(jìn)行“離線”功能測(cè)試，如：數(shù)字邏輯器件、存儲(chǔ)器、集成運(yùn)放、光電耦合器等器件； 8． LSI大規(guī)模集成電路在線功能測(cè)試： 可對(duì)：Z80、8255、等器件進(jìn)行功能測(cè)試； 9． LSI大規(guī)模集成電路在線狀態(tài)分析測(cè)試: 可采取學(xué)習(xí)、比較的方式對(duì)一些常見的LSI器件進(jìn)行狀態(tài)分析測(cè)試； 10．SRAM / DRAM讀寫存儲(chǔ)器在線測(cè)試: 直接檢測(cè)存儲(chǔ)器芯片的好壞，該測(cè)試無需事先學(xué)習(xí)，有獨(dú)立的測(cè)試器件庫，可采用在線、離線測(cè)試方式 11．EPROM在線直接讀取/比較測(cè)試： 可采取在線（離線）學(xué)習(xí)/比較的測(cè)試方法，先把好板上EPROM中的程序讀出來，保存到計(jì)算機(jī)上，再和壞板上的相同器件中的程序進(jìn)行比較測(cè)試；測(cè)試結(jié)果定位到存儲(chǔ)單元地址上，并打印出該地址正確和錯(cuò)誤的代碼。 12．器件循環(huán)測(cè)試功能： 該功能可對(duì)數(shù)字邏輯器件、集成運(yùn)放、光耦等器件進(jìn)行重復(fù)測(cè)試，直到出現(xiàn)錯(cuò)誤或被終止，易于發(fā)現(xiàn)一些器件的非固定性故障（或稱為軟故障）； 13．測(cè)試夾自動(dòng)定位功能： 該功能可以將測(cè)試夾以正、反方向，對(duì)齊或不對(duì)齊腳的方式夾在被測(cè)器件上而不影響測(cè)試結(jié)果，利于提高測(cè)試速度； 14．?dāng)?shù)字邏輯器件在線測(cè)試速度可選： 為了器件測(cè)試的性、降低誤判率，滿足不同器件對(duì)測(cè)試速度指標(biāo)的不同要求，而設(shè)置了速度可選項(xiàng)；如：對(duì)負(fù)載能力弱的CMOS器件應(yīng)選較低速度測(cè)試，一些集成度高、編程復(fù)雜的器件必須選擇較高速度測(cè)試。 15．?dāng)?shù)字邏輯器件測(cè)試閾值可調(diào)功能： 閾值電平是指判定器件輸出是邏緝１或邏輯０的門檻電平值。除了給出常用的幾種電平值供直接選取外，還可選自定義。閾值電平的選取要與被測(cè)器件的類型相一致；在邏輯器件測(cè)試時(shí)，有時(shí)會(huì)遇到用閾值電平緊測(cè)試不通過，而用閾值電平松就能通過的現(xiàn)象，一般是器件的部分參數(shù)發(fā)生了變化，如驅(qū)動(dòng)能力下降,使用自定義可確定器件實(shí)測(cè)的閾值電平； 16．加電延遲可選功能： 被測(cè)電路板上的電源、地之間有濾波電容。濾波電容越大，充電時(shí)間越長。該選擇是確定在測(cè)試儀接通外供電源以后，需要等待多長時(shí)間后才開始進(jìn)行測(cè)試。缺省為0.5秒； 17．測(cè)試夾接觸檢查功能： 該項(xiàng)功能主要解決當(dāng)測(cè)試夾與被測(cè)器件接觸不良時(shí)，造成的測(cè)試誤判，如被測(cè)器件管腳氧化腐蝕、三防漆打磨不干凈等； 18．瞬時(shí)復(fù)位電路控制功能： 當(dāng)測(cè)試儀突然掉電，又突然上電的情況下，不會(huì)造成測(cè)試儀內(nèi)部狀態(tài)混亂而帶來安全性問題； 19．匯能自定義功能測(cè)試平臺(tái)： 把測(cè)試儀的測(cè)試通道開放給用戶，由用戶對(duì)被測(cè)器件自行定義測(cè)試代碼，可以進(jìn)行功能測(cè)試，前提是用戶需要對(duì)器件工作原理有一定的了解，或有被測(cè)器件的使用資料，適合有圖紙資料情況下的開發(fā)工作； 20．以編程方式擴(kuò)充數(shù)字器件庫： 采用HNDDL語言（天惠電子自主開發(fā)的用于描述邏輯過程的專用語言，擁有自己的版權(quán)），自適應(yīng)技術(shù)完善；把擴(kuò)充程序直接開放給用戶，由用戶自己可以自行填加測(cè)試器件庫； 21．ASA（VI）模擬特征分析測(cè)試： 通過對(duì)器件端口進(jìn)行模擬特征分析測(cè)試方式（VI曲線學(xué)習(xí)/比較測(cè)試），可以發(fā)現(xiàn)器件端口型的故障（一般能占到維修當(dāng)中的80%左右）適用于數(shù)字器件、模擬器件、模擬數(shù)字混合器件（如AD、DA等），對(duì)器件的封裝形式也不受限制，可適應(yīng)于對(duì)任何器件的測(cè)試； 22．ASA多種觀察坐標(biāo)顯示： 有三種顯示方式：VI/VT/VR，一般用VI坐標(biāo)觀察曲線，有人習(xí)慣上把ASA也叫成VI測(cè)試； 23．單端口（交叉）VI曲線分析測(cè)試： 對(duì)器件采取單端口測(cè)試方式；單端口測(cè)試方式是指每個(gè)管腳對(duì)地阻抗特性曲線提。 24．ASA 曲線雙探棒動(dòng)態(tài)比較測(cè)試： 使用雙路探棒對(duì)兩塊相同電路板上的相應(yīng)節(jié)點(diǎn)時(shí)時(shí)的進(jìn)行動(dòng)態(tài)比較測(cè)試；當(dāng)被測(cè)板上的器件不能使用測(cè)試夾測(cè)試時(shí)，此種方法最； 25．ASA 曲線測(cè)試智能提醒功能： 當(dāng)使用雙探棒進(jìn)行比較測(cè)試時(shí)，如果超差，儀器會(huì)出現(xiàn)報(bào)警聲音，引起使用者注意，該測(cè)試方法利用微機(jī)喇叭產(chǎn)生類似于萬用表Beep的效果，提高了檢測(cè)效率，也大大降低了勞動(dòng)強(qiáng)度； 26．ASA 測(cè)試曲線靈敏度可調(diào)： 當(dāng)ASA曲線走勢(shì)趨向于45度時(shí)，如果曲線的數(shù)據(jù)發(fā)生變化，曲線就變化明顯，反映故障的觀察靈敏度就越精確，曲線反映故障靈敏度與測(cè)試參數(shù)相關(guān)，適當(dāng)調(diào)整測(cè)試參數(shù)能夠得到更靈敏的曲線；該測(cè)試方法能夠自動(dòng)搜索出對(duì)故障較靈敏的那根曲線，的提高了故障檢出率； 27．ASA 曲線掃描電壓可調(diào)：（示波器可測(cè)） VI掃描電壓±1V～±28V, 步距0.5V可調(diào)。低檔測(cè)試儀一般設(shè)定幾檔可選但不可調(diào)； 28．ASA 曲線測(cè)試頻率可調(diào)：（示波器可測(cè)） VI測(cè)試頻率為1HZ-16KHZ,共30檔可選。低檔測(cè)試儀一般為設(shè)定不可調(diào)，或給不出頻率指標(biāo)（國內(nèi)能夠提供頻率指標(biāo)的測(cè)試儀）; 29．ASA 曲線測(cè)試輸出阻抗可選： 輸出阻抗匹配：0.1KΩ / 1KΩ／10KΩ／100KΩ四檔可選： 30．ASA 曲線快速診斷分析測(cè)試： 以40管腳VI曲線單端口測(cè)試為例，全過程測(cè)試時(shí)間< 1秒； 31．可按管腳設(shè)置ASA 曲線測(cè)試參數(shù)： 可根據(jù)具體器件的測(cè)試需要，給不同管腳設(shè)置不同的測(cè)試參數(shù)，可設(shè)置任一管腳為提取或不提取ASA曲線；大大提高了測(cè)試的靈活性； 32．ASA 曲線故障快速定位/查找功能： 當(dāng)VI測(cè)試出現(xiàn)故障曲線時(shí)，測(cè)試儀提供快速的曲線定位/查找功能選項(xiàng)，使用戶觀察曲線更方便、更快捷、更直觀，測(cè)試效率更高； 33．雙探棒、雙板對(duì)比測(cè)試； 34．ASA 曲線多種排列/顯示方式： 可按比較誤差降序排列顯示曲線，比較誤差升序排列顯示曲線，還可按器件管腳順序排列曲線；可以“按點(diǎn)”或“畫線”來顯示曲線，單個(gè)管腳的曲線可以單獨(dú)放大或縮小； 35．分立元件測(cè)試： 可單獨(dú)對(duì)電路板上的分立元件直接進(jìn)行VI曲線分析測(cè)試：如電阻、電容、電感等，也可以通過學(xué)習(xí)/比較的方式進(jìn)行測(cè)試； 36．可測(cè)器件檢索功能： 內(nèi)置強(qiáng)大的搜索引擎，可以對(duì)器件庫進(jìn)行檢索；檢索后可列出器件型號(hào)、所在器件庫、管腳數(shù)、封裝和功能描述。 37．元器件速查手冊(cè)（電子詞典）： 目前容量已達(dá)近四萬種，并在不斷地?cái)U(kuò)充中，供用戶查閱元器件的名稱、管腳排列、封裝等信息； 38．元器件手冊(cè)整理： 可以快速把身邊的一些器件的資料整理到手冊(cè)當(dāng)中，使用起來會(huì)更方便； 39．?dāng)?shù)據(jù)庫整理功能： 對(duì)IC狀態(tài)庫、LSI在線學(xué)習(xí)庫、EPROM離線學(xué)習(xí)庫、EPROM在線快速學(xué)習(xí)庫、EPROM在線學(xué)習(xí)庫、網(wǎng)絡(luò)測(cè)試庫進(jìn)行整理、刪除、更名等操作； 40．維修日記： 供記錄日常維修的經(jīng)驗(yàn)體會(huì)，發(fā)生的重要事情等，保存這些資料并積累經(jīng)驗(yàn)，會(huì)大大提高維修水平和技能； 41．測(cè)試信息打印輸出功能： 支持對(duì)各種測(cè)試界面下的打。 42．后臺(tái)操作記錄管理： 測(cè)試儀會(huì)自動(dòng)記錄測(cè)試過程及測(cè)試結(jié)果等信息； 43．操作幫助指南： 給使用者提供正確的操作方法、步驟；
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| TH4040-III、TH8080-III、HN1600DX/B、HN2600DX/B、HN2600DX/C、HN2600MX/C、HN3000MX/C、MFT300 |
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產(chǎn)品特點(diǎn)：
● 無需電路原理圖、 無需拆焊元器件
● 直接“在線/在路”檢測(cè)元器件的好壞
● 適用于各種電路板維修，器件級(jí)維修
電路維修測(cè)試儀 技術(shù)特點(diǎn)：
● 標(biāo)準(zhǔn)USB接口，與筆記本電腦直接通訊
● 兼容Win Vista XP操作系統(tǒng)，與計(jì)算機(jī)技術(shù)同步延伸
● 擁有獨(dú)立的CPU控制系統(tǒng)，不受Windows系統(tǒng)分時(shí)影響
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郵箱：SHCN17@163.com
●通用的電路板故障在線檢測(cè)儀，應(yīng)用范圍廣；●48個(gè)數(shù)字通道，滿足5V邏輯器件功能測(cè)試、離線參數(shù)測(cè)試；●80路模擬通道，4路ASA動(dòng)態(tài)巡檢通道 ，4路觸發(fā)脈沖通道，八種觸發(fā)模式；●ASA端口模擬特征曲線電壓范圍：±28V內(nèi)0.5V步距可調(diào)，雙通道屬性；●外供電源： +5V/4A；－5V/2A；±12V/2A；（雙輸出端子,程控加電,過流保護(hù)）；●通訊接口：標(biāo)準(zhǔn)USB接口，支持熱插拔,可運(yùn)行在Windows XP、Vista系統(tǒng)
● 集成電路模擬特征（ASA）曲線測(cè)試；● 分立元件在、離線測(cè)試；● 數(shù)字器件在、離線功能測(cè)試；● 數(shù)字器件離線性能測(cè)試；● 電路板圖像建庫及測(cè)試；● 運(yùn)放功能測(cè)試；● 光耦器件功能測(cè)試、參數(shù)測(cè)試；● 存儲(chǔ)器在、離線功能測(cè)試；● 晶體管輸出特性曲線測(cè)試；● 網(wǎng)絡(luò)提取測(cè)試；● UDT用戶自定義測(cè)試；● AFT測(cè)試（模擬電路故障追蹤).=================================================電路板維修檢測(cè)設(shè)備供應(yīng)商－－-上海聰能儀器有限公司
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1、雙處理器技術(shù)，集成16位的下位機(jī)，擁有獨(dú)立的CPU系統(tǒng)，不受計(jì)算機(jī)Windows分時(shí)特性的影響，獨(dú)立運(yùn)行； 2、標(biāo)準(zhǔn)的USB2.0通訊接口，與計(jì)算機(jī)通訊安全、快速、便捷，支持熱插拔； 3、安全穩(wěn)定運(yùn)行于的Windows Viste/XP/NT系統(tǒng)內(nèi)， 測(cè)試儀軟、硬件與計(jì)算機(jī)技術(shù)同步發(fā)展延伸； 4、雙通道/雙測(cè)試夾/雙探棒/雙板直接對(duì)比測(cè)試，適用于相同電路板現(xiàn)場(chǎng)快速診斷測(cè)試； 5、電路板電子圖象建庫：將被測(cè)試對(duì)象實(shí)物拍照后在測(cè)試軟件中打開，進(jìn)行一對(duì)一設(shè)置，然后進(jìn)行測(cè)試，人性化、； 6、UDT用戶自定義測(cè)試：開放所有數(shù)字通道，用戶可根據(jù)被測(cè)單元電路自己定義測(cè)試波形和預(yù)期響應(yīng)，然后進(jìn)行實(shí)際測(cè)試。 產(chǎn)品技術(shù)：電路板故障在線檢測(cè)儀器 TH4040-II（USB-Vista版）， 1、后驅(qū)動(dòng)（Backdoor）技術(shù)：引進(jìn)美國后驅(qū)動(dòng)隔離技術(shù)，用來實(shí)現(xiàn)數(shù)字器件之間在線（In-circuit）的隔離； 2、自適應(yīng)測(cè)試技術(shù)：自動(dòng)識(shí)別被測(cè)試電路的自身連接情況并自動(dòng)修改相應(yīng)的測(cè)試代碼，確立測(cè)試條件，測(cè)試的性；
3、數(shù)字器件的閾值電平可調(diào)：在工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)值下可以通過測(cè)試，逐步提高門檻到極限值，可發(fā)現(xiàn)器件參數(shù)型故障（軟故障）；
4、ASA（Analog Signature Analysis）模擬特征分析技術(shù)：引入ASA技術(shù)用來解決端口模擬特征曲線故障診斷分析測(cè)試； 5、三端器件（三極管、穩(wěn)壓管、可控硅、場(chǎng)效應(yīng)管等）的測(cè)試：引入八種觸發(fā)脈沖與掃描信號(hào)同步測(cè)試三端器件； 6、電容C、電阻R、電感L定性定量的測(cè)試：在一定的掃描電壓、電流、頻率下可測(cè)試電容量（阻抗、電感量）及漏電阻值； 7、對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)圖形化顯示、開啟計(jì)算機(jī)聲音提示功能：當(dāng)測(cè)試在允許的誤差范圍內(nèi)，系統(tǒng)將聲音提示以降低工作強(qiáng)度； 8、自動(dòng)識(shí)別靈敏度調(diào)整（自動(dòng)選檔功能）：自動(dòng)識(shí)別調(diào)整測(cè)試輸入阻抗，匹配的測(cè)試參數(shù)，以降低操作難度。