C測試儀3504-40/日本日置C測試儀3504-40的詳細說明
封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等 高速測量2ms 能根據(jù)C 和D (損耗系數(shù)*2)的測量值,進行被測物合格與否的判斷 對應測試線,比側(cè)儀功能/觸發(fā)輸出功能 3504-60/-50用BIN的分選接口進行被測物體的測試 3504-40記錄工具,實現(xiàn)高速/低成本的測試 查出全機測量中的接觸錯誤,提高成品率 輸入用探頭/測試夾具,實體不附帶。按照測量目的,不同型號有不同的探頭/測試夾具選件 基本參數(shù) 測量參數(shù) Cs,Cp(電容),D(損耗系數(shù)tanδ) 測量范圍 C:0.9400pF~20.0000mFD:0.00001~1.99000 基本確度 (代表值)C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016※測定確度= 基本確度× B× C× D× E, B~Eは各系數(shù) 測量頻率 120Hz, 1kHz 測量信號電平 恒定電壓模式: 100mV (3504-60) 500 mV, 1 V測量范圍:CV 100mV:~ 170μF 量程 (測量頻率 1kHz), ~ 1.45mF 量程 (測量頻率 120Hz)CV 500mV: ~ 170μF 量程 (測量頻率 1kHz), ~ 1.45mF 量程 (測量頻率 120Hz)CV 1V: ~ 70μF 量程 (測量頻率 1kHz), ~ 700μF 量程 (測量頻率 120Hz)輸出電阻 5Ω(開路端子電壓模式,上述測量范圍以外) 顯示 發(fā)光二級管 (6行表示,滿量程計算器根據(jù)量程而定) 測量時間 典型值: 2.0 ms ( 1 kHz, FAST)※測量時間根據(jù)測量頻率、測量速度的不同而不同 機能 4端子控制檢測功能(3504-60),BIN測量(除去3504-40),觸發(fā)同時輸出,儲存測量條件,比較測量值的場強,平均值功能,Low-C抑制功能,鳴叫功能,控制用輸出入(EXT.I/O),RS-232C界面(標準裝備),GP-IB接口(3504-40除外) 電源 AC 100/120/220/240V ±10%(可選擇), 50/60Hz, 最大110VA 體積及重量 260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg 附件 電源線×1,預備電源保險絲×1,接地適配器×1 (不能單獨使用,測量時需要選用測試冶具或探頭)
C測試儀3504-40的品牌:日本日置
C測試儀3504-40的型號:C測試儀3504-40
C測試儀3504-40的產(chǎn)地:日本
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