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簡單介紹：

4338B毫歐表是用于進行低阻抗測量的精密、、高速的測試工具。4338B有五種可選的測試信號電平（1 uA、10 uA、100 uA、1 mA和10 mA），即使在被測件實際工作條件下也可以進行測量。          特性：     • 測試信號電流低且可選擇： 1uA to 10 mA     • 測量范圍寬： 10u ohm to 100 k ohm     • 分辨率：10u ohm     • 接觸檢查功能     • 1KHz交流測量     • 測量速度高；34 ms     • 內(nèi)設比較器     自動測量方式     技術指標：     測試信號電平     • 較低和可選的測試信號電流：1uA至10 mA     測量范圍 / 時間     • 寬測量范圍： 10u ohm 至 100 k ohm     • 快速測量：34 ms     頻率     • 1 kHz 交流測量     更多特性     • 10u ohm分辨率     • 接觸檢測功能     • 內(nèi)置比較儀     • 自動測量模式

精密低阻測量　　在低電流電路中，機電元件的接觸故障是元件可靠性中的主要問題。HP 4338B提供可選擇的低交流測試信號(1μA~10mA)。用戶目前可在低電流的條件下來表征機電元件的低阻特性。10μΩ的高分辨率可用來確定繼電器、開關、接頭、印制電路板圖形和電纜在接觸電阻測試中的微小差別。1kHz測試信號消除了由熱電對被測元件接觸的影響而引入的潛在誤差。1kHz的交流測試信號是檢查電池內(nèi)阻的最好方法，因為它避免了直流能量的消耗。高速測量　　高速(34ms)內(nèi)設比較器和HP-IB/處理器接口有可能用自動處理器和外部計算機構成一個測量系統(tǒng)，使測試時間縮短到最低限度。自動測量方式　　在進行大量連續(xù)的測試、而測試信號電平又不是很主要的因素時，自動測量功能會使儀器選擇合適的測試信號并設定測量范圍。技術指標(全面的技術指標請參閱技術資料)測量功能測量參數(shù)：R(交流電阻)，X(電抗)，L(電感)，|Z|(阻抗)，θ(相位[°])組合參數(shù)：R，R-X，R-L，｜Z｜-θ(只適用于串聯(lián)模式)數(shù)學功能：偏差和相對偏差(以百分比表示)顯示數(shù)字：3.4或5位(可選擇)測試信號特性測試頻率：1kHz頻率精度：&plun;0.1%測試信號電平：1μA，10μA，100μA，1mA，10mArms電平精度：&plun;(10%＋0.2μA)樣品兩端的最大電壓：在任何情況下最大為20mV峰值測量范圍　參數(shù)　　　測量范圍　R　　　　 10μΩ~100kΩ　X,|Z|　　 10μΩ~100kΩ (典型值)　L　　　　 10nH~10H(典型值)　θ　　　　 -180°~＋180°(典型值)測量精度：R的基本精度為&plun;0.4%測量時間：從觸發(fā)命令到處理器界面端口上的結束測量(EOM)信號輸出的時間間隔模式　　時間(典型值)短　　　34ms中等　　70ms長　　　900ms修正功能短路誤差為0：消除由測試夾具中雜散寄生阻抗引的測量誤差比較功能對每個一次測量參數(shù)和二次測量參數(shù)設立高/符合/低界限接觸檢查功能可以檢測測試夾具與器件之間的接觸故障其它功能疊加直流：在測量端可能給出&plun;42Vdc(最大值)存儲/調(diào)用：可以由內(nèi)部非易失存儲器對10種儀器設置進行存儲/調(diào) 用連續(xù)存儲功能：若儀器被切斷或發(fā)生電源故障，儀器設置將自動被存 儲起來(在23&plun;5℃時≤72小時)HP-IB接口：所有控制設置、被測值和比較器信息處理器接口：所有輸出信號為負邏輯，光隔離開路集電極輸出信號包括：高/符合/低、變址，測量結束和告警。輸入信號是健鎖定和外觸發(fā)一般指標電源要求：198~2V，47~66Hz,45VAmax工作溫度：0°~45℃尺寸：320mm(寬)×100mm(高)×300mm(長)Agilent4349B，4349B四通道高阻表的詳細信息Agilent安捷倫4349B，4349B四通道高阻表的詳細特點：安捷倫4349B可同時對4通道多個被測件進行測量，增加測試吞吐率。測量范圍1*103Ω 至 1x1015Ω，基本精度為2%，具有接觸檢查功能。主要特性· 測量參數(shù)：R（直流電阻）、I（直流電流）、ps（表面電阻率），pv（體電阻率）。· 測量范圍：電阻1*103Ω 至 1x1015Ω；電流1pA至100uA。· 測量速度：最快9.5ms的測量時間。· 基本測量精度：2%。· 4個通道，可用于多個被測件，4個通道可同時測試。· 接觸檢查功能：可以檢測測試夾具與器件之間的接觸故障，2毫秒/點，保證可靠的測試· GPIB和處理器接口HP4349A電阻表存儲/取消,連續(xù)的存儲, HP-IB/ 處理器接口 / B+ b% b$ t) P9 DHP 4349A 是四通道高值電阻表9 x0 |! ]" O) m) iHP 4349A 四通道高值電阻表是配置允許4個電容器同時測試不同種的測試 V) c! u" _0 e電壓。. `1 w- G. `! d9 {( s高速測量: 11ms& F1 U0 u( e4 L+ f快速的解決時間4 [* n4 [8 G+ }) g/ {5 C2 u高速聯(lián)網(wǎng)檢查 & D; [) }# B, J7 P, d主要特性與技術指標測試信號電平較低和可選的測試信號電流：1uA至10 mA測量范圍 / 時間寬測量范圍： 10u ohm 至 100 k ohm快速測量：34 ms頻率1 kHz 交流測量更多特性10u ohm分辨率接觸檢測功能內(nèi)置比較儀自動測量模式描述4338B毫歐表是用于進行低阻抗測量的精密、可靠、高速的測試工具。4338B有五種可選的測試信號電平(1 uA、10 uA、100 uA、1 mA和10 mA)，即使在被測件實際工作條件下也可以進行測量。4339B高電阻表是安捷倫進行精密高阻抗測量的最先進的測試工具。測試序列編程功能提供自動測量過程（充電－測量－放電）?，F(xiàn)已提供多種元件測試夾具和材料測試。主要技術指標測量范圍寬量程：: 103 ohm 至 1.6x1016 ohm測量速度高速測量: 10 ms更多特性穩(wěn)定的測試夾具：電阻系數(shù)單元、元器件測試夾具測試序列編程電阻系數(shù)計算接地被測件測量

Agilent 4338B毫歐表是為低阻抗測量提供的一種精密、、高速的測試工具。特性*  可選擇的低測試信號電流：1uA - 10 mA *  寬量程：10u歐姆到100 k歐姆 *  10u歐姆分辨率 *  觸點檢查功能 *  1 kHz交流測量 *  高速測量：34 ms *  內(nèi)置比較器 *  自動測量模式

精密低阻測量 在低電流電路中，機電元件的接觸故障是元件性中的主要問題。HP 4338B提供可選擇的低交流測試信號（1μA~10mA）。用戶目前可在低電流的條件下來表征機電元件的低阻特性。10μΩ的高分辨率可用來確定繼電器、開關、接頭、印制電路板圖形和電纜在接觸電阻測試中的微小差別。1kHz測試信號消除了由熱電對被測元件接觸的影響而引入的潛在誤差。1kHz的交流測試信號是檢查電池內(nèi)阻的方法，因為它避免了直流能量的消耗。高速測量高速（34ms）內(nèi)設比較器和HP-IB/處理器接口有可能用自動處理器和外部計算機構成一個測量系統(tǒng)，使生產(chǎn)測試時間縮短到限度。自動測量方式在進行大量連續(xù)的測試、而測試信號電平又不是很主要的因素時，自動測量功能會使儀器選擇合適的測試信號并設定測量范圍。 技術指標1． 測量功能：*  測量參數(shù)：R（交流電阻），X（電抗），L（電感），|Z|（阻抗），θ（相位[°]）*   組合參數(shù)：R，R-X，R-L，｜Z｜-θ（只適用于串聯(lián)模式）*  數(shù)學功能：偏差和相對偏差（以百分比表示）*  顯示數(shù)字：3.4或5位（可選擇）2． 測試信號特性：*  測試頻率：1kHz *  頻率精度：±0.1%*  測試信號電平：1μA，10μA，100μA，1mA，10mArms*  電平精度：±（10%＋0.2μA）*  樣品兩端的最大電壓：在任何情況下最大為20mV峰值3． 測量范圍參數(shù) 測量范圍: R 10uΩ-100KΩ   X，|Z| 10uΩ-100KΩ   L 10nH-10H  θ -180°~+180°4． 測量精度：R的基本精度為±0.4%5． 測量時間：從觸發(fā)命令到處理器界面端口上的結束測量（EOM）信號輸出的時間間隔*  短：34ms；*  中等：70ms；*  ; 長：900ms；6． 修正功能*  短路誤差為0：消除由測試夾具中雜散寄生阻抗引的測量誤差7． 比較功能  *  對每個一次測量參數(shù)和二次測量參數(shù)設立高/符合/低界限8． 接觸檢查功能   可以檢測測試夾具與器件之間的接觸故障9． 其它功能*  疊加直流：在測量端可能給出±42Vdc（最大值）*  存儲/調(diào)用：可以由內(nèi)部非易失存儲器對10種儀器設置進行存儲/調(diào)用*  連續(xù)存儲功能：若儀器被切斷或發(fā)生電源故障，儀器設置將自動被存 儲起來（在23±5℃時≤72小時）*   GPIB接口：所有控制設置、被測值和比較器信息*  處理器接口：所有輸出信號為負邏輯，光隔離開路集電極*   輸出信號包括：高/符合/低、變址，測量結束和告警。輸入信號是健鎖定和外觸發(fā)一般指標1． 電源要求：198~264V，47~66Hz,45VAmax2． 工作溫度：0°~45℃3． 尺寸：320mm（寬）×100mm（高）×300mm（長），即12.6（英寸）×3.94（英寸）×11.81（英寸）4． 重量：4.5kg訂貨信息毫歐表主機：4338 毫歐表；選配件：　 Opt ABA 英文版手冊　 Opt ABJ 日文版手冊　 Opt OBO 省去操作手冊　 Opt W30 擴大的維修服務16064B LED顯示器/觸發(fā)盒16338A 測試引線套件：16005B Kelvin 線夾測試引線（0.4m,帶大的線夾）16005C Kelvin IC線夾測試引線（0.4m,帶IC的線夾）16005D Kelvin 線夾測試引線（0.4m,帶大的線夾）16006A針式探頭測試引線（0.4m）16007A鱷魚夾測試引線（0.4m,帶2個紅色線夾）16007B鱷魚夾測試引線（0.4m,帶2個黑色線夾）16143B 配對電纜（0.6m） 

產(chǎn)品介紹： 　HP 4338B毫歐表是一臺精密、、高速的測量儀器，用于低阻測量。 產(chǎn)品特點： ·測試信號電流低且可選擇：1μA~10mA ·測量范圍寬：10μΩ~100kΩ ·分辨率：10μΩ ·接觸檢查功能 ·1kHz交流測量 ·測量速度高：34ms ·內(nèi)設比較器 ·自動測量方式

精密低阻測量 　　在低電流電路中，機電元件的接觸故障是元件性中的主要問題。HP 4338B提供可選擇的低交流測試信號1μA~10mA。用戶目前可在低電流的條件下來表征機電元件的低阻特性。10μΩ的高分辨率可用來確定繼電器、開關、接頭、印制電路板圖形和電纜在接觸電阻測試中的微小差別。1kHz測試信號消除了由熱電對被測元件接觸的影響而引入的潛在誤差。1kHz的交流測試信號是檢查電池內(nèi)阻的方法，因為它避免了直流能量的消耗。

　　高速測量 　　高速34ms內(nèi)設比較器和HP-IB/處理器接口有可能用自動處理器和外部計算機構成一個測量系統(tǒng)，使生產(chǎn)測試時間縮短到限度。

　　自動測量方式 　　在進行大量連續(xù)的測試、而測試信號電平又不是很主要的因素時，自動測量功能會使儀器選擇合適的測試信號并設定測量范圍。技術指標

　　的技術指標請參閱技術資料測量功能 測量參數(shù)：R交流電阻，X電抗，L電感，|Z|阻抗，θ相位[°] 組合參數(shù)：R，R-X，R-L，｜Z｜-θ只適用于串聯(lián)模式 數(shù)學功能：偏差和相對偏差以百分比表示 顯示數(shù)字：3.4或5位可選擇 測試信號特性 測試頻率：1kHz 頻率精度：±0.1% 測試信號電平：1μA，10μA，100μA，1mA，10mArms 電平精度：±10%＋0.2μA 樣品兩端的最大電壓：在任何情況下最大為20mV峰值 測量范圍 　參數(shù)　　　測量范圍 　R　　　　 10μΩ~100kΩ 　X,|Z|　　 10μΩ~100kΩ 典型值 　L　　　　 10nH~10H典型值 　θ　　　　 -180°~＋180°典型值 測量精度：R的基本精度為±0.4% 測量時間：從觸發(fā)命令到處理器界面端口上的結束測量EOM信號輸出的時間間隔 模式　　時間典型值 短　　　34ms 中等　　70ms 長　　　900ms 修正功能 短路誤差為0：消除由測試夾具中雜散寄生阻抗引的測量誤差

比較功能 對每個一次測量參數(shù)和二次測量參數(shù)設立高/符合/低界限

接觸檢查功能 可以檢測測試夾具與器件之間的接觸故障

其它功能 疊加直流：在測量端可能給出±42Vdc最大值 存儲/調(diào)用：可以由內(nèi)部非易失存儲器對10種儀器設置進行存儲/調(diào) 用 連續(xù)存儲功能：若儀器被切斷或發(fā)生電源故障，儀器設置將自動被存 儲起來在23±5℃時≤72小時 HP-IB接口：所有控制設置、被測值和比較器信息 處理器接口：所有輸出信號為負邏輯，光隔離開路集電極 輸出信號包括：高/符合/低、變址，測量結束和告警。輸入信號是健鎖定和外觸發(fā)

一般指標 電源要求：198~264V，47~66Hz,45VAmax 工作溫度：0°~45℃ 尺寸：320mm寬×100mm高×300mm長 重量：4.5kg訂貨信息

4338 毫歐表 　Opt ABA 英文版手冊 　Opt ABJ 日文版手冊 　Opt OBO 省去操作手冊 　Opt W30 擴大的維修服務 16338A 測試引線套件 16143B1 配對電纜0.6m 16005B2 Kelvin 線夾測試引線0.4m,帶大的線夾 16005C3 Kelvin IC線夾測試引線0.4m,帶IC的線夾 16005D3 Kelvin IC線夾測試引線0.4m,帶黑色IC的線夾 16044A SMD Kelvin接觸測試夾具 16006A4 針式探頭測試引線0.4m 16007A5 鱷魚夾測試引線0.4m,帶2個紅色線夾 16007B5 鱷魚夾測試引線0.4m,帶2個黑色線夾 16064B LED顯示器/觸發(fā)盒 ｛1當利用16005B/C/D、16006A和16007A/B時需要； 　2需要一對16005B進行測量； 　3與16005C1個和16005D1個配用; 　4需要一對16006A進行測量 　5與16007A1個和16007B1個配用｝

供應的附件 操作手冊，電源電纜配對的電纜和測試引線或HP 16338A測試引線套件必須單獨訂購

訂貨信息:

品名	規(guī)格	包裝	備注	售價（元）	是否現(xiàn)貨
4338B毫歐表	阻抗范圍：10μΩ-100KΩ	1	專用低電阻表，基本阻抗精度正負0.4%	50820.00	現(xiàn)貨

主要特性與技術指標描述

Agilent 4338B毫歐表詳細資料● 測試信號電流低且可選擇： 1uA to 10 mA● 測量范圍寬： 10u ohm to 100 k ohm● 分辨率： 10u ohm● 接觸檢查功能● 1KHz 交流測量● 測量速度高； 34 ms● 內(nèi)設比較器● 自動測量方式HP4349A電阻表存儲/取消,連續(xù)的存儲, HP-IB/ 處理器接口 / B+ b% b$ t) P9 DHP 4349A 是四通道高值電阻表9 x0 |! ]" O) m) iHP 4349A 四通道高值電阻表是配置允許4個電容器同時測試不同種的測試 V) c! u" _0 e電壓。. `1 w- G. `! d9 {( s高速測量: 11ms& F1 U0 u( e4 L+ f快速的解決時間4 [* n4 [8 G+ }) g/ {5 C2 u高速聯(lián)網(wǎng)檢查 & D; [) }# B, J7 P, d4339B高電阻表是安捷倫進行精密高阻抗測量的最先進的測試工具。測試序列編程功能提供自動測量過程（充電－測量－放電）?，F(xiàn)已提供多種元件測試夾具和材料測試。主要技術指標測量范圍寬量程：: 103 ohm 至 1.6x1016 ohm測量速度高速測量: 10 ms更多特性穩(wěn)定的測試夾具：電阻系數(shù)單元、元器件測試夾具測試序列編程電阻系數(shù)計算接地被測件測量精密低阻測量　　在低電流電路中，機電元件的接觸故障是元件可靠性中的主要問題。HP 4338B提供可選擇的低交流測試信號(1μA~10mA)。用戶目前可在低電流的條件下來表征機電元件的低阻特性。10μΩ的高分辨率可用來確定繼電器、開關、接頭、印制電路板圖形和電纜在接觸電阻測試中的微小差別。1kHz測試信號消除了由熱電對被測元件接觸的影響而引入的潛在誤差。1kHz的交流測試信號是檢查電池內(nèi)阻的最好方法，因為它避免了直流能量的消耗。高速測量　　高速(34ms)內(nèi)設比較器和HP-IB/處理器接口有可能用自動處理器和外部計算機構成一個測量系統(tǒng)，使測試時間縮短到最低限度。自動測量方式　　在進行大量連續(xù)的測試、而測試信號電平又不是很主要的因素時，自動測量功能會使儀器選擇合適的測試信號并設定測量范圍。技術指標(全面的技術指標請參閱技術資料)測量功能測量參數(shù)：R(交流電阻)，X(電抗)，L(電感)，|Z|(阻抗)，θ(相位[°])組合參數(shù)：R，R-X，R-L，｜Z｜-θ(只適用于串聯(lián)模式)數(shù)學功能：偏差和相對偏差(以百分比表示)顯示數(shù)字：3.4或5位(可選擇)測試信號特性測試頻率：1kHz頻率精度：&plun;0.1%測試信號電平：1μA，10μA，100μA，1mA，10mArms電平精度：&plun;(10%＋0.2μA)樣品兩端的最大電壓：在任何情況下最大為20mV峰值測量范圍　參數(shù)　　　測量范圍　R　　　　 10μΩ~100kΩ　X,|Z|　　 10μΩ~100kΩ (典型值)　L　　　　 10nH~10H(典型值)　θ　　　　 -180°~＋180°(典型值)測量精度：R的基本精度為&plun;0.4%測量時間：從觸發(fā)命令到處理器界面端口上的結束測量(EOM)信號輸出的時間間隔模式　　時間(典型值)短　　　34ms中等　　70ms長　　　900ms修正功能短路誤差為0：消除由測試夾具中雜散寄生阻抗引的測量誤差比較功能對每個一次測量參數(shù)和二次測量參數(shù)設立高/符合/低界限接觸檢查功能可以檢測測試夾具與器件之間的接觸故障其它功能疊加直流：在測量端可能給出&plun;42Vdc(最大值)存儲/調(diào)用：可以由內(nèi)部非易失存儲器對10種儀器設置進行存儲/調(diào) 用連續(xù)存儲功能：若儀器被切斷或發(fā)生電源故障，儀器設置將自動被存 儲起來(在23&plun;5℃時≤72小時)HP-IB接口：所有控制設置、被測值和比較器信息處理器接口：所有輸出信號為負邏輯，光隔離開路集電極輸出信號包括：高/符合/低、變址，測量結束和告警。輸入信號是健鎖定和外觸發(fā)一般指標電源要求：198~2V，47~66Hz,45VAmax工作溫度：0°~45℃尺寸：320mm(寬)×100mm(高)×300mm(長)Agilent4349B，4349B四通道高阻表的詳細信息Agilent安捷倫4349B，4349B四通道高阻表的詳細特點：安捷倫4349B可同時對4通道多個被測件進行測量，增加測試吞吐率。測量范圍1*103Ω 至 1x1015Ω，基本精度為2%，具有接觸檢查功能。主要特性· 測量參數(shù)：R（直流電阻）、I（直流電流）、ps（表面電阻率），pv（體電阻率）。· 測量范圍：電阻1*103Ω 至 1x1015Ω；電流1pA至100uA。· 測量速度：最快9.5ms的測量時間。· 基本測量精度：2%。· 4個通道，可用于多個被測件，4個通道可同時測試。· 接觸檢查功能：可以檢測測試夾具與器件之間的接觸故障，2毫秒/點，保證可靠的測試· GPIB和處理器接口

精密低阻測量　　在低電流電路中，機電元件的接觸故障是元件可靠性中的主要問題。HP 4338B提供可選擇的低交流測試信號(1μA~10mA)。用戶目前可在低電流的條件下來表征機電元件的低阻特性。10μΩ的高分辨率可用來確定繼電器、開關、接頭、印制電路板圖形和電纜在接觸電阻測試中的微小差別。1kHz測試信號消除了由熱電對被測元件接觸的影響而引入的潛在誤差。1kHz的交流測試信號是檢查電池內(nèi)阻的最好方法，因為它避免了直流能量的消耗。高速測量　　高速(34ms)內(nèi)設比較器和HP-IB/處理器接口有可能用自動處理器和外部計算機構成一個測量系統(tǒng)，使測試時間縮短到最低限度。自動測量方式　　在進行大量連續(xù)的測試、而測試信號電平又不是很主要的因素時，自動測量功能會使儀器選擇合適的測試信號并設定測量范圍。技術指標(全面的技術指標請參閱技術資料)測量功能測量參數(shù)：R(交流電阻)，X(電抗)，L(電感)，|Z|(阻抗)，θ(相位[°])組合參數(shù)：R，R-X，R-L，｜Z｜-θ(只適用于串聯(lián)模式)數(shù)學功能：偏差和相對偏差(以百分比表示)顯示數(shù)字：3.4或5位(可選擇)測試信號特性測試頻率：1kHz頻率精度：&plun;0.1%測試信號電平：1μA，10μA，100μA，1mA，10mArms電平精度：&plun;(10%＋0.2μA)樣品兩端的最大電壓：在任何情況下最大為20mV峰值測量范圍　參數(shù)　　　測量范圍　R　　　　 10μΩ~100kΩ　X,|Z|　　 10μΩ~100kΩ (典型值)　L　　　　 10nH~10H(典型值)　θ　　　　 -180°~＋180°(典型值)測量精度：R的基本精度為&plun;0.4%測量時間：從觸發(fā)命令到處理器界面端口上的結束測量(EOM)信號輸出的時間間隔模式　　時間(典型值)短　　　34ms中等　　70ms長　　　900ms修正功能短路誤差為0：消除由測試夾具中雜散寄生阻抗引的測量誤差比較功能對每個一次測量參數(shù)和二次測量參數(shù)設立高/符合/低界限接觸檢查功能可以檢測測試夾具與器件之間的接觸故障其它功能疊加直流：在測量端可能給出&plun;42Vdc(最大值)存儲/調(diào)用：可以由內(nèi)部非易失存儲器對10種儀器設置進行存儲/調(diào) 用連續(xù)存儲功能：若儀器被切斷或發(fā)生電源故障，儀器設置將自動被存 儲起來(在23&plun;5℃時≤72小時)HP-IB接口：所有控制設置、被測值和比較器信息處理器接口：所有輸出信號為負邏輯，光隔離開路集電極輸出信號包括：高/符合/低、變址，測量結束和告警。輸入信號是健鎖定和外觸發(fā)一般指標電源要求：198~2V，47~66Hz,45VAmax工作溫度：0°~45℃尺寸：320mm(寬)×100mm(高)×300mm(長)Agilent 4338B毫歐表詳細資料● 測試信號電流低且可選擇： 1uA to 10 mA● 測量范圍寬： 10u ohm to 100 k ohm● 分辨率： 10u ohm● 接觸檢查功能● 1KHz 交流測量● 測量速度高； 34 ms● 內(nèi)設比較器● 自動測量方式4339B高電阻表是安捷倫進行精密高阻抗測量的最先進的測試工具。測試序列編程功能提供自動測量過程（充電－測量－放電）?，F(xiàn)已提供多種元件測試夾具和材料測試。主要技術指標測量范圍寬量程：: 103 ohm 至 1.6x1016 ohm測量速度高速測量: 10 ms更多特性穩(wěn)定的測試夾具：電阻系數(shù)單元、元器件測試夾具測試序列編程電阻系數(shù)計算接地被測件測量主要特性與技術指標測試信號電平較低和可選的測試信號電流：1uA至10 mA測量范圍 / 時間寬測量范圍： 10u ohm 至 100 k ohm快速測量：34 ms頻率1 kHz 交流測量更多特性10u ohm分辨率接觸檢測功能內(nèi)置比較儀自動測量模式描述4338B毫歐表是用于進行低阻抗測量的精密、可靠、高速的測試工具。4338B有五種可選的測試信號電平(1 uA、10 uA、100 uA、1 mA和10 mA)，即使在被測件實際工作條件下也可以進行測量。Agilent4349B，4349B四通道高阻表的詳細信息Agilent安捷倫4349B，4349B四通道高阻表的詳細特點：安捷倫4349B可同時對4通道多個被測件進行測量，增加測試吞吐率。測量范圍1*103Ω 至 1x1015Ω，基本精度為2%，具有接觸檢查功能。主要特性· 測量參數(shù)：R（直流電阻）、I（直流電流）、ps（表面電阻率），pv（體電阻率）。· 測量范圍：電阻1*103Ω 至 1x1015Ω；電流1pA至100uA。· 測量速度：最快9.5ms的測量時間。· 基本測量精度：2%。· 4個通道，可用于多個被測件，4個通道可同時測試。· 接觸檢查功能：可以檢測測試夾具與器件之間的接觸故障，2毫秒/點，保證可靠的測試· GPIB和處理器接口

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精密低阻測量　　在低電流電路中，機電元件的接觸故障是元件可靠性中的主要問題。HP 4338B提供可選擇的低交流測試信號(1μA~10mA)。用戶目前可在

低電流的條件下來表征機電元件的低阻特性。10μΩ的高分辨率可用來確定繼電器、開關、接頭、印制電路板圖形和電纜在接觸電阻測試中的

微小差別。1kHz測試信號消除了由熱電對被測元件接觸的影響而引入的潛在誤差。1kHz的交流測試信號是檢查電池內(nèi)阻的最好方法，因為它避

免了直流能量的消耗。

高速測量　　高速(34ms)內(nèi)設比較器和HP-IB/處理器接口有可能用自動處理器和外部計算機構成一個測量系統(tǒng)，使測試時間縮短到最低限度。

自動測量方式　　在進行大量連續(xù)的測試、而測試信號電平又不是很主要的因素時，自動測量功能會使儀器選擇合適的測試信號并設定測量范圍。技術指標(全面的技術指標請參閱技術資料)測量功能測量參數(shù)：R(交流電阻)，X(電抗)，L(電感)，|Z|(阻抗)，θ(相位[°])組合參數(shù)：R，R-X，R-L，｜Z｜-θ(只適用于串聯(lián)模式)數(shù)學功能：偏差和相對偏差(以百分比表示)顯示數(shù)字：3.4或5位(可選擇)測試信號特性測試頻率：1kHz頻率精度：&plun;0.1%測試信號電平：1μA，10μA，100μA，1mA，10mArms電平精度：&plun;(10%＋0.2μA)樣品兩端的最大電壓：在任何情況下最大為20mV峰值測量范圍　參數(shù)　　　測量范圍　R　　　　 10μΩ~100kΩ　X,|Z|　　 10μΩ~100kΩ (典型值)　L　　　　 10nH~10H(典型值)　θ　　　　 -180°~＋180°(典型值)測量精度：R的基本精度為&plun;0.4%測量時間：從觸發(fā)命令到處理器界面端口上的結束測量(EOM)信號輸出的時間間隔模式　　時間(典型值)短　　　34ms中等　　70ms長　　　900ms修正功能短路誤差為0：消除由測試夾具中雜散寄生阻抗引的測量誤差

比較功能對每個一次測量參數(shù)和二次測量參數(shù)設立高/符合/低界限

接觸檢查功能可以檢測測試夾具與器件之間的接觸故障

其它功能疊加直流：在測量端可能給出&plun;42Vdc(最大值)存儲/調(diào)用：可以由內(nèi)部非易失存儲器對10種儀器設置進行存儲/調(diào) 用連續(xù)存儲功能：若儀器被切斷或發(fā)生電源故障，儀器設置將自動被存 儲起來(在23&plun;5℃時≤72小時)HP-IB接口：所有控制設置、被測值和比較器信息處理器接口：所有輸出信號為負邏輯，光隔離開路集電極輸出信號包括：高/符合/低、變址，測量結束和告警。輸入信號是健鎖定和外觸發(fā)

一般指標電源要求：198~2V，47~66Hz,45VAmax工作溫度：0°~45℃尺寸：320mm(寬)×100mm(高)×300mm(長)

 

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HP4349A電阻表存儲/取消,連續(xù)的存儲, HP-IB/ 處理器接口 / B+ b% b$ t) P9 DHP 4349A 是四通道高值電阻表9 x0 |! ]" O) m) iHP 4349A 四通道高值電阻表是配置允許4個電容器同時測試不同種的測試 V) c! u" _0 e電壓。. `1 w- G. `! d9 {( s高速測量: 11ms& F1 U0 u( e4 L+ f快速的解決時間4 [* n4 [8 G+ }) g/ {5 C2 u高速聯(lián)網(wǎng)檢查 & D; [) }# B, J7 P, d

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